JPH0151122B2 - - Google Patents
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- JPH0151122B2 JPH0151122B2 JP57083875A JP8387582A JPH0151122B2 JP H0151122 B2 JPH0151122 B2 JP H0151122B2 JP 57083875 A JP57083875 A JP 57083875A JP 8387582 A JP8387582 A JP 8387582A JP H0151122 B2 JPH0151122 B2 JP H0151122B2
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- circuit
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 13
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims description 13
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims description 8
- 230000003321 amplification Effects 0.000 claims description 7
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 claims description 7
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 claims description 5
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 1
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M17/00—Testing of vehicles
- G01M17/007—Wheeled or endless-tracked vehicles
- G01M17/02—Tyres
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B21/00—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
- G01B21/30—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring roughness or irregularity of surfaces
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は空気入りタイヤの側壁に生じている微
小な凹突を正確に検出することが可能な凹突検出
装置に関する。
小な凹突を正確に検出することが可能な凹突検出
装置に関する。
自動車タイヤの品質に関する需要者の関心は頓
に高まつてきて、耐久性のほかにタイヤのバラン
スとユニフオーミテイの良好なことが強く望まれ
ており、そのためにタイヤ製造側においては、タ
イヤのバランス、ユニフオーミテイの測定、修正
ならびに合否判定を生産工程の重要な一部として
組み入れている。
に高まつてきて、耐久性のほかにタイヤのバラン
スとユニフオーミテイの良好なことが強く望まれ
ており、そのためにタイヤ製造側においては、タ
イヤのバランス、ユニフオーミテイの測定、修正
ならびに合否判定を生産工程の重要な一部として
組み入れている。
さらにタイヤ製造過程にあつて、タイヤカーカ
スを構成するタイヤコードの接合部の重なりが過
不足を生じたり、側壁ゴム、インナーライナの接
合部における重なりが過不足することによつて、
往々にして発生するタイヤ側壁表面の微小な凹突
に対しても需要者は敏感に反応して、これ等凹突
がタイヤの耐久性、バランス、ユニフオーミテイ
など安全性や乗り心地には凡そ関係がないにも拘
らず品質の劣悪な製品として不信感を招く結果と
なり、購入を避ける傾向が強いので、製造側にお
いては内圧充填状態で一定値を超える凹突を側壁
部に有するタイヤは不良品として排除するように
している。
スを構成するタイヤコードの接合部の重なりが過
不足を生じたり、側壁ゴム、インナーライナの接
合部における重なりが過不足することによつて、
往々にして発生するタイヤ側壁表面の微小な凹突
に対しても需要者は敏感に反応して、これ等凹突
がタイヤの耐久性、バランス、ユニフオーミテイ
など安全性や乗り心地には凡そ関係がないにも拘
