JPH02133917A - レジストの塗布方法及びレジスト塗布装置 - Google Patents
レジストの塗布方法及びレジスト塗布装置Info
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- JPH02133917A JPH02133917A JP28679188A JP28679188A JPH02133917A JP H02133917 A JPH02133917 A JP H02133917A JP 28679188 A JP28679188 A JP 28679188A JP 28679188 A JP28679188 A JP 28679188A JP H02133917 A JPH02133917 A JP H02133917A
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- Japan
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- wafer
- resist
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- 238000000576 coating method Methods 0.000 title claims abstract description 20
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 title claims abstract description 17
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 6
- 239000011324 bead Substances 0.000 abstract description 16
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 7
- 239000002131 composite material Substances 0.000 abstract 1
- 239000007921 spray Substances 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 5
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 2
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 2
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 description 2
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 2
- 101100327917 Caenorhabditis elegans chup-1 gene Proteins 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 239000004744 fabric Substances 0.000 description 1
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 1
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 1
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000000059 patterning Methods 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 238000003892 spreading Methods 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
- 230000008961 swelling Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Application Of Or Painting With Fluid Materials (AREA)
- Coating Apparatus (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概 要〕
フォトレジスト等のレジストを均一な膜厚に塗布するレ
ジストの塗布方法及び塗布装置に関し、レジスト塗布面
の外周にできるエツジビードの発生を防止することを目
的とし、 半導体ウェハーの一方の面にレジストを滴下し、その面
方向及びその面に垂直で且つその面から裏面方向に向か
う2つの遠心力を作用させる。
ジストの塗布方法及び塗布装置に関し、レジスト塗布面
の外周にできるエツジビードの発生を防止することを目
的とし、 半導体ウェハーの一方の面にレジストを滴下し、その面
