JPH02143916A - アルミニウム磁気ディスク基板 - Google Patents
アルミニウム磁気ディスク基板Info
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- JPH02143916A JPH02143916A JP29882488A JP29882488A JPH02143916A JP H02143916 A JPH02143916 A JP H02143916A JP 29882488 A JP29882488 A JP 29882488A JP 29882488 A JP29882488 A JP 29882488A JP H02143916 A JPH02143916 A JP H02143916A
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- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims abstract description 32
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 title claims abstract description 32
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims abstract description 22
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 14
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 claims abstract description 9
- 239000010407 anodic oxide Substances 0.000 claims description 15
- 238000005530 etching Methods 0.000 abstract description 13
- 238000001039 wet etching Methods 0.000 abstract description 7
- 239000002253 acid Substances 0.000 abstract description 2
- 238000007788 roughening Methods 0.000 abstract description 2
- 238000003631 wet chemical etching Methods 0.000 abstract description 2
- 239000010408 film Substances 0.000 description 51
- MUBZPKHOEPUJKR-UHFFFAOYSA-N Oxalic acid Chemical compound OC(=O)C(O)=O MUBZPKHOEPUJKR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 24
- 238000000034 method Methods 0.000 description 8
- 235000006408 oxalic acid Nutrition 0.000 description 8
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 5
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 4
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 4
- HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M Sodium hydroxide Chemical compound [OH-].[Na+] HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 3
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 3
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 3
- NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-N Phosphoric acid Chemical compound OP(O)(O)=O NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000007743 anodising Methods 0.000 description 2
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 2
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 2
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 2
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 2
