JPH02163985A - レーザダイオードユニットの製造方法 - Google Patents
レーザダイオードユニットの製造方法Info
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- JPH02163985A JPH02163985A JP63318149A JP31814988A JPH02163985A JP H02163985 A JPH02163985 A JP H02163985A JP 63318149 A JP63318149 A JP 63318149A JP 31814988 A JP31814988 A JP 31814988A JP H02163985 A JPH02163985 A JP H02163985A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈従来の技術〉
第11図には従来のレーザダイオードユニット100が
示されており、ステム101には3本のリード端子10
2,104,106がステム101の厚さ方向に貫通さ
せて設けられている。リード端子102の突出端はレー
ザダイオード108と電気的に接続され、レーザダイオ
ード108へ電流を供給させる機能を有し、リード端子
104はフォトダイオードから出力される電流を取り出
す機能を有する。
示されており、ステム101には3本のリード端子10
2,104,106がステム101の厚さ方向に貫通さ
せて設けられている。リード端子102の突出端はレー
ザダイオード108と電気的に接続され、レーザダイオ
ード108へ電流を供給させる機能を有し、リード端子
104はフォトダイオードから出力される電流を取り出
す機能を有する。
すなわち、レーザダイオード108から発せられたレー
ザ光はフォトダイオード110で受光され、その受光さ
れた光量に比例した電流がフォトダイオード110から
リード端子104に出力される。従って、その電流の値
に基づいてレーザダイオード108の発光パワーを自動
制御することが可能となる。なお、リード端子106は
、レーザダイオード108とフォトダイオード110と
を接地接続させる機能を有する。
ザ光はフォトダイオード110で受光され、その受光さ
れた光量に比例した電流がフォトダイオード110から
リード端子104に出力される。従って、その電流の値
に基づいてレーザダイオード108の発光パワーを自動
制御することが可能となる。なお、リード端子106は
、レーザダイオード108とフォトダイオード110と
を接地接続させる機能を有する。
そして、ステム101にはリング状の連結部材112が
取り付けられて一体化されており、連結部材112には
レーザダイオード108等を封入するための一端が間口
された有底円筒状のキャップ113が取り付けられてい
る。なお、ステム101と連結部材112、および連結
部材112とキャップ113とは、各々抵抗溶接等によ
り一体化される。
取り付けられて一体化されており、連結部材112には
レーザダイオード108等を封入するための一端が間口
された有底円筒状のキャップ113が取り付けられてい
る。なお、ステム101と連結部材112、および連結
部材112とキャップ113とは、各々抵抗溶接等によ
り一体化される。
また、キャップ113の有底面には開口窓】13Aが形
成され、開口窓113Aはガラスカバー114により閉
塞されているので、レーザダイオード108のレーザ光
は、開口窓113Aから外部へ出射される。なお、以上
のように構成されたレーザダイオードユニット100の
内部には、−般に窒素ガス等の不活性ガスが充填され、
特にレーザダイオード10Bの発光端面の酸化防止が図
られている。
成され、開口窓113Aはガラスカバー114により閉
塞されているので、レーザダイオード108のレーザ光
は、開口窓113Aから外部へ出射される。なお、以上
のように構成されたレーザダイオードユニット100の
内部には、−般に窒素ガス等の不活性ガスが充填され、
特にレーザダイオード10Bの発光端面の酸化防止が図
られている。
〈発明が解決しようとする課題〉
上記のように従来のレーザダイオードユニットは複雑な
構造のものであり、リード端子、レーザダイオード、フ
ォトダイオードの配設やボンディングワイヤの接続とい
った各工程の作業を複雑に入り組んだ構造の中で行わざ
るを得なかった。そして、従来では個々のレーザダイオ
ードユニット毎にこのような困難な作業工程を多々行う
ことから、多数のレーザダイオードユニットを製造しよ
うとする場合には特に生産能率が悪いという問題があっ
た。
構造のものであり、リード端子、レーザダイオード、フ
ォトダイオードの配設やボンディングワイヤの接続とい
った各工程の作業を複雑に入り組んだ構造の中で行わざ
