JPH02110339A - プリント基板製造におけるテンティング強度測定方法 - Google Patents
プリント基板製造におけるテンティング強度測定方法Info
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- JPH02110339A JPH02110339A JP26368888A JP26368888A JPH02110339A JP H02110339 A JPH02110339 A JP H02110339A JP 26368888 A JP26368888 A JP 26368888A JP 26368888 A JP26368888 A JP 26368888A JP H02110339 A JPH02110339 A JP H02110339A
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Landscapes
- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
- Manufacturing Of Printed Circuit Boards (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
「産業上の利用分野」
本発明は、プリント基板製造におけるテンティング強度
測定方法に関する。
測定方法に関する。
「従来の技術」
コンピュータなど、その配線板を組み込まれた製品に高
い信頼性が要求される機器で用いられるプリント基板で
は、ドライフィルムのテンティング強度が不安定である
と、配線板に重大な欠陥が起きるおそれがあるので、テ
ンティングドライフィルムの強度等の物理的特性の把握
が必要である。
い信頼性が要求される機器で用いられるプリント基板で
は、ドライフィルムのテンティング強度が不安定である
と、配線板に重大な欠陥が起きるおそれがあるので、テ
ンティングドライフィルムの強度等の物理的特性の把握
が必要である。
従来、プリント基板を製造するには、第9図に示す上う
に、絶縁材からなる基板lの表裏両面に銅箔(導体)2
を接着し、第10図に示すように基板lに複数のスルー
ホール3を形成し、第11図に示すように、スルーホー
ル3の内壁及び前記導体2に銅(導体)4をめっきし、
第12図に示すように、銅めっきされた基板1の表裏両
面に位置させてドライフィルム(感光フィルム上にマイ
ラー等の表面保護シートが積層されたもの)5をローラ
等で圧着させてラミネートシ、ドライフィルム5の露光
、現像を行い、基板lの両側にエツチングレジストを形
成し、第13図に破線4aにより示す導体2.4のエツ
チング除去を行い、第14図に示すように、前記エツチ
ングレジストを剥離してスルーホール3部の表裏が導通
されたプリント基板(良品)としている。
に、絶縁材からなる基板lの表裏両面に銅箔(導体)2
を接着し、第10図に示すように基板lに複数のスルー
ホール3を形成し、第11図に示すように、スルーホー
ル3の内壁及び前記導体2に銅(導体)4をめっきし、
第12図に示すように、銅めっきされた基板1の表裏両
面に位置させてドライフィルム(感光フィルム上にマイ
ラー等の表面保護シートが積層されたもの)5をローラ
等で圧着させてラミネートシ、ドライフィルム5の露光
、現像を行い、基板lの両側にエツチングレジストを形
成し、第13図に破線4aにより示す導体2.4のエツ
チング除去を行い、第14図に示すように、前記エツチ
ングレジストを剥離してスルーホール3部の表裏が導通
されたプリント基板(良品)としている。
なお、テンティングは、プリント基板の回路形成におい
て、めっき処理で導通された孔(スルーホールめっき)
を基板1の表裏両面側(上下)から形成したドライフィ
ルムレジスト膜のバタンで挟み、その部分を選択的にエ
ツチングなどの薬液処理から保護する方法である。
て、めっき処理で導通された孔(スルーホールめっき)
を基板1の表裏両面側(上下)から形成したドライフィ
ルムレジスト膜のバタンで挟み、その部分を選択的にエ
ツチングなどの薬液処理から保護する方法である。
ところが、前記プリント基板の製造方法においては、使
