JPH02103753A - 光カード検査装置 - Google Patents

光カード検査装置

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JPH02103753A
JPH02103753A JP25640588A JP25640588A JPH02103753A JP H02103753 A JPH02103753 A JP H02103753A JP 25640588 A JP25640588 A JP 25640588A JP 25640588 A JP25640588 A JP 25640588A JP H02103753 A JPH02103753 A JP H02103753A
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JP
Japan
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optical card
optical
card
inspection
checking stage
Prior art date
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Pending
Application number
JP25640588A
Other languages
English (en)
Inventor
Hitoshi Yoshino
斉 芳野
Hideo Kurihara
秀夫 栗原
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Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
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Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
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Publication of JPH02103753A publication Critical patent/JPH02103753A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業−にの利用分野] 本発明は、光学的に情報の記録・再生を行う光カードに
対する光カード検査方法に関するものである。
[従来の技術] 従来、クレジットカード、バンクカード等のカード類に
使用されている記録材料としては、磁気材料が主として
用いられている。このような磁気材料は、情報の書き込
み及び読み出しが容易に行えるという利点がある反面で
、情報の内容を容易に変えたり、また高密度記録ができ
ないという問題点がある。
このような問題点を解消するために、多種多様な情報を
効率良く取り扱う手段として、光カードによる光学的情
報記録方法が提案され、そのための光学的情報記録担体
、記録再生法、記録再生装置が提案されている。情報記
録担体としての光カードは、一般にレーザー光を用いて
情報記録担体上の光記録層の一部を揮散させるか、反射
率の変化を生じさせるか、或いは変形を生じさせて、そ
の変化を光学的な反射率や透過率の差として情報の記録
又は再生を行っている。この場合に、光記録層は情報の
書き込み後に現像処理などの必要がなく、「書いた後に
直読する」ことができる所1DRAW(ダイレクト・リ
ード・アフタ・ライト)媒体であって高密度記録が可能
であり、また追加書き込みも可能であることから、光カ
ード用の記録媒体として有用である。
第5図は従来の光カードの模式的断面図であり、下層か
ら透明樹脂基板l、光記録層2、接着層3.不透明カー
ド基材4が積層され、透明樹脂基板1と光記録層2との
間に凹凸から成るトラック溝5が形成されている。情報
の記録・再生は透明樹脂基板l及びトラック溝部5を通
して、光学的に書き込みと読み出しが行われ、この際に
トラック溝部5の微細な凹凸を利用して、レーザー光の
位相差によりトラッキングを行えるようになっである。
[発明が解決しようとする問題点] 上述のように、従来の光カードの製造方法においては、
トラック溝部5を有する透明樹脂基板1の上に光記録層
2が形成されているが、色素のような有機系の光記録材
料を使用する場合に、トラック溝部5の凹凸のある面の
上に色素の溶剤溶液を塗布し、乾燥して光記録層2を形
成しているため、色素の僅かな塗布、乾燥条件の違いに
より光記録層2の膜厚が変化してしまい、常に一定の膜
厚で制御することは困難である。
しかしながら、記録・再生感度は光記録層2の膜厚に強
く依存することが判明している。そのために、製造時に
光記録層2の膜厚及び膜厚むらを常時検査して、塗布装
置及び乾燥装置の状態を厳しく監視する必要がある。一
般に、光記録層2の膜厚を直接測定することの代用とし
て、光記録層2の反射率又は透過率の光学特性を測定す
ることが広く行われている。また、透明樹脂基板l、又
は光記録層2にヒケ、傷等があると光ビームが散乱され
るため、レーザー光等でこれらの欠陥検査を行っている
