JPH0161674U - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0161674U JPH0161674U JP15710287U JP15710287U JPH0161674U JP H0161674 U JPH0161674 U JP H0161674U JP 15710287 U JP15710287 U JP 15710287U JP 15710287 U JP15710287 U JP 15710287U JP H0161674 U JPH0161674 U JP H0161674U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- measured
- measuring
- rail
- sides
- probe pins
- Prior art date
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- Pending
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 5
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 3
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Description
第１図は本考案の一実施例と被測定ＩＣの斜視
図、第２図は従来のＩＣ測定治具一例と被測定Ｉ
Ｃの斜視図である。 １……被測定ＩＣ、２……プローブピン、３…
…カム部、５ａ，５ｂ……測定板、６……テスタ
スイツチ、８……測定位置設定レール、９……Ｉ
Ｃ測定治具。
図、第２図は従来のＩＣ測定治具一例と被測定Ｉ
Ｃの斜視図である。 １……被測定ＩＣ、２……プローブピン、３…
…カム部、５ａ，５ｂ……測定板、６……テスタ
スイツチ、８……測定位置設定レール、９……Ｉ
Ｃ測定治具。
Claims (1)
- 被測定ＩＣを跨らせてスライドして測定位置を
設定するレールと、前記被測定ＩＣの外部リード
に対応して内側に突出しかつばねに支持されて前
後方向に移動可能な複数のプローブピンを有して
前記レールの両側に設けられた測定板と、該両測
定板の間隔を短縮して前記被測定ＩＣを両側から
前記プローブピンで挾むと共に測定回路をオン状
態にするスイツチを押すカム部とを含むことを特
徴とするＩＣ測定治具。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15710287U JPH0161674U (ja) | 1987-10-13 | 1987-10-13 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15710287U JPH0161674U (ja) | 1987-10-13 | 1987-10-13 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0161674U true JPH0161674U (ja) | 1989-04-19 |
Family
ID=31436250
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15710287U Pending JPH0161674U (ja) | 1987-10-13 | 1987-10-13 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0161674U (ja) |
-
1987
- 1987-10-13 JP JP15710287U patent/JPH0161674U/ja active Pending
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