るを得なかった。そして、従来では個々のレーザダイオ
ードユニット毎にこのような困難な作業工程を多々行う
ことから、多数のレーザダイオードユニットを製造しよ
うとする場合には特に生産能率が悪いという問題があっ
た。
本発明は上記従来の事情に鑑みなされたもので、レーザ
ダイオードユニットを能率良く量産することができるレ
ーザダイオードユニットの製造方法を提供することを目
的とする。
ダイオードユニットを能率良く量産することができるレ
ーザダイオードユニットの製造方法を提供することを目
的とする。
〈課題を解決するための手段〉
本発明に係るレーザダイオードユニットの製造方法は、
基板に1つのレーザダイオードユニットを構成する区画
を複数段ける工程と、各区画毎の基板上に第1のリード
部と第2のリード部とを設ける工程と、レーザ光出力を
検出するフォトダイオードを有したサブマウント用基台
を各区画毎の基板上に取り付ける工程と、各サブマウン
ト基台上にレーザダイオードチップをそれぞれ取り付け
る工程と、各レーザダイオードチップを当該区画内にお
いて電流供給用の第1のリード部に接続すると共にフォ
トダイオードの電流検出用の第2のリード部に接続する
工程と、基板を各区画毎に分割する工程とを備えたこと
を特徴とする。
基板に1つのレーザダイオードユニットを構成する区画
を複数段ける工程と、各区画毎の基板上に第1のリード
部と第2のリード部とを設ける工程と、レーザ光出力を
検出するフォトダイオードを有したサブマウント用基台
を各区画毎の基板上に取り付ける工程と、各サブマウン
ト基台上にレーザダイオードチップをそれぞれ取り付け
る工程と、各レーザダイオードチップを当該区画内にお
いて電流供給用の第1のリード部に接続すると共にフォ
トダイオードの電流検出用の第2のリード部に接続する
工程と、基板を各区画毎に分割する工程とを備えたこと
を特徴とする。
く作用〉
本発明では、1つの基板を複数に区画して各区画毎にレ
ーザダイオードユニットを組み立て、レーザダイオード
が組み上がったところで基板を各区画毎に分割して複数
のレーザーダイオードユニットを製造する。すなわち、
各レーザダイオードユニットを製造工程を1つの基板上
で同時に行い、最終的にレーザダイオードユニットが組
み上がつたところで各レーザダイオードユニットを互い
に切り離す。
ーザダイオードユニットを組み立て、レーザダイオード
が組み上がったところで基板を各区画毎に分割して複数
のレーザーダイオードユニットを製造する。すなわち、
各レーザダイオードユニットを製造工程を1つの基板上
で同時に行い、最終的にレーザダイオードユニットが組
み上がつたところで各レーザダイオードユニットを互い
に切り離す。
〈実施例〉
まず、本発明の一実施例に係る製造方法で製造したレー
ザダイオードユニット(以下、単にユニットと略称する
)を説明する。
ザダイオードユニット(以下、単にユニットと略称する
)を説明する。
第1図には当該ユニット1の全体概略図を、第2図には
第1図におけるII−II線断面図をそれぞれ示す。
第1図におけるII−II線断面図をそれぞれ示す。
図示のように、シリコン等の導電性材料で板状に形成さ
れたサブマウント用導電性基台3が基板9上に取り付は
固定されている。
れたサブマウント用導電性基台3が基板9上に取り付は
固定されている。
基板9はいわゆる高熱伝導タイプのプリント基板であっ
て、アルミニウム等の板状部材9Aに絶縁膜9Cを介し
てそれぞれ銅膜9Bから成るリード部(レーザダイオー
ドへ電流を供給する機能を有する第1のリード部)11
、リード部(フォトダイオードから出力される電流を検
出する機能を有する第2のリード部)13、リード部(
レーザダイオードとフォトダイオードとを接地接続させ
る機能を有する)15が形成されている。
て、アルミニウム等の板状部材9Aに絶縁膜9Cを介し
てそれぞれ銅膜9Bから成るリード部(レーザダイオー
ドへ電流を供給する機能を有する第1のリード部)11
、リード部(フォトダイオードから出力される電流を検
出する機能を有する第2のリード部)13、リード部(
レーザダイオードとフォトダイオードとを接地接続させ
る機能を有する)15が形成されている。
一方、基台3上にはレーザダイオード5が取り付は固定
されており、レーザダイオード5と基台3とはワイヤ1
7により接続されている。
されており、レーザダイオード5と基台3とはワイヤ1
7により接続されている。
また、実施例では、基台3はシリコンSiで形成され、
第1図中点線で示された領域2には、基台3をN領域と
した場合に、P領域となるように不純物が拡散されてP
N接合が形成されており、その結果、基台3自体がフォ
トダイオードとしての機能を有している。なお、別途フ
ォトダイオードを形成し、そのフォトダイオードの受光
面を露呈させた状態で基台3の領域2に埋設してもよい