用するドライフィルム5には用途に応じて何種類かの厚
さのものがあり、一般に、その膜厚が薄いものくレジス
ト層の厚さが約25ミクロンの通常「lミル」と呼ばれ
るもの)は微細回路の再現性(形成性)、各工程処理能
率が良いが膜強度が弱く、スルーホール3部のテンティ
ングレジストには不適当である。一方、テンティング強
度が十分得られる膜厚の厚いドライフィルム(レジスト
層の厚さが約50ミクロンの通常「2ミルJと呼ばれる
もの)5では、レジスト形成工程で薄い膜厚のドライフ
ィルム5と同じレベルまで微細な形状にレジスト形成す
ることは困難である。
用するドライフィルム5には用途に応じて何種類かの厚
さのものがあり、一般に、その膜厚が薄いものくレジス
ト層の厚さが約25ミクロンの通常「lミル」と呼ばれ
るもの)は微細回路の再現性(形成性)、各工程処理能
率が良いが膜強度が弱く、スルーホール3部のテンティ
ングレジストには不適当である。一方、テンティング強
度が十分得られる膜厚の厚いドライフィルム(レジスト
層の厚さが約50ミクロンの通常「2ミルJと呼ばれる
もの)5では、レジスト形成工程で薄い膜厚のドライフ
ィルム5と同じレベルまで微細な形状にレジスト形成す
ることは困難である。
そして、第15図に示すようにテンティング破れ5aが
起きた場合には、エツチング処理時に第16図に示すよ
うに、ドライフィルム5のテンティング破れ5a部分か
らエツチング液がスルーホール3内に浸入し、このスル
ーホール3の内壁の銅4めっき、銅箔2をエツチングし
、第17図に示すように基板lの表裏の銅4めっき、銅
箔2をスルーホール3部で断線させプリント基板を不良
品としてしまう。
起きた場合には、エツチング処理時に第16図に示すよ
うに、ドライフィルム5のテンティング破れ5a部分か
らエツチング液がスルーホール3内に浸入し、このスル
ーホール3の内壁の銅4めっき、銅箔2をエツチングし
、第17図に示すように基板lの表裏の銅4めっき、銅
箔2をスルーホール3部で断線させプリント基板を不良
品としてしまう。
そこで、テンティングドライフィルムの強度を測定して
その強度不足のものを除外すべく、従来ドライフィルム
5のテンティング強度の測定方法として、 ■多数の孔が明いたテスト基板にテンティングを施し、
このテスト基板を、多量に、実際のエツチング、レジス
ト剥離等のプリント基板製造工程に投入して、確立的に
どのくらいの頻度でテンティング破れが発生するかを調
査する、 ■プリント基板の製造工程内のテンティングが施された
プリント基板から、抜き取りにより、テンティング破壊
が生じるまでのテンティング強度を、第8図に示すばね
秤り式プッシュプルゲージにより測定する、 等の手段がとられていた。
その強度不足のものを除外すべく、従来ドライフィルム
5のテンティング強度の測定方法として、 ■多数の孔が明いたテスト基板にテンティングを施し、
このテスト基板を、多量に、実際のエツチング、レジス
ト剥離等のプリント基板製造工程に投入して、確立的に
どのくらいの頻度でテンティング破れが発生するかを調
査する、 ■プリント基板の製造工程内のテンティングが施された
プリント基板から、抜き取りにより、テンティング破壊
が生じるまでのテンティング強度を、第8図に示すばね
秤り式プッシュプルゲージにより測定する、 等の手段がとられていた。
[発明が解決しようとする課題」
ところが、前記■記載のテンティング強度測定方法にお
いては、サンプル作製及びテンティング強度評価に多大
な工数を要し、かつ製造設備の運転を中断してテンティ
ング強度評価ために使用しなければならないという問題
があり、 前記■のテンティング破壊強度測定方法においては、破
壊時点での瞬間的な判定であるため、レジスト膜の特性
、例えば「堅くて脆い」とか、柔軟性、衝撃吸収性に富
むとかいった特性まで明らかに表すことができないとい
う問題があり、これらのような評価法での数値はテンテ
ィング強度の信頼できる数値化とは言えなかった。
いては、サンプル作製及びテンティング強度評価に多大
な工数を要し、かつ製造設備の運転を中断してテンティ
ング強度評価ために使用しなければならないという問題
があり、 前記■のテンティング破壊強度測定方法においては、破
