JPH02204918A - 異方性導電膜 - Google Patents
異方性導電膜Info
- Publication number
- JPH02204918A JPH02204918A JP2506489A JP2506489A JPH02204918A JP H02204918 A JPH02204918 A JP H02204918A JP 2506489 A JP2506489 A JP 2506489A JP 2506489 A JP2506489 A JP 2506489A JP H02204918 A JPH02204918 A JP H02204918A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- conductive film
- connection
- resin
- anisotropic conductive
- particles
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims abstract description 24
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims abstract description 12
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims abstract description 12
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 abstract description 4
- 239000004020 conductor Substances 0.000 abstract description 3
- 239000004033 plastic Substances 0.000 abstract description 3
- 229920001187 thermosetting polymer Polymers 0.000 abstract description 2
- 239000000088 plastic resin Substances 0.000 abstract 1
- 238000002788 crimping Methods 0.000 description 7
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 6
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 5
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 5
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000008602 contraction Effects 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 1
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 229920005992 thermoplastic resin Polymers 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/28—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process
- H01L2224/29—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process of an individual layer connector
- H01L2224/29001—Core members of the layer connector
- H01L2224/29099—Material
- H01L2224/29198—Material with a principal constituent of the material being a combination of two or more materials in the form of a matrix with a filler, i.e. being a hybrid material, e.g. segmented structures, foams
- H01L2224/29298—Fillers
- H01L2224/29299—Base material
- H01L2224/293—Base material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/28—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process
- H01L2224/29—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process of an individual layer connector
- H01L2224/29001—Core members of the layer connector
- H01L2224/29099—Material
- H01L2224/29198—Material with a principal constituent of the material being a combination of two or more materials in the form of a matrix with a filler, i.e. being a hybrid material, e.g. segmented structures, foams
- H01L2224/29298—Fillers
- H01L2224/29299—Base material
- H01L2224/2939—Base material with a principal constituent of the material being a polymer, e.g. polyester, phenolic based polymer, epoxy
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/28—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process
- H01L2224/29—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process of an individual layer connector
- H01L2224/29001—Core members of the layer connector
- H01L2224/29099—Material
- H01L2224/29198—Material with a principal constituent of the material being a combination of two or more materials in the form of a matrix with a filler, i.e. being a hybrid material, e.g. segmented structures, foams
- H01L2224/29298—Fillers
- H01L2224/29399—Coating material
- H01L2224/294—Coating material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/28—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process