方向及びその面に垂直で且つその面から裏面方向に向か
う2つの遠心力を作用させる。
またウェハーを支持し、該ウェハーの表面に垂直な軸を
回転軸として回転するスピンナーと、該スピンナーを搭
載して回転するドラムとよりなり、前記スピンナーは、
その軸がドラムの回転に対して垂直であり、且つスピン
ナーに支持されたウェハーの面がドラムの回転軸中心よ
り適宜の距離離れるように設けられ、前記スピンナーと
ドラムが共に回転駆動されウェハーの面に半径方向及び
垂直方向の遠心力を作用せしめることができるように構
成する。
回転軸として回転するスピンナーと、該スピンナーを搭
載して回転するドラムとよりなり、前記スピンナーは、
その軸がドラムの回転に対して垂直であり、且つスピン
ナーに支持されたウェハーの面がドラムの回転軸中心よ
り適宜の距離離れるように設けられ、前記スピンナーと
ドラムが共に回転駆動されウェハーの面に半径方向及び
垂直方向の遠心力を作用せしめることができるように構
成する。
本発明はフォトレジスト等のレジストを均一な膜厚で塗
布するレジストの塗布方法及び塗布装置に関する。
布するレジストの塗布方法及び塗布装置に関する。
半導体装置を製造するに当たってはフォトリソグラフィ
ーと呼ばれる加工技術を用いてウェハー表面にパターン
を形成している。このフォトリソグラフィーでは、ウェ
ハー上にレジストと呼ばれる光等に反応して溶解しない
エツチング速度の変化する樹脂を用いてミクロンレベル
の微細な加工を実現している。
ーと呼ばれる加工技術を用いてウェハー表面にパターン
を形成している。このフォトリソグラフィーでは、ウェ
ハー上にレジストと呼ばれる光等に反応して溶解しない
エツチング速度の変化する樹脂を用いてミクロンレベル
の微細な加工を実現している。
近年の半導体装置の高集積化には、フォl−IJソゲラ
フイー技術が極めて重要であり、微細半導体デバイスの
効率よい製造にとって、レジストをウェハー全面に一様
にかつ制御性(膜厚制御性)良く塗布する高度な技術が
要求されつつある。
フイー技術が極めて重要であり、微細半導体デバイスの
効率よい製造にとって、レジストをウェハー全面に一様
にかつ制御性(膜厚制御性)良く塗布する高度な技術が
要求されつつある。
〔従来の技術〕
従来の典型的なレジストコーティング技術は、いわゆる
スピンコーティングであり、第5図はそのレジストコー
タを示す図である。これはレジストコータカップ1の中
にスピンナー2が設けられ、該スピンナー2は駆動モー
タ3により回転駆動されるようになっている。そしてレ
ジストの塗布は、スピンナー2上にレジストを塗布すべ
きウェハー4を取り付け、その表面にレジス1−12布
ノズル5から適量のレジストを滴下し、スピンナー2を
回転してレジストを遠心力によりウェハー4の表面に広
げてレジスト膜を形成するのでアル。
スピンコーティングであり、第5図はそのレジストコー
タを示す図である。これはレジストコータカップ1の中
にスピンナー2が設けられ、該スピンナー2は駆動モー
タ3により回転駆動されるようになっている。そしてレ
ジストの塗布は、スピンナー2上にレジストを塗布すべ
きウェハー4を取り付け、その表面にレジス1−12布
ノズル5から適量のレジストを滴下し、スピンナー2を
回転してレジストを遠心力によりウェハー4の表面に広
げてレジスト膜を形成するのでアル。
上記従来のスピンコーティングでは、レジストの粘性制
御という点を除外すれば、コーティングの制御パラメー
タは主にスピンナーの回転数と回転時間である。
御という点を除外すれば、コーティングの制御パラメー
タは主にスピンナーの回転数と回転時間である。
ところがこれら2つのパラメータを様々に変えても第6
図に示すように、ウェハー4周辺近くの表面でレジスト
6が盛り上がった形状になるいわゆるエツジビード7が
生ずる。このようなレジストの形状はレジストの密度ρ
、表面張力係数σ、レジストとウェハーの間のぬれ性(
wetabiliLいτ、及びスピンナーの角速度ωに
依存する。第6図のようにウェハーエツジでレジストが
盛り上がりを生ずる理由は次の様な例から直観的に理解
される。
図に示すように、ウェハー4周辺近くの表面でレジスト
6が盛り上がった形状になるいわゆるエツジビード7が
生ずる。このようなレジストの形状はレジストの密度ρ
、表面張力係数σ、レジストとウェハーの間のぬれ性(
wetabiliLいτ、及びスピンナーの角速度ωに
依存する。第6図のようにウェハーエツジでレジストが
盛り上がりを生ずる理由は次の様な例から直観的に理解
される。
いま第7図(a)のように棒8の先端に液体9を付着さ
せて棒8を重力場の方向に平行にすると図のような形状
となる。重力場に耐えて棒上に付着させることのできる
最も多量な液体を第7図(a)のように付着させた時の
液滴の形状は、この場合もやはり液体の密度ρ、表面張
力係数σ及び棒材と液体のぬれ性τによって定まる。例
えばσ2)τ のもとに σ )ρ である場合には液滴は第7図(b)のように液体9は棒