- 229910000838 Al alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000531 Co alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N Nitric acid Chemical compound O[N+]([O-])=O GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N Sulfuric acid Chemical compound OS(O)(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000012670 alkaline solution Substances 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- 229910000147 aluminium phosphate Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 1
- 229910021538 borax Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- KRVSOGSZCMJSLX-UHFFFAOYSA-L chromic acid Substances O[Cr](O)(=O)=O KRVSOGSZCMJSLX-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 239000012459 cleaning agent Substances 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 238000002425 crystallisation Methods 0.000 description 1
- 230000008025 crystallization Effects 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 238000007516 diamond turning Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005868 electrolysis reaction Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- AWJWCTOOIBYHON-UHFFFAOYSA-N furo[3,4-b]pyrazine-5,7-dione Chemical compound C1=CN=C2C(=O)OC(=O)C2=N1 AWJWCTOOIBYHON-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000000227 grinding Methods 0.000 description 1
- 238000009499 grossing Methods 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 230000001050 lubricating effect Effects 0.000 description 1
- 239000011259 mixed solution Substances 0.000 description 1
- LNOPIUAQISRISI-UHFFFAOYSA-N n'-hydroxy-2-propan-2-ylsulfonylethanimidamide Chemical compound CC(C)S(=O)(=O)CC(N)=NO LNOPIUAQISRISI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910017604 nitric acid Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 230000003014 reinforcing effect Effects 0.000 description 1
- 235000010339 sodium tetraborate Nutrition 0.000 description 1
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 1
- 235000011149 sulphuric acid Nutrition 0.000 description 1
- BSVBQGMMJUBVOD-UHFFFAOYSA-N trisodium borate Chemical compound [Na+].[Na+].[Na+].[O-]B([O-])[O-] BSVBQGMMJUBVOD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007514 turning Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Magnetic Record Carriers (AREA)
- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
この発明は、コンピュータやその周辺機器において記憶
媒体として用いられる磁気ディスクを構成するためのア
ルミニウム磁気ディスク基板、特に磁性膜をスパッタリ
ング法等により薄膜状に付着形成せしめた形式の磁気デ
ィスクに好適な磁気ディスク基板に関する。
媒体として用いられる磁気ディスクを構成するためのア
ルミニウム磁気ディスク基板、特に磁性膜をスパッタリ
ング法等により薄膜状に付着形成せしめた形式の磁気デ
ィスクに好適な磁気ディスク基板に関する。
従来の技術
昨今、高記録密度化を可能とする磁気ディスクとじて、
アルミニウム製のディスク基板の表面にスパッタリング
法等により磁性媒体を薄膜状に付着せしめた形式のもの
が提供されている。
アルミニウム製のディスク基板の表面にスパッタリング
法等により磁性媒体を薄膜状に付着せしめた形式のもの
が提供されている。
このようなアルミニウム磁気ディスクでは、表面硬度の
向上、磁性膜との密着性の向上等を目的として、一般に