壊時点での瞬間的な判定であるため、レジスト膜の特性
、例えば「堅くて脆い」とか、柔軟性、衝撃吸収性に富
むとかいった特性まで明らかに表すことができないとい
う問題があり、これらのような評価法での数値はテンテ
ィング強度の信頼できる数値化とは言えなかった。
従って、従来、スルーホールめっきを有するプリント基
板製造においては、テンティング破れ5aによる信頼性
、歩留まりの低下を覚悟で薄いドライフィルム5を使用
するか、あるいは厚いドライフィルム5で微細レジスト
を形成するために装置上の多大な費用をかけるかしなけ
ればならなかった。
板製造においては、テンティング破れ5aによる信頼性
、歩留まりの低下を覚悟で薄いドライフィルム5を使用
するか、あるいは厚いドライフィルム5で微細レジスト
を形成するために装置上の多大な費用をかけるかしなけ
ればならなかった。
本発明は、従来のプリント基板製造におけるテンティン
グ強度測定方法がもつ以上のような問題点を解決し、ド
ライフィルムを破壊させずに、テンティング破壊を起こ
す前のレジスト膜の伸び等の物理的特性を併せテンティ
ング強度を測定することができるプリント基板製造にお
けるテンティング強度測定方法を提供することを目的と
する。
グ強度測定方法がもつ以上のような問題点を解決し、ド
ライフィルムを破壊させずに、テンティング破壊を起こ
す前のレジスト膜の伸び等の物理的特性を併せテンティ
ング強度を測定することができるプリント基板製造にお
けるテンティング強度測定方法を提供することを目的と
する。
「課題を解決するための手段]
本発明は、前記目的を達成させるために次のような構成
としている。即ち、レコーダを有する荷重変位測定器に
、先端に球面が形成されたプローブを取り付け、該プロ
ーブによりテンティングドライフィルムを押圧し、該テ
ンティングドライフィルムの物理的特性を測定するよう
にしている。
としている。即ち、レコーダを有する荷重変位測定器に
、先端に球面が形成されたプローブを取り付け、該プロ
ーブによりテンティングドライフィルムを押圧し、該テ
ンティングドライフィルムの物理的特性を測定するよう
にしている。
「作用J
スルーホール部において基板の表裏両面にはり付けたテ
ンティングドライフィルムを、先端に球面が形成された
プローブにより押圧すると、このプローブに加えられた
荷重とそのときのプローブの変位信号がレコーダに与え
られ、このレコーダの出力信号より、テンティングドラ
イフィルムを破壊させずに、テンティング破壊を起こす
若干前までのレジスト膜の伸び等の物理的特性を併せテ
ンティング強度を測定させ、製品の信頼性を高める。
ンティングドライフィルムを、先端に球面が形成された
プローブにより押圧すると、このプローブに加えられた
荷重とそのときのプローブの変位信号がレコーダに与え
られ、このレコーダの出力信号より、テンティングドラ
イフィルムを破壊させずに、テンティング破壊を起こす
若干前までのレジスト膜の伸び等の物理的特性を併せテ
ンティング強度を測定させ、製品の信頼性を高める。
「実施例」
まず、本発明の方法が適用されるプリント基板の製造方
法について説明し、次にプリント基板製造におけるテン
ティング強度測定方法について説明する。
法について説明し、次にプリント基板製造におけるテン
ティング強度測定方法について説明する。
プリント基板の製造方法には3方法例がある。
第1の製造方法例について第1図を参照して説明する。
なお、従来例と共通部分については同一符号を用いてそ
の説明を省略する。
の説明を省略する。
本例においては、第9図ないし第11図に示す工程まで
は従来例と同一であり、第11図に示す工程終了後、第
12図に示す工程に入るとき、即ち、基板1のスルーホ
ール3の内壁及び表裏両面に導体2.4が設けられ、導
体4が設けられた基板1の表裏両面にドライフィルム5
をラミネートするとき、第1図に示すように、基板lの
両側に配置されこの基板lの表裏両面にはり付けるドラ
イフィルム5を、基板lにローラ11により押し付けつ
つこのローラ11を基板lにそって移動させる。そして
、基板lの両側のドライフィルム5をスルーホール3部
において加熱状態で基板1 側に押圧してスルーホール