らず品質の劣悪な製品として不信感を招く結果と
なり、購入を避ける傾向が強いので、製造側にお
いては内圧充填状態で一定値を超える凹突を側壁
部に有するタイヤは不良品として排除するように
している。
この場合、凹突の存否の検査は通常検査員の視
覚、触感により行われているが、判定が不正確に
なり易くかつ多くの工数を要するので機械化が強
く望まれている。
覚、触感により行われているが、判定が不正確に
なり易くかつ多くの工数を要するので機械化が強
く望まれている。
その対策として例えば特開昭52−69659号にも
示される如き検出装置があるが、これは連結板上
に該連結板と被測定タイヤの表面との距離を一定
に保つための回転ローラと微小な凹突の検出ロー
ラとを設けた構成であるが、前記両ローラとの取
付け距離や被測定タイヤの回転速度に限界があつ
て能率的でなく、実用装置としては満足のゆくも
のではなかつた。
示される如き検出装置があるが、これは連結板上
に該連結板と被測定タイヤの表面との距離を一定
に保つための回転ローラと微小な凹突の検出ロー
ラとを設けた構成であるが、前記両ローラとの取
付け距離や被測定タイヤの回転速度に限界があつ
て能率的でなく、実用装置としては満足のゆくも
のではなかつた。
本発明はかゝる従来の問題点に着目して、検出
精度が高く、かつ能率的にタイヤ側壁の微小凹突
を検出し得る装置を提供するべく成されたもので
あつて、特に検出器によつて非接触下の光電変換
的に検出したタイヤ側壁の変位を、一定時間々隔
毎にサンプリングした原信号と、予め決定されて
なるサンプリング数だけ極く短時間遅らせ発生せ
しめた前記原信号と同値の信号との差を求めるこ
とによつて凹突を電気信号として確実に検出し得
る如くした構成を特徴とする。
精度が高く、かつ能率的にタイヤ側壁の微小凹突
を検出し得る装置を提供するべく成されたもので
あつて、特に検出器によつて非接触下の光電変換
的に検出したタイヤ側壁の変位を、一定時間々隔
毎にサンプリングした原信号と、予め決定されて
なるサンプリング数だけ極く短時間遅らせ発生せ
しめた前記原信号と同値の信号との差を求めるこ
とによつて凹突を電気信号として確実に検出し得
る如くした構成を特徴とする。
以下、添付図面を参照しつつ本発明の１例につ
いて詳述する。
いて詳述する。
第１図は本発明装置の１例の概要示構造図であ
つて、被測定タイヤＴは図示しない測定用リムに
装着されて、所定圧力の圧縮空気の充填下で通常
は水平に保持し回転装置によつて所定速度で回転
させるが、勿論水平以外の姿勢でもよく、要はタ
イヤ中心軸まわりに所定速度で回転せしめる。
つて、被測定タイヤＴは図示しない測定用リムに
装着されて、所定圧力の圧縮空気の充填下で通常
は水平に保持し回転装置によつて所定速度で回転
させるが、勿論水平以外の姿勢でもよく、要はタ
イヤ中心軸まわりに所定速度で回転せしめる。
１は検出器で検出ヘツド２例えば光学式非接触
変位検出器と、処理器３とからなつており、その
投射光線が被測定タイヤＴの測定周面に直角にな
る方向に所定距離を隔てて取付けられており、前
記投射光線の反射光線を受光し、その光量を電流
に変換して処理器３に送るようになつている。
変位検出器と、処理器３とからなつており、その
投射光線が被測定タイヤＴの測定周面に直角にな
る方向に所定距離を隔てて取付けられており、前
記投射光線の反射光線を受光し、その光量を電流
に変換して処理器３に送るようになつている。
上記処理器３は検出ヘツド２の出力電流を電圧
に変換し増巾して演算器Ｃに送るための増巾器で
ある。
に変換し増巾して演算器Ｃに送るための増巾器で
ある。
４は前記タイヤＴとの同期回転可能に設けたロ
ータで、固定した近接スイツチ５と組合わされて
該スイツチ５を開閉してタイヤＴの１回転ごとに
１回のパルスを発生させ演算器Ｃに送るようにな
つている。
ータで、固定した近接スイツチ５と組合わされて
該スイツチ５を開閉してタイヤＴの１回転ごとに
１回のパルスを発生させ演算器Ｃに送るようにな
つている。
６はパルスエンコーダで、タイヤＴと同期回転
して、タイヤＴの１回転毎に所定数のパルスを発
生し演算器Ｃに送らせる。
して、タイヤＴの１回転毎に所定数のパルスを発
生し演算器Ｃに送らせる。
前記演算器Ｃは第２図にブロツク示する構成で
あつて、サンプリング回路７、遅延回路８、差動
増巾回路９および比較回路１０からなつている。
あつて、サンプリング回路７、遅延回路８、差動
増巾回路９および比較回路１０からなつている。
サンプリング回路７は前記処理器２の出力電圧
信号を一定時間々隔毎にサンプリングする周知の
回路であつて、パルスエンコーダ６からの同期パ
ルス信号に応じて作動し、差動増巾回路９および
