JPH02156345A - データ処理装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 皮丘光Ｊ 本発明はデータ処理装置に関し、特にデータ処理装置の
故障診断方式に関する。

従１１１街 従来、データ処理装置においては、故障が発生ずると内
蔵するテストプルグラムが起動され、装置各部の診断が
行われていた。

その診断の結果、異常が検出されると、該当する保守交
換単位（通常電子回路パッケージ）名および実装位置が
指摘されるとともに、該当パッケージの交換が指示され
ていた。

しかしながら、故障が間欠故障の場合には、故障発生直
後の診断時には異常が検知されても、交換後の該当パ・
ラゲージの修理の際にはその故障が再現せず、該当パッ
ケージを良品として再び別装置に実装していた。

このような従来のデータ処理装置では、故障の発生によ
り交換されたパッケージにおいて修理時に該故障が再現
しなければ別装置に実装されていたので、別装置に実装
された該当パッケージにおいて再度間欠故障が発生して
しまう可能性があるという欠点がある。

１皿ム旦追 本発明は上記のような従来のものの欠点を除去すべくな
されたもので、間欠故障が発生したパッケージの再実装
によって装置障害が繰り返し発生するのを防止すること
ができるデータ処理装置の提供を目的とする。

発生の構成 本発明によるデータ処理装置は、保守交換単位である複
数のパッケージからなるデータ処理装置であって、前記
複数のパッケージ各々に、該パッケージにおいて故障が
検出された回数を保持する不揮発性メモリを設けたこと
を特徴とする。

本発明による池のデータ処理装置は、保守交換単位であ
る複数のパッケージからなるデータ処理装置であって、
前記複数のパッケージ各々に、該パッケージにおいて故
障が検出された回数を該故障の種別に対応づけて保持す
る不揮発性メモリを設けたことを特徴とする。

尺曳」 次に、本発明について図面を参照して説明する。

第１図は本発明の一実施例の構成を示すブロック図であ
る９図において、本発明の一実施例によるデータ処理装
置はパッケージ１〜６の６枚のパンケージから構成され
ており、各パッケージ１〜６内には夫々不揮発性メモリ
１ａ〜６ａが設けられている。

また、各パッケージ１〜６は共通バス８を介して診断プ
ロセッサ７に接続されており、この診断プロセッサ７に
よって故障診断を受ける。

各パッケージ１〜６内の不揮発性メモリ１ａ〜６ａは診
断プロセッサ７により共通バス８を介して読出し書込み
を行うことができ、不揮発性メモリ１ａ〜６ａの内容は
パッケージ製造時にｒＱ。

が書込まれている。

次に、第１図を用いて本発明の一実施例の動作について
説明する。

たとえば、パッケージ２に故障が発生した場合には、診
断プロセッサ７が起動され、装置内のパッケージ１〜６
を順次調べ、故障個所の診断が行われる。

診断結果により、パッケージ２が被疑パッケージとして
指摘されると、不揮発性メモリ２ａの内容が共通バス８
を介して診断プロセッサ７に読出され、その内容にｒｌ
、が加算される。

不揮発性メモリ２ａにはパッケージ製造時に「０」が書
込まれているので、診断プロセッサ７における加算結果
が「１」となり、この値が再び共通バス８を介して不揮
発性メモリ２ａに書込まれる。

保守員は診断プロセッサ７により指摘されたパッケージ
２を保守用の別のパッケージと交換し、故障が検出され
たパッケージ２は修理に廻される。

パッケージ２において発生した故障が間欠故障の場合に
は、修理時にその故障が再現せず、パッケージ２が良品
と判定されると、パッケージ２は別装置用の部品として
使用される。このとき、パッケージ２の不揮発性メモリ
２ａには故障回数「１」が記憶されているので、別装置
において故障が再発した時には、不揮発性メモリ２ａの
内容に上述の処理と同様にして「１」が加算され、その
内容が「２」となった状態で修理に戻って来る。

パッケージ２の修理時にこの不揮発性メモリ２ａ内の故
障回数をチエツクすることにより、不揮発性メモリ２ａ
の内容が予め定められた間欠故障回数を越えた場合には
パッケージ２を不良品として廃棄に付すことができる。

次に、本発明の他の実施例について説明する。

本発明の他の実施例においては各パンケージ１〜６内に
設けられた不揮発性メモリ１ａ〜６ａに保持される内容
が異なる以外は、第１図に示す本発明の一実施例と同一
の構成となっており、その動作も同様である。

第２図は本発明の他の実施例による不揮発性メモリ２ａ
の構成を示す図である０図において、不揮発性メモリ２
ａは診断プロセッサ７の診断結果から得られるエラーコ
ード１〜Ｎを保持するエラーコード部２ａ−１と、その
エラーコード１〜Ｎに対応する故障同数（以下カウンタ
値とする）１〜Ｎを示すカウンタ部２ａ−２とからなる
。

ここで、（１１１のパッケージ１．３〜６の不揮発性メ
モリｌａ、３ａ〜６ａも不揮発性メモリ２ａの構成と同
様の構成となっている。

不揮発性メモリ２ａのエラーコード部２ａ−１およびカ
ウンタ部２ａ−２は夫々パッケージ２の製造時にすべて
「０」にクリアされている。

また、エラーコード部２ａ−１に保持されるエラーコー
ド１〜Ｎは、夫々故障の種類毎に予め設定され、たとえ
ばエラーコード１はパッケージ２上のメモリ部（図示せ
ず）における故障を示し、エラーコード２はパッケージ
２上の加算器部（図示せず）における故障を示している
。

