JPH02194353A - 回路基板の自動ハンダブリッジ検査装置 - Google Patents
回路基板の自動ハンダブリッジ検査装置Info
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- JPH02194353A JPH02194353A JP1454089A JP1454089A JPH02194353A JP H02194353 A JPH02194353 A JP H02194353A JP 1454089 A JP1454089 A JP 1454089A JP 1454089 A JP1454089 A JP 1454089A JP H02194353 A JPH02194353 A JP H02194353A
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- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 title claims abstract description 56
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims abstract description 89
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 3
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 abstract 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 11
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 3
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 2
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Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、電子部品等が実装された回路基板におけるハ
ンダブリッジを自動的に検査する回路基板の自動ハンダ
ブリッジ検査装置に関する。
ンダブリッジを自動的に検査する回路基板の自動ハンダ
ブリッジ検査装置に関する。
回路基板のハンダブリッジ検査には、検査すべきハンダ
個所にコンタクトピンを接触させて通電し、短絡の有無
を判定する電気的検査方法が従来広く採用されている。
個所にコンタクトピンを接触させて通電し、短絡の有無
を判定する電気的検査方法が従来広く採用されている。
一方、入力した検査対象基板の画像と基準基板の画像と
を比較処理し、形状認識によって部品の誤装着等を含む
異常個所を検査する中でハンダブリッジも付随的に検査
する光学的検査方法も一部で開発が進められている。
を比較処理し、形状認識によって部品の誤装着等を含む
異常個所を検査する中でハンダブリッジも付随的に検査
する光学的検査方法も一部で開発が進められている。
しかし、従来の前記電気的検査方法は、接触方式である
ためにコンタクトビンの接触不良による誤判定が生じ易
く、また通電による検査の不可能な部品が実装されてい
る基板に対しては適用できない等の問題点があった。さ
らに、この方法によれば、検査対象基板の機神の変更に
際してコンタクトビンの配列変更や通電制御装置の仕様
変更等を余儀なくされ、機種の変更に対する即応性に劣
る等の問題点もあった。
ためにコンタクトビンの接触不良による誤判定が生じ易
く、また通電による検査の不可能な部品が実装されてい
る基板に対しては適用できない等の問題点があった。さ
らに、この方法によれば、検査対象基板の機神の変更に
際してコンタクトビンの配列変更や通電制御装置の仕様
変更等を余儀なくされ、機種の変更に対する即応性に劣
る等の問題点もあった。
また、従来の前記光学的検査方法は、非接触方式である
