JPH0151055B2 - - Google Patents

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JPH0151055B2
JPH0151055B2 JP59158847A JP15884784A JPH0151055B2 JP H0151055 B2 JPH0151055 B2 JP H0151055B2 JP 59158847 A JP59158847 A JP 59158847A JP 15884784 A JP15884784 A JP 15884784A JP H0151055 B2 JPH0151055 B2 JP H0151055B2
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JP
Japan
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die
tape
bonding
lead
positioning
Prior art date
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Expired
Application number
JP59158847A
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Japanese (ja)
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JPS60121733A (en
Inventor
Yasunobu Suzuki
Seiichi Chiba
Akihiro Nishimura
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shinkawa Ltd
Original Assignee
Shinkawa Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Shinkawa Ltd filed Critical Shinkawa Ltd
Priority to JP15884784A priority Critical patent/JPS60121733A/en
Publication of JPS60121733A publication Critical patent/JPS60121733A/en
Publication of JPH0151055B2 publication Critical patent/JPH0151055B2/ja
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01039Yttrium [Y]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01082Lead [Pb]

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Wire Bonding (AREA)
  • Die Bonding (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 (発明の利用分野) 本発明はキヤリアテープ(以下テープという)
に等間隔に予め設けられたリードにダイをボンデ
イングするインナーリードボンダーに関する。
[Detailed Description of the Invention] (Field of Application of the Invention) The present invention relates to carrier tape (hereinafter referred to as tape)
This invention relates to an inner lead bonder for bonding a die to leads provided in advance at equal intervals.

(従来技術) 従来のインナーリードボンダーは、等間隔に分
割された複数のダイからなるウエフアをXYZ方
向に駆動されるテーブル上に位置決め載置し、こ
のテーブルの上方に間欠移送されるテープを配設
してなり、テープの上方に配設されたボンデイン
グツールで直接テープをダイに押圧してボンデイ
ングする。
(Prior art) In a conventional inner lead bonder, a wafer consisting of a plurality of dies divided at equal intervals is positioned and placed on a table that is driven in the XYZ directions, and a tape that is intermittently transferred is placed above the table. A bonding tool placed above the tape directly presses the tape against the die for bonding.

(従来技術の問題点) しかしながら、この方法はダイとリードを同一
の光学軸を用いて重ね合わせて映し、位置合わせ
のための認識処理を行う。このために、ダイ表面
の光の反射の具合や、リードのメツキや材質、リ
ードを形成するテープ自身の材質などによつて、
認識を行わせるための条件の設定が非常に難し
く、また試料(ダイやテープ)が変更になる時に
は装置を長時間ストツプさせて調整作業を行わな
ければならないという問題があつた。
(Problems with the Prior Art) However, in this method, the die and the lead are imaged overlappingly using the same optical axis, and recognition processing for alignment is performed. For this reason, depending on the degree of light reflection on the die surface, the plating and material of the leads, and the material of the tape itself that forms the leads,
There were problems in that it was very difficult to set the conditions for recognition, and when the sample (die or tape) was changed, the equipment had to be stopped for a long time to make adjustments.

またウエフアはセラミツクやガラス等のプレー
トに低融点の接着剤で貼り付け、これを等間隔に
分割してなるので、前記のようにテープをウエフ
ア上で直接に押付けてボンデイングする方法は、
ボンデイング時にボンデイングしたダイの周辺の
ダイにボンデイングツールの熱が加わり、接着剤
が溶けて容易にダイの位置がずれると共に、隣接
するダイのスライシングラインから接着剤が溶け
て毛細管現象等によつて隣接するダイの表面に上
つてダイを汚してしまうことがある。
In addition, the wafer is attached to a plate made of ceramic or glass with a low-melting adhesive and is divided into equal intervals, so the method of bonding by pressing the tape directly onto the wafer as described above is
During bonding, the heat from the bonding tool is applied to the dies surrounding the bonded die, melting the adhesive and easily shifting the position of the die, as well as melting the adhesive from the slicing line of the adjacent die and causing the adjoining die to become separated due to capillary action, etc. It may rise to the surface of the die and contaminate the die.