- H01L2224/29—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process of an individual layer connector
- H01L2224/29001—Core members of the layer connector
- H01L2224/29099—Material
- H01L2224/29198—Material with a principal constituent of the material being a combination of two or more materials in the form of a matrix with a filler, i.e. being a hybrid material, e.g. segmented structures, foams
- H01L2224/29298—Fillers
- H01L2224/29499—Shape or distribution of the fillers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/83—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
- H01L2224/838—Bonding techniques
- H01L2224/8385—Bonding techniques using a polymer adhesive, e.g. an adhesive based on silicone, epoxy, polyimide, polyester
- H01L2224/83851—Bonding techniques using a polymer adhesive, e.g. an adhesive based on silicone, epoxy, polyimide, polyester being an anisotropic conductive adhesive
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/30—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
- H05K3/32—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
- H05K3/321—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by conductive adhesives
Landscapes
- Non-Insulated Conductors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は液晶デイスプレィパネル、等の平面型デイスプ
レィパネルの如き細密な端子ピッチの多端子電極の取シ
出しを必要とする装置に対して有効な接続材料である異
方性導電膜に関する。
レィパネルの如き細密な端子ピッチの多端子電極の取シ
出しを必要とする装置に対して有効な接続材料である異
方性導電膜に関する。
[従来の技術]
従来の異方性導電膜の接続構造は、例えば液晶表示装置
においては第2図に示すように、異方性導電膜1は熱可
塑性あるいは熱硬化性の樹脂3中に、均一な粒径を有し
た導電粒子2を分散させたものを工To端子(7−17
−2)が形成されたガラス基板6とIFPO4との間に
介在させ圧着することによって、工To端子(7−17
−2)とlPP0端子(5−1,5−2)とを該粒子を
通して、電気的接続を行い、かつ前記樹脂5が、ガラス
基板6とFPO4の間に充填され接続を行なっていた。
においては第2図に示すように、異方性導電膜1は熱可
塑性あるいは熱硬化性の樹脂3中に、均一な粒径を有し
た導電粒子2を分散させたものを工To端子(7−17
−2)が形成されたガラス基板6とIFPO4との間に
介在させ圧着することによって、工To端子(7−17
−2)とlPP0端子(5−1,5−2)とを該粒子を
通して、電気的接続を行い、かつ前記樹脂5が、ガラス
基板6とFPO4の間に充填され接続を行なっていた。
[発明が解決しようとする課題]
しかし、前述の従来技術では、圧着後の接続端子間(5
−1と7−1.5−2と7−2)の厚さは、導電粒子2
0粒径あるいは、変形後の粒径となるが、例えば、圧着
時における圧着力2時間等の製造工程における圧着バラ
ツキが発生し、圧着力が増大した場合には、導電粒子が
過大変形あるいは破壊され、初期的導通不良や温度等の
影響によって異方性導電膜が膨張、収縮を繰り返す等の
経時変化による劣化を受は易(なり導通不良に至る。一
方、圧着力が減少した場合には、工TO端子(7−1、
7−2)とFPO端子(5−1,5−2)との電気的接
続ができず導通不良となるという問題点があった。
−1と7−1.5−2と7−2)の厚さは、導電粒子2
0粒径あるいは、変形後の粒径となるが、例えば、圧着
時における圧着力2時間等の製造工程における圧着バラ
ツキが発生し、圧着力が増大した場合には、導電粒子が
過大変形あるいは破壊され、初期的導通不良や温度等の
影響によって異方性導電膜が膨張、収縮を繰り返す等の
経時変化による劣化を受は易(なり導通不良に至る。一
方、圧着力が減少した場合には、工TO端子(7−1、
7−2)とFPO端子(5−1,5−2)との電気的接
続ができず導通不良となるという問題点があった。
そこで、本発明は上記問題点を解決するものであり、そ
の目的とするところは、基板とFPCとの充分な接続が
得られ且つ信頼性の高い電気的接続が得られる異方性導
電膜を提供することにある[課題を解決するだめの手段
] 上記問題点を解決するために、本発明の異方性導電膜は
、面に交差する方向のみに導電性を有し、圧着により、
電子部品相互を電気的に接続する異方性導電膜において
、該導電膜の樹脂中に、粒径な異にする導電粒子を分散
させたことを特徴とする。
の目的とするところは、基板とFPCとの充分な接続が
得られ且つ信頼性の高い電気的接続が得られる異方性導
電膜を提供することにある[課題を解決するだめの手段
] 上記問題点を解決するために、本発明の異方性導電膜は
、面に交差する方向のみに導電性を有し、圧着により、
電子部品相互を電気的に接続する異方性導電膜において
、該導電膜の樹脂中に、粒径な異にする導電粒子を分散
させたことを特徴とする。
[実施例]
第1図は、本発明の一実施例を示す図であり、液晶表示
装置における工Toが形成されたガラス基板6とFPC
4の異方性導電膜釦よる接続状態の断面図である。本実
施例の異方性導電膜は、Fpo端子(5−1,5−2>
と1TO端子(7−1,7−2)間および、端子間(5
−1と5−27−1と7−20間)に該接続端子を電気
的に導通させるための導電粒子2とガラス基板6とFP
C4間の厚さを均一に保ちかつ導電性を有したスペーサ
ー粒子8が、樹脂3中に分散されている具体的には前記
異方性導電膜の構造は、熱可塑性樹脂または、熱硬化性
樹脂等の樹脂3中に、接続端子の導電に寄与する導電性
粒子2(例えば、ニッケル、炭素、はんだ、タングステ
ン等の金属性導電物あるいは絶縁性プラスチックに導電
物質をコーティングした物)と圧着時の圧力と温度に対
して充分なつぶれ強度と耐熱性を持ち、接続後の端子間
の隙間が適正かつ前記導電粒子2のつぶれ径を一定にし
、また導電にも寄与するスペーサー粒子B(例えば、硬
質プラスチックに導電物質なコーティングした物)が分
散されているのである。
装置における工Toが形成されたガラス基板6とFPC
4の異方性導電膜釦よる接続状態の断面図である。本実
施例の異方性導電膜は、Fpo端子(5−1,5−2>
と1TO端子(7−1,7−2)間および、端子間(5
−1と5−27−1と7−20間)に該接続端子を電気
的に導通させるための導電粒子2とガラス基板6とFP
C4間の厚さを均一に保ちかつ導電性を有したスペーサ
ー粒子8が、樹脂3中に分散されている具体的には前記
異方性導電膜の構造は、熱可塑性樹脂または、熱硬化性
