JPH02152635A - 容器のピンホール検査装置 - Google Patents

容器のピンホール検査装置

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JPH02152635A
JPH02152635A JP30447988A JP30447988A JPH02152635A JP H02152635 A JPH02152635 A JP H02152635A JP 30447988 A JP30447988 A JP 30447988A JP 30447988 A JP30447988 A JP 30447988A JP H02152635 A JPH02152635 A JP H02152635A
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JP
Japan
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slat
light
container
pinhole
stopped
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JP30447988A
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Bunichi Kimura
木村 文一
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Altemira Co Ltd
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Showa Aluminum Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 この発明は、アルミニウム箔製容器のピンホールを自動
的に検査する装置に関する。
従来の技術 従来、この種の検査は、暗室内で作業者の目視により行
われていた。
発明が解決しようとする課題 上記のように作業者による検査では、つぎのような種々
雑多の問題点があった。第1に、作業者によって検査精
度にばらつきがあり、不良品を見落とすことがある。第
2に、作業が単調で作業者が疲れやすい。第3に、作業
者の手で容器が取り扱われるために、容器が2次汚染を
する恐れがある。
この発明の目的は、上記事情に鑑みて、容器のピンホー
ルを作業者によることなく自動的に検出することのでき
るピンホール検査装置を提供することにある。
課mを解決するための手段 この発明による容器のピンホール検査装置は、フランジ
付アルミニウム箔製カップ状容器のピンホールをこれに
光を通過させることにより検査する装置であって、スラ
ットに、フランジは通過し得ないが、容器側壁は光流入
間隙をおいて挿入し得る大きさの容器挿入孔が設けられ
かつスラットが検査ステーションに順次停止しうるよう
に間欠的に駆動される容器搬送スラットコンヘヤと、検
査ステーションで停止時のスラットの下方に位置するよ
うに配置されている光源と、検査ステーションで停止時
のスラットの上方に位置するように配置されかつ周壁の
少なくとも一部に蛇腹状部が設けられている有蓋垂直筒
状暗室形成部材と、暗室形成部材の下縁部が検査ステー
ションで停止時のスラットの容器挿入孔の周囲に密接さ
れるように蛇腹状部を伸縮させる伸縮手段と、受光部を
暗室形成部材内において検査ステーションで停止時のス
ラットの容器挿入孔にその上方から臨ませるように下向
きに配置されかつピンホールを通過した光を検出してピ
ンホール検出信号を出力する受光器と、受光部の真下に
位置するように水平に配置固定されている凸レンズとよ
りなるものである。
作  用 この発明による容器のピンホール検査装置には、スラッ
トに容器挿入孔が設けられかっスラットが検査ステーシ
ョンに順次停止しつるように間欠的に駆動される容器搬
送スラットコンベヤが備わっているから、容器はコンベ
ヤで検査ステーションに搬入されかつそこから搬出され
る。
また、容器挿入孔がフランジは通過し得ないが、容器側
壁は光流入間隙をおいて挿入し得る大きさであり、検査
ステーションにおける容器停止位置下方に光源と配置さ
れているから、検査ステーションに搬入された容器の底
壁は勿論、その側壁にも光源から発せられた光が当てら
れる。
さらに、容器のピンホール検査装置には、検査ステーシ
ョンで停止時のスラットの下方に位置するように配置さ
れている光源が備わっているから、検査ステーションに
搬入された容器にピンホールがあると、光源から発せら
れた光はピンホールを通過する。
さらに、容器のピンホール検査装置には、検査ステーシ
ョンで停止時のスラットの上方に位置するように配置さ
れかつ周壁の少なくとも一部に蛇腹状部が設けられてい
る有蓋垂直筒状暗室形成部材と、暗室形成部材の下縁部
が検査ステーションで停止時のスラットの容器挿入孔の
周囲に密接されるように蛇腹状部を伸縮させる伸縮手段
とが備わっているから、暗室形成部材の下縁部がスラッ
トの容器挿入孔の周囲に密接されるように蛇腹状部を伸
ばすことにより、暗室が形成され、容器を通過した光は
暗室内に進入することになる。
さらに、容器のピンホール検査装置には、受光部を暗室
形成部材内において検査ステーションで停止時のスラッ
