JPH0212600Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0212600Y2 JPH0212600Y2 JP1981102739U JP10273981U JPH0212600Y2 JP H0212600 Y2 JPH0212600 Y2 JP H0212600Y2 JP 1981102739 U JP1981102739 U JP 1981102739U JP 10273981 U JP10273981 U JP 10273981U JP H0212600 Y2 JPH0212600 Y2 JP H0212600Y2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- temperature
- refrigerant
- test
- support
- low
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
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- 238000004154 testing of material Methods 0.000 claims description 2
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 2
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- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は所定の低温下にあつて、金属等による
試験用材料に外力を付与することにより、当該材
料の曲げ等に係る材料試験を行なうための装置に
関する。
試験用材料に外力を付与することにより、当該材
料の曲げ等に係る材料試験を行なうための装置に
関する。
既に第1図にあつて、断熱箱体1の下位に支持
基台2の中央部に設けた支持部3を突出させ、当
該支持部3の受点3′上に試験用材料Tを載置し、
かくて断熱箱体1内に収納された当該材料Tを、
これに臨設されている材料冷却用スプレー4から
噴射された冷媒によつて所要低温に冷却し、次
で、断熱箱体1の上部から同箱体1に進退自在な
るよう装設した加圧部5を、図示しない油圧機構
等によつて作動せしめ、当該加圧部5に設けた二
つの力点5′,5′により、上記試験用材料Tを押
圧し、これにより前記受点3′と力点5′,5′と
による曲げ試験を行なうようにしたものが提案さ
れている。
基台2の中央部に設けた支持部3を突出させ、当
該支持部3の受点3′上に試験用材料Tを載置し、
かくて断熱箱体1内に収納された当該材料Tを、
これに臨設されている材料冷却用スプレー4から
噴射された冷媒によつて所要低温に冷却し、次
で、断熱箱体1の上部から同箱体1に進退自在な
るよう装設した加圧部5を、図示しない油圧機構
等によつて作動せしめ、当該加圧部5に設けた二
つの力点5′,5′により、上記試験用材料Tを押
圧し、これにより前記受点3′と力点5′,5′と
による曲げ試験を行なうようにしたものが提案さ
れている。
尚こゝで図示の6は液体窒素等による冷媒源で
あり、これから給供される液化ガスは熱交換器7
を介して前記材料冷却用スプレー4に供与される
が、この際試験用材料Tには感温素子8を当接し
て、同材料Tの温度を検知し、同素子8からの検
知信号が導入される制御部9を設け、当該制御部
9の出力によつて前記熱交換器7に設けられてい
る電気ヒータ等の熱源温度を制御し、これによつ
て材料冷却用スプレー4から噴射される冷媒温度
を自動調整し、試験用材料Tを所定温度に恒温化
し得るよう構成されている。
あり、これから給供される液化ガスは熱交換器7
を介して前記材料冷却用スプレー4に供与される
が、この際試験用材料Tには感温素子8を当接し
て、同材料Tの温度を検知し、同素子8からの検
知信号が導入される制御部9を設け、当該制御部
9の出力によつて前記熱交換器7に設けられてい
る電気ヒータ等の熱源温度を制御し、これによつ
て材料冷却用スプレー4から噴射される冷媒温度
を自動調整し、試験用材料Tを所定温度に恒温化
し得るよう構成されている。
もちろん上記装置により材料試験を行なうこと
が可能であるが、同装置によるときは外気温によ
る熱が支持部3に侵入することゝなり、この結果
材料冷却用スプレー4からの冷媒により試験用材
料Tは冷却されるものゝ、上記侵入熱によつて、
受点3′と接する同材料Tの部分が加熱昇温する
ことゝなり、従つて支持部3から離れるに従つて
同材料Tの温度が低くなるといつた温度傾斜を生
じ、結局試験用材料Tが均一温度とならないか
ら、当該材料試験の精度も低下し、信頼性の低い
試験結果となつていた。
が可能であるが、同装置によるときは外気温によ
る熱が支持部3に侵入することゝなり、この結果
材料冷却用スプレー4からの冷媒により試験用材
料Tは冷却されるものゝ、上記侵入熱によつて、
受点3′と接する同材料Tの部分が加熱昇温する
ことゝなり、従つて支持部3から離れるに従つて
同材料Tの温度が低くなるといつた温度傾斜を生
じ、結局試験用材料Tが均一温度とならないか
ら、当該材料試験の精度も低下し、信頼性の低い
試験結果となつていた。
本考案はこのような難点を解消するため、上記
装置の適所に簡易な部材を付加し、これにより、
その信頼性を向上しようとするもので、これを前