3の中心部に突き出シ、これら基板lの両側のドライフ
ィルム5をスルーホール3の中心部において互いに融着
させ、基板1の両側にエツチングレジストを形成するよ
うにしている。
は従来例と同一であり、第11図に示す工程終了後、第
12図に示す工程に入るとき、即ち、基板1のスルーホ
ール3の内壁及び表裏両面に導体2.4が設けられ、導
体4が設けられた基板1の表裏両面にドライフィルム5
をラミネートするとき、第1図に示すように、基板lの
両側に配置されこの基板lの表裏両面にはり付けるドラ
イフィルム5を、基板lにローラ11により押し付けつ
つこのローラ11を基板lにそって移動させる。そして
、基板lの両側のドライフィルム5をスルーホール3部
において加熱状態で基板1 側に押圧してスルーホール
3の中心部に突き出シ、これら基板lの両側のドライフ
ィルム5をスルーホール3の中心部において互いに融着
させ、基板1の両側にエツチングレジストを形成するよ
うにしている。
この場合、
■使用するローラ11の表面にはゴムが設けられており
、このゴムはブリネル硬さ5部程度(ブリネル硬さでよ
いですか)、耐熱性150°Cで、ローラ11の径は5
0〜70mmであるが、許容範囲内で小径の方が好まし
い。
、このゴムはブリネル硬さ5部程度(ブリネル硬さでよ
いですか)、耐熱性150°Cで、ローラ11の径は5
0〜70mmであるが、許容範囲内で小径の方が好まし
い。
ローラ11はその回転軸12にエアシリンダ13が連結
され、基板lの表裏両面(上下)のドライフィルム5に
所定の荷重を加えつつ基板lに沿って平行移動するよう
になされている。
され、基板lの表裏両面(上下)のドライフィルム5に
所定の荷重を加えつつ基板lに沿って平行移動するよう
になされている。
■スルーホール3部におけるドライフィルム5の基板1
側への圧着温度は、1406C程麿とされ、ドライフィ
ルム5を、 (どのようにドライフィルム5を加熱 するか加熱手段を御知らせ下さい)・・・・・・・・・
・・・加熱手段により加熱状態にして、上述のようにロ
ーラ11により押圧する。
側への圧着温度は、1406C程麿とされ、ドライフィ
ルム5を、 (どのようにドライフィルム5を加熱 するか加熱手段を御知らせ下さい)・・・・・・・・・
・・・加熱手段により加熱状態にして、上述のようにロ
ーラ11により押圧する。
■スルーホール3部におけるローラ11によるドライフ
ィルム5の基板1側への圧着圧は、エアシリンダ13に
付設された圧力ゲージによるゲージ圧2 、 5 kg
/c*”〜3 kg/cm”とされている。
ィルム5の基板1側への圧着圧は、エアシリンダ13に
付設された圧力ゲージによるゲージ圧2 、 5 kg
/c*”〜3 kg/cm”とされている。
以上により、ローラ1■により押圧された基板1の両側
のドライフィルム5は、スルーホール3部でスルーホー
ル3の中心へ突出し互いに融着する。この後、露光、現
像を行うことにより基板lのIi[1fflllにエツ
チングレジストが形成される。
のドライフィルム5は、スルーホール3部でスルーホー
ル3の中心へ突出し互いに融着する。この後、露光、現
像を行うことにより基板lのIi[1fflllにエツ
チングレジストが形成される。
この後、前記従来例同様第13図に示すように導体2,
4のエツチング除去を行い、第14図に示すように、前
記エツチングレジストを剥離することによりスルーホー
ル3部の表裏が導通されたプリント基板(良品)が作成
される。
4のエツチング除去を行い、第14図に示すように、前
記エツチングレジストを剥離することによりスルーホー
ル3部の表裏が導通されたプリント基板(良品)が作成
される。
ところで、コンビ二一夕など、その配線板を組み込まれ
た製品に高い信頼性が要求されるIllで用いられるプ
リント基板では、ドライフィルム5のテンティング強度
が不安定であると、配線板に重大な欠陥が起きるおそれ
があるので、その強度等の物理的特性の把握が必要であ
る。
た製品に高い信頼性が要求されるIllで用いられるプ
リント基板では、ドライフィルム5のテンティング強度
が不安定であると、配線板に重大な欠陥が起きるおそれ
があるので、その強度等の物理的特性の把握が必要であ
る。