8の先端のみに付着し、はぼ球状の液滴となる。
せて棒8を重力場の方向に平行にすると図のような形状
となる。重力場に耐えて棒上に付着させることのできる
最も多量な液体を第7図(a)のように付着させた時の
液滴の形状は、この場合もやはり液体の密度ρ、表面張
力係数σ及び棒材と液体のぬれ性τによって定まる。例
えばσ2)τ のもとに σ )ρ である場合には液滴は第7図(b)のように液体9は棒
8の先端のみに付着し、はぼ球状の液滴となる。
スピンナーに取付けられて回転しているウェハー上のレ
ジストについても、回転による遠心力をウェハーの半径
方向に作用する静的な力場とみなせば(第6図参照)上
述のような考察をすることができる。いずれにせよ上述
のような機構によってレジストはウェハーの周辺部分で
盛り上がりエツジビードを生ずる。
ジストについても、回転による遠心力をウェハーの半径
方向に作用する静的な力場とみなせば(第6図参照)上
述のような考察をすることができる。いずれにせよ上述
のような機構によってレジストはウェハーの周辺部分で
盛り上がりエツジビードを生ずる。
このエツジビード領域はウェハー表面面積の有効利用と
いう点で大きな問題を生じている。
いう点で大きな問題を生じている。
第8図に示したのは標準的なレジストを使用して、スピ
ンナーの回転数500rpmのちとに4″φウエハー4
にレジストコーティングした場合のウェハー面内レジス
ト膜厚の実測結果である。この結果では、ウェハー周辺
部1 cnaの領域にエツジビードの盛り上がりを生じ
ている。この部分が後の工程に対して不都合を生じ事実
上使用不可能となる。
ンナーの回転数500rpmのちとに4″φウエハー4
にレジストコーティングした場合のウェハー面内レジス
ト膜厚の実測結果である。この結果では、ウェハー周辺
部1 cnaの領域にエツジビードの盛り上がりを生じ
ている。この部分が後の工程に対して不都合を生じ事実
上使用不可能となる。
従来方法の範囲内で、この問題を解決しようとしてスピ
ンナーの回転数や回転時間などの制御パラメータを変化
させると、今度は正常領域(エツジビード領域以外の領
域)のレジスト厚が変化してしまい、結局これら2つの
制御パラメータのみではエツジビード領域を減少させ、
かつ最適なレジスト厚を得るのは困難である。
ンナーの回転数や回転時間などの制御パラメータを変化
させると、今度は正常領域(エツジビード領域以外の領
域)のレジスト厚が変化してしまい、結局これら2つの
制御パラメータのみではエツジビード領域を減少させ、
かつ最適なレジスト厚を得るのは困難である。
本発明は、上記従来の問題点に鑑み、レジスト塗布面の
外周にできるエツジビードの発生を防止したレジストの
塗布方法及びレジスト塗布装置を提供することを目的と
する。
外周にできるエツジビードの発生を防止したレジストの
塗布方法及びレジスト塗布装置を提供することを目的と
する。
第1図は本発明の原理説明図である。
同図において、lOはスピンナー 11はウェハー、1
2はレジストである。
2はレジストである。
本発明ではスピンナー10を回転してウェハー11の面
内方向に遠心力13を作用させると共に、スピンナー1
0を公転させてウェハー11の面に垂直方向の遠心力1
4を作用させるのである。
内方向に遠心力13を作用させると共に、スピンナー1
0を公転させてウェハー11の面に垂直方向の遠心力1
4を作用させるのである。
第1図のように半径方向力場13 (スピン遠心力場)
と軸方向力場14 (公転遠心力場)とが作用して合力
力場15が斜め下方に向くため、ウェハーエツジ付近で
のレジスト12の形状は図示した様な形状となる。
と軸方向力場14 (公転遠心力場)とが作用して合力
力場15が斜め下方に向くため、ウェハーエツジ付近で
のレジスト12の形状は図示した様な形状となる。
これは次の様な実験により確かめられた。
まず従来のスピンコータでレジストコートを(500r
pm 、 15sec)行う。この段階でのレジスト膜
厚分布は第6図で示したようになりエツジビードを生ず
る。この後直ちにウェハーを第2図(a)に示すように
その回転軸16が重力の方向と平行である回転ドラム1
7の中にウェハー面と回転軸16が平行になるようにウ
ェハー11を装着しドラム17を回転させる(900r
pm 、 70sec)。この時ウェハー11はドラム
17の内部で半径10.Jの円上を回転することになる
。
pm 、 15sec)行う。この段階でのレジスト膜
厚分布は第6図で示したようになりエツジビードを生ず
る。この後直ちにウェハーを第2図(a)に示すように
その回転軸16が重力の方向と平行である回転ドラム1
7の中にウェハー面と回転軸16が平行になるようにウ
ェハー11を装着しドラム17を回転させる(900r
pm 、 70sec)。この時ウェハー11はドラム
17の内部で半径10.Jの円上を回転することになる
。
この結果を第2図(b)及び(c)に示す。
(b)図はウェハー面の水平方向の線上(A −A線)
に沿った膜厚分布で、ウェハーエツジ付近でのレジスト