点において上記電気的検査方法より優れた而も認められ
るが、ハンダブリッジを他の異常個所と共に形状認識に
よって判定するものであるために、容量が人きく高度且
つ複雑な画像処理システムを必要とし、しかも誤判定が
生じ易い等の問題点があった。
点において上記電気的検査方法より優れた而も認められ
るが、ハンダブリッジを他の異常個所と共に形状認識に
よって判定するものであるために、容量が人きく高度且
つ複雑な画像処理システムを必要とし、しかも誤判定が
生じ易い等の問題点があった。
本発明の目的は、比較的簡素な画像処理によって基板の
ハンダブリッジを確実に判定し、従来の電気的検査方法
や光学的検査方法の難点を解消した回路基板の自動ハン
ダブリッジ検査装置を提供することにある。
ハンダブリッジを確実に判定し、従来の電気的検査方法
や光学的検査方法の難点を解消した回路基板の自動ハン
ダブリッジ検査装置を提供することにある。
本発明に係る回路基板の自動ハンダブリッジ検査装置は
、各機種の検査対象基板におりる各検査エリアの基準座
標及び各検査エリア内における各ハンダ位置に対応する
検査ターゲットの基準座標を含む画像処理情報を記憶す
る情報記憶手段と、検査エリア内の画像を入力する画像
入力１段と、画像入力手段の入力画像を記憶する画像記
憶１段と、画像入力手段及び検査対象基板の一方を他方
に対して移動させると共に画像入力手段の視野を検査エ
リアと一致させる移動制御手段と、情報記憶手段及び画
像記憶手段の各出力信号に基いて画像処理し、検査エリ
ア内における各検査ターゲット−Ｌに存在するハンダ独
（Ｌ画像を検索すると共に該検査ターゲットの個数と該
ハンダ独立画像の個数との差大の有無を判定し、■２つ
移動制御手段に所定検査エリアの座標を含む制御信号を
与える画像処理演算下段と、画像処理演算手段における
個数判定結果及び差異ありと判定された検査エリアの座
標を出力表示する表示手段とからなるものである。
、各機種の検査対象基板におりる各検査エリアの基準座
標及び各検査エリア内における各ハンダ位置に対応する
検査ターゲットの基準座標を含む画像処理情報を記憶す
る情報記憶手段と、検査エリア内の画像を入力する画像
入力１段と、画像入力手段の入力画像を記憶する画像記
憶１段と、画像入力手段及び検査対象基板の一方を他方
に対して移動させると共に画像入力手段の視野を検査エ
リアと一致させる移動制御手段と、情報記憶手段及び画
像記憶手段の各出力信号に基いて画像処理し、検査エリ
ア内における各検査ターゲット−Ｌに存在するハンダ独
（Ｌ画像を検索すると共に該検査ターゲットの個数と該
ハンダ独立画像の個数との差大の有無を判定し、■２つ
移動制御手段に所定検査エリアの座標を含む制御信号を
与える画像処理演算下段と、画像処理演算手段における
個数判定結果及び差異ありと判定された検査エリアの座
標を出力表示する表示手段とからなるものである。
（作 用）
画像処理演算ト段において、各検査エリア内における各
検査ターゲラトートに存在するハンダ独立画像が所定の
順序で検索される。検索順位が上位と）位の各検査ター
ゲット間にハンダブリッジがあると、詠ハンダブリッジ
に対応する単独のハンダ独立画像が上位の検査ターゲッ
トの検索時に該検査ターゲットトに存在し、下位の検査
ターゲットの検索時には該検査ターゲットトにハンダ独
立画像は存在しないものとされる。
検査ターゲラトートに存在するハンダ独立画像が所定の
順序で検索される。検索順位が上位と）位の各検査ター
ゲット間にハンダブリッジがあると、詠ハンダブリッジ
に対応する単独のハンダ独立画像が上位の検査ターゲッ
トの検索時に該検査ターゲットトに存在し、下位の検査
ターゲットの検索時には該検査ターゲットトにハンダ独
立画像は存在しないものとされる。
従って、該検査エリア内における検査ターゲットの個数
とハンダ独立画像の個数との差異を判定することにより
、該検査エリア内におけるハンダブリッジを検査するこ
とができる。
とハンダ独立画像の個数との差異を判定することにより
、該検査エリア内におけるハンダブリッジを検査するこ
