JPH02122564A - 固体撮像素子 - Google Patents
固体撮像素子Info
- Publication number
- JPH02122564A JPH02122564A JP63276476A JP27647688A JPH02122564A JP H02122564 A JPH02122564 A JP H02122564A JP 63276476 A JP63276476 A JP 63276476A JP 27647688 A JP27647688 A JP 27647688A JP H02122564 A JPH02122564 A JP H02122564A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- type
- region
- photodiode
- conductivity type
- solid
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
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- 239000000969 carrier Substances 0.000 claims abstract description 10
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims abstract description 10
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 9
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 9
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 13
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 abstract description 13
- 239000010703 silicon Substances 0.000 abstract description 13
- 239000012535 impurity Substances 0.000 abstract description 2
- 230000000875 corresponding effect Effects 0.000 abstract 2
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 abstract 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
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Landscapes
- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
- Picture Signal Circuits (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は固体撮像素子に関する
〔従来の技術〕
従来この種の固体撮像素子は、一導電型半導体基板の表
面に逆導電型のウェルを形成し、その表面に選択的にホ
トダイオードの一導電型領域を形成した縦型オーバーフ
ロートレイン構造となっていた。
面に逆導電型のウェルを形成し、その表面に選択的にホ
トダイオードの一導電型領域を形成した縦型オーバーフ
ロートレイン構造となっていた。
第4図は従来の固体撮像素子の一例の断面図である。
固体撮像素子は、N型シリコン基板1の上層にP型ウェ
ル9bとその上層の一部にホトダイオード接合3を形成
するN型領域3Nとそれらの間にN型埋込領域4を形成
する。
ル9bとその上層の一部にホトダイオード接合3を形成
するN型領域3Nとそれらの間にN型埋込領域4を形成
する。
これはホトダイオード接合3がらの光電変換キャリアを
転送する電荷転送素子の埋込チャネルとして動作する。
転送する電荷転送素子の埋込チャネルとして動作する。
さらに埋込領域4とホトダイオードのN型領域3Nとの
間にP+型チャネルストッパ領域5.シリコン基板1の
表面に絶縁膜8に囲まれてゲート電極6、そして表面に
はホトダイオード接合3に対応する受光窓W以外を遮光
膜7で覆っている。
間にP+型チャネルストッパ領域5.シリコン基板1の
表面に絶縁膜8に囲まれてゲート電極6、そして表面に
はホトダイオード接合3に対応する受光窓W以外を遮光
膜7で覆っている。
P型ウェル9bはホトダイオード接合3でオーバフロー
する光電変換キャリアがN型シリコン基板1へ引抜かれ
る構造となっている。
する光電変換キャリアがN型シリコン基板1へ引抜かれ
る構造となっている。
固体撮像素子では第4図に示す様に、P型ウェルで発生
する電子の光電変換キャリアの大部分はホトダイオード
のN型領域に蓄積されるが、一部はN型シリコン基板に
吸収されるものと、一部はa、bに示すように横方向拡
散によりN型埋込領域4に吸収されるものがあるに のスミア成分がホトダイオードのN型領域に蓄積される
分の0.1%位になるとテレビ画面では白い縦縞となる
。
する電子の光電変換キャリアの大部分はホトダイオード
のN型領域に蓄積されるが、一部はN型シリコン基板に
吸収されるものと、一部はa、bに示すように横方向拡
散によりN型埋込領域4に吸収されるものがあるに のスミア成分がホトダイオードのN型領域に蓄積される
分の0.1%位になるとテレビ画面では白い縦縞となる
。
上述した従来の固体撮像素子においては、このスミア成
分を小さくする事は避は難い構造となっていた。
分を小さくする事は避は難い構造となっていた。
本発明の目的は、スミア現象の生じない固体撮像素子を
提供することにある。
提供することにある。
本発明の固体撮像素子は、一導電型の半導体基板の一主
面に形成された逆導電型ウェルと該逆導電型ウェルの上
層にjx択的に形成されたホトダイオードと該ホトダイ
オードからの光電変換キャリアを受取る一導電型埋込領
域とを有する固体撮像素子において、前記逆導電型ウェ
ルの前記ホトダイオードに対応する領域が、前記一導電
型埋込領域に対応する領域よりも前記半導体基板の表面
から深く形成されて構成されている。
面に形成された逆導電型ウェルと該逆導電型ウェルの上
層にjx択的に形成されたホトダイオードと該ホトダイ
オードからの光電変換キャリアを受取る一導電型埋込領
