JPH0152690B2 - - Google Patents
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- JPH0152690B2 JPH0152690B2 JP56017792A JP1779281A JPH0152690B2 JP H0152690 B2 JPH0152690 B2 JP H0152690B2 JP 56017792 A JP56017792 A JP 56017792A JP 1779281 A JP1779281 A JP 1779281A JP H0152690 B2 JPH0152690 B2 JP H0152690B2
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- Japan
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- pinhole
- voltage
- insulating film
- electrode
- tester
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- 239000003792 electrolyte Substances 0.000 claims description 8
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 5
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/91—Investigating the presence of flaws or contamination using penetration of dyes, e.g. fluorescent ink
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- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
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- Immunology (AREA)
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はエレクトロクロミツク現象によつてピ
ンホールを呈色させて判定するピンホールテスタ
ーに関するものである。
ンホールを呈色させて判定するピンホールテスタ
ーに関するものである。
従来のピンホールテスターについて以下で説明
する。
する。
＜従来の装置例 １＞
火花放電を利用したピンホールテスター。
かかる装置について第１図を用いて説明する。
第１図はかかる装置を用いたピンホール検査の
実施例である。４は検査すべき金属材料であり、
有機物質膜等の絶縁膜５が塗布されている。３は
交流または直流の高圧電源であり、前記金属材料
４と高圧端子１の間に高電圧を印加している。前
記高圧端子１を前記絶縁膜５の上で走査する。ピ
ンホール６のある場所ではスパーク７が生ずるの
で判定がつく。しかし、かかる検査方法では火花
放電を起こすために過大な電圧が必要であり、か
つ前記絶縁膜５の薄い部分では絶縁破壊を起こす
危険がある。また、火花放電が生ずる範囲はごく
狭いため、塗面全域を検査するには高圧印加端子
１を絶縁膜５上にくまなく走査しなければならな
い。そのため、広い塗面を検査する際には多くの
時間と労力を要する。
実施例である。４は検査すべき金属材料であり、
有機物質膜等の絶縁膜５が塗布されている。３は
交流または直流の高圧電源であり、前記金属材料
４と高圧端子１の間に高電圧を印加している。前
記高圧端子１を前記絶縁膜５の上で走査する。ピ
ンホール６のある場所ではスパーク７が生ずるの
で判定がつく。しかし、かかる検査方法では火花
放電を起こすために過大な電圧が必要であり、か
つ前記絶縁膜５の薄い部分では絶縁破壊を起こす
危険がある。また、火花放電が生ずる範囲はごく
狭いため、塗面全域を検査するには高圧印加端子
１を絶縁膜５上にくまなく走査しなければならな
い。そのため、広い塗面を検査する際には多くの
時間と労力を要する。
＜従来の装置例 ２＞
絶縁抵抗によつて判定するもの。
この種の装置について第２図を用いて説明す
る。第２図はかかる装置を用いたピンホール検査
の実施例である。８は検査すべき金属材料であ
り、ここでは容器状のものである。前記金属材料
８には絶縁膜９が塗布されている。
る。第２図はかかる装置を用いたピンホール検査
の実施例である。８は検査すべき金属材料であ
り、ここでは容器状のものである。前記金属材料
８には絶縁膜９が塗布されている。
前記金属材料８に電解液１０を満たし、電極１
１を前記電解液１０中に浸漬する。前記金属材料
８と前記電極１１の間に直流電源１３を用いて電
圧を印加し、電流計１４で電流を測定する。測定
された電流値によつて絶縁抵抗が算出され、ピン
ホールの有無を判定できる。かかる装置では、広
範囲の塗面全域にわたるピンホールの有無を同時
に判定できる。しかし、かかる装置ではピンホー
ルの有無を判定できてもピンホールの場所を示す
ことができない。
１を前記電解液１０中に浸漬する。前記金属材料
８と前記電極１１の間に直流電源１３を用いて電
圧を印加し、電流計１４で電流を測定する。測定
された電流値によつて絶縁抵抗が算出され、ピン
ホールの有無を判定できる。かかる装置では、広
範囲の塗面全域にわたるピンホールの有無を同時
に判定できる。しかし、かかる装置ではピンホー
ルの有無を判定できてもピンホールの場所を示す
ことができない。
以上説明したように、従来のピンホールテスタ
ーには種々の欠点が有る。本発明はかかる欠点に
鑑みなされたものである。
ーには種々の欠点が有る。本発明はかかる欠点に
鑑みなされたものである。
本発明の目的は、低電圧で駆動でき、検査面を
損傷することの無いピンホールテスターを提供す
ることにある。
損傷することの無いピンホールテスターを提供す
ることにある。
本発明の他の目的は、広い塗面全域を同時にむ
らなく検査できなかつピンホール箇所が明瞭に判
別できるピンホールテスターを提供することにあ