とができる。
表示手段によってでハンダブリッジが存在する検査エリ
アの座標を知ることができるが、要ずれば、さらに註検
査エリア内におけるハンダブリッジの位置を大小手段に
よって表示させてもよい。
アの座標を知ることができるが、要ずれば、さらに註検
査エリア内におけるハンダブリッジの位置を大小手段に
よって表示させてもよい。
（実施例〕
第１図は本発明の実施例の機能ブロック図であり、また
第３図は第１図にンバず実施例の動作フローチャートで
あり、８１〜Ｓ７の各ステップを包含する。
第３図は第１図にンバず実施例の動作フローチャートで
あり、８１〜Ｓ７の各ステップを包含する。
同図において、検査対象基板（１）が検査台（２）上に
位置決めされ、ＣＣＤテレビカメラ等からなる、照明装
置を備えた画像入力手段（３）が移動可能に検査対象基
板（１）のＦ方に設りられると共に移動制御手段（４）
によってＸ、 −Ｙ軸方向に制御される。なお、画像入
力手段（３）を移動させる代りに検査対象基板（１）を
移動させてもよい。
位置決めされ、ＣＣＤテレビカメラ等からなる、照明装
置を備えた画像入力手段（３）が移動可能に検査対象基
板（１）のＦ方に設りられると共に移動制御手段（４）
によってＸ、 −Ｙ軸方向に制御される。なお、画像入
力手段（３）を移動させる代りに検査対象基板（１）を
移動させてもよい。
画像入力手段（３）は視野内における検査エリア（５）
の画像を入力し、該画像入力手段（３）の入力画像は画
像記憶手段（６）に−［３，記憶される。なお、画像記
憶手段（６）の記憶画像はＣＲＴ等のモニタ手段（７）
によって監視することが可能である。
の画像を入力し、該画像入力手段（３）の入力画像は画
像記憶手段（６）に−［３，記憶される。なお、画像記
憶手段（６）の記憶画像はＣＲＴ等のモニタ手段（７）
によって監視することが可能である。
一方、１機種又は２機種以ｌ−の検査対象基板（１）に
おける各検査エリア（５）の基準座標、及び各検査エリ
ア（５）内における各ハンダ位置に対応する検査ターゲ
ットの個数や基準座標を含む画像処理情報が磁気ディス
ク、ＩＣメモリ等からなる情報記憶手段（８）に設定記
憶される。
おける各検査エリア（５）の基準座標、及び各検査エリ
ア（５）内における各ハンダ位置に対応する検査ターゲ
ットの個数や基準座標を含む画像処理情報が磁気ディス
ク、ＩＣメモリ等からなる情報記憶手段（８）に設定記
憶される。
前記情報記憶手段（８）における特定機種の検査対象基
板（１）に関する画像処理情報及び前記画像記憶手段（
６）における該検査対象基板（１）の検査エリア（５）
の画像が画像処理演算手段（９）に入力され（ｓｉ及び
Ｓ２）、所要の画像処理及び演算が行なわれる。ここで
は、検査エリア（５）内における各検査ターゲット上に
存在するハンダ独立画像を検索する（Ｓ３）と共に該検
査ターゲットの個数と該ハンダ独立画像の個数との差異
の有無を判定しく Ｓ ４． ） 、且つ画像入力手段
（３）を所定検査エリア（５）に移動させるために移動
制御手段（４）に該検査エリア（５）の座標を含む制御
信号を与える。なお、情報記憶手段（８）の画像処理情
報は、要すれば画像処理演算手段（９）に付設されたキ
ーボード等からなる設定手段（１０）によって修正、追
加及び削除等が可能である。
板（１）に関する画像処理情報及び前記画像記憶手段（
６）における該検査対象基板（１）の検査エリア（５）
の画像が画像処理演算手段（９）に入力され（ｓｉ及び
Ｓ２）、所要の画像処理及び演算が行なわれる。ここで
は、検査エリア（５）内における各検査ターゲット上に
存在するハンダ独立画像を検索する（Ｓ３）と共に該検
査ターゲットの個数と該ハンダ独立画像の個数との差異
の有無を判定しく Ｓ ４． ） 、且つ画像入力手段
（３）を所定検査エリア（５）に移動させるために移動
制御手段（４）に該検査エリア（５）の座標を含む制御
信号を与える。なお、情報記憶手段（８）の画像処理情
報は、要すれば画像処理演算手段（９）に付設されたキ
ーボード等からなる設定手段（１０）によって修正、追