の盛り上がりは大幅に解消している。
に沿った膜厚分布で、ウェハーエツジ付近でのレジスト
の盛り上がりは大幅に解消している。
(C)図はウェハー面の上下方向の線上(B −B線)
に沿った膜厚分布で、この場合は前者はどではないが、
第8図の場合に比較すればエツジビードは減少している
。
に沿った膜厚分布で、この場合は前者はどではないが、
第8図の場合に比較すればエツジビードは減少している
。
このようにスピンナーに軸方向力場を加えることによっ
てエツジビードの解消が可能となる。
てエツジビードの解消が可能となる。
第3図は本発明方法を実施できるレジスト塗布Haの実
施例を示す図であり、(a)はb図のaa線における断
面図、(b)はa図のb−b線における断面図である。
施例を示す図であり、(a)はb図のaa線における断
面図、(b)はa図のb−b線における断面図である。
本実施例は、同図に示すように、モーフにより回転駆動
される軸20を有するドラム21がヘース22に設けら
れ、該ドラム21には、該ドラムの軸20と垂直方向に
設けられた軸23を有する複数個のスピンナー24が設
けられ、該スピンナーは、その軸端に歯車25が設けら
れていて、ヘース22に固定されたリング状のラック2
6に噛み合っている。またスピンナー24に取り付けら
れたウェハー27にレジストを噴射する複数本のノズル
28が放射状に設けられている。そして第3図には図示
を省略しであるが、各スピンナー24には第4図に示す
ようにウェハー27のセント用治具29が付属している
。この治具29はドラム21にばね30 、31 、3
2に支持されており、且つウェハー27を支持できるよ
うになっている。
される軸20を有するドラム21がヘース22に設けら
れ、該ドラム21には、該ドラムの軸20と垂直方向に
設けられた軸23を有する複数個のスピンナー24が設
けられ、該スピンナーは、その軸端に歯車25が設けら
れていて、ヘース22に固定されたリング状のラック2
6に噛み合っている。またスピンナー24に取り付けら
れたウェハー27にレジストを噴射する複数本のノズル
28が放射状に設けられている。そして第3図には図示
を省略しであるが、各スピンナー24には第4図に示す
ようにウェハー27のセント用治具29が付属している
。この治具29はドラム21にばね30 、31 、3
2に支持されており、且つウェハー27を支持できるよ
うになっている。
ドラム21が停止しているときはスピンナー24とウェ
ハー27は離れているが、ドラム21が回転するとウェ
ハー27と治具29は遠心力によりばね30 、31
、32を圧縮してドラム壁に近すき、ウェハー27はス
ピンナー24に密着し、治具29は更にばね30 、3
1 、32を圧縮してウェハー27と離れ、ウェハー2
7の回転を妨げない様に退避するようになっている。
ハー27は離れているが、ドラム21が回転するとウェ
ハー27と治具29は遠心力によりばね30 、31
、32を圧縮してドラム壁に近すき、ウェハー27はス
ピンナー24に密着し、治具29は更にばね30 、3
1 、32を圧縮してウェハー27と離れ、ウェハー2
7の回転を妨げない様に退避するようになっている。
このように構成された本実施例は、ウェハーセット治具
29にウェハー27をセットし、レジスト噴射ノズル2
8から適量のレジストをウェハー27に噴射したのち、
軸20を回転駆動することにより、ドラム21が回転し
、それと共にスピンナー24はラック26と噛み合う歯
車25により回転する。同時にウェハー27は遠心力に
よりスピンナー24にセットされ、回転する。従ってつ
エバー27はドラム21による公転と、スピンナー24
による自転が同時に行われる。これによりウェハー27
には第1図に示した様なスピンナー27の回転(自転)
による半径方向力場と、ドラム21の回転(公転)によ
るスピンナーの軸方向力場が作用する。従ってウェハー
27上のレジストにはこれらの合力力場が作用し、第1
図のようにエツジビードの発生は抑えられる。
29にウェハー27をセットし、レジスト噴射ノズル2
8から適量のレジストをウェハー27に噴射したのち、
軸20を回転駆動することにより、ドラム21が回転し
、それと共にスピンナー24はラック26と噛み合う歯
車25により回転する。同時にウェハー27は遠心力に
よりスピンナー24にセットされ、回転する。従ってつ
エバー27はドラム21による公転と、スピンナー24
による自転が同時に行われる。これによりウェハー27
には第1図に示した様なスピンナー27の回転(自転)
による半径方向力場と、ドラム21の回転(公転)によ
るスピンナーの軸方向力場が作用する。従ってウェハー
27上のレジストにはこれらの合力力場が作用し、第1
図のようにエツジビードの発生は抑えられる。
以上説明した様に、本発明によれば、ウェハーに対し、
その面の半径方向及び垂直方向に遠心力を作用させるこ
とにより、ウェハーに塗布したレジストのエツジビード
発生を抑え、均一な厚さのレジスト膜を得ることができ
る。これによりウェハーの有効利用面積が増大し、また
