JPH0191829A - 角膜形状測定装置 - Google Patents
角膜形状測定装置Info
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- JPH0191829A JPH0191829A JP62250533A JP25053387A JPH0191829A JP H0191829 A JPH0191829 A JP H0191829A JP 62250533 A JP62250533 A JP 62250533A JP 25053387 A JP25053387 A JP 25053387A JP H0191829 A JPH0191829 A JP H0191829A
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- cornea
- frame memory
- corneal
- optical system
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Landscapes
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Abstract
め要約のデータは記録されません。
Description
するための角膜形状測定装置に関するものである。
影し、その角膜反射像の大きさを光学的に手動によって
測定する所謂オフサルモメータ、ケラトメータと称する
装置が広く用いられている。
昭58−73335号公報、同58−54927号公報
に開示されている。しかし、これらの自動測定方式では
、円環状の指標を角膜に投影し、その形状を解析するた
めに、 (a)複数の一次元位置検出素子の配置調整を厳密に行
う必要がある。
源が必要である。
察光学系が必要である。
回路が必要である。
て、本出願人による特願昭60−288223号、同6
2−52348号の発明があるが、これらは測定の再現
性又は測定精度が必ずしも保証されていないという問題
を有している。
膜形状測定装置を提供することにある。
前記輝点の角膜反射像を二次元撮像素子上に結像する結
像光学系と、前記撮像素子からの出力を記憶するフレー
ムメモリと、該フレームメモリに記憶された画像情報か
ら前記角膜反射像位置を算出する演算手段とを有し、前
記フレームメモリ内で認識される前記角膜反射像の面積
に対する前記各角膜反射像の周囲長の比が所定値以下と
なるように、前記角膜反射像の大きさ及び前記結像光学
系の倍率を選定したたことを特徴とする角膜形状測定装
置である。
向して対物レンズ1が配置され、この対物レンズ1の後
方には絞り2、撮像素子3が設けられている。また、対
物レンズ1の周囲には、第2図に示すように直交する2
径線上にLEDや白熱電球から成る計4個の光源4a〜
4dが配置され、これらの光源4a〜4dと被検眼Eの
角膜Ecの間には、それぞれ拡散板5a〜5d及び可変
の点状開口を有する開口6a〜6dが組になって配置さ
れている。
より拡散され、可変開口6a〜6dは被検眼Eの角膜E
c上に点状光スポットを投影する。
あり、これらの像4A〜4Dは対物レンズ1、絞り2を
介して撮像素子3上に結像される。
より被検眼Eとの位置合わせを行う。
膜反射像4A〜4Dの大きさの変化を補正して、撮像素
子3上での角膜反射像4A〜4Dの像の大きさが不変と
なるような方向の主光線、及びこの主光線を中心とした
光束のみを特定して透過させる位置に配置されている。
3の出力は駆動回路lOに接続され、駆動回路10の出
力はA/D変換器11、メモリコトローラ12を経てフ
レームメモリ13に接続されている。また、MPU14
の出力はA/D変換itt、、tモリコトローラ12.
フレームメモリ13、可変開口6a〜6dに接続されて
いる。
IR等の信号とされ、駆動回路10の出力はMPU14
の指令によりA/D変換器11に入力されてデジタル信
号に変換され、メモリコントローラ12の指示によりフ
レームメモリ13の所定番地に格納される。フレームメ
モリ13では2値化された画像がビットパターンとして
格納されているので、それを再びMPU14の指示によ
り角膜反射像部分を抽出し、その重心の撮像素子3上で
の位置座標を求める。
メツシュを与えた場合と等価になるので、実際に閾値を
越えた角膜反射像4A〜4Dの強度とフレームメモリ1
3のビットパターンとは第4図に示すようになる。この
第4図において、両方向にクロス状のハツチングを施し
た部分は輝点内にある画素を示し、一方向のみにハツチ
ングを施した部分は輝点の境界を含む画素を、またハツ
チングのない部分は輝点外にある画素を表している。
した画素ではビットが1になる確率は1、ハツチングの
ない画素ではビットがOになる確率は1である。これに
対し、一方向のみにハツチングを施した画素では、ビッ
トがOになる確率も、1になる確率も共に1ではなく、
装置と被検眼Eとの位置を固定したとしても不確定の要
素が残る部分である。
るには、輝点の面積が何ビット程度になるかを考察して
みる。仮に、メツシュが位置に対し正方形になっている
とし、輝点の半径がrビットで結像しているとすれば、
その面積は平均してπr2に近付く一方で、そのうちの
境界を含む画素は2πrと考えられる。また、その2π
r個の画素の中でも、第4図のaで示すように、0→1
又は1→0と状態の変化する確率が殆ど1/2に近いも
のもある。また、第4図のbで示すように状態の変化す
る確率が0に近いものもあって、平均すると2πr個の
うち1/4の確率で状態の変化が起り、再現性を悪くす
るものと考えられる。
/πr2であるから、 2πr/(πr2・4) = 1 / 2 r < 1 / 10であれば、はぼ
1710画素の再現性を得ることになる。そこで、r>
5となりπr2キ80となるから5N点としての認識が
800画素上あれば、約1/10画素の再現性を持つこ
とができる。
反射像4A〜4Dの面積が、フレームメモリ13上の画