加及び削除等が可能である。
画像処理演算手段（９）における差異なしの判定結果、
又は差異ありの判定結果と該検査エリア（５）の座標が
、ＣＲＴ、プリンタ、音声出力装置等からなる表示手段
（１１）によって出力表示される（Ｓ５及びＳ６）。
又は差異ありの判定結果と該検査エリア（５）の座標が
、ＣＲＴ、プリンタ、音声出力装置等からなる表示手段
（１１）によって出力表示される（Ｓ５及びＳ６）。
前記５１〜Ｓ６のステップにおいて検査対象基板く１）
における特定の検査エリア（５）の検査が終了する。該
検査対象基板（１）における全ての検査エリア（５）の
検査が完了した場合は、該検査対象基板（１）に関する
ハンダブリッジ検査は終了となり、また検査すべき検査
エリア（５）がまだ残っている場合は、画像処理演算手
段（９）が移動制御手段（４）に制御信号を与えると共
に画像入力手段（３）を次の検査エリア（５）に移動さ
せ、検査エリアの画像入力（Ｓ２）に始まる既述の各ス
テップが再度開始される（Ｓ７）。
における特定の検査エリア（５）の検査が終了する。該
検査対象基板（１）における全ての検査エリア（５）の
検査が完了した場合は、該検査対象基板（１）に関する
ハンダブリッジ検査は終了となり、また検査すべき検査
エリア（５）がまだ残っている場合は、画像処理演算手
段（９）が移動制御手段（４）に制御信号を与えると共
に画像入力手段（３）を次の検査エリア（５）に移動さ
せ、検査エリアの画像入力（Ｓ２）に始まる既述の各ス
テップが再度開始される（Ｓ７）。
第２図（ａ）〜（ｅ）は画像処理演算手段におけるハン
ダ独立画像の検索状態を示す説明図である。画像処理演
算手段（９）において、同図（ａ）に示すように、検査
対象基板（１）における検査エリア（５）内には、計９
個のハンダ個所の内で検査が必要とされる７個所の各検
査ターゲット（Ｔ）が基準設定され、各検査ターゲット
（Ｔ）には所定サイズの「＋」印マーカ（Ｍ）が付され
、検査対象から外された非検査ターゲット（Ｑ）には該
マーカ（Ｍ）が付されない。該マーカ（Ｍ）は、検査台
（２）上への検査対象基板（１）の位置決めに際して生
じる誤差に効果的に対処するために、所定の広がりの検
索範囲を与える。
ダ独立画像の検索状態を示す説明図である。画像処理演
算手段（９）において、同図（ａ）に示すように、検査
対象基板（１）における検査エリア（５）内には、計９
個のハンダ個所の内で検査が必要とされる７個所の各検
査ターゲット（Ｔ）が基準設定され、各検査ターゲット
（Ｔ）には所定サイズの「＋」印マーカ（Ｍ）が付され
、検査対象から外された非検査ターゲット（Ｑ）には該
マーカ（Ｍ）が付されない。該マーカ（Ｍ）は、検査台
（２）上への検査対象基板（１）の位置決めに際して生
じる誤差に効果的に対処するために、所定の広がりの検
索範囲を与える。
各マーカ（Ｍ）上に存在するハンダ独立画像（１）を上
段から下段の方向に、各段ごとに左から右の方向に順次
検索し、同図（ｂ）に示すように、検査に係る検査エリ
ア（５）内にハンダブリッジが全くない場合は、全ての
マーカ（Ｍ）上にハンダ独立画像（Ｉ）が存在し、同図
（ａ）に示す設定どおりの状態になる。その結果、検査
ターゲット（Ｔ）の個数「７」と該検査ターゲット（Ｔ
）上に存在するハンダ独立画像（Ｉ）の個数「７」とが
一致し、個数に差異なしと判定される。
段から下段の方向に、各段ごとに左から右の方向に順次
検索し、同図（ｂ）に示すように、検査に係る検査エリ
ア（５）内にハンダブリッジが全くない場合は、全ての
マーカ（Ｍ）上にハンダ独立画像（Ｉ）が存在し、同図
（ａ）に示す設定どおりの状態になる。その結果、検査
ターゲット（Ｔ）の個数「７」と該検査ターゲット（Ｔ
）上に存在するハンダ独立画像（Ｉ）の個数「７」とが
一致し、個数に差異なしと判定される。
また、前記検索に際して、同図（Ｃ）に示すように、２
個所のマーカ（Ｍｌ）、（Ｍ２）間にハンダブリッジが
ある場合は、両マーカ（Ｍｌ）、（Ｍ２）を架橋するハ
ンダ独立画像（ＩＩ−２）が上位のマーカ（Ｍｌ）上に
