JPH02214219A - バイポーラmos3値出力バッファ - Google Patents
バイポーラmos3値出力バッファInfo
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- JPH02214219A JPH02214219A JP1034811A JP3481189A JPH02214219A JP H02214219 A JPH02214219 A JP H02214219A JP 1034811 A JP1034811 A JP 1034811A JP 3481189 A JP3481189 A JP 3481189A JP H02214219 A JPH02214219 A JP H02214219A
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- 101001051799 Aedes aegypti Molybdenum cofactor sulfurase 3 Proteins 0.000 claims 1
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 abstract description 17
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 13
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 1
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- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 description 1
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- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
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- H03K19/00307—Modifications for increasing the reliability for protection in bipolar transistor circuits
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- H03K19/08—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices
- H03K19/094—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using field-effect transistors
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- H03K19/0944—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using field-effect transistors using MOSFET or insulated gate field-effect transistors, i.e. IGFET
- H03K19/09448—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using field-effect transistors using MOSFET or insulated gate field-effect transistors, i.e. IGFET in combination with bipolar transistors [BIMOS]
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野コ
本発明はバイポーラMOSB値出力バッファに関する。
[従来の技術]
第3図は従来のこの種のバイポーラMOSB値出力バッ
ファを示す回路図である。
ファを示す回路図である。
電源1と出力段のNPNバイポーラトランジスタ3のベ
ースとの間に直列接続されたPチャネルMO3FET4
.5及び前記NPNバイポーラトランジスタ3のベース
と接地2との間に並列接続されたNチャネルMOSFE
T6.7によりN。
ースとの間に直列接続されたPチャネルMO3FET4
.5及び前記NPNバイポーラトランジスタ3のベース
と接地2との間に並列接続されたNチャネルMOSFE
T6.7によりN。
R回路が構成されている。PチャネルMO3FET4及
びNチャネルMOSFET6のゲートは入力線10に共
通接続され、このNOR回路の一方の入力を成し、Pチ
ャネルMO3FET5及びNチャネルMOSFET7の
ゲートにはNOR回路の他方の入力としてHi−Z正信
号12が与えられている。このNOR回路の出力は、出
力段のNPNバイポーラトランジスタ3のベースに入力
されている、このNPNバイポーラトランジスタ3のコ
レクタは電源1に、エミッタは出力線11に接続されて
いる。出力線11と接地2との間にはNチャネルMO3
FET8.・9が直列接続されている。そして、Nチャ
ネルMO8FET8のゲートにはHi−Z補信号13が
与えられ、NチャネルMOSFpT9のゲートは入力線
10に接続されている。
びNチャネルMOSFET6のゲートは入力線10に共