しかし、反射率、透過率等の光学特性の測定に、成る程
度以上の高い精度を必要とすると、光ヘッドに対する光
カードの反り・スキュー等が問題にならない範囲で精度
良く設置する必要がある。このために、反射率、透過率
等の光学特性の測定では、光カードの表面又は端面の一
部を保持するだけでは十分な精度で設置することができ
ない。その上、透明樹脂基板1の表面に傷や汚れが付く
と、光ビームが散乱されてフォーカシングやトラッキン
グが不安定になる。従って、一般に磁気カードで用いら
れているようなローラ送り手段等を用いると、光カード
の表面に傷を付けたり汚れを付けたりしてしまうため、
例えば光カードの裏面全面を真空チャヤクするなどの方
法で固定することが必要となる。このために、検査工程
は人手による枚葉検査になり、インラインの処理ができ
なくなり、検査工程では自動化、高速化ができないため
に不良品の検知が遅くなり、製造装置の動作不良に対す
るフィードバックが十分にできないという問題点も生じ
てくる。
[発明の目的] 本発明の目的は、上述の問題を解決し、高速でしかも光
カードを精度良く位置決めし、光カードの表面に傷を付
けることなく、反射率、透過率などの光学特性を測定し
得る光カード検査装置を提供することにある。
[発明の概要] 上述の目的を達成するための本発明の要旨は、光ビーム
の照射によって情報の記録・再生を行う光カードの光学
特性を測定する光カード検査装置において、前記光カー
ドの端面に当接して搬送するカード搬送手段と、検査時
に前記光カードの記録領域に非接触な状態で前記光カー
ドを保持する検査ステージとを備えたことを特徴とする
光カード検査装置である。
[発明の実施例] 本発明を第1図〜第4図に図示の実施例に基づいて詳細
に説明する。
第1図は本装置の概略構成図であり、第2図、第3図は
その動作状態を示す断面図である。図面において、Cは
光カード、lOは光カードCの検査位置に設けられた検
査ステージであり、この検査ステージ10の両側には光
カード搬送手段としての搬送ローラ11.12が複数個
ずつ搬送方向に並べて配置されている。これらの搬送ロ
ーラ11.12はシャフト13により回転自在に支持さ
れており、第2図の断面図に示すように光カードCの端
面にのみ当接し、表面の記録媒体には接しないような回
転溝14を有している。搬送ローラ11.12の材質は
例えばウレタンゴムや合成樹脂のような僅かなりl性を
持ち、光カードCを反対側の搬送ローラに押し付けるよ
うになっている。そして、搬送ローラ11.12は非検
査時において、圧縮ばね15によりワッシャ16を介し
て上方に押し」〕げられている。なお、搬送ローラ12
の周囲にはキア17が刻設されており、搬送ローラ12
に沿って移動するタイミングベルト18に係合している
。また、搬送ローラ11と並んで、複数個の搬送ローラ
19が配置され、これらの搬送ローラ19は高さ方向位
置が一定している。更に搬送ローラ12と並んで、複数
個の搬送ローラ20が配置されており、これらの搬送ロ
ーラ20は搬送ローラ12とほぼ同様の構造となってお
り、高さ方向位置は一定している。タイミングベルト1
8はスプロケット21a、21b間に掛は渡されており
、駆動モータ22によって駆動される。更に、検査ステ
ージIOの一部には、光カードCが検査位置に到達した
ことを検知するための光センサ23が設けられ、また光
カードCの位置決め用突起24が形成されている。更に
、検査ステージ10には光カードCを裏面から吸引する
ための溝部25が設けられ、溝部25はチューブ26を
介して図示しない吸引ポンプに接続されている。また、
溝部25の内側には透過率測定用の測定孔27が開口さ
れており、その下方には透過光受光センサ28が配置さ
れている。更に、検査ステージlOの」三方には検査用
の光ヘッド29が設けられ、光カードC上を図示しない
ヘッド移動機構により平行移動し得るようになっている
この構成において、駆動モータ22の回転によりスプロ
ケット21aを介してタイミングベルト18を回転させ
る。タイミングベル)1gの歯の部分は、搬送用ローラ
12.20と係合しているので搬送用ローラ12.20
が回転する。この状態で検査される光カードCが矢印A
方向から搬送されてくると、最初は搬送用ローラ19.
20によって搬送され、次に検査ステージ10の搬送用
ローラ11.12に受は渡される。この場合に、光カー
ドCは搬送用ローラ19.20.11.12の回転溝1
4に挟まれることになる。そして、光センサ23が光カ
ードCが検査ステージ10J−の所定位置に搬送された
ことを検出し、駆動モータ22を停止する。光カードC
は搬送ローラ11.12の圧縮ばね15により上方に押
し−Lげられ、第2図に示すように検査ステージ10と
の間隙を有しながら突起24に突き当たり、光カードC
の位置が固定される。
この状態において、溝部25により真空吸引が行われる
と、第3図に示すように光カードCの裏面全面が十分に
検査ステージ10に真空吸引される。この状F]で、光
ヘッド29及び透過光受光センサ28により光カードC
の反射率、透過率などの光学特性を測定する。このとき
に、反射率又は透過率のむらから光カードCの傷などを
同時に検査することができる。測定結果は図示しない検
査回路により直ちに良・不良の判断を行い、不良品には