る。
らなく検査できなかつピンホール箇所が明瞭に判
別できるピンホールテスターを提供することにあ
る。
以下、本発明のピンホールテスターについて説
明する。
明する。
本発明のピンホールテスターは、電解液中に溶
解した発色物質が電圧を印加されることによつて
電極面上に析出発色する溶液型エレクトロクトロ
ミツク現象を応用したものである。このような現
象を示す溶液型エレクトロクロミツク材料にはバ
イオロゲン等がある。バイオロゲンは下記の(1)式
に示す電気化学的発消色反応によつてエレクトロ
クロミツク現象を示す。
解した発色物質が電圧を印加されることによつて
電極面上に析出発色する溶液型エレクトロクトロ
ミツク現象を応用したものである。このような現
象を示す溶液型エレクトロクロミツク材料にはバ
イオロゲン等がある。バイオロゲンは下記の(1)式
に示す電気化学的発消色反応によつてエレクトロ
クロミツク現象を示す。
（）式中、Ｒはアルキル基またはベンジル基
であり、X-はハロゲンイオンである。電解液中
のバイオロゲンは、無色のジカチオン（）の状
態である。前記電解液に２種の電極を浸漬し、前
記の両電極間に電圧を印加すると、（）は電解
還元されて不溶性のモノカチオンラジカル（）
となる。（）は不溶性なため陰極面上に析出し
該陰極面を赤または赤紫色に呈色する。前記モノ
カチオンラジカル（）は安定であり、電圧を除
いても暫くは前記陰極面上に付着したまま消色し
ない。この状態で先の場合とは逆の電圧を印加す
ると前記モノカチオンラジカル（）が酸化され
て前記ジカチオン（）に戻り電解液中に拡散し
脱離する。このようなバイオロゲンの電気化学的
反応を起こすために必要な電圧は１〜2Vである。
であり、X-はハロゲンイオンである。電解液中
のバイオロゲンは、無色のジカチオン（）の状
態である。前記電解液に２種の電極を浸漬し、前
記の両電極間に電圧を印加すると、（）は電解
還元されて不溶性のモノカチオンラジカル（）
となる。（）は不溶性なため陰極面上に析出し
該陰極面を赤または赤紫色に呈色する。前記モノ
カチオンラジカル（）は安定であり、電圧を除
いても暫くは前記陰極面上に付着したまま消色し
ない。この状態で先の場合とは逆の電圧を印加す
ると前記モノカチオンラジカル（）が酸化され
て前記ジカチオン（）に戻り電解液中に拡散し
脱離する。このようなバイオロゲンの電気化学的
反応を起こすために必要な電圧は１〜2Vである。
以下で、本発明によるピンホールテスターの実
施例について説明する。
施例について説明する。
本発明のピンホールテスターの構造は従来の装
置例２とほとんど同じものであり、唯一の相違点
は電解液１０中にビオロゲン等の溶液型エレクト
ロクロミツク材料が溶解しているか否かという点
である。そこで第２図を用いて本発明のピンホー
ルテスターを説明する。本発明のピンホールテス
ターは、電解液１０、電極１１、導線１２、直流
電源１３、電流計１４から構成されている。前記
電解液１０は、ビオロゲン等の溶液型エレクトロ
クロミツク材料と界面活性剤と支持電解質を溶解
している。前記直流電源は、エレクトロクロミツ
ク現象を起こすに必要な電圧の得られるものを用
い、ビオロゲンの場合には１〜2Vの電源を用い
る。ピンホール検査をする場合には、検査すべき
絶縁膜９に前記電解液１０を浸漬し、該電解液１
０中に前記電極１１を浸漬させ、金属材料８が陰
極になるように電圧を印加する。前記電流計１４
によつて電流を測定しピンホールの有無を判定す
る。更にピンホールのある場所は赤色に呈色する
ので明瞭に判別できる。またこの赤色は前記電解
液１０や電圧を取り除いた後も暫く残るので、前
記電解液１０を取り除いてからピンホール箇所を
捜すことができるので、絶縁膜９の面積にかかわ
らず、エレクトロクロミツク材料が呈色するのに
必要な時間だけ電圧を印加すれば良く、第面積の
絶縁膜のピンホールの有無も、少ない電力でかつ
ごく短時間に検査することができる。さらに電解
液１０を取り除いた状態でもピンホールの位置を
判別できるので、ピンホール部分を部分的に修得
するなどの手段も講ずることが可能となる。検査
後には前記電解液１０を再び絶縁膜９に接触させ
て前記金属材料８に正の電圧を印加することによ
つて塗面を検査前の状態に戻すことができる。
置例２とほとんど同じものであり、唯一の相違点
は電解液１０中にビオロゲン等の溶液型エレクト
ロクロミツク材料が溶解しているか否かという点
である。そこで第２図を用いて本発明のピンホー
ルテスターを説明する。本発明のピンホールテス
ターは、電解液１０、電極１１、導線１２、直流
電源１３、電流計１４から構成されている。前記
電解液１０は、ビオロゲン等の溶液型エレクトロ
クロミツク材料と界面活性剤と支持電解質を溶解
している。前記直流電源は、エレクトロクロミツ
ク現象を起こすに必要な電圧の得られるものを用
い、ビオロゲンの場合には１〜2Vの電源を用い
る。ピンホール検査をする場合には、検査すべき
絶縁膜９に前記電解液１０を浸漬し、該電解液１
０中に前記電極１１を浸漬させ、金属材料８が陰
極になるように電圧を印加する。前記電流計１４
によつて電流を測定しピンホールの有無を判定す
る。更にピンホールのある場所は赤色に呈色する
ので明瞭に判別できる。またこの赤色は前記電解
液１０や電圧を取り除いた後も暫く残るので、前
記電解液１０を取り除いてからピンホール箇所を
捜すことができるので、絶縁膜９の面積にかかわ
らず、エレクトロクロミツク材料が呈色するのに
必要な時間だけ電圧を印加すれば良く、第面積の
絶縁膜のピンホールの有無も、少ない電力でかつ
ごく短時間に検査することができる。さらに電解
液１０を取り除いた状態でもピンホールの位置を
判別できるので、ピンホール部分を部分的に修得
するなどの手段も講ずることが可能となる。検査
後には前記電解液１０を再び絶縁膜９に接触させ
て前記金属材料８に正の電圧を印加することによ
つて塗面を検査前の状態に戻すことができる。
以上説明したように本発明のピンホールテスタ
ーは低電圧駆動が可能で、広範囲の塗面を即座に
確実に検査できかつ検査面を損傷しない等の優れ
た特性を備えている。
ーは低電圧駆動が可能で、広範囲の塗面を即座に
確実に検査できかつ検査面を損傷しない等の優れ
た特性を備えている。