存在し、下位のマーカ（Ｍ２）ｊ二にはハンダ独立画像
（Ｉ）が存在しないものとされ、その結果、検査ターゲ
ット（Ｔ）の個数「７」と該検査ターゲット（Ｔ）上に
存在するハンダ独立画像（Ｉ）の個数「６」とが不一致
となり、個数に差異ありと判定される。
個所のマーカ（Ｍｌ）、（Ｍ２）間にハンダブリッジが
ある場合は、両マーカ（Ｍｌ）、（Ｍ２）を架橋するハ
ンダ独立画像（ＩＩ−２）が上位のマーカ（Ｍｌ）上に
存在し、下位のマーカ（Ｍ２）ｊ二にはハンダ独立画像
（Ｉ）が存在しないものとされ、その結果、検査ターゲ
ット（Ｔ）の個数「７」と該検査ターゲット（Ｔ）上に
存在するハンダ独立画像（Ｉ）の個数「６」とが不一致
となり、個数に差異ありと判定される。
なお、前記検索に際して、ハンダ独立画像（Ｉ）がマー
カ（Ｍ）から完全に外れている場合は、該検査ターゲッ
ト（Ｔ）上にハンダ独立画像（１）はないとされるので
、この場合も、両者の個数に差異ありと判定され、ハン
ダ不良の発見に寄与する。また、航記検索に際して、画
像処理演算手段（９）に、画素数の計数によってハンダ
独立国像（１）の面積判断を行なわせ、ハンダ不良の有
無を併せて判定させてもよい。
カ（Ｍ）から完全に外れている場合は、該検査ターゲッ
ト（Ｔ）上にハンダ独立画像（１）はないとされるので
、この場合も、両者の個数に差異ありと判定され、ハン
ダ不良の発見に寄与する。また、航記検索に際して、画
像処理演算手段（９）に、画素数の計数によってハンダ
独立国像（１）の面積判断を行なわせ、ハンダ不良の有
無を併せて判定させてもよい。
前記情報記憶手段（８）には、既述の各情報と共に画像
処理演算手段（９）におけるハンダ独立画像（Ｎ形成の
ための信号処理しきい値、マーカ（Ｍ）のサイズ、また
ハンダ独１．画像（Ｉ）の面積判断を伴う場合はさらに
検査ターゲット（Ｔ）の基準画素数（面積）及び面積判
断しきい値等が記憶設定される。
処理演算手段（９）におけるハンダ独立画像（Ｎ形成の
ための信号処理しきい値、マーカ（Ｍ）のサイズ、また
ハンダ独１．画像（Ｉ）の面積判断を伴う場合はさらに
検査ターゲット（Ｔ）の基準画素数（面積）及び面積判
断しきい値等が記憶設定される。
本発明に係る回路基板の自動ハンダブリッジ検査装置は
、以１−のように、情報記憶手段及び画像記憶１段の各
出力信号に基いて画像処理し、検査エリア内における各
検査ターゲット上に存在するハンダ独立画像を検索する
と共に該検査ターゲットの個数と該ハンダ独立画像の個
数との差異の有無を判定し、該個数判定結果に基いて該
検査エリア内におりるハンダブリッジを検査するように
構成される。
、以１−のように、情報記憶手段及び画像記憶１段の各
出力信号に基いて画像処理し、検査エリア内における各
検査ターゲット上に存在するハンダ独立画像を検索する
と共に該検査ターゲットの個数と該ハンダ独立画像の個
数との差異の有無を判定し、該個数判定結果に基いて該
検査エリア内におりるハンダブリッジを検査するように
構成される。
従って、該検査装置によれば、比較的簡素な画像処理に
よって基板のハンダブリッジを非接触的に確実に検査す
ることができ、検査対象基板の機種変更に対しても情報
記憶手段における画像処理情報の選択や修止等によって
容易に即応させることができる。
よって基板のハンダブリッジを非接触的に確実に検査す
ることができ、検査対象基板の機種変更に対しても情報
記憶手段における画像処理情報の選択や修止等によって
容易に即応させることができる。
第１図は本発明の実施例の機能ブロック図、第２図（ａ
、 ）〜（Ｃ）は画像処理演算手段におりるハンダ独立
画像の検索状態を示す説明図、第３図は第１図に示す実
施例の動作フローヂャートである。 〈主要符号の説明〉 １・・・検査対象基板、 ３・・・画像入力手段、
４・・・移動制御手段、 ５・・・検査エリア、 ６・
・・画像記憶手段、 ８・・・情報記憶手段、 ９・・
・画像処理演算手段、１１．−・・表示手段、 ■・・
・検査ターゲット、 Ｔ・・・ハンダ独立画像 以上 特許出願人 シエック株式会召 代理人 弁理」−安 藤 惇 逸 第２図