通接続され、このNOR回路の一方の入力を成し、Pチ
ャネルMO3FET5及びNチャネルMOSFET7の
ゲートにはNOR回路の他方の入力としてHi−Z正信
号12が与えられている。このNOR回路の出力は、出
力段のNPNバイポーラトランジスタ3のベースに入力
されている、このNPNバイポーラトランジスタ3のコ
レクタは電源1に、エミッタは出力線11に接続されて
いる。出力線11と接地2との間にはNチャネルMO3
FET8.・9が直列接続されている。そして、Nチャ
ネルMO8FET8のゲートにはHi−Z補信号13が
与えられ、NチャネルMOSFpT9のゲートは入力線
10に接続されている。
このように構成された従来のバイポーラMO8B値出力
バッファにおいて、Hi−Z正信号12及びHi−Z補
信号13が夫々L(ロウレベル)及びH(ハイレベル)
に設定されると、PチャネルMO8FET5がオン、N
チャネルMO3FET7がオフとなるので、NOR回路
はインバータとして機能し、入力線10を介して入力さ
れた入力信号を反転させてNPNバイポーラトランジス
タ3のベースに出力する。従って、入力線10を介して
入力された入力信号がLのときにはNPNバイポーラト
ランジスタ3のベースにはHが与えられ、このNPNバ
イポーラトランジスタ3はオン状態となる。また、入力
信号がHのときにはNPNバイポーラトランジスタ3の
ベースにはLが与えられ、このトランジスタ3はオフ状
態となる。
バッファにおいて、Hi−Z正信号12及びHi−Z補
信号13が夫々L(ロウレベル)及びH(ハイレベル)
に設定されると、PチャネルMO8FET5がオン、N
チャネルMO3FET7がオフとなるので、NOR回路
はインバータとして機能し、入力線10を介して入力さ
れた入力信号を反転させてNPNバイポーラトランジス
タ3のベースに出力する。従って、入力線10を介して
入力された入力信号がLのときにはNPNバイポーラト
ランジスタ3のベースにはHが与えられ、このNPNバ
イポーラトランジスタ3はオン状態となる。また、入力
信号がHのときにはNPNバイポーラトランジスタ3の
ベースにはLが与えられ、このトランジスタ3はオフ状
態となる。
一方、NチャネルMO3FET8は既に導通状態にある
ので、入力線10を介してゲートに入力信号が与えられ
るNチャネルMO3FET9はドレインが出力線11に
接続された状態となっている。
ので、入力線10を介してゲートに入力信号が与えられ
るNチャネルMO3FET9はドレインが出力線11に
接続された状態となっている。
そして、このNチャネルMO8FET9はゲートに与え
られる入力信号がL及びHのときには夫々オフ状態及び
オン状態となる。
られる入力信号がL及びHのときには夫々オフ状態及び
オン状態となる。
従って、この場合、入力線10を介して入力される入力
信号により、NPNバイポーラトランジスタ3及びNチ
ャネルMO3FET9は相補的に導通制御されて出力線
に付随する出力負荷を駆動し、この出力線11を介して
H又はLの出力信号を他の回路に送出する。
信号により、NPNバイポーラトランジスタ3及びNチ
ャネルMO3FET9は相補的に導通制御されて出力線
に付随する出力負荷を駆動し、この出力線11を介して
H又はLの出力信号を他の回路に送出する。
次に、Hi−Z正信号12及びHi−Z補信号13が夫
々H及びLに設定されると、Hが一方の入力に与えられ
るNOR回路の出力はLに固定され、このしがベースに
与えられるNPNバイポーラトランジスタ3はオフ状態
となる。また、Lがゲートに与えられるNチャネルMO
3FET8はオフ状態となる。この結果、出力線11は
電源1及び接地2に対して高インピーダンス状態となる
。
々H及びLに設定されると、Hが一方の入力に与えられ
るNOR回路の出力はLに固定され、このしがベースに
与えられるNPNバイポーラトランジスタ3はオフ状態
となる。また、Lがゲートに与えられるNチャネルMO
3FET8はオフ状態となる。この結果、出力線11は
電源1及び接地2に対して高インピーダンス状態となる
。
このように、このバイポーラMO3B値出力バッファの
出力が高インピーダンスになれば、この出力が接続され
る出力線11は他のバッファからも駆動できるようにな
る。
出力が高インピーダンスになれば、この出力が接続され
る出力線11は他のバッファからも駆動できるようにな
る。
[発明が解決しようとする課題]
上述した従来のバイポーラMO3B値出力バッファは、
出力が高インピーダンス状態の場合、この出力が接続さ
れる出力線11を共有する他のバッファがHを出力する
と、NPNバイポーラトランジスタ3のベース・エミッ
タ接合に電源lの電圧に近い逆バイアス電圧が印加され
る。ここで、現在使用されているNPNバイポーラトラ
ンジスタのベース・エミッタ接合の逆バイアス耐圧は4
〜4.5 (V)程度であり、この耐圧はトランジスタ
の微細化に伴って、更に低下する傾向にある。
出力が高インピーダンス状態の場合、この出力が接続さ
れる出力線11を共有する他のバッファがHを出力する
と、NPNバイポーラトランジスタ3のベース・エミッ
タ接合に電源lの電圧に近い逆バイアス電圧が印加され
る。ここで、現在使用されているNPNバイポーラトラ
ンジスタのベース・エミッタ接合の逆バイアス耐圧は4
〜4.5 (V)程度であり、この耐圧はトランジスタ
の微細化に伴って、更に低下する傾向にある。
即ち、NPNバイポーラトランジスタのベース幅を縮小
する場合、ベース・コレクタ接合及びベース・エミッタ