次に、前記ドライフィルム5のテンティング強度特性を
測定するための本発明の一実施例を第2図ないし第7図
に基づいて説明する。本実施例においては、上述のよう
に基板lのスルーホール3内で融着したドライフィルム
5のテンティング強度を次のように測定している。即ち
、第2図に示す荷重測定用ロードセルと変位観測用作動
トランスとを組み合わせたロードセル作動トランス組み
合わせ部15.アンプ16及びXYレコーダ17をfa
几た荷重変位測定器18のプローブ19に代わるプロー
ブ(押圧子)32(第7図に示す)により、基板lの表
裏両側にはり付けられたドライフィルム5の上側のドラ
イフィルム5のスルーホール3上方位置を押圧し、ドラ
イフィルム5に加えられた荷重とドライフィルム5の変
位とを測定するようにしている。第2図中158はプロ
ーブの変位出力を、15bは荷重出力をそれぞれ示して
いる。
測定するための本発明の一実施例を第2図ないし第7図
に基づいて説明する。本実施例においては、上述のよう
に基板lのスルーホール3内で融着したドライフィルム
5のテンティング強度を次のように測定している。即ち
、第2図に示す荷重測定用ロードセルと変位観測用作動
トランスとを組み合わせたロードセル作動トランス組み
合わせ部15.アンプ16及びXYレコーダ17をfa
几た荷重変位測定器18のプローブ19に代わるプロー
ブ(押圧子)32(第7図に示す)により、基板lの表
裏両側にはり付けられたドライフィルム5の上側のドラ
イフィルム5のスルーホール3上方位置を押圧し、ドラ
イフィルム5に加えられた荷重とドライフィルム5の変
位とを測定するようにしている。第2図中158はプロ
ーブの変位出力を、15bは荷重出力をそれぞれ示して
いる。
本実施例においては、ドライフィルム5にテンティング
破壊を起こさせないプローブ(押圧子)32によりテン
ティング強度測定を行うようにしたのであるが、仮に、
他のプローブ19を前記荷重変位測定器18に取り付け
てテンティング破壊までの強度測定を行い、そのときの
ドライフィルム5の変位(のび)と荷重との関係を示す
と第4図の通りになる。第4図中破線はドライフィルム
5の破壊時の荷重を示し、同図中、Aは堅く脆いドライ
フィルム5のテンティング強度特性を示シ、Bは堅く強
いドライフィルム5のテンティング強度特性を示し、C
は軟らか(強いドライフィルム5のテンティング強度特
性を示している。
破壊を起こさせないプローブ(押圧子)32によりテン
ティング強度測定を行うようにしたのであるが、仮に、
他のプローブ19を前記荷重変位測定器18に取り付け
てテンティング破壊までの強度測定を行い、そのときの
ドライフィルム5の変位(のび)と荷重との関係を示す
と第4図の通りになる。第4図中破線はドライフィルム
5の破壊時の荷重を示し、同図中、Aは堅く脆いドライ
フィルム5のテンティング強度特性を示シ、Bは堅く強
いドライフィルム5のテンティング強度特性を示し、C
は軟らか(強いドライフィルム5のテンティング強度特
性を示している。
ところで、実際には、基板lの表裏両側にドライフィル
ム5が設けられているので、基板1の表裏両側のドライ
フィルム5のテンティング強度特性を同時に測定すると
、その過程において基板lの表裏のドライフィルム5が
スルーホール3内で確実に融着していれば、第4図及び
第5図ハ、ホに示すようにドライフィルム5の破壊を示
す荷重ピークが一点のみ現れるが、融着していなければ
第5図イ1口、二、へに示すように、まず基板表側のド
ライフィルム5の破壊ピークが次いで基板裏側のドライ
フィルム5の破壊ピークが現れ、荷重ピークが2点現出
し、これにより基板1の表裏両側のドライフィルム5が
スルーホール3内で融着しているかどうかを判断するこ
とができる。第4図中破線口、ハ、二、ホ、へはプリン
ト基板の各サンプルを示し、同図中aは基板lの表側の
ドライフィルム5の破壊ピークを、bは基板1の裏側の
ドライフィルム5の破壊ピークをそれぞれ示す。
ム5が設けられているので、基板1の表裏両側のドライ
フィルム5のテンティング強度特性を同時に測定すると
、その過程において基板lの表裏のドライフィルム5が
スルーホール3内で確実に融着していれば、第4図及び
