JP2670371B2 - 塗膜測定用プローブ - Google Patents
塗膜測定用プローブInfo
- Publication number
- JP2670371B2 JP2670371B2 JP32708689A JP32708689A JP2670371B2 JP 2670371 B2 JP2670371 B2 JP 2670371B2 JP 32708689 A JP32708689 A JP 32708689A JP 32708689 A JP32708689 A JP 32708689A JP 2670371 B2 JP2670371 B2 JP 2670371B2
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- Japan
- Prior art keywords
- coating film
- probe
- electrode
- sponge
- measurement
- Prior art date
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- Testing Resistance To Weather, Investigating Materials By Mechanical Methods (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 ［発明の目的］ （産業上の利用分野） 本発明は金属表面に塗布された塗膜の劣化を電気化学
的に検出し評価するに好適な塗膜測定用プローブに関す
る。
的に検出し評価するに好適な塗膜測定用プローブに関す
る。
（従来の技術） 金属表面の塗膜劣化の検出や評価を行う場合、通常第
３図に示す如き構成を用いた電気化学的評価方式が実施
されている。すなわち、同図に示す如く、素地金属１上
に塗装した塗膜２を評価するために、この塗膜２上に導
電性ゲル３を介してAl箔などの測定用電極４を接触させ
る。次に、素地金属１と測定用電極４間に電流計５を介
して交流電源６を用いて交流電圧を印加する。このとき
電圧を素地金属１と測定用電極４の間に接続された電圧
計７により読み取り、電流を電流計５により読み取る。
この方法によって塗膜のインピーダンスが測定でき、周
波数に対するインピーダンスの絶対値をプロットしたボ
ード線図あるいはインピーダンスを実数部と虚数部とで
表したナイキスト線図などの変化、あるいは軌跡から塗
膜の劣化程度を推定することが行われている。
３図に示す如き構成を用いた電気化学的評価方式が実施
されている。すなわち、同図に示す如く、素地金属１上
に塗装した塗膜２を評価するために、この塗膜２上に導
電性ゲル３を介してAl箔などの測定用電極４を接触させ
る。次に、素地金属１と測定用電極４間に電流計５を介
して交流電源６を用いて交流電圧を印加する。このとき
電圧を素地金属１と測定用電極４の間に接続された電圧
計７により読み取り、電流を電流計５により読み取る。
この方法によって塗膜のインピーダンスが測定でき、周
波数に対するインピーダンスの絶対値をプロットしたボ
ード線図あるいはインピーダンスを実数部と虚数部とで
表したナイキスト線図などの変化、あるいは軌跡から塗
膜の劣化程度を推定することが行われている。
また、第３図の測定用電極の代りに、塗膜測定用プロ
ーブを用いた評価方式が提案されている。この評価方式
は第２図に示す如く、容器本体８内に導電性ゲルを含浸
したスポンジ状電極９を収納し、このスポンジ状電極９
の凸面部を被測定塗膜に完全に密着させることにより、
測定時の誤差などを少なくして塗膜インピダンスを測定
するものである。ここで、容器本体８の開口端部の外周
には塗膜インピーダーンス測定時に被測定塗膜に気泡，
空隙などを生じないように容器本体８を取り付けるため
にマグネット12を保持したガイドリング13が付加されて
いる。また、容器本体８の内面にスポンジ状電極９との
接触面積を大きくするスズ箔10が設けられ、接続端子11
に接続されている。この塗膜測定用プローブを用いた評
価方式は、実験室での評価と共に、実際に塗装した機
器，装置，設備などに対しても現地に持ちこむことによ
り測定可能となり、多くの機器の測定結果も報告されて
いる。そして、その測定結果からボード線図あるいはナ
イキスト線図など作成し、その変化から塗膜の劣化を知
ることができる。
ーブを用いた評価方式が提案されている。この評価方式
は第２図に示す如く、容器本体８内に導電性ゲルを含浸
したスポンジ状電極９を収納し、このスポンジ状電極９
の凸面部を被測定塗膜に完全に密着させることにより、
測定時の誤差などを少なくして塗膜インピダンスを測定
するものである。ここで、容器本体８の開口端部の外周
には塗膜インピーダーンス測定時に被測定塗膜に気泡，
空隙などを生じないように容器本体８を取り付けるため
にマグネット12を保持したガイドリング13が付加されて
いる。また、容器本体８の内面にスポンジ状電極９との
接触面積を大きくするスズ箔10が設けられ、接続端子11
に接続されている。この塗膜測定用プローブを用いた評