接合での空乏層の延びを防ぐために、ベース領域の不純
物濃度を高くすることが行われる。このとき、ベース領
域へのキャリアの注入効率を下げないためには、エミッ
タ領域の不純物濃度をより高くする必要がある。この結
果、ベース・エミッタ接合の不純物濃度が高くなり、逆
バイアス耐圧が低下することとなる。
する場合、ベース・コレクタ接合及びベース・エミッタ
接合での空乏層の延びを防ぐために、ベース領域の不純
物濃度を高くすることが行われる。このとき、ベース領
域へのキャリアの注入効率を下げないためには、エミッ
タ領域の不純物濃度をより高くする必要がある。この結
果、ベース・エミッタ接合の不純物濃度が高くなり、逆
バイアス耐圧が低下することとなる。
従って、例えば、現在−最に使用されている電源電圧5
(■)系のシステムに本従来例の回路を搭載して微細化
したICを使用しようとしても、NPNバイポーラトラ
ンジスタ3のベース・エミッタ接合に他のICの出力バ
ッファから逆バイアス耐圧を超えるハイレベルの信号が
印加されると、この接合が降伏し、エミッタからベース
への降伏電流が流れることとなる。従って、他のICの
出力バッファから出力されたハイレベルの信号は、この
ベース・エミッタ接合の逆バイアス耐圧を超えることが
できないばかりでなく、無駄な降伏電流が流れるという
問題点がある。
(■)系のシステムに本従来例の回路を搭載して微細化
したICを使用しようとしても、NPNバイポーラトラ
ンジスタ3のベース・エミッタ接合に他のICの出力バ
ッファから逆バイアス耐圧を超えるハイレベルの信号が
印加されると、この接合が降伏し、エミッタからベース
への降伏電流が流れることとなる。従って、他のICの
出力バッファから出力されたハイレベルの信号は、この
ベース・エミッタ接合の逆バイアス耐圧を超えることが
できないばかりでなく、無駄な降伏電流が流れるという
問題点がある。
本発明はかかる問題点に鑑みてなされたものであって、
出力線を介して他のICの出力バッファから出力された
ハイレベルの信号が出力に接続されたNPNバイポーラ
トランジスタのエミッタに与えられても、このベース・
エミッタ接合が降伏することなく、他の出力バッファか
ら出力された信号のハイレベルに干渉を与えることがな
いバイポーラMO3B値出力バッファを提供することを
目的とする。
出力線を介して他のICの出力バッファから出力された
ハイレベルの信号が出力に接続されたNPNバイポーラ
トランジスタのエミッタに与えられても、このベース・
エミッタ接合が降伏することなく、他の出力バッファか
ら出力された信号のハイレベルに干渉を与えることがな
いバイポーラMO3B値出力バッファを提供することを
目的とする。
[課題を解決するための手段]
本発明に係るバイポーラMO3B値出力バッファは、制
御信号により能動状態が制御され、入力線を介して入力
された入力信号に基づいてハイレベル出力又はロウレベ
ル出力を出力線に出力するバイポーラMO8B値出力バ
ッファにおいて、前記制御信号により能動状態が制御さ
れ前記入力信号に基づいてハイレベル出力又はロウレベ
ル出力を出力する3値出力回路と、正電源と前記出力線
との間に接続されベースに前記3値出力回路の出力が与
えられて導通制御されるバイポーラトランジスタと、前
記出力線と接地との間に接続されて前記制御信号により
短絡又は開放される第1のスイッチング素子と、前記バ
イポーラトランジスタのベースと前記出力線との間に接
続されて前記制御信号により短絡又は開放される第2の
スイッチング素子とを有することを特徴とする。
御信号により能動状態が制御され、入力線を介して入力
された入力信号に基づいてハイレベル出力又はロウレベ
ル出力を出力線に出力するバイポーラMO8B値出力バ
ッファにおいて、前記制御信号により能動状態が制御さ
れ前記入力信号に基づいてハイレベル出力又はロウレベ
ル出力を出力する3値出力回路と、正電源と前記出力線
との間に接続されベースに前記3値出力回路の出力が与
えられて導通制御されるバイポーラトランジスタと、前
記出力線と接地との間に接続されて前記制御信号により
短絡又は開放される第1のスイッチング素子と、前記バ
イポーラトランジスタのベースと前記出力線との間に接
続されて前記制御信号により短絡又は開放される第2の
スイッチング素子とを有することを特徴とする。
[作用コ
本発明においては、3値出力回路の出力によって導通制
御されて出力線に正電源を供給するバイポーラトランジ
スタのベースと上記出力線との間に制御信号により短絡
又は開放される第2のスイッチング素子を有している。
御されて出力線に正電源を供給するバイポーラトランジ
スタのベースと上記出力線との間に制御信号により短絡
又は開放される第2のスイッチング素子を有している。
このため、このバイポーラMO3B値出力バッファが能
動状態でないとき、例えば、この出力が高インピーダン
ス状態のときに、出力線を介して他の出力バッファから
のハイレベルの信号がこのバイポーラMO3B値出力バ
ッファの出力に印加されたとしても、制御信号により、
バイポーラトランジスタのベースを高インピーダンス状
態にすると共に、バイポーラトランジスタのベースとエ
ミッタ(出力線)との間に接続された第2のスイッチン
グ素子を短絡することにより、ベース・エミッタ間の電
圧をこの接合の降伏電圧以下に抑制することができる。
動状態でないとき、例えば、この出力が高インピーダン
ス状態のときに、出力線を介して他の出力バッファから
のハイレベルの信号がこのバイポーラMO3B値出力バ
ッファの出力に印加されたとしても、制御信号により、