掲図面によつて以下詳記する。
装置の適所に簡易な部材を付加し、これにより、
その信頼性を向上しようとするもので、これを前
掲図面によつて以下詳記する。
本考案にあつて付加されたものは、前記支持基
台2の支持部3に向けて冷媒が噴射されるよう同
部3に臨設した支持部冷却用スプレー10であ
り、図示の実施例にあつては冷媒を、前記熱交換
器7から供与される液化ガスに依存しており、同
器7から配管されている冷媒移送パイプ11を断
熱箱体1内で分岐させ、夫々材料冷却用スプレー
4と支持部冷却用スプレー10とから冷媒が噴射
される構成としてある。
台2の支持部3に向けて冷媒が噴射されるよう同
部3に臨設した支持部冷却用スプレー10であ
り、図示の実施例にあつては冷媒を、前記熱交換
器7から供与される液化ガスに依存しており、同
器7から配管されている冷媒移送パイプ11を断
熱箱体1内で分岐させ、夫々材料冷却用スプレー
4と支持部冷却用スプレー10とから冷媒が噴射
される構成としてある。
このように本考案では冷媒を直接試験用材料下
に噴当させる冷媒直噴タイプの装置において断熱
箱体1内に突出する支持部3をも冷媒によつて冷
却する構成としたから、外気からの侵入熱は支持
部3に噴当される冷媒により奪われ、冷媒により
冷却された試験用材料Tと支持部3とを実質的
に、同温度に保つことができ、この結果同材料の
温度分布を均一化することが可能となるから、当
該材料試験の精度が向上し、これによる試験結果
の信頼性を高めることができる。
に噴当させる冷媒直噴タイプの装置において断熱
箱体1内に突出する支持部3をも冷媒によつて冷
却する構成としたから、外気からの侵入熱は支持
部3に噴当される冷媒により奪われ、冷媒により
冷却された試験用材料Tと支持部3とを実質的
に、同温度に保つことができ、この結果同材料の
温度分布を均一化することが可能となるから、当
該材料試験の精度が向上し、これによる試験結果
の信頼性を高めることができる。
第1図は本考案に係る低温下材料試験装置の一
部を切欠した正面説明図、第2図は第1図の要部
を示した一部切欠の左側面図である。 1……断熱箱体、2……支持基台、3……支持
部、4……材料冷却用スプレー、5……加圧部、
10……支持部冷却用スプレー、T……試験用材
料。
部を切欠した正面説明図、第2図は第1図の要部
を示した一部切欠の左側面図である。 1……断熱箱体、2……支持基台、3……支持
部、4……材料冷却用スプレー、5……加圧部、
10……支持部冷却用スプレー、T……試験用材
料。
Claims (1)
- 断熱箱体の下位に、支持基台の支持部が突設さ
れ、当該支持部に載置された断熱箱体内の試験用
材料には、低温液化ガスによる冷媒を噴射する材
料冷却用スプレーが臨設され、当該試験用材料を
所要低温に冷却した状態にあつて、断熱箱体に進
退自在なるよう装設した加圧部の所定力点によ
り、上記試験用材料に外力を加えるようにした試
験装置において、低温液化ガスによる冷媒を噴射
する支持部冷却用スプレーが、前記支持基台の支
持部に向け臨設されている低温下材料試験装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10273981U JPS5810050U (ja) | 1981-07-10 | 1981-07-10 | 低温下材料試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10273981U JPS5810050U (ja) | 1981-07-10 | 1981-07-10 | 低温下材料試験装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5810050U JPS5810050U (ja) | 1983-01-22 |
JPH0212600Y2 true JPH0212600Y2 (ja) | 1990-04-09 |
Family
ID=29897379
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10273981U Granted JPS5810050U (ja) | 1981-07-10 | 1981-07-10 | 低温下材料試験装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5810050U (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010281719A (ja) * | 2009-06-05 | 2010-12-16 | Kobe Steel Ltd | 変態塑性係数試験装置および変態塑性係数同定方法 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS587616Y2 (ja) * | 1978-01-31 | 1983-02-10 | 株式会社東芝 | 高周波加熱装置 |
-
1981
- 1981-07-10 JP JP10273981U patent/JPS5810050U/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5810050U (ja) | 1983-01-22 |
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