価方式は、実験室での評価と共に、実際に塗装した機
器，装置，設備などに対しても現地に持ちこむことによ
り測定可能となり、多くの機器の測定結果も報告されて
いる。そして、その測定結果からボード線図あるいはナ
イキスト線図など作成し、その変化から塗膜の劣化を知
ることができる。
（発明が解決しようとする課題） ところが、上記したような従来技術では第２図に示す
ようにスポンジ状電極９から接続端子11を介して外部リ
ード線としての被覆銅線14に接続する部分に多少の内部
抵抗を有するので、塗膜インピーダンス測定に対するプ
ローブの影響が懸念された。
ようにスポンジ状電極９から接続端子11を介して外部リ
ード線としての被覆銅線14に接続する部分に多少の内部
抵抗を有するので、塗膜インピーダンス測定に対するプ
ローブの影響が懸念された。
そこで、従来のプローブの内部抵抗を測定した結果、
約50kΩ程度であることが判った。塗膜の抵抗Rfは正常
な場合には高い値を示すが、塗膜が劣化してくるとその
抵抗は低くなり、その抵抗に占めるプローブの内部抵抗
の割合は高くなるので、測定誤差は多くなる。
約50kΩ程度であることが判った。塗膜の抵抗Rfは正常
な場合には高い値を示すが、塗膜が劣化してくるとその
抵抗は低くなり、その抵抗に占めるプローブの内部抵抗
の割合は高くなるので、測定誤差は多くなる。
本発明は上記欠点を解消するためになされたもので、
その目的は導電性ゲルを浸みこませたスポンジ状電極か
ら外部リード線までの内部抵抗を少なくするようにし
て、塗膜インピーダンスへの影響をなくするようにした
塗膜測定用プローブを提供することにある。
その目的は導電性ゲルを浸みこませたスポンジ状電極か
ら外部リード線までの内部抵抗を少なくするようにし
て、塗膜インピーダンスへの影響をなくするようにした
塗膜測定用プローブを提供することにある。
［発明の構成］ （課題を解決するための手段） 上記目的を達成するために、本発明は、プローブ容器
本体内に、被測定塗膜に接触する凸面部を有するスポン
ジ状電極を収納し、このスポンジ状電極に導電性ゲルを
含浸した塗膜測定用プローブにおいて、前記容器本体内
の内壁にスズ，白金などの分極性の小さい材料をメッキ
し、このメッキ層に外部リード線を接続したことを特徴
とするものである。
本体内に、被測定塗膜に接触する凸面部を有するスポン
ジ状電極を収納し、このスポンジ状電極に導電性ゲルを
含浸した塗膜測定用プローブにおいて、前記容器本体内
の内壁にスズ，白金などの分極性の小さい材料をメッキ
し、このメッキ層に外部リード線を接続したことを特徴
とするものである。
（作 用） 本発明によると、スポンジ状電極をスズ，白金などの
分極性の小さい電極材料に直接接触させるので、塗膜の
インピーダンス測定時に、導電性ゲルから外部リード線
に出入りする電流によって電位に変化が生じることが少
なくなり、プローブとしての内部抵抗も非常に小さくな
る。
分極性の小さい電極材料に直接接触させるので、塗膜の
インピーダンス測定時に、導電性ゲルから外部リード線
に出入りする電流によって電位に変化が生じることが少
なくなり、プローブとしての内部抵抗も非常に小さくな
る。
（実施例） 以下、本発明の実施例を図面を参照して説明する。
第１図は本発明の一実施例の断面図であり、同図に示
すように、プローブ容器本体８内に被測定塗膜と接触す
る凸面部を有するスポンジ状電極９を収納し、このスポ
ンジ状電極９に導電性ゲルを浸みこませてある。
すように、プローブ容器本体８内に被測定塗膜と接触す
る凸面部を有するスポンジ状電極９を収納し、このスポ
ンジ状電極９に導電性ゲルを浸みこませてある。
本実施例は第２図に示す従来例のように、スズ箔10を
プローブ容器本体の内壁に貼り付けるのではなく、プロ
ーブ容器本体８の内壁にスズメッキ被膜20を施すととも
にプローブ容器本体８の底面に小さな孔15をあけ、その
部分にもスズメッキ被膜20を形成し、この被膜20にリー
ド線14を接続する。
プローブ容器本体の内壁に貼り付けるのではなく、プロ
ーブ容器本体８の内壁にスズメッキ被膜20を施すととも
にプローブ容器本体８の底面に小さな孔15をあけ、その
部分にもスズメッキ被膜20を形成し、この被膜20にリー
ド線14を接続する。
この他のプローブ構成、すなわち導電性ゲルを含んだ
スポンジ状電極９、素地金属の塗膜に付着させるガイド
リング13、マグネット12などの構成は従来のプローブ構
成と同一である。
スポンジ状電極９、素地金属の塗膜に付着させるガイド
リング13、マグネット12などの構成は従来のプローブ構
成と同一である。
また、プローブ容器本体８内壁へのメッキは無電解メ
ッキで容易に可能であり、メッキ液に浸かる部分は付着
できるので、プローブ底面の孔15部分にも容易にメッキ
できる。さらに、スズメッキの他に、白金、金などの材
料は分極も小さくなるので、これらの材料を用いて、プ
ローブ容器本体８内壁にメッキしてもよい。
ッキで容易に可能であり、メッキ液に浸かる部分は付着
できるので、プローブ底面の孔15部分にも容易にメッキ
できる。さらに、スズメッキの他に、白金、金などの材