バイポーラトランジスタのベースを高インピーダンス状
態にすると共に、バイポーラトランジスタのベースとエ
ミッタ(出力線)との間に接続された第2のスイッチン
グ素子を短絡することにより、ベース・エミッタ間の電
圧をこの接合の降伏電圧以下に抑制することができる。
従って、本発明によれば、出力に他の出力バッファのハ
イレベルが印加されたとしても、ベース・エミッタ接合
が降伏することがないため、降伏電流が流れることがな
く、他の出力バッファのハイレベルに干渉を与えること
がない。
イレベルが印加されたとしても、ベース・エミッタ接合
が降伏することがないため、降伏電流が流れることがな
く、他の出力バッファのハイレベルに干渉を与えること
がない。
[実施例]
次に、本発明の実施例について添付の図面を参照して説
明する。
明する。
第1図は本発明の第1の実施例に係るバイポーラMO3
B値出力バッファを示す回路図である。
B値出力バッファを示す回路図である。
なお、第1図において第3図と同一物には同一符号を付
して詳しい説明を省略する。
して詳しい説明を省略する。
電源1と出力段のNPNバイポーラトランジスタ3のベ
ースとの間に直列接続されたPチャネルMOSFET2
1.22及び前記NPNバイポーラトランジスタ3のベ
ースと接地2との間に直列接続されたNチャネルMOS
FET23.24により3値出力回路が構成されている
。PチャネルMOSFET21及びNチャネルMOSF
ET24のゲートは入力線10に共通接続されて、この
3値出力回路の入力となっている。PチャネルMOSF
ET22及びNチャネルMOSFET23のゲートには
夫々Hi−Z正信号12及びHi−Z補信号13が与え
られている。なお、Hi−Z補信号13は、第1のスイ
ッチング素子であるNチャネルMOSFET8のゲート
に入力されている。また、NPNバイポーラトランジス
タ3のベースとエミッタ(出力線11)との間には第2
のスイッチング素子としてNチャネルMOS F ET
25が接続されており、このゲートにはPチャネルMO
SFET22のゲートと共にHi−Z正信号12が与え
られて導通制御されている。
ースとの間に直列接続されたPチャネルMOSFET2
1.22及び前記NPNバイポーラトランジスタ3のベ
ースと接地2との間に直列接続されたNチャネルMOS
FET23.24により3値出力回路が構成されている
。PチャネルMOSFET21及びNチャネルMOSF
ET24のゲートは入力線10に共通接続されて、この
3値出力回路の入力となっている。PチャネルMOSF
ET22及びNチャネルMOSFET23のゲートには
夫々Hi−Z正信号12及びHi−Z補信号13が与え
られている。なお、Hi−Z補信号13は、第1のスイ
ッチング素子であるNチャネルMOSFET8のゲート
に入力されている。また、NPNバイポーラトランジス
タ3のベースとエミッタ(出力線11)との間には第2
のスイッチング素子としてNチャネルMOS F ET
25が接続されており、このゲートにはPチャネルMO
SFET22のゲートと共にHi−Z正信号12が与え
られて導通制御されている。
次に、このように構成された第1の実施例の回路の動作
について説明する。
について説明する。
Hi−Z正信号12及びHi−Z補信号13が夫々L及
びHに設定された場合、Pチ°ヤネルMO3FET22
及びNチャネルMOSFET23がオンどなるので、P
チャネルMO’5FET21゜22及びNチャネルMO
SFET23.24により構成される3値出力回路はイ
ンバータとして機能し、また、NチャネルMOSFET
25はオフ状態となる。この結果、本実施例の回路は第
3図に示す従来の回路において、Hi−Z正信号12及
びHi−Z補信号13が夫々L及びHに設定された場合
と同様に機能することとなり、入力線10を介して入力
された入力信号に基づいて、NPNバイポーラトランジ
スタ3及びNチャネルM○5FET9が相補的に導通制
御されて出力線11に付随する出力負荷を駆動し、この
出力線11を介してH又はLの出力信号を他の回路に送
出する。
びHに設定された場合、Pチ°ヤネルMO3FET22
及びNチャネルMOSFET23がオンどなるので、P
チャネルMO’5FET21゜22及びNチャネルMO
SFET23.24により構成される3値出力回路はイ
ンバータとして機能し、また、NチャネルMOSFET
25はオフ状態となる。この結果、本実施例の回路は第
3図に示す従来の回路において、Hi−Z正信号12及
びHi−Z補信号13が夫々L及びHに設定された場合
と同様に機能することとなり、入力線10を介して入力
された入力信号に基づいて、NPNバイポーラトランジ
スタ3及びNチャネルM○5FET9が相補的に導通制
御されて出力線11に付随する出力負荷を駆動し、この
出力線11を介してH又はLの出力信号を他の回路に送
出する。
また、Hi−Z正信号12及びHi−Z補信号13が夫
々H及びLに設定された場合、H及びLが夫々ゲートに
与えられるPチャネルMOSFET22及びNチャネル
MOSFET23はいずれもオフ状態となり、3値出力
回路の出力は高インピーダンス状態となる。また、Lが
ゲートに与えられるNチャネルMO3FET8がオフ状
態となるので、出力線11と接地2との間は高インピー
ダンス状態となる。更にHがゲートに与えられるNチャ
ネルMOSFET25はオン状態となり、これによりN
PNバイポーラトランジスタ3のベースとエミッタとは
短絡される。このため、NPNバイポーラトランジスタ
3は遮断領域に固定されてオフ状態となり、出力線11
