JPH03188364A - 塗膜測定用プローブ - Google Patents
塗膜測定用プローブInfo
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- JPH03188364A JPH03188364A JP32708689A JP32708689A JPH03188364A JP H03188364 A JPH03188364 A JP H03188364A JP 32708689 A JP32708689 A JP 32708689A JP 32708689 A JP32708689 A JP 32708689A JP H03188364 A JPH03188364 A JP H03188364A
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Landscapes
- Testing Resistance To Weather, Investigating Materials By Mechanical Methods (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［発明の目的］
（産業上の利用分野）
本発明は金属表面に塗布された塗膜の劣化を電気化学的
に検出し評価するに好適な塗膜測定用プローブに関する
。
に検出し評価するに好適な塗膜測定用プローブに関する
。
（従来の技術）
金属表面の塗膜劣化の検出や評価を行う場合、通常第３
図に示す如き構成を用いた電気化学的評価方式が実施さ
れている。すなわち、同図に示す如く、素地金属１上に
塗装した塗膜２を評価するために、この塗膜２上に導電
性ゲル３を介してＡ１箔などの測定用電極４を接触させ
る。次に、素地金属１と測定用電極４間に電流計５を介
して交流電源６を用いて交流電圧を印加する。このとき
電゛圧を素地金属１と測定用電極４の間に接続された電
圧計７により読み取り、電流を電流計５により読み取る
。この方法によって塗膜のインピーダンスが測定でき、
周波数に対するインピーダンスの絶対値をプロットした
ボード線図あるいはインピーダンスを実数部と虚数部と
で表したナイキスト線図などの変化、あるいは軌跡から
塗膜の劣化程度を推定することが行われている。
図に示す如き構成を用いた電気化学的評価方式が実施さ
れている。すなわち、同図に示す如く、素地金属１上に
塗装した塗膜２を評価するために、この塗膜２上に導電
性ゲル３を介してＡ１箔などの測定用電極４を接触させ
る。次に、素地金属１と測定用電極４間に電流計５を介
して交流電源６を用いて交流電圧を印加する。このとき
電゛圧を素地金属１と測定用電極４の間に接続された電
圧計７により読み取り、電流を電流計５により読み取る
。この方法によって塗膜のインピーダンスが測定でき、
周波数に対するインピーダンスの絶対値をプロットした
ボード線図あるいはインピーダンスを実数部と虚数部と
で表したナイキスト線図などの変化、あるいは軌跡から
塗膜の劣化程度を推定することが行われている。
また、第３図の測定用電極の代りに、塗膜測定用プロー
ブを用いた評価方式が提案されている。
ブを用いた評価方式が提案されている。
この評価方式は第２図に示す如く、容器本体８内に導電
性ゲルを含浸したスポンジ状電極９を収納し、このスポ
ンジ状電極９の凸面部を被測定塗膜に完全に密着させる
ことにより、測定時の誤差などを少なくして塗膜インピ
ーダンスを測定するものである。ここで、容器本体８の
開口端部の外周には塗膜インピ−ダス測定時に被測定塗
膜に気泡、空隙などを生じないように容器本体８を取り
付けるためにマグネット１２を保持したガイドリング１
３が付加されている。また、容器本体８の内面にスポン
ジ状電極９との接触面積を大きくするスズ箔１０が設け
られ、接続端子１１に接続されている。この塗膜測定用
プローブを用いた評価方式は、実験室での評価と共に、
実際に塗装した機器、装置、設備などに対しても現地に
持ちこむことにより測定可能となり、多くの機器の測定
結果も報告されている。そして、その測定結果からボー
ド線図あるいはナイキスト線図など作成し、その変化か
ら塗膜の劣化を知ることができる。
性ゲルを含浸したスポンジ状電極９を収納し、このスポ
ンジ状電極９の凸面部を被測定塗膜に完全に密着させる
ことにより、測定時の誤差などを少なくして塗膜インピ
ーダンスを測定するものである。ここで、容器本体８の
開口端部の外周には塗膜インピ−ダス測定時に被測定塗
膜に気泡、空隙などを生じないように容器本体８を取り
付けるためにマグネット１２を保持したガイドリング１
３が付加されている。また、容器本体８の内面にスポン
ジ状電極９との接触面積を大きくするスズ箔１０が設け
られ、接続端子１１に接続されている。この塗膜測定用
プローブを用いた評価方式は、実験室での評価と共に、
実際に塗装した機器、装置、設備などに対しても現地に
持ちこむことにより測定可能となり、多くの機器の測定
結果も報告されている。そして、その測定結果からボー
ド線図あるいはナイキスト線図など作成し、その変化か
ら塗膜の劣化を知ることができる。