。
第1図中点線で示された領域2には、基台3をN領域と
した場合に、P領域となるように不純物が拡散されてP
N接合が形成されており、その結果、基台3自体がフォ
トダイオードとしての機能を有している。なお、別途フ
ォトダイオードを形成し、そのフォトダイオードの受光
面を露呈させた状態で基台3の領域2に埋設してもよい
。
そして、レーザダイオードチップ5が設けられている基
台3の一側面3Aは二酸化シリコン5i02で被覆され
ており、また、レーザダイオードチップ5へ電流を供給
するアルミニウム配線4と、基台3に生じた電流を取り
出すアルミニウム配線6とが段けられている。
台3の一側面3Aは二酸化シリコン5i02で被覆され
ており、また、レーザダイオードチップ5へ電流を供給
するアルミニウム配線4と、基台3に生じた電流を取り
出すアルミニウム配線6とが段けられている。
アルミニウム配線4の一端部にはレーザダイオードチッ
プSが接続されているとともに、アルミニウム配線4の
他端部にはワイヤエ9の一端部が接続され、さらにワイ
ヤ19の他端部はリード部11に接続されている。
プSが接続されているとともに、アルミニウム配線4の
他端部にはワイヤエ9の一端部が接続され、さらにワイ
ヤ19の他端部はリード部11に接続されている。
アルミニウム配線6の一端部は領域2部分と接合されて
いるとともに、アルミニウム配線6の他端部はワイヤ2
1の一端部に接続され、さらにワイヤ21の他端部はリ
ード部13に接続されている。
いるとともに、アルミニウム配線6の他端部はワイヤ2
1の一端部に接続され、さらにワイヤ21の他端部はリ
ード部13に接続されている。
そして、各リード部11.13.15が他の電気回路(
図示しない)と接続される部分を除き、レーザダイオー
ド5、フォトダイオード7、基台3、ワイヤ17.19
.21、各リード部11.13.15の一部は、誘電性
を有する酸化アルミニウムAl2O3等の保護膜26で
被覆されており、特にレーザダイオードδの発光端面や
リード部11.13.15等の酸化防止と、ユニット1
の耐湿性向上等が図られている。
図示しない)と接続される部分を除き、レーザダイオー
ド5、フォトダイオード7、基台3、ワイヤ17.19
.21、各リード部11.13.15の一部は、誘電性
を有する酸化アルミニウムAl2O3等の保護膜26で
被覆されており、特にレーザダイオードδの発光端面や
リード部11.13.15等の酸化防止と、ユニット1
の耐湿性向上等が図られている。
さらに、基板9にはレーザダイオード5の機械的破壊等
を防止する保護カバー23が設けられており、この保護
カバー23は断面略コ字状に形成されて、レーザダイオ
ード5の発光端面を残してユニッ)1の主要な機能部分
が保護されるように設定されている。なお、保護カバー
23の両端面側をガラス等レーザ光が通過可能な部材で
閉塞するとともに、保護カバー23内に窒素ガス等の不
活性ガスを封入して、レーザダイオード5の端面等の酸
化防止をさらに向上させることもユニット1の構成とし
ては好適である。
を防止する保護カバー23が設けられており、この保護
カバー23は断面略コ字状に形成されて、レーザダイオ
ード5の発光端面を残してユニッ)1の主要な機能部分
が保護されるように設定されている。なお、保護カバー
23の両端面側をガラス等レーザ光が通過可能な部材で
閉塞するとともに、保護カバー23内に窒素ガス等の不
活性ガスを封入して、レーザダイオード5の端面等の酸
化防止をさらに向上させることもユニット1の構成とし
ては好適である。
そして、保護カバー23は、適宜な透明樹脂にルチル等
の反射率の高い金属を含有させた高反射樹脂で形成され
るとともに、その裏面側には、フォトダイオード7の位
置に対応させた位置に、テーバ面25Aを有する反射部
25が一体に形成されている。この反射部25のテーバ
面25Aの傾きは、レーザダイオード5のレーザ光が、
効率良くフォトダイオード7の受光面方向へ反射される
ように設定されている。
の反射率の高い金属を含有させた高反射樹脂で形成され
るとともに、その裏面側には、フォトダイオード7の位
置に対応させた位置に、テーバ面25Aを有する反射部
25が一体に形成されている。この反射部25のテーバ
面25Aの傾きは、レーザダイオード5のレーザ光が、
効率良くフォトダイオード7の受光面方向へ反射される
ように設定されている。
従って、上記構成のレーザダイオードユニットlによれ
ば、リード部11.15を電源(図示せず)に接続して
レーザダイオード5に電流を供給することによりレーザ
ダイオードSの一方の発光端面(第2図中の左端面)か
らレーザ光を発振させることができる。そして、これと
共にレーザダイオード5の他方の発光端面(第2図中の
右端面)からもレーザ光が発信されて反射f!B25を