と電源1との間は高インピーダンス状態となる。
々H及びLに設定された場合、H及びLが夫々ゲートに
与えられるPチャネルMOSFET22及びNチャネル
MOSFET23はいずれもオフ状態となり、3値出力
回路の出力は高インピーダンス状態となる。また、Lが
ゲートに与えられるNチャネルMO3FET8がオフ状
態となるので、出力線11と接地2との間は高インピー
ダンス状態となる。更にHがゲートに与えられるNチャ
ネルMOSFET25はオン状態となり、これによりN
PNバイポーラトランジスタ3のベースとエミッタとは
短絡される。このため、NPNバイポーラトランジスタ
3は遮断領域に固定されてオフ状態となり、出力線11
と電源1との間は高インピーダンス状態となる。
ここで、NPNバイポーラトランジスタ3のベースとエ
ミッタとはNチャネルMOSFET25によって短絡さ
れるため、出力線11を介して他の出力バッファから与
えられる信号がこれらベース及びエミッタに共通に与え
られることとなる。
ミッタとはNチャネルMOSFET25によって短絡さ
れるため、出力線11を介して他の出力バッファから与
えられる信号がこれらベース及びエミッタに共通に与え
られることとなる。
従って、この場合、NPNバイポーラトランジスタ3の
ベース・エミッタ間の電圧は、NチャネルMOSFET
25のスレッショルド電圧7丁による電位差が生ずるこ
とはあっても、この接合の逆バイアス耐圧を超えること
がなくなるため、他の出力バッファから出力線11に出
力されたハイレベルの信号に干渉を与えることがなくな
り、このハイレベルが逆バイアス耐圧を超えることによ
って発生する降伏電流をなくすことができる。
ベース・エミッタ間の電圧は、NチャネルMOSFET
25のスレッショルド電圧7丁による電位差が生ずるこ
とはあっても、この接合の逆バイアス耐圧を超えること
がなくなるため、他の出力バッファから出力線11に出
力されたハイレベルの信号に干渉を与えることがなくな
り、このハイレベルが逆バイアス耐圧を超えることによ
って発生する降伏電流をなくすことができる。
第2図は本発明の第2の実施例に係るバイポーラMOS
B値出力バッファを示す回路図である。
B値出力バッファを示す回路図である。
なお、第2図において、第1図と同一物には同一符号を
付して詳しい説明を省略する。本実施例が先の実施例と
相違する点は、NPNバイポーラトランジスタ3のベー
ス・エミッタ間に設けられる第2のスイッチング素子と
してNチャネルMOSFET25に加え、これと並列に
PチャネルMOSFET35を接続し、また、出力線1
1と接地2との間に接続される第1のスイッチング素子
として、NチャネルMO8FET8.9に代えて、NP
Nバイポーラトランジスタ36を接続し、これを導通制
御する手段として、NチャネルMOSFET31,32
,33.34により構成されるコントロール回路が設け
られている点である。
付して詳しい説明を省略する。本実施例が先の実施例と
相違する点は、NPNバイポーラトランジスタ3のベー
ス・エミッタ間に設けられる第2のスイッチング素子と
してNチャネルMOSFET25に加え、これと並列に
PチャネルMOSFET35を接続し、また、出力線1
1と接地2との間に接続される第1のスイッチング素子
として、NチャネルMO8FET8.9に代えて、NP
Nバイポーラトランジスタ36を接続し、これを導通制
御する手段として、NチャネルMOSFET31,32
,33.34により構成されるコントロール回路が設け
られている点である。
即ち、NPNバイポーラトランジスタ3のベースとエミ
ッタとの間にはPチャネルMOSFET35がNチャネ
ルMOSFET25と並列接続され、このゲートにはH
i−Z補信号13が与えられている。そして、このバイ
ポーラMOSB値出力バッファの出力線11とNPNバ
イポーラトランジスタ36のベースとの間にはNチャネ
ルMOSFET31.32が直列接続され、Nチャネル
MOSFET31のゲートには入力線1oを介して入力
信号が与えられ、NチャネルMOSFET32のゲート
にはHi−Z補信号13が与えられている。また、NP
Nバイポーラトランジスタ36のベースと接地2との間
にはNチャネルMOSFET33.34が並列接続され
ており、NチャネルMOSFET33のゲートはこのバ
イポーラMOSB値出力バッファの出力線11に接続さ
れ、NチャネルMOSFET34のゲートにはHiZ正
信号12が与えられている。
ッタとの間にはPチャネルMOSFET35がNチャネ
ルMOSFET25と並列接続され、このゲートにはH
i−Z補信号13が与えられている。そして、このバイ
ポーラMOSB値出力バッファの出力線11とNPNバ
イポーラトランジスタ36のベースとの間にはNチャネ
ルMOSFET31.32が直列接続され、Nチャネル
MOSFET31のゲートには入力線1oを介して入力
信号が与えられ、NチャネルMOSFET32のゲート
にはHi−Z補信号13が与えられている。また、NP
Nバイポーラトランジスタ36のベースと接地2との間
にはNチャネルMOSFET33.34が並列接続され
ており、NチャネルMOSFET33のゲートはこのバ
イポーラMOSB値出力バッファの出力線11に接続さ
れ、NチャネルMOSFET34のゲートにはHiZ正
信号12が与えられている。
このように構成された第2の実施例の回路の動作につい
て説明する。
て説明する。
Hi−Z正信号12及びHi−Z補信号13が夫々L及
びHに設定された場合、PチャネルMOSFET21.
