JPH02184592A - 結晶成長方法 - Google Patents
結晶成長方法Info
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- JPH02184592A JPH02184592A JP428489A JP428489A JPH02184592A JP H02184592 A JPH02184592 A JP H02184592A JP 428489 A JP428489 A JP 428489A JP 428489 A JP428489 A JP 428489A JP H02184592 A JPH02184592 A JP H02184592A
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Landscapes
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
- Liquid Deposition Of Substances Of Which Semiconductor Devices Are Composed (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
結晶成長方法に係り、特に化合物半導体の結晶成長方法
に関し。
に関し。
組成の均一性が高く欠陥の少ない混晶バルク結晶を成長
する方法の提供を目的とし。
する方法の提供を目的とし。
回転軸上から外れた位置に種結晶を保持する基板保持部
を、核種結晶が成長溶液に浸された状態のまま該回転軸
で回転させて結晶成長を行う結晶〔産業上の利用分野〕 本発明は結晶成長方法に係り、特に化合物半導体の結晶
成長方法に関する。
を、核種結晶が成長溶液に浸された状態のまま該回転軸
で回転させて結晶成長を行う結晶〔産業上の利用分野〕 本発明は結晶成長方法に係り、特に化合物半導体の結晶
成長方法に関する。
光半導体デバイス、高速半導体デバイス等に用いる化合
物半導体結晶を成長するためには、その化合物半導体結
晶に格子整合する基板材料を必要とする。そして、混晶
半導体の適用範囲を拡げるために、格子定数を自由に制
御した基板材料の開発が要求されている。
物半導体結晶を成長するためには、その化合物半導体結
晶に格子整合する基板材料を必要とする。そして、混晶
半導体の適用範囲を拡げるために、格子定数を自由に制
御した基板材料の開発が要求されている。
このため、基板材料として、3元系以上の組成で均一性
が高く、欠陥の少ない混晶バルク結晶を成長する技術を
開発する必要がある。
が高く、欠陥の少ない混晶バルク結晶を成長する技術を
開発する必要がある。
第4図は混晶バルク結晶を成長する従来の結晶成長装置
の概念図である。
の概念図である。
第4図において、1は種結晶、 21はカーボンパイプ
、3は回転棒、 31はヒータ、32は加圧容器。
、3は回転棒、 31はヒータ、32は加圧容器。
4は成長溶液、5は窒化ボロンのるつぼ、 51はカー
ボンのるつぼ台、6はソースを表す。
ボンのるつぼ台、6はソースを表す。
成長溶液4は酸化硼素(8203)のフラックスで覆わ
れている。
れている。
カーボンパイプ21を正電極、カーボンのるつぼ台51
を負電極として成長溶液4に直流を流しながら結晶成長
を行うと、溶質元素を補給するソース6の表面にはペル
チェ熱が発生し、さらに内部にはジュール熱が発生し、
ソース6近傍の成長溶液4の加熱昇温とあいまってソー
ス6が成長溶液4に溶解して溶質元素の補給が行われる
。
を負電極として成長溶液4に直流を流しながら結晶成長
を行うと、溶質元素を補給するソース6の表面にはペル
チェ熱が発生し、さらに内部にはジュール熱が発生し、
ソース6近傍の成長溶液4の加熱昇温とあいまってソー
ス6が成長溶液4に溶解して溶質元素の補給が行われる
。
ところで、3元以上の多元系の成長では、成長界面にお
ける溶質元素濃度のミクロな揺らぎのため、樹枝状(デ
ンドライト状)に結晶が成長する傾向にあり、これを防
止するために次の二通りの対策がたてられている。
