JPH02122564A - 固体撮像素子 - Google Patents

固体撮像素子

Info

Publication number
JPH02122564A
JPH02122564A JP63276476A JP27647688A JPH02122564A JP H02122564 A JPH02122564 A JP H02122564A JP 63276476 A JP63276476 A JP 63276476A JP 27647688 A JP27647688 A JP 27647688A JP H02122564 A JPH02122564 A JP H02122564A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
type
region
photodiode
conductivity type
solid
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP63276476A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroshi Abe
博史 阿部
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP63276476A priority Critical patent/JPH02122564A/ja
Publication of JPH02122564A publication Critical patent/JPH02122564A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
  • Picture Signal Circuits (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は固体撮像素子に関する 〔従来の技術〕 従来この種の固体撮像素子は、一導電型半導体基板の表
面に逆導電型のウェルを形成し、その表面に選択的にホ
トダイオードの一導電型領域を形成した縦型オーバーフ
ロートレイン構造となっていた。
第4図は従来の固体撮像素子の一例の断面図である。
固体撮像素子は、N型シリコン基板1の上層にP型ウェ
ル9bとその上層の一部にホトダイオード接合3を形成
するN型領域3Nとそれらの間にN型埋込領域4を形成
する。
これはホトダイオード接合3がらの光電変換キャリアを
転送する電荷転送素子の埋込チャネルとして動作する。
さらに埋込領域4とホトダイオードのN型領域3Nとの
間にP+型チャネルストッパ領域5.シリコン基板1の
表面に絶縁膜8に囲まれてゲート電極6、そして表面に
はホトダイオード接合3に対応する受光窓W以外を遮光
膜7で覆っている。
P型ウェル9bはホトダイオード接合3でオーバフロー
する光電変換キャリアがN型シリコン基板1へ引抜かれ
る構造となっている。
〔発明が解決しようとする課題〕
固体撮像素子では第4図に示す様に、P型ウェルで発生
する電子の光電変換キャリアの大部分はホトダイオード
のN型領域に蓄積されるが、一部はN型シリコン基板に
吸収されるものと、一部はa、bに示すように横方向拡
散によりN型埋込領域4に吸収されるものがあるに のスミア成分がホトダイオードのN型領域に蓄積される
分の0.1%位になるとテレビ画面では白い縦縞となる
上述した従来の固体撮像素子においては、このスミア成
分を小さくする事は避は難い構造となっていた。
本発明の目的は、スミア現象の生じない固体撮像素子を
提供することにある。
〔課題を解決するための手段〕
本発明の固体撮像素子は、一導電型の半導体基板の一主
面に形成された逆導電型ウェルと該逆導電型ウェルの上
層にjx択的に形成されたホトダイオードと該ホトダイ
オードからの光電変換キャリアを受取る一導電型埋込領
域とを有する固体撮像素子において、前記逆導電型ウェ
ルの前記ホトダイオードに対応する領域が、前記一導電
型埋込領域に対応する領域よりも前記半導体基板の表面
から深く形成されて構成されている。
〔実施例〕
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の第1の実施例の断面図である。
固体撮像素子は、第4図のP型ウェル9bをP−型ウェ
ル9及びP型ウェル10に置換したことが異る意思外は
従来の固体撮像素子と同一である。
P型ウェルは、N型シリコン基板1の表面からの深さの
異る二種類からなっている。
すなわち、ホトダイオード接合3の下のP−型ウェル9
は、N型埋込領域4のP型ウェル10よりもN型シリコ
ン基板1の中に深く形成されている。
またP−型ウェル9はP型ウェル10よりも不純物濃度
は低くなっている。
それはホトダイオードのN型領域3Nからオーバフロー
する光電変換キャリアをN型シリコン基板1に吸収する
際にP−型ウェル9のみを空乏化して電子a、bをN型
埋込領域4に吸収させないためである。
第2図は本発明の第2の実施例の断面図である。
N型半導体基板1.の表面の一部にP−型ウェル96を
形成して、その上にN型エピタキシャル層11を堆積し
、所定の部分を形成する。
本実施例によれば、P型ウェル10はN型埋込領域4の
下で浅くなっている為、光電変換キャリアの内N型埋込
領域4に拡散していく電子a、 bは、浅いP型ウェル
10の部分でN型シリコン基板1に吸収され、従ってN
型埋込領域4には到達しない利点を有する。
第3図は本発明の第3の実施例の断面図である。
MOS型の固体撮像素子は、ソースとしてのホトダイオ
ードと、トレインとしてのN+型型数散層4ゲート電極
6.及びドレイン引出し電極13とを有している。
本実施例の効果も前述の第1〜第2の実施例の場合と同
様である。
〔発明の効果〕
以上説明した様に本発明は、P型ウェルをN型埋込領域
の下で浅くする事により、ホトダイオード下で発生する
光電変換キャリアの内N型埋込領域へ向って横方向拡散
する成分をN型半導体基板に吸収出来るのでスミア現象
を著しく低減できる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図〜第3図は本発明の第1〜第3の実施例の断面図
、第4図は従来の固体撮像素子の一例の断面図である。 ・・N型シリコン基板、 3・・・ホトダイオード接 ム 3N・・・N型領域、 4・・・N型埋込領域、 98 ・・・P 型ウェル、 0・・・P型ウェル。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  一導電型の半導体基板の一主面に形成された逆導電型
    ウェルと該逆導電型ウェルの上層に選択的に形成された
    ホトダイオードと該ホトダイオードからの光電変換キャ
    リアを受取る一導電型埋込領域とを有する固体撮像素子
    において、前記逆導電型ウェルの前記ホトダイオードに
    対応する領域が、前記一導電型埋込領域に対応する領域
    よりも前記半導体基板の表面から深く形成されているこ
    とを特徴とする固体撮像素子。
JP63276476A 1988-10-31 1988-10-31 固体撮像素子 Pending JPH02122564A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63276476A JPH02122564A (ja) 1988-10-31 1988-10-31 固体撮像素子