、磁性膜の付着処理前にアルミニウム基材表面に下地皮
膜を被覆形成し、この下地皮膜を介して磁性膜を被覆す
ることが行われている。しかも、磁気ディスクの評価の
1つであるCSS (Contact 5tartS
top)特性を向上させるため、形成した下地皮膜の表
面を適度に粗面化しておくことが行われている。
向上、磁性膜との密着性の向上等を目的として、一般に
、磁性膜の付着処理前にアルミニウム基材表面に下地皮
膜を被覆形成し、この下地皮膜を介して磁性膜を被覆す
ることが行われている。しかも、磁気ディスクの評価の
1つであるCSS (Contact 5tartS
top)特性を向上させるため、形成した下地皮膜の表
面を適度に粗面化しておくことが行われている。
従来、上記のような下地皮膜としては、無電解N1−P
メツキ膜が一般に採用されており、また該皮膜表面の粗
面化は、皮膜表面にAΩ203研磨テープによるテクス
チャリング加工を実施することによって行われていた。
メツキ膜が一般に採用されており、また該皮膜表面の粗
面化は、皮膜表面にAΩ203研磨テープによるテクス
チャリング加工を実施することによって行われていた。
ところが、下地皮膜がN1−Pメツキ膜では、約200
℃以上の加熱により結晶化が進み磁性を有するようにな
ることから、磁気ディスクへの適用範囲が限られるとい
う欠点があり、このため最近ではN1−Pメツキ膜に代
わる下地皮膜として陽極酸化皮膜を採用したアルミニウ
ム磁気ディスク基板が提案されている。
℃以上の加熱により結晶化が進み磁性を有するようにな
ることから、磁気ディスクへの適用範囲が限られるとい
う欠点があり、このため最近ではN1−Pメツキ膜に代
わる下地皮膜として陽極酸化皮膜を採用したアルミニウ
ム磁気ディスク基板が提案されている。
発明が解決しようとする課題
しかるに、陽極酸化皮膜を形成したアルミニウム磁気デ
ィスク基板に、C8S特性改善のために従来と同様のへ
ρ203研磨テープによるテクスチャリング加工を行っ
ても、皮膜表面の凹凸が不規則となりN1−Pメツキ膜
の場合はどC8S特性の改善効果が得られないことが発
明者らの研究により判明した。
ィスク基板に、C8S特性改善のために従来と同様のへ
ρ203研磨テープによるテクスチャリング加工を行っ
ても、皮膜表面の凹凸が不規則となりN1−Pメツキ膜
の場合はどC8S特性の改善効果が得られないことが発
明者らの研究により判明した。
この発明は、かかる技術的背景に鑑みてなされたもので
あって、陽極酸化皮膜を形成した磁気ディスク基板であ
って、かっC8S特性を向上しうるアルミニウム磁気デ
ィスク基板の提供を目的とする。
あって、陽極酸化皮膜を形成した磁気ディスク基板であ
って、かっC8S特性を向上しうるアルミニウム磁気デ
ィスク基板の提供を目的とする。
課題を解決するための手段
上記目的を達成するために、発明者は鋭意研究の結果、
研磨テープによるテクスチャリング加工に代えて湿式エ
ツチング法を採用することでC8S特性を向上しうるこ
とを知見するとともに、この場合表面粗さを一定範囲に
規定することによりさらにC8S特性を改善しうろこと
を見出し、かかる知見に基いてこの発明を完成しえたも
のである。
研磨テープによるテクスチャリング加工に代えて湿式エ
ツチング法を採用することでC8S特性を向上しうるこ
とを知見するとともに、この場合表面粗さを一定範囲に
規定することによりさらにC8S特性を改善しうろこと
を見出し、かかる知見に基いてこの発明を完成しえたも
のである。
即ちこの発明は、図面の符号を用いて示すと、アルミニ
ウム基材(2)の表面に陽極酸化皮膜(3)が形成され
るとともに、この陽極酸化皮膜(3)の表面が湿式エツ
チングにより表面粗さにおいてRa(中心線平均粗さ)
=10〜200人に粗面化されてなることを特徴とする
アルミニウム磁気ディスク基板(1)を要旨とするもの
である。
ウム基材(2)の表面に陽極酸化皮膜(3)が形成され
るとともに、この陽極酸化皮膜(3)の表面が湿式エツ
チングにより表面粗さにおいてRa(中心線平均粗さ)
=10〜200人に粗面化されてなることを特徴とする
アルミニウム磁気ディスク基板(1)を要旨とするもの
である。
アルミニウム基材(2)の組成は特に限定されるもので
はないが、好ましい組成のものとして純度99.99%
以上の高純度アルミニウムをベースとして、これに強化
元素であるMgを4〜5vt%程度添加含有せしめた合
金を用いるのが良い。もとよりJIS5086アルミニ
ウム合金を用いても良い。またアルミニウム基材の板厚
は、−殻内には1〜3#程度に設定される。
はないが、好ましい組成のものとして純度99.99%
以上の高純度アルミニウムをベースとして、これに強化
元素であるMgを4〜5vt%程度添加含有せしめた合
金を用いるのが良い。もとよりJIS5086アルミニ
ウム合金を用いても良い。またアルミニウム基材の板厚
は、−殻内には1〜3#程度に設定される。
アルミニウム基材(2)の表面に被覆された陽極酸化皮
膜(3)の種類は特に限定されないが、好ましくは蓚酸
法による陽極酸化処理によって形成される蓚酸皮膜とす
るのが良い。この理由は、蓚酸皮膜が他の陽極酸化皮膜
に較べ、耐熱性、硬度に優れているからである。蓚酸法
による処理条件の一例として、液組成:1.5%、液温
:15〜30℃、電流密度:1.5A/dmを挙げうる
。陽極酸化皮膜の膜厚は10〜20μm程度に設定する
のが良い。また、この陽極酸化皮膜の表面粗さはRa
: 30〜3000人程度である度板お、陽極酸化皮膜
(3)の被覆形成は、所定形状のアルミニウム基材(2
)にダイヤモンド旋削、ボリシング加工、グラインディ
ング加工、荒旋削加工等を施すことにより、所期する板
厚、チャンファ−形状、表面精度に加工したのち行われ
るものである。
膜(3)の種類は特に限定されないが、好ましくは蓚酸
法による陽極酸化処理によって形成される蓚酸皮膜とす