22及びNチャネルMO3FET23.24から構成さ
れる3値出力回路は先の実施例と同様にインバータとし
て機能し、ゲットに夫々し及びHが与えられるNチャネ
ルMOSFET25及びPチャネルMOSFET35は
オフ状態となる。
びHに設定された場合、PチャネルMOSFET21.
22及びNチャネルMO3FET23.24から構成さ
れる3値出力回路は先の実施例と同様にインバータとし
て機能し、ゲットに夫々し及びHが与えられるNチャネ
ルMOSFET25及びPチャネルMOSFET35は
オフ状態となる。
そして、ゲートに夫々L及びHが与えられるNチャネル
MOSFET34及び32は、夫々オフ状態及びオン状
態となる。この結果、NPNバイポーラトランジスタ3
の導通制御は先の実施例と全く同一に行われる。一方、
NPNバイポーラトランジスタ36は、入力線10を介
してNチャネルMO3FET31のゲートに与えられる
入力信号がHのときに、NチャネルMO3FET31及
び既にオン状態にあるNチャネルMOSFET32を介
してこのバイポーラMO9B値出力バッファの出力がベ
ースに与えられてオン状態となり、出力線11にLを供
給する。また、入力信号がLのときには、バイポーラト
ランジスタ36は、NチャネルMOSFET33により
ベースにLが与えられてオフ状態となる。
MOSFET34及び32は、夫々オフ状態及びオン状
態となる。この結果、NPNバイポーラトランジスタ3
の導通制御は先の実施例と全く同一に行われる。一方、
NPNバイポーラトランジスタ36は、入力線10を介
してNチャネルMO3FET31のゲートに与えられる
入力信号がHのときに、NチャネルMO3FET31及
び既にオン状態にあるNチャネルMOSFET32を介
してこのバイポーラMO9B値出力バッファの出力がベ
ースに与えられてオン状態となり、出力線11にLを供
給する。また、入力信号がLのときには、バイポーラト
ランジスタ36は、NチャネルMOSFET33により
ベースにLが与えられてオフ状態となる。
従って、NPNバイポーラトランジスタ3は、前述した
ように入力線10を介して入力される入力信号がHのと
きにはオフ状態、またLのときにはオン状態となるから
、NPNバイポーラトランジスタ3及びNPNバイポー
ラトランジスタ36は入力線10を介して入力される入
力信号によって相補的に導通制御されて、出力線11に
H又はLの出力信号を出力することとなる。
ように入力線10を介して入力される入力信号がHのと
きにはオフ状態、またLのときにはオン状態となるから
、NPNバイポーラトランジスタ3及びNPNバイポー
ラトランジスタ36は入力線10を介して入力される入
力信号によって相補的に導通制御されて、出力線11に
H又はLの出力信号を出力することとなる。
次に、Hi−Z正信号12及びHi −Z補信号13が
夫々H及びLに設定された場合、NPNバイポーラトラ
ンジスタ36は、NチャネルMOSFET34を介して
ベースに接地電位が与えられオフ状態となる。そして、
NPNバイポーラ1〜ランジスタ3は、ゲートに夫々H
及びLが与えられてオン状態となったNチャネルMO3
FET25及びPチャネルMOSFET35によってベ
ース・エミッタ間を短絡され、遮断領域に固定されてオ
フ状態となる。従って、この場合、NPNバイポーラト
ランジスタ3,36はいずれもオフ状態となり、出力は
高インピーダンス状態となる。
夫々H及びLに設定された場合、NPNバイポーラトラ
ンジスタ36は、NチャネルMOSFET34を介して
ベースに接地電位が与えられオフ状態となる。そして、
NPNバイポーラ1〜ランジスタ3は、ゲートに夫々H
及びLが与えられてオン状態となったNチャネルMO3
FET25及びPチャネルMOSFET35によってベ
ース・エミッタ間を短絡され、遮断領域に固定されてオ
フ状態となる。従って、この場合、NPNバイポーラト
ランジスタ3,36はいずれもオフ状態となり、出力は
高インピーダンス状態となる。
ここで、本実施例においては、NPNバイポーラトラン
ジスタ3のベースとエミッタとを短絡する第2のスイッ
チング素子としてPチャネルMOSFET35をNチャ
ネルMOSFET25に並列接続している。このため、
NPNバイポーラトランジスタ3のベース・エミッタ間
にはNチャネルMOSFET25のスレッショルド電圧
■↑による電位差が生ずることがなく、NPNバイポー
ラトランジスタ3のベース・エミッタ間の電位差を上記
実施例よりも更に減少させることができると共に、NP
Nバイポーラトランジスタ3をより確実に遮断領域に固
定することができるという利点を有する。
ジスタ3のベースとエミッタとを短絡する第2のスイッ
チング素子としてPチャネルMOSFET35をNチャ
ネルMOSFET25に並列接続している。このため、
NPNバイポーラトランジスタ3のベース・エミッタ間
にはNチャネルMOSFET25のスレッショルド電圧
■↑による電位差が生ずることがなく、NPNバイポー
ラトランジスタ3のベース・エミッタ間の電位差を上記
実施例よりも更に減少させることができると共に、NP
Nバイポーラトランジスタ3をより確実に遮断領域に固
定することができるという利点を有する。
[発明の効果]
以上説明したように本発明は、出力線に電源レベルを供
給するバイポーラトランジスタのベースとエミッタ(出
力線)との間に、短絡及び開放の2状態を有するスイッ
チング素子を接続して、ベース・エミッタ間の電圧がこ
の接合の逆バイアス耐圧を超えないようにしたから、耐
圧の低いバイポーラトランジスタを用いたとしても、ベ
ース・エミッタ接合が降伏することがなく、降伏電流の
発生を抑制することができ、他のICの出力バッファか
ら出力線に出力されたハイレベルに干渉を与えることが
ないという効果を有する。
給するバイポーラトランジスタのベースとエミッタ(出
力線)との間に、短絡及び開放の2状態を有するスイッ
チング素子を接続して、ベース・エミッタ間の電圧がこ
の接合の逆バイアス耐圧を超えないようにしたから、耐
圧の低いバイポーラトランジスタを用いたとしても、ベ
ース・エミッタ接合が降伏することがなく、降伏電流の