マスクとの密着性が良くなりレジストパターニング精度
の向上が得られ、更にエツジビードがゴミ化することが
ないのでウェハー内におけるチップ良品率の向上が得ら
れる。
その面の半径方向及び垂直方向に遠心力を作用させるこ
とにより、ウェハーに塗布したレジストのエツジビード
発生を抑え、均一な厚さのレジスト膜を得ることができ
る。これによりウェハーの有効利用面積が増大し、また
マスクとの密着性が良くなりレジストパターニング精度
の向上が得られ、更にエツジビードがゴミ化することが
ないのでウェハー内におけるチップ良品率の向上が得ら
れる。
第1図は本発明の原理説明図、
第2図は本発明の詳細な説明するための図、第3図は本
発明のレジスト塗布装置の実施例を示す図、 第4図は本発明の実施例におけるウェハーセット治具を
示す図、 第5図は従来のレジストコータを示す図、第6図は従来
のスピンコード法でウェハーに塗布したレジストの形状
を示す図、 第7図は発明が解決しようとする課題を説明するための
図、 第8図は従来のスピンコード法によるレジストの膜厚分
布を示す図である。 図において、 10はスピンナー 11はウェハー 12はレジスト、 13は半径方向力場、 14は軸方向力場、 15は合力力場 を示す。
発明のレジスト塗布装置の実施例を示す図、 第4図は本発明の実施例におけるウェハーセット治具を
示す図、 第5図は従来のレジストコータを示す図、第6図は従来
のスピンコード法でウェハーに塗布したレジストの形状
を示す図、 第7図は発明が解決しようとする課題を説明するための
図、 第8図は従来のスピンコード法によるレジストの膜厚分
布を示す図である。 図において、 10はスピンナー 11はウェハー 12はレジスト、 13は半径方向力場、 14は軸方向力場、 15は合力力場 を示す。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、半導体ウェハー(11)の一方の面にレジスト(1
2)を滴下し、その面方向及びその面に垂直で且つその
面から裏面方向に向かう2つの遠心力を作用させること
を特徴とするレジストの塗布方法。 2、ウェハー(27)を支持し、該ウェハー(27)の
表面に垂直な軸を回転軸(23)として回転するスピン
ナー(24)と、該スピンナー(24)を搭載して回転
するドラム(21)とよりなり、前記スピンナー(24
)は、その軸(23)がドラム(21)の回転軸(20
)に対し垂直であり、且つスピンナー(23)に支持さ
れたウェハー(27)の面がドラム(21)の回転軸(
20)中心より適宜の距離離れるように設けられ、前記
スピンナー(24)とドラム(21)が共に回転駆動さ
れ、ウェハー(27)の面に半径方向及び垂直方向の遠
心力を作用せしめることができるようにしたことを特徴
とするレジスト塗布装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28679188A JPH02133917A (ja) | 1988-11-15 | 1988-11-15 | レジストの塗布方法及びレジスト塗布装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28679188A JPH02133917A (ja) | 1988-11-15 | 1988-11-15 | レジストの塗布方法及びレジスト塗布装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02133917A true JPH02133917A (ja) | 1990-05-23 |
Family
ID=17709087
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP28679188A Pending JPH02133917A (ja) | 1988-11-15 | 1988-11-15 | レジストの塗布方法及びレジスト塗布装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02133917A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20150011526A (ko) * | 2013-07-23 | 2015-02-02 | 주식회사 엘지화학 | 변형된 스핀코팅 장치 및 이를 이용한 스핀코팅 방법 |
-
1988
- 1988-11-15 JP JP28679188A patent/JPH02133917A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20150011526A (ko) * | 2013-07-23 | 2015-02-02 | 주식회사 엘지화학 | 변형된 스핀코팅 장치 및 이를 이용한 스핀코팅 방법 |
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