第5図ハ、ホに示すようにドライフィルム5の破壊を示
す荷重ピークが一点のみ現れるが、融着していなければ
第5図イ1口、二、へに示すように、まず基板表側のド
ライフィルム5の破壊ピークが次いで基板裏側のドライ
フィルム5の破壊ピークが現れ、荷重ピークが2点現出
し、これにより基板1の表裏両側のドライフィルム5が
スルーホール3内で融着しているかどうかを判断するこ
とができる。第4図中破線口、ハ、二、ホ、へはプリン
ト基板の各サンプルを示し、同図中aは基板lの表側の
ドライフィルム5の破壊ピークを、bは基板1の裏側の
ドライフィルム5の破壊ピークをそれぞれ示す。
以上のテンティング強度測定によれば、ドライフィルム
5の最終的な破壊強度だけでなく、破壊に至るまでのド
ライフィルム5の物理的特性(例えば、堅いが脆いため
従来強いと思われながら実際には製造工程で破損確率が
高いといったような)が分かるので、測定結果に基づく
テンティング強度判定を信頼することができる。
5の最終的な破壊強度だけでなく、破壊に至るまでのド
ライフィルム5の物理的特性(例えば、堅いが脆いため
従来強いと思われながら実際には製造工程で破損確率が
高いといったような)が分かるので、測定結果に基づく
テンティング強度判定を信頼することができる。
以上はプリント基板をランダムサンプリングしてのテン
ティング破壊までのテンティング強度測定の場合におけ
る情況説明であるが、本実施例においては、これらプリ
ント基板を破壊させないで基板lの表裏両側のドライフ
ィルム5のテンティング強度を調べるようにされている
。即ち、第7図に示す抑圧子32を荷重変位測定器18
のプローブとして用い、前記能のプローブ19によるテ
ンティング強度測定同様の測定を行う。
ティング破壊までのテンティング強度測定の場合におけ
る情況説明であるが、本実施例においては、これらプリ
ント基板を破壊させないで基板lの表裏両側のドライフ
ィルム5のテンティング強度を調べるようにされている
。即ち、第7図に示す抑圧子32を荷重変位測定器18
のプローブとして用い、前記能のプローブ19によるテ
ンティング強度測定同様の測定を行う。
前記従来例においては、基板1の表裏両側のドライフィ
ルム5にプローブ19を押し付けてこのドライフィルム
5の強度を測定したが、本実施例では第7図に示すよう
に、スルーホール3部の外側(上側)から基板1の表側
(上側)のドライフィルム5を加熱された抑圧子32に
より基板l側に押圧する。
ルム5にプローブ19を押し付けてこのドライフィルム
5の強度を測定したが、本実施例では第7図に示すよう
に、スルーホール3部の外側(上側)から基板1の表側
(上側)のドライフィルム5を加熱された抑圧子32に
より基板l側に押圧する。
抑圧子32は、円柱の下部に略円錐面31が形成され、
かつこの略円錐面31の下端中心(先端)が半球状に形
成されたもので、抑圧子32においては、同図に示すス
ルーホール3の内径り、基板の厚さd、に関連して略円
錐面31の形状を定めることにより同図に示す適切な1
寸法が得られるようになされている。この抑圧子32に
より前述のように基板lの上側のドライフィルム5を押
圧すると、プローブ32に加えられた荷重即ちドライフ
ィルム5に加えられた荷重とそのときのプローブ32の
変位信号がXYレコーダ17に与えられ、このXYレコ
ーダ17の出力信号より、テンティングドライフィルム
5を破壊させずに、テンティング破壊を起こす若干前ま
でのレジスト膜の伸び等の物理的特性を併せテンティン
グ強度を測定することができく第6図)、これにより確
実に不良品を除外することができる。
かつこの略円錐面31の下端中心(先端)が半球状に形
成されたもので、抑圧子32においては、同図に示すス
ルーホール3の内径り、基板の厚さd、に関連して略円
錐面31の形状を定めることにより同図に示す適切な1
寸法が得られるようになされている。この抑圧子32に
より前述のように基板lの上側のドライフィルム5を押
圧すると、プローブ32に加えられた荷重即ちドライフ
ィルム5に加えられた荷重とそのときのプローブ32の
変位信号がXYレコーダ17に与えられ、このXYレコ
ーダ17の出力信号より、テンティングドライフィルム
5を破壊させずに、テンティング破壊を起こす若干前ま