介してフォトダイオード7で受光され、このフォトダイ
オード7の出力をリード部13から検出してレーザダイ
オード5への供給電流を制御することにより、レーザダ
イオード5から発振されるレーザ光強度を安定させてい
る。
ば、リード部11.15を電源(図示せず)に接続して
レーザダイオード5に電流を供給することによりレーザ
ダイオードSの一方の発光端面(第2図中の左端面)か
らレーザ光を発振させることができる。そして、これと
共にレーザダイオード5の他方の発光端面(第2図中の
右端面)からもレーザ光が発信されて反射f!B25を
介してフォトダイオード7で受光され、このフォトダイ
オード7の出力をリード部13から検出してレーザダイ
オード5への供給電流を制御することにより、レーザダ
イオード5から発振されるレーザ光強度を安定させてい
る。
次に、上記構成のレーザダイオードユニット1を製造す
る本発明の一実施例に係る方法を各工程を順次示す第3
図〜第10図を参照しながら説明する。
る本発明の一実施例に係る方法を各工程を順次示す第3
図〜第10図を参照しながら説明する。
まず、第3図に示すように、基板9に仕切tfII9E
を等間隔に形成してこの基板9を複数の区画に仕切ると
共に、溝9Eで仕切られた区画のそれぞれにリード部1
1.13.15を設ける。これらリード部11.13.
15は、第2図に示したように、板状部材9Aの上面に
絶縁膜9Cを形成し、更にその上に導電性薄膜9Bを形
成し、エツチング等の公知の手段により余分な導電性薄
膜9Bを除去することにより、形成されている。なお、
各リード部11.13.15は電気的短絡を防止するた
めに、互いに適宜な間隔をもって形成されている。
を等間隔に形成してこの基板9を複数の区画に仕切ると
共に、溝9Eで仕切られた区画のそれぞれにリード部1
1.13.15を設ける。これらリード部11.13.
15は、第2図に示したように、板状部材9Aの上面に
絶縁膜9Cを形成し、更にその上に導電性薄膜9Bを形
成し、エツチング等の公知の手段により余分な導電性薄
膜9Bを除去することにより、形成されている。なお、
各リード部11.13.15は電気的短絡を防止するた
めに、互いに適宜な間隔をもって形成されている。
次いで、各区画毎のリード部15の先端部15Aを接合
材(インジウム等)30でコーティングした後、第4図
に示すように、それぞれの接合材30の上にサブマウン
ト用基台3を載せる。そして、サブマウント用基台3を
基板9側へ押圧しながら接合材30の融点(インジウム
では約163℃)まで−旦加熱し、サブマウント用基台
3をリード部15に接続した状態で基板9上に取り付け
る。なお、サブマウント用基台3には予めフォトダイオ
ード2を設けであると共に、サブマウント用基台3の上
面3Aは予め二酸化シリコンSiO2で被覆されている
。更にまた、5i02膜上にはレーザダイオードへの電
流供給用の配線4と領域2に接続した配線6とが予め設
けられていると共に、基台3の先端部には配線6に接続
した接合材(金と錫の合金等)32が予めコーティング
されている。なお、5i02膜の一部は後のワイヤボン
ディング用に剥離されている。
材(インジウム等)30でコーティングした後、第4図
に示すように、それぞれの接合材30の上にサブマウン
ト用基台3を載せる。そして、サブマウント用基台3を
基板9側へ押圧しながら接合材30の融点(インジウム
では約163℃)まで−旦加熱し、サブマウント用基台
3をリード部15に接続した状態で基板9上に取り付け
る。なお、サブマウント用基台3には予めフォトダイオ
ード2を設けであると共に、サブマウント用基台3の上
面3Aは予め二酸化シリコンSiO2で被覆されている
。更にまた、5i02膜上にはレーザダイオードへの電
流供給用の配線4と領域2に接続した配線6とが予め設
けられていると共に、基台3の先端部には配線6に接続
した接合材(金と錫の合金等)32が予めコーティング
されている。なお、5i02膜の一部は後のワイヤボン
ディング用に剥離されている。
次いで、第5図に示すように、レーザダイオードチップ
5を公知のバキュウム搬送機等を用いて各区画毎の接合
材32上に載せる。そして、レーザダイオードチップ5
を基台3(1111へ押圧しながら接合材32の融点(
金と錫の合金では約230℃)まで−旦加熱し、レーザ
ダイオードチップ5を配線6に接続した状態でサブマウ
ント用基台3上に取り付ける。
5を公知のバキュウム搬送機等を用いて各区画毎の接合
材32上に載せる。そして、レーザダイオードチップ5
を基台3(1111へ押圧しながら接合材32の融点(
金と錫の合金では約230℃)まで−旦加熱し、レーザ
ダイオードチップ5を配線6に接続した状態でサブマウ
ント用基台3上に取り付ける。
次いで、第6図に示すように、加熱条件下(例えば12