パッドマークを印字することもできる。その後に真空吸
引を解除して、光カードCを検査ステージlOに対する
固定を外す。そして、吸引力が作用しなくなった光カー
ドCは、搬送ローラ11.12の圧縮ばね15により上
方に移動し、光カードCは検査ステージ10に接触して
いない状態となる。また必要に応じて、検査ステージ1
0の溝部25がら空気又はガスを吹き出して光カードC
を強制的に離すようにしてもよい。その後に、再び駆動
モータ22を駆動させ、搬送ローラ11.12.19.
20により検査済みの光カードCを送り出すことになる
第4図は第2の実施例の搬送ローラ30の断面図である
。この搬送ローラ30は低硬度で復元力の高い例えばス
ポンジゴムローラから成す、シャフト31により支持さ
れている。第1の実施例においては、搬送ローラ11.
12.19.20の材質としてウレタンゴム又は合成樹
脂材などの硬度の高いものを使用し、搬送ローラ自体が
光カードCと共に上下移動する方式を採ったが、この第
2の実施例のように低硬度で復元力の強い搬送用ローラ
を用いて、同様な効果を得ることができる。
即ち、第4図(a)は真空吸引前の状態、(b)は吸引
後の状態を示している。この場合に圧縮ばね15を用い
なくとも、搬送ローラ30自体が低硬度なため、真空吸
引されると第4図(b)に示すように変形するので、光
カードCは下方に移動可能である。そして、吸引を停止
すると、搬送ローラ30自体の復元力により光カードC
は上方に移動する。
[発明の効果] 以上説明したように本発明に係る光カード検査装置は、
光カードの表面に触れることがなく、カードを搬送する
ことができ、しかも正確に位置決め及び固定を行うこと
ができるため、インラインでの検査を行うことが容易に
できると共に、カードの反りやスキューの影響がない正
確な測定が可能となる。
【図面の簡単な説明】
図面第1図〜第4図は本発明に係る光カード検査装置の
実施例を示し、第1図は本発明の光カード検査装置の概
略構成図、第2図、第3図は動作断面図、第4図(a)
 、 (b)は他の実施例の動作断面図であり、第5図
は一般的な光カードの断面図である。 符号lOは検査ステージ、11.12.19.20.3
0は搬送ローラ、13はシャフト、15は圧縮ばね、1
8はタイミングベルト、22は駆動モータ、23は光セ
ンサ、25は溝部、27は測定孔、28は受光用センサ
、29は光ヘッド、Cは光カードである。 特許出願人   キャノン株式会社 第2図 WJ3図 1□14 縞4国 14す「蓋ヤ叶、16

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、光ビームの照射によって情報の記録・再生を行う光
    カードの光学特性を測定する光カード検査装置において
    、前記光カードの端面に当接して搬送するカード搬送手
    段と、検査時に前記光カードの記録領域に非接触な状態
    で前記光カードを保持する検査ステージとを備えたこと
    を特徴とする光カード検査装置。
JP25640588A 1988-10-12 1988-10-12 光カード検査装置 Pending JPH02103753A (ja)

Priority Applications (1)

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JP25640588A JPH02103753A (ja) 1988-10-12 1988-10-12 光カード検査装置

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JP25640588A JPH02103753A (ja) 1988-10-12 1988-10-12 光カード検査装置

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JPH02103753A true JPH02103753A (ja) 1990-04-16

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ID=17292220

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP25640588A Pending JPH02103753A (ja) 1988-10-12 1988-10-12 光カード検査装置

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0512964U (ja) * 1991-07-25 1993-02-19 株式会社トーキン ストツパ機構付きカード検査装置
JP2006177742A (ja) * 2004-12-22 2006-07-06 Gekkeikan Sake Co Ltd 表面検査方法及び装置

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59194268A (ja) * 1983-04-18 1984-11-05 Kyodo Printing Co Ltd Idカ−ド検査装置

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