るのが良い。この理由は、蓚酸皮膜が他の陽極酸化皮膜
に較べ、耐熱性、硬度に優れているからである。蓚酸法
による処理条件の一例として、液組成:1.5%、液温
:15〜30℃、電流密度:1.5A/dmを挙げうる
。陽極酸化皮膜の膜厚は10〜20μm程度に設定する
のが良い。また、この陽極酸化皮膜の表面粗さはRa
: 30〜3000人程度である度板お、陽極酸化皮膜
(3)の被覆形成は、所定形状のアルミニウム基材(2
)にダイヤモンド旋削、ボリシング加工、グラインディ
ング加工、荒旋削加工等を施すことにより、所期する板
厚、チャンファ−形状、表面精度に加工したのち行われ
るものである。
また、陽極酸化皮膜は必ずしもアルミニウム基材(2)
の両面に形成される必要はなく、片面のみに被覆されて
いても良い。
の両面に形成される必要はなく、片面のみに被覆されて
いても良い。
陽極酸化皮膜表面(3)を粗面化するためのエツチング
は、エツチング液を用いた湿式の化学的エツチングであ
る。かかるエツチングにより均一微細な粗面(3a)が
得られる。エツチング液の種類は特に限定されないが、
NaOH等のアルカリ系溶液では局部ピットの発生の恐
れがあり均一な粗面が実現できにくいことから、好まし
くは酸系溶液を用いるのが良い。エツチング液の具体例
としては、H2SO4:15%、HNO3:15%、ホ
ウ酸ナトリウム=1%、スルファミン酸:1〜10%の
各水溶液とかリン酸35CC/ρとクロム酸20g/Ω
との混合溶液等を挙げうる。処理時間は1〜60分程度
程度い。
は、エツチング液を用いた湿式の化学的エツチングであ
る。かかるエツチングにより均一微細な粗面(3a)が
得られる。エツチング液の種類は特に限定されないが、
NaOH等のアルカリ系溶液では局部ピットの発生の恐
れがあり均一な粗面が実現できにくいことから、好まし
くは酸系溶液を用いるのが良い。エツチング液の具体例
としては、H2SO4:15%、HNO3:15%、ホ
ウ酸ナトリウム=1%、スルファミン酸:1〜10%の
各水溶液とかリン酸35CC/ρとクロム酸20g/Ω
との混合溶液等を挙げうる。処理時間は1〜60分程度
程度い。
エツチング後の表面粗さがRa(中心線平均粗さ)にお
いて10〜200人に規定されるのは、エツチングによ
るC8S特性の改善効果と相俟ってさらに優れたC5S
特性を実現できるからである。即ち、Raが10人未満
では平滑すぎてヘッドが磁気ディスク表面に吸着し易く
なるためにC8S特性が悪化する。逆にRaが200人
を超えるとヘッドが磁気ディスク表面の凸部に衝突し易
くなるためにやはりC8S特性が悪化する。特に好まし
いRaの範囲は20〜100人である。
いて10〜200人に規定されるのは、エツチングによ
るC8S特性の改善効果と相俟ってさらに優れたC5S
特性を実現できるからである。即ち、Raが10人未満
では平滑すぎてヘッドが磁気ディスク表面に吸着し易く
なるためにC8S特性が悪化する。逆にRaが200人
を超えるとヘッドが磁気ディスク表面の凸部に衝突し易
くなるためにやはりC8S特性が悪化する。特に好まし
いRaの範囲は20〜100人である。
上記のアルミニウム磁気ディスク基板(1)はその後ス
パッタリング法等により、陽極酸化皮膜(3)の表面に
磁性膜を付着されたのち、−殻内にはさらに潤滑膜ない
しは保護膜を被覆されて磁気ディスクとなされる。なお
、陽極酸化皮膜形成後エツチング処理前に、膜厚5〜1
5μm s R85〜50人程度度板るように皮膜にボ
リシング加工を実施して皮膜を一旦平滑化し、もって次
段のエツチングによるRa:10〜200人の範囲への
規制を容易にすることも推奨される。
パッタリング法等により、陽極酸化皮膜(3)の表面に
磁性膜を付着されたのち、−殻内にはさらに潤滑膜ない
しは保護膜を被覆されて磁気ディスクとなされる。なお
、陽極酸化皮膜形成後エツチング処理前に、膜厚5〜1
5μm s R85〜50人程度度板るように皮膜にボ
リシング加工を実施して皮膜を一旦平滑化し、もって次
段のエツチングによるRa:10〜200人の範囲への
規制を容易にすることも推奨される。
実施例
純度99.99%のアルミニウムをベースとするドーナ
ツ状のアルミニウム基材(外径95m1内径25m、板
厚1.3ttm)を複数組用意し、該基材の表面を平滑
仕上げしたのち、非浸食性洗浄剤で洗浄した。
ツ状のアルミニウム基材(外径95m1内径25m、板
厚1.3ttm)を複数組用意し、該基材の表面を平滑
仕上げしたのち、非浸食性洗浄剤で洗浄した。
次に、蓚酸濃度:1.5wt%、液温:30℃の蓚酸電
解液中にて、電流密度: 1. 5A/dゴの条件で直
流電解処理による陽極酸化処理を実施し、各アルミニウ
ム基材の表面に厚さ15μmの蓚酸皮膜を被覆形成した
。
解液中にて、電流密度: 1. 5A/dゴの条件で直
流電解処理による陽極酸化処理を実施し、各アルミニウ
ム基材の表面に厚さ15μmの蓚酸皮膜を被覆形成した
。
次いで、蓚酸皮膜の表面をボリシング加工したのち、下
記第1表中試料No1〜7に示すアルミニウム基材につ
いては同表に示す条件で湿式エツチングを実施し、また
試料No8についてはエツチングを実施することなく、
各種のアルミニウム磁気ディスク基板を製作した。
記第1表中試料No1〜7に示すアルミニウム基材につ
いては同表に示す条件で湿式エツチングを実施し、また
試料No8についてはエツチングを実施することなく、
各種のアルミニウム磁気ディスク基板を製作した。
上記により得た各磁気ディスク基板につき、蓚酸皮膜表
面の表面粗さ(Ra)’を調べた。続いて、各基板の皮
膜表面に常法に従うスパッタリング法により厚さ150
0人のCr層と厚さ500人のCo合金層を順次的に付
着させて磁性膜を形成したのち、さらにカーボン系の保
護膜を同じくスパッタリング法により被覆して磁気ディ
スクとなし、これらのC8S特性を調べた。結果を第1