（発明が解決しようとする課題）
ところが、上記したような従来技術では第２図に示すよ
うにスポンジ状電極９から接続端子１１を介して外部リ
ード線としての被覆銅線１４に接続する部分に多少の内
部抵抗を有するので、塗膜インピーダンス測定に対する
プローブの影響が懸念された。
うにスポンジ状電極９から接続端子１１を介して外部リ
ード線としての被覆銅線１４に接続する部分に多少の内
部抵抗を有するので、塗膜インピーダンス測定に対する
プローブの影響が懸念された。
そこで、従来のプローブの内部抵抗を測定した結果、約
５０にΩ程度であることが判った。塗膜の抵抗Ｒ１は正
常な場合には高い値を示すが、塗膜が劣化してくるとそ
の抵抗は低くなり、その抵抗に占めるプローブの内部抵
抗の割合は高くなるので、測定誤差は多くなる。
５０にΩ程度であることが判った。塗膜の抵抗Ｒ１は正
常な場合には高い値を示すが、塗膜が劣化してくるとそ
の抵抗は低くなり、その抵抗に占めるプローブの内部抵
抗の割合は高くなるので、測定誤差は多くなる。
本発明は上記欠点を解消するためになされたもので、そ
の目的は導電性ゲルを浸みこませたスポンジ状電極から
外部リード線までの内部抵抗を少なくするようにして、
塗膜インピーダンスへの影響をなくするようにした塗膜
測定用プローブを提供することにある。
の目的は導電性ゲルを浸みこませたスポンジ状電極から
外部リード線までの内部抵抗を少なくするようにして、
塗膜インピーダンスへの影響をなくするようにした塗膜
測定用プローブを提供することにある。
［発明の構成］
（課題を解決するための手段）
上記目的を達成するために、本発明は、プローブ容器本
体内に、被測定塗膜に接触する凸面部を有するスポンジ
状電極を収納し、このスポンジ状電極に導電性ゲルを含
浸した塗膜測定用プローブにおいて、前記容器本体内の
内壁にスズ、白金などの分極性の小さい材料をメッキし
、このメッキ層に外部リード線を接続したことを特徴と
するものである。
体内に、被測定塗膜に接触する凸面部を有するスポンジ
状電極を収納し、このスポンジ状電極に導電性ゲルを含
浸した塗膜測定用プローブにおいて、前記容器本体内の
内壁にスズ、白金などの分極性の小さい材料をメッキし
、このメッキ層に外部リード線を接続したことを特徴と
するものである。
（作 用）
本発明によると、スポンジ状電極をスズ、白金などの分
極性の小さい電極材料に直接接触させるので、塗膜のイ
ンピーダンス測定時に、導電性ゲルから外部リード線に
出入りする電流によって電位に変化が生じることが少な
くなり、プローブとしての内部抵抗も非常に小さくなる
。
極性の小さい電極材料に直接接触させるので、塗膜のイ
ンピーダンス測定時に、導電性ゲルから外部リード線に
出入りする電流によって電位に変化が生じることが少な
くなり、プローブとしての内部抵抗も非常に小さくなる
。
（実施例）
以下、本発明の実施例を図面を参照して説明する。
第１図は本発明の一実施例の断面図であり、同図に示す
ように、プローブ容器本体８内に被測定塗膜と接触する
凸面部を有するスポンジ状電極９を収納し、このスポン
ジ状電極９に導電性ゲルを浸みこませである。
ように、プローブ容器本体８内に被測定塗膜と接触する
凸面部を有するスポンジ状電極９を収納し、このスポン
ジ状電極９に導電性ゲルを浸みこませである。
本実施例は第２図に示す従来例のように、スズ箔１０を
プローブ容器本体の内壁に貼り付けるのではなく、プロ
ーブ容器本体８の内壁にスズメッキ被膜２０を施すとと
もにプローブ容器本体８の底面に小さな孔１５をあけ、
その部分にもスズメッキ被膜２０を形成し、この被膜２
０にリード線１４を接続する。
プローブ容器本体の内壁に貼り付けるのではなく、プロ
ーブ容器本体８の内壁にスズメッキ被膜２０を施すとと
もにプローブ容器本体８の底面に小さな孔１５をあけ、
その部分にもスズメッキ被膜２０を形成し、この被膜２
０にリード線１４を接続する。
この他のプローブ構成、すなわち導電性ゲルを含んだス
ポンジ状電極９、素地金属の塗膜に付着させるガイドリ
ング１３、マグネット１２などの構成は従来のプローブ
構成と同一である。
ポンジ状電極９、素地金属の塗膜に付着させるガイドリ
ング１３、マグネット１２などの構成は従来のプローブ
構成と同一である。
また、プローブ容器本体８内壁へのメッキは無電解メッ
キで容易に可能であり、メッキ液に浸かる部分は付着で
きるので、プローブ底面の孔１５部分にも容易にメッキ
できる。さらに、スズメッキの他に、白金、金などの材
料は分極も小さくなるので、これらの材料を用いて、プ
ローブ容器本体８内壁にメッキしてもよい。
キで容易に可能であり、メッキ液に浸かる部分は付着で
きるので、プローブ底面の孔１５部分にも容易にメッキ
できる。さらに、スズメッキの他に、白金、金などの材
料は分極も小さくなるので、これらの材料を用いて、プ
ローブ容器本体８内壁にメッキしてもよい。
本実施例は上述したように、スポンジ状電極９をスズメ
ッキ被膜２０で包み、しかも、接地端子の介在もなくし
た構成となっているので、第２図に示した従来のプロー
ブよりも１／Ｉｎ程度の抵抗となり、プローブの内部抵
抗を少なくすることができる。また測定の誤差も従来の