発生を抑制することができ、他のICの出力バッファか
ら出力線に出力されたハイレベルに干渉を与えることが
ないという効果を有する。
第1図は本発明の第1の実施例に係るバイポーラMO9
B値出力バッファを示す回路図、第2図は本発明の第2
の実施例に係るバイポーラMO3B値出力バッファを示
す回路図、第3図は従来のバイポーラMO8B値出力バ
ッファを示す回路図である。
B値出力バッファを示す回路図、第2図は本発明の第2
の実施例に係るバイポーラMO3B値出力バッファを示
す回路図、第3図は従来のバイポーラMO8B値出力バ
ッファを示す回路図である。
Claims (1)
- (1)制御信号により能動状態が制御され、入力線を介
して入力された入力信号に基づいてハイレベル出力又は
ロウレベル出力を出力線に出力するバイポーラMOS3
値出力バッファにおいて、前記制御信号により能動状態
が制御され前記入力信号に基づいてハイレベル出力又は
ロウレベル出力を出力する3値出力回路と、正電源と前
記出力線との間に接続されベースに前記3値出力回路の
出力が与えられて導通制御されるバイポーラトランジス
タと、前記出力線と接地との間に接続されて前記制御信
号により短絡又は開放される第1のスイッチング素子と
、前記バイポーラトランジスタのベースと前記出力線と
の間に接続されて前記制御信号により短絡又は開放され
る第2のスイッチング素子とを有することを特徴とする
バイポーラMOS3値出力バッファ。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1034811A JPH02214219A (ja) | 1989-02-14 | 1989-02-14 | バイポーラmos3値出力バッファ |
EP90301536A EP0383554B1 (en) | 1989-02-14 | 1990-02-14 | BiMOS tri-state output buffer |
DE69027793T DE69027793T2 (de) | 1989-02-14 | 1990-02-14 | BiMOS-Ausgangspuffer mit drei Zuständen |
US07/480,108 US5083048A (en) | 1989-02-14 | 1990-02-14 | Bimos tri-state output buffer |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1034811A JPH02214219A (ja) | 1989-02-14 | 1989-02-14 | バイポーラmos3値出力バッファ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02214219A true JPH02214219A (ja) | 1990-08-27 |
Family
ID=12424598
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1034811A Pending JPH02214219A (ja) | 1989-02-14 | 1989-02-14 | バイポーラmos3値出力バッファ |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5083048A (ja) |
EP (1) | EP0383554B1 (ja) |
JP (1) | JPH02214219A (ja) |
DE (1) | DE69027793T2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04277926A (ja) * | 1991-03-06 | 1992-10-02 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体集積回路 |
EP0810735A2 (en) * | 1996-05-30 | 1997-12-03 | Nec Corporation | Tristate buffer having a bipolar transistor |
Families Citing this family (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0473409B1 (en) * | 1990-08-29 | 1997-07-16 | Nec Corporation | BiCMOS logic circuit |
US5153464A (en) * | 1990-12-14 | 1992-10-06 | Hewlett-Packard Company | Bicmos tri-state output buffer |
US5184034A (en) * | 1991-12-06 | 1993-02-02 | National Semiconductor Corporation | State-dependent discharge path circuit |
GB2296834B (en) * | 1992-09-09 | 1996-09-25 | Intel Corp | Inverting and non-inverting bicmos tri-state buffer circuits |
US5300829A (en) * | 1992-09-09 | 1994-04-05 | Intel Corporation | BiCMOS circuit with negative VBE protection |
US5371423A (en) * | 1992-12-14 | 1994-12-06 | Siemens Aktiengesellschaft | Tri-state-capable driver circuit |
US5332933A (en) * | 1993-01-21 | 1994-07-26 | Hewlett-Packard Company | Bipolar-MOS circuits with dimensions scaled to enhance performance |