でのレジスト膜の伸び等の物理的特性を併せテンティン
グ強度を測定することができく第6図)、これにより確
実に不良品を除外することができる。
以上の場合には、基板1の表裏両側のドライフィルム5
のテンティング強度測定をそれぞれ別個に行わなければ
ならないが、押圧子32の略円錐面31が基板lに設け
られた導体4に当接しくこれでよいですか)、ドライフ
ィルム5を破損させることがないので、すべてのプリン
ト基板に対し前記テンティング強度測定を行うことがで
き、無駄を無くし、しかも製造プリント基板の信頼性を
向上させることができる。
のテンティング強度測定をそれぞれ別個に行わなければ
ならないが、押圧子32の略円錐面31が基板lに設け
られた導体4に当接しくこれでよいですか)、ドライフ
ィルム5を破損させることがないので、すべてのプリン
ト基板に対し前記テンティング強度測定を行うことがで
き、無駄を無くし、しかも製造プリント基板の信頼性を
向上させることができる。
「発明の効果」
本発明によれば、レコーダを有する荷重変位測定器に、
先端に球面が形成されたプローブを取り付け、該プロー
ブによりテンティングドライフィルムを押圧し、該テン
ティングドライフィルムの物理的特性を測定するように
したので、テンティングドライフィルムを破壊させずに
、すべての製品に対しテンティング破壊を起こす若干前
までのレジスト膜の伸び等の物理的特性を併せテンティ
ング強度を測定することができ、製品の信頼性を大幅に
高めることができる。
先端に球面が形成されたプローブを取り付け、該プロー
ブによりテンティングドライフィルムを押圧し、該テン
ティングドライフィルムの物理的特性を測定するように
したので、テンティングドライフィルムを破壊させずに
、すべての製品に対しテンティング破壊を起こす若干前
までのレジスト膜の伸び等の物理的特性を併せテンティ
ング強度を測定することができ、製品の信頼性を大幅に
高めることができる。
第1図ないし第7図は本発明の方法の第1実施例を示す
もので、第1図はエツチングレジスト形成時の状態を示
す要部の断面図、第2図はテンティング強度測定を行う
ための装置の一例を示す概略図、第3図はテンティング
強度測定方法を説明するための概略断面図、第4図及び
第5図は本発明のテンティング強度特性を説明するため
の図、第6図はテンティング強度特性図、第7図はテン
ティングドライフィルムを押圧子により押圧した状態を
示す要部の断面図、第8図は従来のテンティング強度測
定方法の一例を示す概略断面図、第9図ないし第17図
は従来のプリント基板の製造方法の一例を示すもので、
第9図ないし第14図は製造工程を示す要部の断面図、
第15図及び第16図はテンティング不良を示す要部の
断面図、第17図はテンティング不良の結果生じた不良
品の要部の断面図である。 l・・・・・・基板、2・・・・・・銅箔(導体)、3
・・・・・・スルーホール、4・・・・・・銅(導体)
、5・・・・・ドライフィルム、17・・・・・・XY
レコーダ、18・・・・・・荷重変位測定器、31・・
・・・・略円錐面、32・・・・・・押圧子。
もので、第1図はエツチングレジスト形成時の状態を示
す要部の断面図、第2図はテンティング強度測定を行う
ための装置の一例を示す概略図、第3図はテンティング
強度測定方法を説明するための概略断面図、第4図及び
第5図は本発明のテンティング強度特性を説明するため
の図、第6図はテンティング強度特性図、第7図はテン
ティングドライフィルムを押圧子により押圧した状態を
示す要部の断面図、第8図は従来のテンティング強度測
定方法の一例を示す概略断面図、第9図ないし第17図
は従来のプリント基板の製造方法の一例を示すもので、
第9図ないし第14図は製造工程を示す要部の断面図、
第15図及び第16図はテンティング不良を示す要部の
断面図、第17図はテンティング不良の結果生じた不良
品の要部の断面図である。 l・・・・・・基板、2・・・・・・銅箔(導体)、3
・・・・・・スルーホール、4・・・・・・銅(導体)
、5・・・・・ドライフィルム、17・・・・・・XY
レコーダ、18・・・・・・荷重変位測定器、31・・
・・・・略円錐面、32・・・・・・押圧子。