域とを有する固体撮像素子において、前記逆導電型ウェ
ルの前記ホトダイオードに対応する領域が、前記一導電
型埋込領域に対応する領域よりも前記半導体基板の表面
から深く形成されて構成されている。
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の第1の実施例の断面図である。
固体撮像素子は、第4図のP型ウェル9bをP−型ウェ
ル9及びP型ウェル10に置換したことが異る意思外は
従来の固体撮像素子と同一である。
ル9及びP型ウェル10に置換したことが異る意思外は
従来の固体撮像素子と同一である。
P型ウェルは、N型シリコン基板1の表面からの深さの
異る二種類からなっている。
異る二種類からなっている。
すなわち、ホトダイオード接合3の下のP−型ウェル9
は、N型埋込領域4のP型ウェル10よりもN型シリコ
ン基板1の中に深く形成されている。
は、N型埋込領域4のP型ウェル10よりもN型シリコ
ン基板1の中に深く形成されている。
またP−型ウェル9はP型ウェル10よりも不純物濃度
は低くなっている。
は低くなっている。
それはホトダイオードのN型領域3Nからオーバフロー
する光電変換キャリアをN型シリコン基板1に吸収する
際にP−型ウェル9のみを空乏化して電子a、bをN型
埋込領域4に吸収させないためである。
する光電変換キャリアをN型シリコン基板1に吸収する
際にP−型ウェル9のみを空乏化して電子a、bをN型
埋込領域4に吸収させないためである。
第2図は本発明の第2の実施例の断面図である。
N型半導体基板1.の表面の一部にP−型ウェル96を
形成して、その上にN型エピタキシャル層11を堆積し
、所定の部分を形成する。
形成して、その上にN型エピタキシャル層11を堆積し
、所定の部分を形成する。
本実施例によれば、P型ウェル10はN型埋込領域4の
下で浅くなっている為、光電変換キャリアの内N型埋込
領域4に拡散していく電子a、 bは、浅いP型ウェル
10の部分でN型シリコン基板1に吸収され、従ってN
型埋込領域4には到達しない利点を有する。
下で浅くなっている為、光電変換キャリアの内N型埋込
領域4に拡散していく電子a、 bは、浅いP型ウェル
10の部分でN型シリコン基板1に吸収され、従ってN
型埋込領域4には到達しない利点を有する。
第3図は本発明の第3の実施例の断面図である。
MOS型の固体撮像素子は、ソースとしてのホトダイオ
ードと、トレインとしてのN+型型数散層4ゲート電極
6.及びドレイン引出し電極13とを有している。
ードと、トレインとしてのN+型型数散層4ゲート電極
6.及びドレイン引出し電極13とを有している。
本実施例の効果も前述の第1〜第2の実施例の場合と同
様である。
様である。
以上説明した様に本発明は、P型ウェルをN型埋込領域
の下で浅くする事により、ホトダイオード下で発生する
光電変換キャリアの内N型埋込領域へ向って横方向拡散
する成分をN型半導体基板に吸収出来るのでスミア現象
を著しく低減できる効果がある。
の下で浅くする事により、ホトダイオード下で発生する
光電変換キャリアの内N型埋込領域へ向って横方向拡散
する成分をN型半導体基板に吸収出来るのでスミア現象
を著しく低減できる効果がある。
第1図〜第3図は本発明の第1〜第3の実施例の断面図
、第4図は従来の固体撮像素子の一例の断面図である。 ・・N型シリコン基板、 3・・・ホトダイオード接 ム 3N・・・N型領域、 4・・・N型埋込領域、 98 ・・・P 型ウェル、 0・・・P型ウェル。
、第4図は従来の固体撮像素子の一例の断面図である。 ・・N型シリコン基板、 3・・・ホトダイオード接 ム 3N・・・N型領域、 4・・・N型埋込領域、 98 ・・・P 型ウェル、 0・・・P型ウェル。
Claims (1)
- 一導電型の半導体基板の一主面に形成された逆導電型
ウェルと該逆導電型ウェルの上層に選択的に形成された
ホトダイオードと該ホトダイオードからの光電変換キャ
リアを受取る一導電型埋込領域とを有する固体撮像素子
において、前記逆導電型ウェルの前記ホトダイオードに
対応する領域が、前記一導電型埋込領域に対応する領域
よりも前記半導体基板の表面から深く形成されているこ
とを特徴とする固体撮像素子。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63276476A JPH02122564A (ja) | 1988-10-31 | 1988-10-31 | 固体撮像素子 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63276476A JPH02122564A (ja) | 1988-10-31 | 1988-10-31 | 固体撮像素子 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02122564A true JPH02122564A (ja) | 1990-05-10 |
Family
ID=17569983
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63276476A Pending JPH02122564A (ja) | 1988-10-31 | 1988-10-31 | 固体撮像素子 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02122564A (ja) |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60244068A (ja) * | 1984-05-18 | 1985-12-03 | Nec Corp | 埋込みチヤネル電荷結合素子 |
JPS62291961A (ja) * | 1986-06-12 | 1987-12-18 | Hitachi Ltd | 固体撮像装置 |
-
1988
- 1988-10-31 JP JP63276476A patent/JPH02122564A/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60244068A (ja) * | 1984-05-18 | 1985-12-03 | Nec Corp | 埋込みチヤネル電荷結合素子 |
JPS62291961A (ja) * | 1986-06-12 | 1987-12-18 | Hitachi Ltd | 固体撮像装置 |
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