遅延回路８に出力を発する。
信号を一定時間々隔毎にサンプリングする周知の
回路であつて、パルスエンコーダ６からの同期パ
ルス信号に応じて作動し、差動増巾回路９および
遅延回路８に出力を発する。
遅延回路８はパルスエンコーダ６の同期信号に
応じて作動し、検出目標とする微小な凹突に対応
する範囲の波長域を前記サンプリング間隔に換算
した予め決定されてなるサンプリング数に見合つ
て極く短い時間だけ遅延して出力するようになつ
ている。
応じて作動し、検出目標とする微小な凹突に対応
する範囲の波長域を前記サンプリング間隔に換算
した予め決定されてなるサンプリング数に見合つ
て極く短い時間だけ遅延して出力するようになつ
ている。
差動増巾回路９はパルスエンコーダ６の同期信
号を受けると、サンプリング回路７の出力から遅
延回路８の出力を減じる差算を行つて比例増巾し
た出力を発する。
号を受けると、サンプリング回路７の出力から遅
延回路８の出力を減じる差算を行つて比例増巾し
た出力を発する。
比較回路１０は差動増巾回路９の出力と予め決
められた許容値（基準値）との比較を行い、出力
が許容値より大きいか小さいかの違いによる信号
を合否信号として発する。
められた許容値（基準値）との比較を行い、出力
が許容値より大きいか小さいかの違いによる信号
を合否信号として発する。
以上述べた構成になる検出装置による凹突部検
出の態様を以下説明すると、被測定タイヤＴを内
圧充填の状態で前記回転装置により回転せしめ、
検出ヘツド２とタイヤ側壁面との間に所定関係位
置を保持せしめる。
出の態様を以下説明すると、被測定タイヤＴを内
圧充填の状態で前記回転装置により回転せしめ、
検出ヘツド２とタイヤ側壁面との間に所定関係位
置を保持せしめる。
検出器１は予めその投射光線がタイヤＴの測定
周表面と直角になるよう調整を行つておく。検出
ヘツド２はタイヤＴの測定周表面からの反射光線
を受光するが、その際、反射光線量は検出ヘツド
２とタイヤＴの測定面との距離に応じ変化するの
で、受光部はタイヤＴの測定表面の変位に比例す
る反射光線を受光してこれを電流に変換し処理器
３に送る。
周表面と直角になるよう調整を行つておく。検出
ヘツド２はタイヤＴの測定周表面からの反射光線
を受光するが、その際、反射光線量は検出ヘツド
２とタイヤＴの測定面との距離に応じ変化するの
で、受光部はタイヤＴの測定表面の変位に比例す
る反射光線を受光してこれを電流に変換し処理器
３に送る。
上記処理器３はこの出力電流を電圧に変換しか
つ増巾して演算器Ｃに送る。
つ増巾して演算器Ｃに送る。
ところで処理器３が発する出力電圧信号は、第
３図イにおいて例示しているが、タイヤＴの表面
の変位を表わす波形のうち、周期の長い波形はタ
イヤ表面の周期の長い凹突やタイヤ巾の不同によ
る変位であり、一方、周期の短い波形はタイヤ表
面の微小な凹突にもとづく変位である。
３図イにおいて例示しているが、タイヤＴの表面
の変位を表わす波形のうち、周期の長い波形はタ
イヤ表面の周期の長い凹突やタイヤ巾の不同によ
る変位であり、一方、周期の短い波形はタイヤ表
面の微小な凹突にもとづく変位である。
従つて周期の短い変化率の大なる波形と、周期
の長い変化のゆるやかな波形とを区別することに
よつて凹突部の検出が可能となるのは当然であ
る。
の長い変化のゆるやかな波形とを区別することに
よつて凹突部の検出が可能となるのは当然であ
る。
演算器Ｃはエンコーダ６からのパルスを受ける
度毎に、その時点での処理器３より受け入れた信
号から第３図イの原信号と第３図ロの遅延信号と
の２種の信号を取り出して、両信号の差を算出
し、周期の長い凹突やタイヤ巾の不同に起因する
信号の部分は、第３図ハから明らかなように差が
少くて略々相殺されることとなり、一方、微小な
凹突に起因する信号の部分は変化率が大きいため
に信号の差も大きくなつて、第３図ハに示す如く
タイヤ側壁表面に形成された微小な凹突に起因す
る信号要素だけが顕著に現出してなる波形の信号
が差動増巾回路９から出力される。
度毎に、その時点での処理器３より受け入れた信
号から第３図イの原信号と第３図ロの遅延信号と
の２種の信号を取り出して、両信号の差を算出
し、周期の長い凹突やタイヤ巾の不同に起因する
信号の部分は、第３図ハから明らかなように差が
少くて略々相殺されることとなり、一方、微小な
凹突に起因する信号の部分は変化率が大きいため
に信号の差も大きくなつて、第３図ハに示す如く
タイヤ側壁表面に形成された微小な凹突に起因す
る信号要素だけが顕著に現出してなる波形の信号
が差動増巾回路９から出力される。
従つて比較回路１０において基準値となる設定
値との比較を行つて合否の判定を自動的に行わせ
ることができ安定した検査結果と、検査工数の節