料は分極も小さくなるので、これらの材料を用いて、プ
ローブ容器本体８内壁にメッキしてもよい。
本実施例は上述したように、スポンジ状電極９をスズ
メッキ被膜20で包み、しかも、接地端子の介在もなくし
た構成となっているので、第２図に示した従来のプロー
ブよりも1/100程度の抵抗となり、プローブの内部抵抗
を少なくすることができる。また測定の誤差も従来の1/
5程度に低下できる。さらにスズメッキしたことによっ
て、今迄、測定のたびにスズ箔などを貼り付ていたのが
なくなり、また、取付中に破れたりすることもない。
メッキ被膜20で包み、しかも、接地端子の介在もなくし
た構成となっているので、第２図に示した従来のプロー
ブよりも1/100程度の抵抗となり、プローブの内部抵抗
を少なくすることができる。また測定の誤差も従来の1/
5程度に低下できる。さらにスズメッキしたことによっ
て、今迄、測定のたびにスズ箔などを貼り付ていたのが
なくなり、また、取付中に破れたりすることもない。
［発明の効果］ 以上説明したように、本発明によれば、塗膜測定用プ
ローブの内部抵抗が小さくできるので、塗膜インピーダ
ンス測定値への影響も少なくなり、測定誤差も低減でき
る。さらに、プローブの取扱いも簡単にでき、作業性も
向上するというすぐれた効果を有する。
ローブの内部抵抗が小さくできるので、塗膜インピーダ
ンス測定値への影響も少なくなり、測定誤差も低減でき
る。さらに、プローブの取扱いも簡単にでき、作業性も
向上するというすぐれた効果を有する。
第１図は本発明の一実施例の断面図、第２図は従来の塗
膜測定用プローブの断面図、第３図は塗膜インピーダン
ス測定の原理を示す概念図である。 １……素地金属 ２……塗膜 ３……導電性ゲル ４……測定用電極 ５……電流計 ６……交流電源 ７……電圧計 ８……プローブ容器本体 ９……スポンジ状電極 10……スズ箔 11……接地端子 12……マグネット 13……ガイドリング 14……外部リード線 15……小孔 20……スズメッキ被膜
膜測定用プローブの断面図、第３図は塗膜インピーダン
ス測定の原理を示す概念図である。 １……素地金属 ２……塗膜 ３……導電性ゲル ４……測定用電極 ５……電流計 ６……交流電源 ７……電圧計 ８……プローブ容器本体 ９……スポンジ状電極 10……スズ箔 11……接地端子 12……マグネット 13……ガイドリング 14……外部リード線 15……小孔 20……スズメッキ被膜
Claims (1)
- 【請求項１】プローブ容器本体内に被測定塗膜に接触す
る凸面部を有するスポンジ状電極を収納し、このスポン
ジ状電極に導電性ゲルを含浸した塗膜測定用プローブに
おいて、前記容器本体内の内壁にスズ・白金などの分極
性の小さい材料をメッキし、このメッキ層に外部リード
線を接続したことを特徴とする塗膜測定用プローブ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32708689A JP2670371B2 (ja) | 1989-12-19 | 1989-12-19 | 塗膜測定用プローブ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32708689A JP2670371B2 (ja) | 1989-12-19 | 1989-12-19 | 塗膜測定用プローブ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03188364A JPH03188364A (ja) | 1991-08-16 |
| JP2670371B2 true JP2670371B2 (ja) | 1997-10-29 |
Family
ID=18195135
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP32708689A Expired - Lifetime JP2670371B2 (ja) | 1989-12-19 | 1989-12-19 | 塗膜測定用プローブ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2670371B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5341721B2 (ja) * | 2009-11-16 | 2013-11-13 | 日立Ｇｅニュークリア・エナジー株式会社 | 原子炉炉内構造物表面の電解エッチング方法および装置 |
-
1989
- 1989-12-19 JP JP32708689A patent/JP2670371B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH03188364A (ja) | 1991-08-16 |
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Legal Events
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