Claims (1)
- レコーダ(17)を有する荷重変位測定器(18)に、
先端に球面が形成されたプローブ(32)を取り付け、
該プローブによりテンティングドライフィルム(5)を
押圧し、該テンティングドライフィルムの物理的特性を
測定することを特徴とするプリント基板製造におけるテ
ンティング強度測定方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26368888A JPH02110339A (ja) | 1988-10-19 | 1988-10-19 | プリント基板製造におけるテンティング強度測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26368888A JPH02110339A (ja) | 1988-10-19 | 1988-10-19 | プリント基板製造におけるテンティング強度測定方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02110339A true JPH02110339A (ja) | 1990-04-23 |
Family
ID=17392958
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP26368888A Pending JPH02110339A (ja) | 1988-10-19 | 1988-10-19 | プリント基板製造におけるテンティング強度測定方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02110339A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002237665A (ja) * | 2001-02-09 | 2002-08-23 | Hitachi Chem Co Ltd | プリント配線板とその製造方法 |
US6825682B2 (en) | 2000-04-05 | 2004-11-30 | Infineon Technologies Ag | Test configuration for the functional testing of a semiconductor chip |
JP2008218750A (ja) * | 2007-03-05 | 2008-09-18 | Fujifilm Corp | レジスト膜形成装置及びレジスト膜形成方法 |
TWI497049B (zh) * | 2012-03-02 | 2015-08-21 | Zhen Ding Technology Co Ltd | 固定裝置及剝離強度測試裝置 |
-
1988
- 1988-10-19 JP JP26368888A patent/JPH02110339A/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6825682B2 (en) | 2000-04-05 | 2004-11-30 | Infineon Technologies Ag | Test configuration for the functional testing of a semiconductor chip |
JP2002237665A (ja) * | 2001-02-09 | 2002-08-23 | Hitachi Chem Co Ltd | プリント配線板とその製造方法 |
JP4662097B2 (ja) * | 2001-02-09 | 2011-03-30 | 日立化成工業株式会社 | プリント配線板の製造方法 |
JP2008218750A (ja) * | 2007-03-05 | 2008-09-18 | Fujifilm Corp | レジスト膜形成装置及びレジスト膜形成方法 |
TWI497049B (zh) * | 2012-03-02 | 2015-08-21 | Zhen Ding Technology Co Ltd | 固定裝置及剝離強度測試裝置 |
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