減が得られる。
値との比較を行つて合否の判定を自動的に行わせ
ることができ安定した検査結果と、検査工数の節
減が得られる。
上述例における演算器Ｃはアナログ回路で構成
したものを示しているが、これをデイジタルコン
ピユータに代替することは容易であつて、この場
合には前記サンプリング数を測定タイヤのサイズ
毎に複数個設定することが可能であり、また必要
ならば、実際にはある巾を持つ微小な凹突の波長
域に対し、同一測定において遅延パルス数を複数
個設けることで測定誤差を小さくすることも容易
である。
したものを示しているが、これをデイジタルコン
ピユータに代替することは容易であつて、この場
合には前記サンプリング数を測定タイヤのサイズ
毎に複数個設定することが可能であり、また必要
ならば、実際にはある巾を持つ微小な凹突の波長
域に対し、同一測定において遅延パルス数を複数
個設けることで測定誤差を小さくすることも容易
である。
本発明は以上述べたように、回転するタイヤの
側壁表面の変位を検出器１により検出し、その検
出した変位量に比例関係を有する信号電圧と、こ
れに等値でかつ所定サンプリング数遅延した信号
電圧とを発生させて、演算器Ｃにより両信号の差
を算出してタイヤ表面に存在する微小な凹突にも
とづく変位だけを取り出すようにしたので、簡単
な回路構成でありながら測定精度を高くすること
ができる。
側壁表面の変位を検出器１により検出し、その検
出した変位量に比例関係を有する信号電圧と、こ
れに等値でかつ所定サンプリング数遅延した信号
電圧とを発生させて、演算器Ｃにより両信号の差
を算出してタイヤ表面に存在する微小な凹突にも
とづく変位だけを取り出すようにしたので、簡単
な回路構成でありながら測定精度を高くすること
ができる。
さらに、高速下での測定に際しても正確に応答
することが可能であつて検査の合理化に寄与する
ところ大なるものがある。
することが可能であつて検査の合理化に寄与する
ところ大なるものがある。
また、検出器を被測定タイヤの両側に設けるこ
とによつて同時に両側壁の検査も可能であり、必
要に応じて片側に複数個設け数個所の測定周面に
対し同時測定が可能であるなど本発明の適用範囲
は頗る広汎であつて、実用価値の大なる凹突検出
装置である。
とによつて同時に両側壁の検査も可能であり、必
要に応じて片側に複数個設け数個所の測定周面に
対し同時測定が可能であるなど本発明の適用範囲
は頗る広汎であつて、実用価値の大なる凹突検出
装置である。
第１図は本発明装置例に係る概要示構造図、第
２図は第１図における演算器のブロツク示回路
図、第３図イ〜ハは本発明装置例に係る各出力部
の出力信号線図で、イはサンプリング回路の出力
電圧、ロは遅延回路の出力電圧、ハは差動増巾回
路の出力電圧を夫々示す。 Ｔ……被測定タイヤ、１……検出器、２……検
出ヘツド、３……処理器、６……パルスエンコー
ダ、７……サンプリング回路、８……遅延回路、
９……差動増幅回路、１０……比較回路。
２図は第１図における演算器のブロツク示回路
図、第３図イ〜ハは本発明装置例に係る各出力部
の出力信号線図で、イはサンプリング回路の出力
電圧、ロは遅延回路の出力電圧、ハは差動増巾回
路の出力電圧を夫々示す。 Ｔ……被測定タイヤ、１……検出器、２……検
出ヘツド、３……処理器、６……パルスエンコー
ダ、７……サンプリング回路、８……遅延回路、
９……差動増幅回路、１０……比較回路。
Claims (1)
- １ 被測定タイヤＴを所定圧力の圧縮空気の充填
下でタイヤ中心軸まわりに所定速度で回転させる
回転装置、前記被測定タイヤＴの側壁表面におけ
るタイヤ巾方向の物理的変位を前記タイヤＴから
定距離隔てて設けた検出ヘツド２によつて直角投
視光線に対する反射光線の受光量変化で検出し、
かつ、該受光量変化を処理器３により、電圧信号
に変換する検出器１、前記被測定タイヤＴの１回
転毎に所定数のパルス信号を発生するパルスエン
コーダ６、該パルスエンコーダ６のパルス信号に
応じて作動し、前記検出器１の電圧信号を一定時
間間隔毎にサンプリングするサンプリング回路
７、前記検出器１からの電圧信号のうち検出目標
である微小な凹突に対応する範囲の波長域を前記
サンプリング間隔に換算した予め決定されてなる
サンプリング数に見合つて極く短時間遅延させて
出力する遅延回路８、前記サンプリング回路７か
らの原信号と前記遅延回路８からの遅延信号との
差を求める差増幅回路９、該差増幅回路９の出力
を予め設定された許容値と比較して合否を決定す
る比較回路１０からなることを特徴とするタイヤ