0℃)で各区画毎にワイヤ17.19.21によるボン
ディングを行う。すなわち、レーザダイオードチップ5
の上面とS i 02膜の剥離部で露呈した基台3とを
ワイヤ17で接続し、リード部11と配線4とをワイヤ
19で接続し、リード部13と配線6とをワイヤ2Iで
接続する。
0℃)で各区画毎にワイヤ17.19.21によるボン
ディングを行う。すなわち、レーザダイオードチップ5
の上面とS i 02膜の剥離部で露呈した基台3とを
ワイヤ17で接続し、リード部11と配線4とをワイヤ
19で接続し、リード部13と配線6とをワイヤ2Iで
接続する。
次いて、第7図に示すように、各区画のリード部11.
13.15の後端部をテープ36で覆う。
13.15の後端部をテープ36で覆う。
次いで、第8図に示すように、保護膜26をスパッタリ
ングにより形成した後、テープ36を取り除いて他の電
気回路との接続用にリード部11.13.15の一部を
保護膜26から露呈させる。
ングにより形成した後、テープ36を取り除いて他の電
気回路との接続用にリード部11.13.15の一部を
保護膜26から露呈させる。
次いで、第9図に示すように、各区画において基板9に
貫通孔9Dを形成した後、保護カバー23に突設したエ
ンボス23Aをそれぞれ貫通孔9Dに挿通させてエンボ
ス23Aの先端を基板9の裏面から突出させ、この突出
したエンボス23Aの先端をカシメることにより保護カ
バー23を各区画毎に取り付ける。
貫通孔9Dを形成した後、保護カバー23に突設したエ
ンボス23Aをそれぞれ貫通孔9Dに挿通させてエンボ
ス23Aの先端を基板9の裏面から突出させ、この突出
したエンボス23Aの先端をカシメることにより保護カ
バー23を各区画毎に取り付ける。
上記一連の工程により基板9上には溝9Eで仕切られた
複数のレーザダイオードユニット1が形成される。そし
て、この状態で各区画の素子に例えば70℃で20時間
5mWの電流を供給してその動作試験を行うと共に光学
的特性の試験を行い、安定且つ良質な素子を選別する。
複数のレーザダイオードユニット1が形成される。そし
て、この状態で各区画の素子に例えば70℃で20時間
5mWの電流を供給してその動作試験を行うと共に光学
的特性の試験を行い、安定且つ良質な素子を選別する。
次いて、第10図に示すように、基板9を仕切溝9Eで
分割し、各レーザダイオードユニット1を切り離して製
造工程を完了する。
分割し、各レーザダイオードユニット1を切り離して製
造工程を完了する。
く効果〉
本発明に係るレーザダイオードユニットの製造方法によ
れば、簡単な作業の工程により1つの基板上で複数のユ
ニットを同時に製造することができるため、多数のレー
ザダイオードユニットを能率良く製造することができ、
大幅なコスト低減をも実現することができる。
れば、簡単な作業の工程により1つの基板上で複数のユ
ニットを同時に製造することができるため、多数のレー
ザダイオードユニットを能率良く製造することができ、
大幅なコスト低減をも実現することができる。
第1図は本発明の一実施例に係るレーザダイオードユニ
ットの全体概略構成図、第2図は第1図における■−■
矢視断面図、第3図〜第10図はそれぞれ本発明の一実
施例に係る製造方法を各工程毎に示す概念図、第11図
は従来のレーザダイオードユニットの概略構成図である
。 1はレーザダイオードユニット、 2は領域(フォトダイオード)、 3はサブマウント用基台、 5はレーザダイオードチップ、 9は基板、 9Eは仕切溝、 11は第1のリード部、 13は第2のリード部である。
ットの全体概略構成図、第2図は第1図における■−■
矢視断面図、第3図〜第10図はそれぞれ本発明の一実
施例に係る製造方法を各工程毎に示す概念図、第11図
は従来のレーザダイオードユニットの概略構成図である
。 1はレーザダイオードユニット、 2は領域(フォトダイオード)、 3はサブマウント用基台、 5はレーザダイオードチップ、 9は基板、 9Eは仕切溝、 11は第1のリード部、 13は第2のリード部である。
Claims (1)
- 基板に1つのレーザダイオードユニットを構成する区画
を複数設ける工程と、各区画毎の基板上に第1のリード
部と第2のリード部とを設ける工程と、レーザ光出力を
検出するフォトダイオードを有したサブマウント用基台
を各区画毎の基板上に取り付ける工程と、各サブマウン
ト基台上にレーザダイオードチップをそれぞれ取り付け
る工程と、各レーザダイオードチップを当該区画内にお
いて電流供給用の第1のリード部に接続すると共にフォ
トダイオードの電流検出用の第2のリード部に接続する
工程と、基板を各区画毎に分割する工程とを備えたこと