、 ）〜（Ｃ）は画像処理演算手段におりるハンダ独立
画像の検索状態を示す説明図、第３図は第１図に示す実
施例の動作フローヂャートである。 〈主要符号の説明〉 １・・・検査対象基板、 ３・・・画像入力手段、
４・・・移動制御手段、 ５・・・検査エリア、 ６・
・・画像記憶手段、 ８・・・情報記憶手段、 ９・・
・画像処理演算手段、１１．−・・表示手段、 ■・・
・検査ターゲット、 Ｔ・・・ハンダ独立画像 以上 特許出願人 シエック株式会召 代理人 弁理」−安 藤 惇 逸 第２図
Claims (1)
- （１）各機種の検査対象基板における各検査エリアの基
準座標及び各検査エリア内における各ハンダ位置に対応
する検査ターゲットの基準座標を含む画像処理情報を記
憶する情報記憶手段と、検査エリア内の画像を入力する
画像入力手段と、画像入力手段の入力画像を記憶する画
像記憶手段と、画像入力手段及び検査対象基板の一方を
他方に対して移動させると共に画像入力手段の視野を検
査エリアと一致させる移動制御手段と、情報記憶手段及
び画像記憶手段の各出力信号に基いて画像処理し、検査
エリア内における各検査ターゲット上に存在するハンダ
独立画像を検索すると共に該検査ターゲットの個数と該
ハンダ独立画像の個数との差異の有無を判定し、且つ移
動制御手段に所定検査エリアの座標を含む制御信号を与
える画像処理演算手段と、画像処理演算手段における個
数判定結果及び差異ありと判定された検査エリアの座標
を出力表示する表示手段とからなる回路基板の自動ハン
ダブリッジ検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1454089A JPH02194353A (ja) | 1989-01-23 | 1989-01-23 | 回路基板の自動ハンダブリッジ検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1454089A JPH02194353A (ja) | 1989-01-23 | 1989-01-23 | 回路基板の自動ハンダブリッジ検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02194353A true JPH02194353A (ja) | 1990-07-31 |
Family
ID=11863987
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1454089A Pending JPH02194353A (ja) | 1989-01-23 | 1989-01-23 | 回路基板の自動ハンダブリッジ検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02194353A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2014122797A (ja) * | 2012-12-20 | 2014-07-03 | Toyota Motor Corp | 基板検査装置、基板検査方法及び基板検査プログラム |
| JP2018114524A (ja) * | 2017-01-17 | 2018-07-26 | 白光株式会社 | 半田付装置 |
-
1989
- 1989-01-23 JP JP1454089A patent/JPH02194353A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2014122797A (ja) * | 2012-12-20 | 2014-07-03 | Toyota Motor Corp | 基板検査装置、基板検査方法及び基板検査プログラム |
| JP2018114524A (ja) * | 2017-01-17 | 2018-07-26 | 白光株式会社 | 半田付装置 |
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