JP3140605B2 (ja) * | 1993-04-28 | 2001-03-05 | 富士通株式会社 | 出力バッファ回路 |
US5432462A (en) * | 1993-04-30 | 1995-07-11 | Motorola, Inc. | Input buffer circuit having sleep mode and bus hold function |
US5465409A (en) * | 1994-03-07 | 1995-11-07 | Motorola, Inc. | Radio architecture with dual frequency source selection |
US5398000A (en) * | 1994-03-30 | 1995-03-14 | Intel Corporation | Simple and high speed BICMOS tristate buffer circuit |
US5844425A (en) * | 1996-07-19 | 1998-12-01 | Quality Semiconductor, Inc. | CMOS tristate output buffer with having overvoltage protection and increased stability against bus voltage variations |
US6646490B1 (en) * | 2002-08-20 | 2003-11-11 | Analog Devices, Inc. | Bipolar breakdown enhancement circuit for tri-state output stage |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5490941A (en) * | 1977-12-26 | 1979-07-19 | Hitachi Ltd | Driving circuit of tristate type |
JPH07105707B2 (ja) * | 1985-07-31 | 1995-11-13 | 株式会社日立製作所 | 3ステ−ト回路 |
US4678940A (en) * | 1986-01-08 | 1987-07-07 | Advanced Micro Devices, Inc. | TTL compatible merged bipolar/CMOS output buffer circuits |
JPS62221219A (ja) * | 1986-03-22 | 1987-09-29 | Toshiba Corp | 論理回路 |
US4703203A (en) * | 1986-10-03 | 1987-10-27 | Motorola, Inc. | BICMOS logic having three state output |
JPH0611111B2 (ja) * | 1987-03-27 | 1994-02-09 | 株式会社東芝 | BiMOS論理回路 |
JP2569113B2 (ja) * | 1988-03-07 | 1997-01-08 | 株式会社日立製作所 | 半導体集積回路装置 |
US4963766A (en) * | 1989-06-28 | 1990-10-16 | Digital Equipment Corporation | Low-voltage CMOS output buffer |
-
1989
- 1989-02-14 JP JP1034811A patent/JPH02214219A/ja active Pending
-
1990
- 1990-02-14 DE DE69027793T patent/DE69027793T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1990-02-14 EP EP90301536A patent/EP0383554B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1990-02-14 US US07/480,108 patent/US5083048A/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04277926A (ja) * | 1991-03-06 | 1992-10-02 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体集積回路 |
EP0810735A2 (en) * | 1996-05-30 | 1997-12-03 | Nec Corporation | Tristate buffer having a bipolar transistor |
EP0810735A3 (en) * | 1996-05-30 | 1999-05-06 | Nec Corporation | Tristate buffer having a bipolar transistor |
US6037802A (en) * | 1996-05-30 | 2000-03-14 | Nec Corporation | Tristate buffer having a bipolar transistor |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0383554B1 (en) | 1996-07-17 |
US5083048A (en) | 1992-01-21 |
EP0383554A3 (en) | 1991-01-16 |
DE69027793T2 (de) | 1996-11-21 |
EP0383554A2 (en) | 1990-08-22 |
DE69027793D1 (de) | 1996-08-22 |
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