素に換算したときに、少なくとも800画素上であるよ
うに、MPU14の出力により可変開口6八〜6dの大
きさを変えればよい、或いは、対物レンズ1を変倍可能
としてその倍率を選択すればよい、一般的には、フレー
ムメモリ13内で認識される各角膜反射像4A〜4Dの
面積に対する各角膜反射像4A〜4Dの周囲長の比が所
定値以下となるように輝点の大きさと結像光学系の倍率
を選択すればよい。
としているが、装置と被検眼Eとの距離が変化して輝点
がぼけてしまうときには、その配光特性がぼけた像の照
度むらとなるので、第1図に示すように拡散板5a〜5
dを用いて開口6a〜6dを照明するとか、或いは第5
図に示すように投影光学系に光ファイバ8a〜8dを用
いて、光ファイバ8a〜8dの出口側の端面を開口とす
る輝点を角膜Ecへ投影することが望ましい、この第5
図に示す実施例では、各光源7a〜7dの光を導く光フ
ァイバ8a〜8dの出口側の端面によって輝点が形成さ
れ、8A、8Bは角膜による反射像を表している。
輝点として認識されるフレームメモリ上の画素が、例え
ば80個以上あるように、輝点の大きさと結像光学系の
倍率を選択すれば、約1/10画素の再現性が得られる
というように、角膜形状測定の再現性と精度を高めるこ
とが可使となる。
示し、第1図は第1の実施例の構成図、第2図は開口の
配置図、第3図はブロック回路図、第4図は画素と輝点
の関係図、第5図は第2の実施例の構成図である。 符号1は対物レンズ、2は開口、3は撮像素子、4a〜
4dは光源、5a〜5dは拡散板、6a〜6dは可変開
口、7a〜7dは光源、8a〜8dは光ファイバ、10
は駆動回路、11はコンパレータ、12はメモリコント
ローラ、13はフレームメモリ、14はMPUである。 特許出願人 キャノン株式会社 図面 筒1図 第2図 第3図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、複数個の輝点を被検眼の角膜に投影する投影光学系
と、前記輝点の角膜反射像を二次元撮像素子上に結像す
る結像光学系と、前記撮像素子からの出力を記憶するフ
レームメモリと、該フレームメモリに記憶された画像情
報から前記角膜反射像位置を算出する演算手段とを有し
、前記フレームメモリ内で認識される前記角膜反射像の
面積に対する前記各角膜反射像の周囲長の比が所定値以
下となるように、前記角膜反射像の大きさ及び前記結像
光学系の倍率を選定したことを特徴とする角膜形状測定
装置。 2、前記各角膜反射像の面積は、前記フレームメモリ上
の画素に換算した場合に80画素以上となるようにした
特許請求の範囲第1項に記載の角膜形状測定装置。 3、前記フレームメモリは1ビットのフレームメモリと
した特許請求の範囲第1項に記載の角膜形状測定装置。 4、前記輝点は光源とその前方に配置した拡散板及び開
口によって形成した特許請求の範囲第1項に記載の角膜
形状測定装置。 5、前記投影光学系は光源とその光を導く光ファイバと
から成り、前記輝点は該光ファイバの光源と反対側の端
面によって形成した特許請求の範囲第1項に記載の角膜
形状測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62250533A JPH0191829A (ja) | 1987-09-30 | 1987-09-30 | 角膜形状測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62250533A JPH0191829A (ja) | 1987-09-30 | 1987-09-30 | 角膜形状測定装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0191829A true JPH0191829A (ja) | 1989-04-11 |
Family
ID=17209314
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62250533A Pending JPH0191829A (ja) | 1987-09-30 | 1987-09-30 | 角膜形状測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0191829A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013056152A (ja) * | 2011-08-30 | 2013-03-28 | Oculus Optikgeraete Gmbh | 眼科分析機器及び方法 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59125552A (ja) * | 1982-12-29 | 1984-07-19 | キヤノン株式会社 | 眼科手術用顕微鏡 |
-
1987
- 1987-09-30 JP JP62250533A patent/JPH0191829A/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59125552A (ja) * | 1982-12-29 | 1984-07-19 | キヤノン株式会社 | 眼科手術用顕微鏡 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013056152A (ja) * | 2011-08-30 | 2013-03-28 | Oculus Optikgeraete Gmbh | 眼科分析機器及び方法 |
US8899753B2 (en) | 2011-08-30 | 2014-12-02 | Oculus Optikgeraete Gmbh | Ophthalmological analysis instrument and method |
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