トの容器挿入孔にその上方から臨ませるように下向きに
配置されがっピンホールを通過した光を検出してピンホ
ール検出信号を出力する受光器とが備わっているから、
暗室内に進入した光を受光器が検出する。
そして、容器のピンホール検査装置には、受光部の真下
に位置するように水平に配置固定されているから、暗室
内に進入した光を受光器が検出する前に、凸レンズによ
って光が集められる。
実  施  例 この発明の実施例を図面を参照して次に説明する。
容器のピンホール検査装置は、容器Cをスラットコンベ
ヤ11で搬送し、検査ステーションSにおいて搬送中の
容器Cのピンホールを検査する装置であって、スラット
12が検出ステーションSに順次停止するように間欠的
に駆動されるようになされている。
容器Cは、アルミニウム箔で側壁Aおよび底壁Bよりな
るカップ状に形成されたものであり、口縁部にフランジ
Fを有している。
スラット12には容器挿入孔13が設けられている。容
器挿入孔13に、容器側壁Aが光流入間隔Pをおいて挿
入され、この状態で容器挿入孔13の上端開口周縁部で
フランジFが受けられるようになっている。
検査ステーションSで停止時のスラット12の下方に位
置するように光源14が配置されている。
光源14は、220Wの上向きハロゲンランプである。
同スラット12の上方には暗室形成部材15が配置され
ている。暗室形成部材15は、垂直筒状周壁16と、こ
れの上端開口を閉鎖している蓋17とよりなる。周壁1
6の全体は、ゴムのようなもので蛇腹状部1Bとなされ
ている。蓋17は、図示しないが、コンベヤ11と立体
交差した水平支持板に取付けられていて、固定されてい
る。周壁16の下端部には垂直昇降ロッド19が連結さ
れており、昇降ロッド19の昇降によって蛇腹状部18
が伸縮され、蛇腹状部18が伸びたときにその下縁部が
検査ステーションSで停止時のスラット12の容器挿入
孔13の周囲に密接するようになされている。
受光器21がその受光部22を暗室形成部材15内にお
いて検査ステーションSで停止時のスラット12の容器
挿入孔13に上方から臨ませるように配置されるととも
に、受光部22の真下に位置するように凸レンズ23が
水平に配置されている。
受光器21は、そのボディを暗室形成部材15の蓋17
に貫通させた状態でその蓋17に固定されている。受光
部22は、ホトダイオード、ホトトランジスタ、光電池
のような受光素子よりなる。凸レンズ23は図示しない
ブラケット等で固定されている。スラット12と凸レン
ズ23間の距離りは90〜130 mm程度であること
が好ましい。同距MLが90mm以下であると、近すぎ
て容器Cのピンホールを通過した光をすべて集められな
いことがあり、130+ll11以上であると、遠すぎ
てその光が弱くなって受光器21の感度が甚だしく低下
する。また、凸レンズ23の直ぐ下には上下方向揺動自
在なシャッタ24が配置されている。
スラット12で容器Cが移動させられているときは、蛇
腹状部18は縮んでおりかつシャッタ24は閉じている
容器Cが検査ステーションSに搬入されて停止すると、
蛇腹状部18が伸びてその下縁部がそのスラット12の
容器挿入孔13の周囲に密接され、これと前後してシャ
ッタ24が開かれる。そして、容器Cにピンホールがあ
ると、光源14から発せられた光はそのピンホールを通
過して暗室形成部材15内に進入し、進入した光は凸レ
ンズ23で集められて受光器2Iで検出される。
ピンホールが容器Cの底壁Bにあるときは、光源14か
ら発せられた光は底壁Bに直接当てられるため、直径2
m程度のものまで検出可能である。一方、ピンホールが
側壁Aにあるときは、光i14から発せられた光流入間
隙Pに進入して弱められるため、感度は若干低下するが
、それでも直径30切程度のものまで検出可能である。
発明の効果 この発明によれば、容器はコンベーヤで検査ステーショ
ンに搬入されかつそこから搬出され、検査ステーション
に搬入された容器にピンホールがあると、光源から発せ
られた光はピンホールを通過し、暗室形成部材の下縁部
がスラットの容器挿入孔の周囲に密接されるように蛇腹
状部を伸ばすことにより、暗室が形成され、容器を通過
した光は暗室内に進入することになり、暗室内に進入し
た光を受光器が検出するから、ピンホールを自動的に検
出することができる。
また、検査ステーションに搬入された容器の底壁は勿論
、その側壁にも光源から発せられた光が当てられるから
、ピンホールが容器の底壁および側壁のどこにあっても
検出することができる。
さらに、光が受光器に入る前に、凸レンズによって光が
集められるから、比較的小さいピンホールを通過した弱
い光でも精度良く検出することができる。
【図面の簡単な説明】
図面はこの発明の実施例を示す配置構成図である。 12・・・スラット、13・・・容器挿入孔、14・・
・光源、15・・・暗室形成部材、1B・・・周壁、1
7・・・蓋、18・・・蛇腹状部、19・・・昇降ロッ
ド、21・・・受光器、22・・・受光部、23・・・
凸レンズ、C・・・容器、F・・・フランジ、A・・・
容器側壁、P・・・間隙。 以  上 特 許 出 願 人  昭和アルミニウム株式会社代 
 理  人  岸本 瑛之助(外3名)手続補装置 (方式) 事件の表示 昭和63年特許願第304479号 発明の名称 容器のピンホール検査装置 補正をする者 事件との関係