ける溶質元素濃度のミクロな揺らぎのため、樹枝状(デ
ンドライト状)に結晶が成長する傾向にあり、これを防
止するために次の二通りの対策がたてられている。
(1)基板界面近傍の温度勾配を急峻にする。
(2)基板成長面を溶液に対して高速に回転する。
ところが、従来の結晶成長方法では第4図に示すように
基板面(種結晶1の結晶成長面)が水平になるように回
転棒3に取り付けられており8回転棒3を回転するとき
基板の中心部では成長溶液4に対する相対速度が小さく
、デンドライト状成長を防止する効果が小さかった。
基板面(種結晶1の結晶成長面)が水平になるように回
転棒3に取り付けられており8回転棒3を回転するとき
基板の中心部では成長溶液4に対する相対速度が小さく
、デンドライト状成長を防止する効果が小さかった。
本発明は、デンドライト状成長を防止する効果を上げる
ために結晶成長面に対する成長溶液の相対的流速を上げ
る方法を提供すると共に、溶質元素の補給を均一に制御
性よく行って、均一性が高く、欠陥の少ない混晶バルク
結晶を成長する方法を提供することを目的とする。
ために結晶成長面に対する成長溶液の相対的流速を上げ
る方法を提供すると共に、溶質元素の補給を均一に制御
性よく行って、均一性が高く、欠陥の少ない混晶バルク
結晶を成長する方法を提供することを目的とする。
第1図乃至第3図は1本発明の実施例■乃至■を説明す
るための図である。
るための図である。
第1図乃至第3図及び図中の符号を参照しながら、上記
課題を解決するための手段について説明する。
課題を解決するための手段について説明する。
上記課題は2回転軸33上から外れた位置に種結晶11
乃至16を保持する基板保持部2を、該種結晶11乃至
16が成長溶液4に浸された状態のまま該回転軸33で
回転させて結晶成長を行う結晶成長方法によって解決さ
れる。
乃至16を保持する基板保持部2を、該種結晶11乃至
16が成長溶液4に浸された状態のまま該回転軸33で
回転させて結晶成長を行う結晶成長方法によって解決さ
れる。
本発明では第1図及び第2図に示すように1種結晶11
乃至16の結晶成長面が回転軸33上から外れた位置に
なるように1種結晶11乃至16を基板保持部2に固定
している。種結晶11乃至16をこのように配置すると
9回転棒3を回転軸33を中心として回転する時、成長
溶液4の種結晶に対する相対流速が大きくなる。相対流
速が大きいと、結晶成長面には次々に新しい溶質元素が
補給されてデンドライト成長が妨げられる。
乃至16の結晶成長面が回転軸33上から外れた位置に
なるように1種結晶11乃至16を基板保持部2に固定
している。種結晶11乃至16をこのように配置すると
9回転棒3を回転軸33を中心として回転する時、成長
溶液4の種結晶に対する相対流速が大きくなる。相対流
速が大きいと、結晶成長面には次々に新しい溶質元素が
補給されてデンドライト成長が妨げられる。
この効果は種結晶の結晶成長面を回転軸から大きく隔て
るほど大きくなる。
るほど大きくなる。
ここで、隔たりを大きくすると大きなるつぼが必要にな
るが2種結晶の配置位置の横方向への広がりを小さく抑
えて小さなるつぼで成長溶液の種結晶に対する相対流速
を大きくするため、第1図では種結晶の結晶成長面を水
平面から傾けており。
るが2種結晶の配置位置の横方向への広がりを小さく抑
えて小さなるつぼで成長溶液の種結晶に対する相対流速
を大きくするため、第1図では種結晶の結晶成長面を水
平面から傾けており。
第2図では鉛直にしている。
また、第3図に示すように、るつぼ5に結晶成長時の基
板保持部2に対向する複数の内側面を形成し、そこにソ
ース61乃至64と電極71乃至74を配置し、基板保
持部2を正電極5内側面の電極71乃至74を負電極と
して成長溶液4に直流を流しながら結晶成長を行えば、
ソース61乃至64から成長溶液4に溶解する溶質元素
は、電流と逆向きに拡散するエレクトロマイグレーショ
ンを示すので、溶質元素を制御性よく結晶成長面に補給
しながら結晶成長を持続することができる。
板保持部2に対向する複数の内側面を形成し、そこにソ