樹脂等の樹脂3中に、接続端子の導電に寄与する導電性
粒子2(例えば、ニッケル、炭素、はんだ、タングステ
ン等の金属性導電物あるいは絶縁性プラスチックに導電
物質をコーティングした物)と圧着時の圧力と温度に対
して充分なつぶれ強度と耐熱性を持ち、接続後の端子間
の隙間が適正かつ前記導電粒子2のつぶれ径を一定にし
、また導電にも寄与するスペーサー粒子B(例えば、硬
質プラスチックに導電物質なコーティングした物)が分
散されているのである。
前記構造の異方性導電膜を使い、圧着接続することによ
り、第1図の様な接続状態となり、スペーサー粒子8に
よって、導電粒子2は、適正なつぶれ状態となり、つぶ
れ過ぎなどにより生じる電気的接続不良を防いでいる。
り、第1図の様な接続状態となり、スペーサー粒子8に
よって、導電粒子2は、適正なつぶれ状態となり、つぶ
れ過ぎなどにより生じる電気的接続不良を防いでいる。
さらに、隣接接続端子間(5−1と5−2.7−1と7
−2間)の樹脂3の充填量も、接続端子間(5−1と7
−15−2と7−2の間)の厚さが均一になることによ
り一定となり、接読の機械的強度を向上させると共に、
経時変化による導通不良が防止できる。
−2間)の樹脂3の充填量も、接続端子間(5−1と7
−15−2と7−2の間)の厚さが均一になることによ
り一定となり、接読の機械的強度を向上させると共に、
経時変化による導通不良が防止できる。
[発明の効果]
以上述べたように本発明の異方性導電膜を用い接続すれ
ば、導電粒子が、適正な状態で接続端子と接し、充分な
圧着接続状態が確保され、信頼性の高い電気的接続が得
られる。また、樹脂の充填量が一定となり、接続強度が
向上し、接続長期安定性、信頼性が確保できる。
ば、導電粒子が、適正な状態で接続端子と接し、充分な
圧着接続状態が確保され、信頼性の高い電気的接続が得
られる。また、樹脂の充填量が一定となり、接続強度が
向上し、接続長期安定性、信頼性が確保できる。
第1図は本発明の異方性導電膜を用いた液晶表示装置の
要部拡大断面図。 第2図は、従来の異方性導電膜を用いた液晶表示装置の
要部拡大断面図。 1・・・・・・・・・異方性導電膜 2・・・・・・・・・導電性粒子 3・・・・・・・・・樹 脂 4 ・・・ ・・・ ・・・ IFPO5−15−2・
・・・・・FPO端子 6・・・・・・・・・ガラス基板 7−17−2・・・・・・工TO端子 8・・・・・・・・・スペーサー粒子 以上 出願人 セイコーエプソン株式会社
要部拡大断面図。 第2図は、従来の異方性導電膜を用いた液晶表示装置の
要部拡大断面図。 1・・・・・・・・・異方性導電膜 2・・・・・・・・・導電性粒子 3・・・・・・・・・樹 脂 4 ・・・ ・・・ ・・・ IFPO5−15−2・
・・・・・FPO端子 6・・・・・・・・・ガラス基板 7−17−2・・・・・・工TO端子 8・・・・・・・・・スペーサー粒子 以上 出願人 セイコーエプソン株式会社
Claims (1)
- 面に交差する方向のみに導電性を有し、圧着により電子
部品相互を電気的に接続する異方性導電膜において、該
導電膜の樹脂中に、粒径を異にする導電粒子を分散させ
たことを特徴とする異方性導電膜。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2506489A JPH02204918A (ja) | 1989-02-03 | 1989-02-03 | 異方性導電膜 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2506489A JPH02204918A (ja) | 1989-02-03 | 1989-02-03 | 異方性導電膜 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02204918A true JPH02204918A (ja) | 1990-08-14 |
Family
ID=12155493
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2506489A Pending JPH02204918A (ja) | 1989-02-03 | 1989-02-03 | 異方性導電膜 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02204918A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0996321A2 (en) * | 1998-10-22 | 2000-04-26 | Sony Chemicals Corporation | Anisotropically electroconductive adhesive and adhesive film |
-
1989
- 1989-02-03 JP JP2506489A patent/JPH02204918A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0996321A2 (en) * | 1998-10-22 | 2000-04-26 | Sony Chemicals Corporation | Anisotropically electroconductive adhesive and adhesive film |
EP0996321A3 (en) * | 1998-10-22 | 2003-02-12 | Sony Chemicals Corporation | Anisotropically electroconductive adhesive and adhesive film |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5001302A (en) | Connecting structure for an electronic part | |
US5679928A (en) | Electrical connecting structure for electrically connecting terminals to each other | |
US20090078449A1 (en) | Dielectric sheet | |
JPS60170176A (ja) | 透明導電膜との接続構造体 | |
JPH02204918A (ja) | 異方性導電膜 | |
JPH09199206A (ja) | 異方性導電接着フィルム | |
JPS6052187B2 (ja) | 導電性接着剤 | |
JPH0529386A (ja) | 被着体の接続端子部の接続構造 | |
JP3458707B2 (ja) | 実装ユニット | |
JPH0371570A (ja) | 導電用結合剤および導電接続構造 | |
JPH0661419A (ja) | 電子部品及びその接続方法 | |
JP3156477B2 (ja) | 導電フィルム及びその製造方法 | |
JP3198162B2 (ja) | 半導体集積回路装置の接続方法 | |
JPH05174890A (ja) | 接合構造 | |
JPS608377A (ja) | 異方導電性接着剤 | |
JP3118059B2 (ja) | 液晶表示装置の接続構造及びそのための接続装置 | |
JPS61195178A (ja) | 異方導電性接着剤 | |
JPH10107072A (ja) | 半導体素子の接続構造および接続方法 | |
JPH06203640A (ja) | 異方導電性接着剤および導電接続構造 | |
JP3468103B2 (ja) | 電子部品の実装方法 | |
JPH05182516A (ja) | 異方導電性接着剤および導電接続構造 | |
JP2805948B2 (ja) | Icチップの接続構造 | |
JPH04223348A (ja) | 異方導電接続構造 | |
JPH0577048B2 (ja) | ||
JPH1116946A (ja) | 半導体装置の実装方法 |