を特徴とするレーザダイオードユニットの製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63318149A JPH06103780B2 (ja) | 1988-12-16 | 1988-12-16 | レーザダイオードユニットの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63318149A JPH06103780B2 (ja) | 1988-12-16 | 1988-12-16 | レーザダイオードユニットの製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02163985A true JPH02163985A (ja) | 1990-06-25 |
JPH06103780B2 JPH06103780B2 (ja) | 1994-12-14 |
Family
ID=18096038
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63318149A Expired - Fee Related JPH06103780B2 (ja) | 1988-12-16 | 1988-12-16 | レーザダイオードユニットの製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH06103780B2 (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0588406A1 (en) * | 1992-09-07 | 1994-03-23 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Method of manufacturing a block-shaped support body for a semiconductor component |
US5367530A (en) * | 1992-05-29 | 1994-11-22 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Semiconductor laser apparatus |
JP2014060452A (ja) * | 2013-12-18 | 2014-04-03 | Seiko Epson Corp | 固体光源装置、プロジェクタ、モニタ装置 |
CN116093736A (zh) * | 2023-04-07 | 2023-05-09 | 度亘核芯光电技术(苏州)有限公司 | 芯片组件焊接方法及半导体激光器 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6352494A (ja) * | 1986-08-22 | 1988-03-05 | Hitachi Ltd | 光電子装置の製造方法およびモジユ−ル |
-
1988
- 1988-12-16 JP JP63318149A patent/JPH06103780B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6352494A (ja) * | 1986-08-22 | 1988-03-05 | Hitachi Ltd | 光電子装置の製造方法およびモジユ−ル |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5367530A (en) * | 1992-05-29 | 1994-11-22 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Semiconductor laser apparatus |
EP0588406A1 (en) * | 1992-09-07 | 1994-03-23 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Method of manufacturing a block-shaped support body for a semiconductor component |
JP2014060452A (ja) * | 2013-12-18 | 2014-04-03 | Seiko Epson Corp | 固体光源装置、プロジェクタ、モニタ装置 |
CN116093736A (zh) * | 2023-04-07 | 2023-05-09 | 度亘核芯光电技术(苏州)有限公司 | 芯片组件焊接方法及半导体激光器 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH06103780B2 (ja) | 1994-12-14 |
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