ース61乃至64と電極71乃至74を配置し、基板保
持部2を正電極5内側面の電極71乃至74を負電極と
して成長溶液4に直流を流しながら結晶成長を行えば、
ソース61乃至64から成長溶液4に溶解する溶質元素
は、電流と逆向きに拡散するエレクトロマイグレーショ
ンを示すので、溶質元素を制御性よく結晶成長面に補給
しながら結晶成長を持続することができる。
さらに、基板保持部2を中心にして放射状をなすように
、るつぼ5に第3図に示すよりさらに多くの内側面を形
成し、そこにソースと電極を配置すれば、結晶成長面は
基板保持部2の回転につれて3次々に新しいソース及び
電極と対向して行くので、上記の効果はさらに高まる。
、るつぼ5に第3図に示すよりさらに多くの内側面を形
成し、そこにソースと電極を配置すれば、結晶成長面は
基板保持部2の回転につれて3次々に新しいソース及び
電極と対向して行くので、上記の効果はさらに高まる。
なお、基板保持部2に種結晶を多数枚固定して結晶成長
を行うことにより、生産性を上げることができる。
を行うことにより、生産性を上げることができる。
〔実施例]
以下1本発明の実施例について説明する。
第1図は実施例■を説明するための図であり。
第1図(a)及び(b)は、それぞれ2種結晶の配置を
示す上面図とA−A断面図であり、 11.12は種結
晶、2は基板保持部、3は回転棒、33は回転軸を表す
。
示す上面図とA−A断面図であり、 11.12は種結
晶、2は基板保持部、3は回転棒、33は回転軸を表す
。
種結晶IL 12の結晶成長面を水平面から傾けて(θ
<90°)基板保持部2に固定した後1回転棒3を下げ
て種結晶11.12を成長溶液(図示せず)に浸し1回
転棒3を回転軸33の周りに回転させながら結晶成長を
行う。
<90°)基板保持部2に固定した後1回転棒3を下げ
て種結晶11.12を成長溶液(図示せず)に浸し1回
転棒3を回転軸33の周りに回転させながら結晶成長を
行う。
第2図は実施例■を説明するための図であり。
第2図(a)及び(b)は、それぞれ2種結晶の配置を
示す上面図とB−B断面図であり、13乃至16は種結
晶、2は基板保持部、3は回転棒、33は回転軸を表す
。
示す上面図とB−B断面図であり、13乃至16は種結
晶、2は基板保持部、3は回転棒、33は回転軸を表す
。
実施例■は基板保持部2に種結晶を4枚配置して固定し
た例で、結晶成長面は水平面と直交している。回転棒3
を下げて種結晶13乃至16を成長溶液(図示せず)に
浸し1回転棒3を回転軸33の周りに回転させながら結
晶成長を行う。
た例で、結晶成長面は水平面と直交している。回転棒3
を下げて種結晶13乃至16を成長溶液(図示せず)に
浸し1回転棒3を回転軸33の周りに回転させながら結
晶成長を行う。
第3図は実施例■を説明するための図であり。
第3図(a)及び(b)は、それぞれ、斜視図と平面図
であり、13乃至16は種結晶でInP、 2はカーボ
ンの基板保持部、3は回転棒、33は回転軸、4は成長
溶液でInGaAs、 5は窒化ポロンのるつぼ。
であり、13乃至16は種結晶でInP、 2はカーボ
ンの基板保持部、3は回転棒、33は回転軸、4は成長
溶液でInGaAs、 5は窒化ポロンのるつぼ。
61乃至64はソースでGaAs、 71乃至74はカ
ーボンの電極を表す。
ーボンの電極を表す。
るつぼ5の溶液溜めには4つの内側面が形成さている。
これら4つの内側面は、基板保持部2を回転する回転軸
33に対して4回対称をなす位置に形成されている。
33に対して4回対称をなす位置に形成されている。
各内側面にカーボンの電極71乃至74を配置し。
さらにその電極71乃至74に接してGaAsのソース
61乃至64を配置する。
61乃至64を配置する。
5mm角の(III)面を結晶成長面とする種結晶13
乃至16を基板保持部2に固定する。この成長面は水平
面に垂直となるように配置される。
乃至16を基板保持部2に固定する。この成長面は水平
面に垂直となるように配置される。
成長溶液4の組成は原子分率で次の如くである。
Ga : 0.044
As : 0.212