第１図は火花放電を利用した従来のピンホール
テスターによる検査の実施例を示す回路図であ
り、第２図は従来の絶縁抵抗測定によるピンホー
ルテスターまたは本発明によるピンホールテスタ
ーによる検査の実施例を示す回路図である。 １…高圧印加端子、２…導線、３…高圧電源、
４…金属材料、５…絶縁膜、６…ピンホール、７
…スパーク、８…金属材料、９…絶縁膜、１０…
電解液、１１…電極、１２…導線、１３…直流電
源、１４…電流計。
テスターによる検査の実施例を示す回路図であ
り、第２図は従来の絶縁抵抗測定によるピンホー
ルテスターまたは本発明によるピンホールテスタ
ーによる検査の実施例を示す回路図である。 １…高圧印加端子、２…導線、３…高圧電源、
４…金属材料、５…絶縁膜、６…ピンホール、７
…スパーク、８…金属材料、９…絶縁膜、１０…
電解液、１１…電極、１２…導線、１３…直流電
源、１４…電流計。
Claims (1)
- １ 被検査物である導体材料の表面に形成された
絶縁膜と電極とを電解液を介在させて対向配置
し、前記導体材料と電極との間に電圧を印加して
前記絶縁膜のピンホールの有無を検査するピンホ
ールテスターにおいて、前記電解液中に前記導体
材料を陰極にして電圧を印加することによつて前
記絶縁膜のピンホール箇所に析出して呈色する溶
液型エレクトロクロミツク材料を溶解させたこと
を特徴とするピンホールテスター。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1779281A JPS57132045A (en) | 1981-02-09 | 1981-02-09 | Pin hole tester |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1779281A JPS57132045A (en) | 1981-02-09 | 1981-02-09 | Pin hole tester |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57132045A JPS57132045A (en) | 1982-08-16 |
| JPH0152690B2 true JPH0152690B2 (ja) | 1989-11-09 |
Family
ID=11953556
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1779281A Granted JPS57132045A (en) | 1981-02-09 | 1981-02-09 | Pin hole tester |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS57132045A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2001075414A1 (en) * | 2000-04-04 | 2001-10-11 | Chubpak Australia Pty Ltd | Perforation detection method |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB0300558D0 (en) * | 2003-01-10 | 2003-02-12 | Univ Southampton | Method for the testing of multiple materials for electrochemical uses |
| WO2006122559A1 (en) | 2005-05-20 | 2006-11-23 | Danfoss A/S | A method of investigating a coated surface of an object |
| WO2017033708A1 (ja) * | 2015-08-27 | 2017-03-02 | オリンパス株式会社 | 検査装置及び検査システム |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5467776A (en) * | 1977-11-09 | 1979-05-31 | Mitsubishi Electric Corp | Film quality evaluating method of insulation film |
| JPS5467775A (en) * | 1977-11-09 | 1979-05-31 | Mitsubishi Electric Corp | Film quality evaluation method of insulation film |
-
1981
- 1981-02-09 JP JP1779281A patent/JPS57132045A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5467776A (en) * | 1977-11-09 | 1979-05-31 | Mitsubishi Electric Corp | Film quality evaluating method of insulation film |
| JPS5467775A (en) * | 1977-11-09 | 1979-05-31 | Mitsubishi Electric Corp | Film quality evaluation method of insulation film |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2001075414A1 (en) * | 2000-04-04 | 2001-10-11 | Chubpak Australia Pty Ltd | Perforation detection method |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS57132045A (en) | 1982-08-16 |
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