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 フランジF付アルミニウム箔製上方開口容器Cのピンホ
    ールをこれに光を通過させることにより検査する装置で
    あって、 スラット12に、フランジFは通過し得ないが、容器側
    壁Aは光流入間隙Pをおいて挿入し得る大きさの容器挿
    入孔13が設けられかつスラット12が検査ステーショ
    ンSに順次停止しうるように間欠的に駆動される容器搬
    送スラットコンベヤ11と、 検査ステーションSで停止時のスラット12の下方に位
    置するように配置されている光源14と、検査ステーシ
    ョンSで停止時のスラット12の上方に位置するように
    配置されかつ周壁16の少なくとも一部に蛇腹状部18
    が設けられている有蓋17垂直筒状暗室形成部材15と
    、 暗室形成部材15の下縁部が検査ステーションSで停止
    時のスラット12の容器挿入孔13の周囲に密接される
    ように蛇腹状部18を伸縮させる伸縮手段19と、 受光部22を暗室形成部材15内において検査ステーシ
    ョンSで停止時のスラット12の容器挿入孔13にその
    上方から臨ませるように下向きに配置されかつピンホー
    ルを通過した光を検出してピンホール検出信号を出力す
    る受光器21と、受光部22の真下に位置するように水
    平に配置固定されている凸レンズ23と、 よりなる、容器のピンホール検査装置。
JP63304479A 1988-11-30 1988-11-30 容器のピンホール検査装置 Expired - Lifetime JP2881444B2 (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008039520A (ja) * 2006-08-03 2008-02-21 Kobe Steel Ltd プレス成形品の割れ傷検出装置
JP2016145794A (ja) * 2015-02-03 2016-08-12 東洋製罐株式会社 ピンホール検査装置

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5978965U (ja) * 1982-11-17 1984-05-28 日本製箔株式会社 金属箔製容器の探傷装置
JPS62145144U (ja) * 1986-03-10 1987-09-12

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