In : 0.744
ごの成長溶液4は840°Cで飽和している。
種結晶13乃至16の固定された基板保持部2を成長溶
液4中に降ろし、基板保持部2を1100rpで回転し
ながら、838°Cで成長を行う。基板保持部2を正電
極、内側面の電極71乃至74を負電極にして成長溶液
4に200A/c4の直流を流す。
液4中に降ろし、基板保持部2を1100rpで回転し
ながら、838°Cで成長を行う。基板保持部2を正電
極、内側面の電極71乃至74を負電極にして成長溶液
4に200A/c4の直流を流す。
これにより、10+++m厚の均一組成を持った混晶I
no、 s+Gao、 49ASが得られた。成長した
単結晶に。
no、 s+Gao、 49ASが得られた。成長した
単結晶に。
デンドライトの発生は見られなかった。
なお、るつぼ5の溶液溜めの形状を水平断面がほぼ円形
となるように形成し、その内側面に複数のカーボン電極
を等間隔に配置し、さらに各カーボン電極に接してソー
スを配置するようにしてもよい。
となるように形成し、その内側面に複数のカーボン電極
を等間隔に配置し、さらに各カーボン電極に接してソー
スを配置するようにしてもよい。
以上説明した様に1本発明によれば2組成の均一性が高
く欠陥の少ない化合物半導体の混晶バルク結晶を成長す
ることができる。
く欠陥の少ない化合物半導体の混晶バルク結晶を成長す
ることができる。
本発明は、光半導体デバイス、高速半導体デバイスの開
発に寄与するところが大きい。
発に寄与するところが大きい。
第1図乃至第3図は実施例■乃至実施例■を説明するた
めの図。 第4図は従来の結晶成長装置 である。図において。 1.11乃至16は種結晶。 2は基板保持部。 21はカーボンパイプ。 3は回転棒。 31はヒータ。 32は加圧容器。 33は回転軸。 4は成長溶液。 5はるつぼ。 51はるつぼ台。 6.61乃至64はソース。 71乃至74及は電極。 (σン (b)
めの図。 第4図は従来の結晶成長装置 である。図において。 1.11乃至16は種結晶。 2は基板保持部。 21はカーボンパイプ。 3は回転棒。 31はヒータ。 32は加圧容器。 33は回転軸。 4は成長溶液。 5はるつぼ。 51はるつぼ台。 6.61乃至64はソース。 71乃至74及は電極。 (σン (b)
Claims (1)
- 回転軸(33)上から外れた位置に種結晶(11乃至1
6)を保持する基板保持部(2)を、該種結晶(11乃
至16)が成長溶液(4)に浸された状態のまま該回転
軸(33)で回転させて結晶成長を行うことを特徴とす
る結晶成長方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP428489A JPH02184592A (ja) | 1989-01-11 | 1989-01-11 | 結晶成長方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP428489A JPH02184592A (ja) | 1989-01-11 | 1989-01-11 | 結晶成長方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02184592A true JPH02184592A (ja) | 1990-07-19 |
Family
ID=11580235
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP428489A Pending JPH02184592A (ja) | 1989-01-11 | 1989-01-11 | 結晶成長方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02184592A (ja) |
-
1989
- 1989-01-11 JP JP428489A patent/JPH02184592A/ja active Pending
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