側壁の凹突検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57083875A JPS58200140A (ja) | 1982-05-17 | 1982-05-17 | タイヤ側壁の凹突検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57083875A JPS58200140A (ja) | 1982-05-17 | 1982-05-17 | タイヤ側壁の凹突検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58200140A JPS58200140A (ja) | 1983-11-21 |
| JPH0151122B2 true JPH0151122B2 (ja) | 1989-11-01 |
Family
ID=13814825
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57083875A Granted JPS58200140A (ja) | 1982-05-17 | 1982-05-17 | タイヤ側壁の凹突検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58200140A (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0713564B2 (ja) * | 1988-02-12 | 1995-02-15 | 住友ゴム工業株式会社 | タイヤのサイドウォールの検査装置 |
| WO2010071657A1 (en) * | 2008-12-19 | 2010-06-24 | Michelin Recherche Et Technique, S.A. | Filtering method to eliminate tread features in geometric tire measurements |
| US8712720B2 (en) | 2008-12-19 | 2014-04-29 | Michelin Recherche at Technigue S.A. | Filtering method for improving the data quality of geometric tire measurements |
| EP2580567B1 (en) | 2010-06-14 | 2019-05-29 | Compagnie Générale des Etablissements Michelin | Method for prediction and control of harmonic components of tire uniformity parameters |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4866886A (ja) * | 1971-12-17 | 1973-09-13 | ||
| JPS5269659A (en) * | 1975-12-09 | 1977-06-09 | Yokohama Rubber Co Ltd | Apparatus for detecting bumpiness of tire |
| JPS55136943A (en) * | 1979-04-12 | 1980-10-25 | Hitachi Cable Ltd | Inspection apparatus for surface condition |
-
1982
- 1982-05-17 JP JP57083875A patent/JPS58200140A/ja active Granted
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4866886A (ja) * | 1971-12-17 | 1973-09-13 | ||
| JPS5269659A (en) * | 1975-12-09 | 1977-06-09 | Yokohama Rubber Co Ltd | Apparatus for detecting bumpiness of tire |
| JPS55136943A (en) * | 1979-04-12 | 1980-10-25 | Hitachi Cable Ltd | Inspection apparatus for surface condition |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58200140A (ja) | 1983-11-21 |
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