表に示す。
面の表面粗さ(Ra)’を調べた。続いて、各基板の皮
膜表面に常法に従うスパッタリング法により厚さ150
0人のCr層と厚さ500人のCo合金層を順次的に付
着させて磁性膜を形成したのち、さらにカーボン系の保
護膜を同じくスパッタリング法により被覆して磁気ディ
スクとなし、これらのC8S特性を調べた。結果を第1
表に示す。
[以下余白]
第1表の結果から、エツチングを施さずポリシング加工
のみを施した比較品(No8)は、蓚酸皮膜の表面粗さ
は本発明範囲内であるにもかかわらず、エツチングを施
した本発明品に較べて磁気ディスクのC8S特性が悪い
ことがわかる。また、エツチングを施したものでも皮膜
の表面粗さが本発明の範囲を逸脱する比較品(N。
のみを施した比較品(No8)は、蓚酸皮膜の表面粗さ
は本発明範囲内であるにもかかわらず、エツチングを施
した本発明品に較べて磁気ディスクのC8S特性が悪い
ことがわかる。また、エツチングを施したものでも皮膜
の表面粗さが本発明の範囲を逸脱する比較品(N。
7)はやはりC8S特性が悪いことがわかる。
従って、本発明に係る磁気ディスク基板を用いるとC8
S特性に優れた磁気ディスクとなしうろことを確認しえ
た。
S特性に優れた磁気ディスクとなしうろことを確認しえ
た。
発明の詳細
な説明したように、この発明に係るアルミニウム磁気デ
ィスク基板は陽極酸化皮膜表面の粗面化が湿式エツチン
グにより行われたものであり、かつ表面粗さがRadi
o〜200人の範囲に規定されたものであるから、皮膜
表面が均一微細な粗面状態となっており、下地皮膜とし
て陽極酸化皮膜を採用するものでありながらも磁気ディ
スクのC8S特性を向上することができる。また、湿式
エツチングによれば多量の基板を同時処理することがで
き、従来のテープ研磨法に較べて磁気ディスク基板の量
産化が可能となるという効果もある。
ィスク基板は陽極酸化皮膜表面の粗面化が湿式エツチン
グにより行われたものであり、かつ表面粗さがRadi
o〜200人の範囲に規定されたものであるから、皮膜
表面が均一微細な粗面状態となっており、下地皮膜とし
て陽極酸化皮膜を採用するものでありながらも磁気ディ
スクのC8S特性を向上することができる。また、湿式
エツチングによれば多量の基板を同時処理することがで
き、従来のテープ研磨法に較べて磁気ディスク基板の量
産化が可能となるという効果もある。
図面はこの発明の実施例を示すもので、第1図はアルミ
ニウム磁気ディスク基板の拡大断面図、第2図は陽極酸
化皮膜表面の説明的拡大断面図である。 (1)・・・アルミニウム磁気ディスク基板、(2)・
・・アルミニウム基材、(3)・・・陽極酸化皮膜。 以上
ニウム磁気ディスク基板の拡大断面図、第2図は陽極酸
化皮膜表面の説明的拡大断面図である。 (1)・・・アルミニウム磁気ディスク基板、(2)・
・・アルミニウム基材、(3)・・・陽極酸化皮膜。 以上
Claims (1)
- アルミニウム基材の表面に陽極酸化皮膜が形成されると
ともに、この陽極酸化皮膜の表面が湿式エッチングによ
り表面粗さにおいてRa(中心線平均粗さ):10〜2
00Åに粗面化されてなることを特徴とするアルミニウ
ム磁気ディスク基板。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP29882488A JPH02143916A (ja) | 1988-11-25 | 1988-11-25 | アルミニウム磁気ディスク基板 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP29882488A JPH02143916A (ja) | 1988-11-25 | 1988-11-25 | アルミニウム磁気ディスク基板 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02143916A true JPH02143916A (ja) | 1990-06-01 |
Family
ID=17864691
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP29882488A Pending JPH02143916A (ja) | 1988-11-25 | 1988-11-25 | アルミニウム磁気ディスク基板 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02143916A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4444567A1 (de) * | 1994-12-02 | 1996-06-05 | Siemens Ag | Verfahren zum Herstellen einer Leiterplatte mit einer Kernplatte aus Aluminium oder Aluminiumlegierung |
-
1988
- 1988-11-25 JP JP29882488A patent/JPH02143916A/ja active Pending
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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DE4444567A1 (de) * | 1994-12-02 | 1996-06-05 | Siemens Ag | Verfahren zum Herstellen einer Leiterplatte mit einer Kernplatte aus Aluminium oder Aluminiumlegierung |
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