JPS618872U - 電極端子測定用プロ−ブ - Google Patents

電極端子測定用プロ−ブ

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JPS618872U
JPS618872U JP9362384U JP9362384U JPS618872U JP S618872 U JPS618872 U JP S618872U JP 9362384 U JP9362384 U JP 9362384U JP 9362384 U JP9362384 U JP 9362384U JP S618872 U JPS618872 U JP S618872U
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JP
Japan
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electrode terminal
probe
fixed
measurement probe
fixing
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Pending
Application number
JP9362384U
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English (en)
Inventor
康 梶谷
Original Assignee
日本電気アイシ−マイコンシステム株式会社
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Publication date
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Publication of JPS618872U publication Critical patent/JPS618872U/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第1図a, bは、従来例の半田付けによるプロ−ブ固
定方式のプローブの形状および測定時の状態を示す側面
図である。 第2区ay bは他の従来例の抜取可能のプローブ固定
方式のプローブの形状および測定時の状態を示す側面図
である。 第3図は、本考案の一実施例を示す電極端子測定用プロ
ーブの形状および測定時の状態を示す側面図である。 第4図は、本考案を利用した電極端子測定用治具の概略
平面図である。 1・・・プローブ(半田付タイプ)、2・・・測定物、
3・・・プローブ固定基板、4・・・半田付部分、5・
・・プローブ(ポゴタイプ)、6・・・固定用ソケット
(該固定軸)、7・・・固定軸、8・・・プローブ、9
・・・探針部、10.11・・・穴、12・・・測定物
の電極端子。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 固定基板に固定用手段を介して固定される固定部と測定
    物に設けられた外部導出用電極端子に接触する探針部を
    有する電極端子測定用プローブにおいて、前記固定部が
    ほぼ平行に配置された少なくとも2本以上の固定軸から
    成り、該固定軸の少なくとも2本が前記固定基板に固定
    用手段を介して取りはずし可能に固定されていることを
    特徴とする電極端子測定用プローブ。
JP9362384U 1984-06-22 1984-06-22 電極端子測定用プロ−ブ Pending JPS618872U (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2023090062A1 (ja) * 2021-11-22 2023-05-25 株式会社日本マイクロニクス プローブ格納治具、プローブ格納システムおよびプローブ格納方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2023090062A1 (ja) * 2021-11-22 2023-05-25 株式会社日本マイクロニクス プローブ格納治具、プローブ格納システムおよびプローブ格納方法
TWI823662B (zh) * 2021-11-22 2023-11-21 日商日本麥克隆尼股份有限公司 探針收納治具、探針收納系統及探針收納方法

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