これら第１図および第２図を用いて本発明の他の実施例
の動作について説明する。

たとえば、パッケージ２に故障が発生した場合には、診
断プロセッサ７が起動され、装置内のパッケージ１〜６
を順次調べ、故障箇所の診断が行われる。

診断結果により、パッケージ２が被疑パッケージとして
指摘されると、不揮発性メモリ２ａの内容が共通バス８
を介して診断プロセッサ７に読出される。

診断プロセッサ７は不揮発性メモリ２ａのエラーコード
部２ａ−１を検索し、現在の診断結果によって得られた
エラーコードと同一のエラーコード１−Ｎがあれば、そ
のエラーコード１〜Ｎに対応するカウンタ部２ａ−２の
カウンタ値１〜Ｎに「１」を加算し、同一のエラーコー
ドがなければ、エラーコード部２ａ−１において内容が
「００」の部分に現在の診断結果のエラーコードを書込
み、その部分に対応するカウンタ部２ａ−２のカウンタ
値に’ＩＪを加算した後に、その内容をパッケージ２の
不揮発性メモリ２ａに書込む。

つづいて診断プロセッサ７は保守員に対し、故障被疑パ
ッケージ２を指摘する。

保守員は指摘された故障被疑パッケージ２を、保守用の
別パッケージと交換し、故障被疑パッケージ２は修理に
廻される。

パッケージ２において検出された故障が間欠故障であり
　修理時にその故障が再現ゼずに良品パッケージと判定
された場合には、パッケージ２は別装置用の部品と１う
て使用される。このとき、パッケージ２の不ｍ発性メモ
リ２ａには、それまでに検出された原因別の故障回数が
記憶されているので、別装置で同一の故障が再発した時
には、前回障害が検出された時に加算されたカウンタ部
２ａ−２のカウンタ値に更に「１」が加算されて修理に
戻ることとなる。

上記のように、パッケージ２内には装置に実装された状
態での原因別の故障回数が保持されているので、パッケ
ージ２の修理時にその故障回数をチエツクすることによ
り、不揮発性メモリ２ａの内容が予め原因別に定められ
た間欠故障回数を越えた場合には、このパッケージ２を
不良品として廃棄に付すことができる。

また、不揮発性メモリ２ａの内容により過去の原因別履
歴がわかるため、原因間の因果関係を推論することによ
り、間欠故障ではあっても真の故障箇所を推定するのが
容易となる。

このように、本発明の一実施例では、保守交換単位であ
るパッケージ１〜６内に夫々設けられた不揮発性メモリ
１ａ〜６ａに故障が検出された回数を保持するようにす
ることによって、内在する間欠故障を修理時にチエツク
することができ、不揮発性メモリ１ａ〜６ａの内容が一
定限度以上の故障回数となったときにはこのパッケージ
１〜６を廃棄することにより、同一故障の発生により装
置Ｒ害を頻発させるのを防止することができる。

また、本発明の他の実施例では保守交換単位であるパッ
ケージ１〜６内に夫々設けられた不揮発性メモリｌａ〜
６ａに故障原因別の故障回数を保持するようにすること
によって、内在する間欠故障を修理時にチエツクするこ
とができ、不揮発性メモリ１ａ〜６ａの内容が一定限度
以上の故障回数となったときにはこのパッケージ１〜６
を廃棄することにより、同一故障の発生により装置障害
を頻発させるのを防止することができる。

さらに、故障の原因毎に発生頻度を知ることができるた
め、それら原因間の因果関係を推察することにより、真
の間欠故障原因を探索しやすくすることができる。

１匪ムカ１ 以上説明したように本発明によるデータ処理装置によれ
ば、保守交換単位であるパッケージ毎に設けられた不揮
発性メモリに故障が検出された回数を保持するようにす
ることによって、間欠故障が発生したパッケージの再実
装によって装置障害が繰り返し発生するのを防止するこ
とができるという効果がある。

また、本発明による他のデータ処理装置によれば、保守
交換単位であるパ・ソケージ毎に設けられた不揮発性メ
モリに故障の種別に対応づけて故障か検出された回数を
保持するようにすることによって、間欠故障が発生した
パッケージの再実装によって装置障害が繰り返し発生す
るのを防止することができるとともに、間欠障害であっ
ても故障の原因となった箇所を容易に推定することがで
きるという効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例の構成を示すブロック図、第
２図は本発明の他の実施例による不揮発性メモリの構成
を示す図である。 主要部分の符号の説明 １〜６・・・・・・パッケージ １ａ〜６ａ・・・・・・不揮発性メモリ７・・・・・・
診断プロセッサ ２ａ−１・・・・・・エラーコート部 ２ａ−２・・・・・・カウンタ部

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）保守交換単位である複数のパッケージからなるデ
   ータ処理装置であって、前記複数のパッケージ各々に、
   該パッケージにおいて故障が検出された回数を保持する
   不揮発性メモリを設けたことを特徴とするデータ処理装
   置。
2. （２）保守交換単位である複数のパッケージからなるデ
   ータ処理装置であって、前記複数のパッケージ各々に、
   該パッケージにおいて故障が検出された回数を該故障の
   種別に対応づけて保持する不揮発性メモリを設けたこと
   を特徴とするデータ処理装置。