１１５程度に低下できる。 さらにスズメッキしたこと
によって、今迄、測定のたびにスズ箔などを貼り付でい
たのがなくなり、また、取付中に破れたりすることもな
い。
ッキ被膜２０で包み、しかも、接地端子の介在もなくし
た構成となっているので、第２図に示した従来のプロー
ブよりも１／Ｉｎ程度の抵抗となり、プローブの内部抵
抗を少なくすることができる。また測定の誤差も従来の
１１５程度に低下できる。 さらにスズメッキしたこと
によって、今迄、測定のたびにスズ箔などを貼り付でい
たのがなくなり、また、取付中に破れたりすることもな
い。
［発明の効果］
以上説明したように、本発明によれば、塗膜測定用プロ
ーブの内部抵抗が小さくできるので、塗膜インピーダン
ス測定値への影響も少なくなり、測定誤差も低減できる
。さらに、プローブの取扱いも簡単にでき、作業性も向
上するというすぐれた効果を有する。
ーブの内部抵抗が小さくできるので、塗膜インピーダン
ス測定値への影響も少なくなり、測定誤差も低減できる
。さらに、プローブの取扱いも簡単にでき、作業性も向
上するというすぐれた効果を有する。
第１図は本発明の一実施例の断面図、第２図は従来の塗
膜測定用プローブの断面図、第３図は塗膜インピーダン
ス測定の原理を示す概念図である。 １・・・素地金属 ２・・・塗膜 ３・・・導電性ゲル ４・・・測定用電極 ５・・・電流計 ６・・・交流電源 ７・・・電圧計 ８・・・プローブ容器本体 ９・・・スポンジ状電極 １０・・・スズ箔 １１・・・接地端子 １２・・・マグネット １３・・・ガイドリング １４・・・外部リード線 １５・・・小孔 ２０・・・スズメッキ被膜 （８７３３）代理人 弁理士 猪 股 祥（ほか １名）
膜測定用プローブの断面図、第３図は塗膜インピーダン
ス測定の原理を示す概念図である。 １・・・素地金属 ２・・・塗膜 ３・・・導電性ゲル ４・・・測定用電極 ５・・・電流計 ６・・・交流電源 ７・・・電圧計 ８・・・プローブ容器本体 ９・・・スポンジ状電極 １０・・・スズ箔 １１・・・接地端子 １２・・・マグネット １３・・・ガイドリング １４・・・外部リード線 １５・・・小孔 ２０・・・スズメッキ被膜 （８７３３）代理人 弁理士 猪 股 祥（ほか １名）
Claims (1)
- プローブ容器本体内に被測定塗膜に接触する凸面部を有
するスポンジ状電極を収納し、このスポンジ状電極に導
電性ゲルを含浸した塗膜測定用プローブにおいて、前記
容器本体内の内壁にスズ・白金などの分極性の小さい材
料をメッキし、このメッキ層に外部リード線を接続した
ことを特徴とする塗膜測定用プローブ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32708689A JP2670371B2 (ja) | 1989-12-19 | 1989-12-19 | 塗膜測定用プローブ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32708689A JP2670371B2 (ja) | 1989-12-19 | 1989-12-19 | 塗膜測定用プローブ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03188364A true JPH03188364A (ja) | 1991-08-16 |
| JP2670371B2 JP2670371B2 (ja) | 1997-10-29 |
Family
ID=18195135
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP32708689A Expired - Lifetime JP2670371B2 (ja) | 1989-12-19 | 1989-12-19 | 塗膜測定用プローブ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2670371B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011105980A (ja) * | 2009-11-16 | 2011-06-02 | Hitachi-Ge Nuclear Energy Ltd | 原子炉炉内構造物表面の電解エッチング方法および装置 |
-
1989
- 1989-12-19 JP JP32708689A patent/JP2670371B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011105980A (ja) * | 2009-11-16 | 2011-06-02 | Hitachi-Ge Nuclear Energy Ltd | 原子炉炉内構造物表面の電解エッチング方法および装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2670371B2 (ja) | 1997-10-29 |
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