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63276476A JPH02122564A (ja) 1988-10-31 1988-10-31 固体撮像素子

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH02122564A true JPH02122564A (ja) 1990-05-10

Family

ID=17569983

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63276476A Pending JPH02122564A (ja) 1988-10-31 1988-10-31 固体撮像素子

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH02122564A (ja)

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60244068A (ja) * 1984-05-18 1985-12-03 Nec Corp 埋込みチヤネル電荷結合素子
JPS62291961A (ja) * 1986-06-12 1987-12-18 Hitachi Ltd 固体撮像装置

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60244068A (ja) * 1984-05-18 1985-12-03 Nec Corp 埋込みチヤネル電荷結合素子
JPS62291961A (ja) * 1986-06-12 1987-12-18 Hitachi Ltd 固体撮像装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5051797A (en) Charge-coupled device (CCD) imager and method of operation
JPS5819080A (ja) 固体撮像素子
JPH0523505B2 (ja)
US20050253214A1 (en) Solid-state imaging device
JPH05505703A (ja) インターライン転送ccdエリアイメージセンサにおけるブルーミング制御及びイメージラグの低減
JPS6065565A (ja) 固体撮像素子
JPS61229355A (ja) 固体撮像装置
JPH02122564A (ja) 固体撮像素子
JP2573582B2 (ja) 固体撮像子の製造方法
JPH01168059A (ja) 固体撮像素子
JPH0262075A (ja) 固体撮像素子
JPH0436582B2 (ja)
JPH01283867A (ja) 固体撮像素子
JPS63155759A (ja) イメ−ジセンサ
JP2748493B2 (ja) 固体撮像素子
JPH02304976A (ja) 固体撮像素子
JPS60180160A (ja) 固体撮像素子
WO1989005039A1 (en) Blooming control in ccd image sensors
JP2576813B2 (ja) 縦形オーバーフローイメージセンサーの製造方法
JPH02199869A (ja) 固体撮像素子
JPH03273678A (ja) 固体撮像装置
JPS6224665A (ja) 固体撮像装置
JPH03196569A (ja) 固体撮像素子
JPS6262067B2 (ja)
JPH061827B2 (ja) 固体撮像装置