またボンデイングするダイと隣接するダイのパ
ツドにボンデイングするテープのインナーリード
が触れないように、ボンデイングツール近傍のイ
ンナーリード部がダイから離れるように湾曲して
配置しなければならなく、テープに悪影響を及ぼ
す。
In addition, in order to prevent the inner leads of the bonding tape from touching the pads of the adjacent dies, the inner leads near the bonding tool must be curved away from the die, which may have a negative impact on the tape. affect

(発明の目的) 本発明の目的は、前記技術の欠点を除去するこ
とができるインナーリードボンダーを提供するこ
とにある。
(Object of the Invention) An object of the present invention is to provide an inner lead bonder that can eliminate the drawbacks of the above techniques.

(発明の実施例) 以下、本発明を図示の実施例により説明する。
第1図は本発明の一実施例を示す全体斜視図、第
2図は第1図の平面図、第3図は第2図の矢視3
−3部分の側面説明図である。ボンデイングツー
ル10を有するボンデイングヘツド11の両側に
は、テープローダ部12及びテープアンローダ部
13がそれぞれ架台14上に配設されている。前
記テープローダ部12にはリール15が回転自在
に支承されており、このリール15にはリードが
等間隔に設けられたテープ16とこのテープのリ
ードを保護するスペーサテープ17とが重ね合せ
られて巻回されている。前記テープアンローダ部
13には前記テープ16とスペーサテープ17と
を重ね合せて巻き取るためのリール18が回転自
在に支承されており、このリール18はリール駆
動用モータ(図示せず)で駆動される。
(Embodiments of the Invention) The present invention will be described below with reference to illustrated embodiments.
FIG. 1 is an overall perspective view showing an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a plan view of FIG. 1, and FIG. 3 is a view taken from the arrow 3 in FIG.
- It is a side explanatory view of 3 parts. On both sides of the bonding head 11 having the bonding tool 10, a tape loader section 12 and a tape unloader section 13 are respectively disposed on a pedestal 14. A reel 15 is rotatably supported on the tape loader section 12, and a tape 16 having leads provided at equal intervals and a spacer tape 17 for protecting the leads of this tape are superimposed on the reel 15. It is wrapped. A reel 18 for overlapping and winding the tape 16 and spacer tape 17 is rotatably supported on the tape unloader section 13, and this reel 18 is driven by a reel driving motor (not shown). Ru.

またリール15に巻回されたテープ16をボン
デイングツール10の下方及びリール18側に案
内するために、テープローダ部12及びテープア
ンローダ部13にはそれぞれテープガイドローラ
20,21,22,23が回転自在に配設されて
いる。またボンデイングツール10の両側にはテ
ープガイドローラ24,25が、このテープガイ
ドローラ24,25の両側にはテープ16の両側
に形成されたスプロケツト孔に係合するスプロケ
ツトホイル26,27が、更にこのスプロケツト
ホイル26,27の両側にテープガイドローラ2
8,29がそれぞれテープ位置調整板30に回転
自在に取付けられている。前記テープ位置調整板
30はXY方向に駆動されるXYテーブル31に
固定されている。また前記一方のスプロケツトホ
イル27はステツピングモータ(図示せず)で一
方向に回転駆動させられる。またリール15に巻
回されたスペーサテープ17をリール18側に案
内するために、テープローダ部12及びテープア
ンローダ部13にはそれぞれスペーサテープガイ
ドローラ32,33が回転自在に取付けられてい
る。
Further, in order to guide the tape 16 wound around the reel 15 below the bonding tool 10 and toward the reel 18, tape guide rollers 20, 21, 22, and 23 rotate in the tape loader section 12 and the tape unloader section 13, respectively. It is freely arranged. Furthermore, tape guide rollers 24 and 25 are provided on both sides of the bonding tool 10, and sprocket foils 26 and 27 that engage with sprocket holes formed on both sides of the tape 16 are further provided on both sides of the tape guide rollers 24 and 25. Tape guide rollers 2 are installed on both sides of the sprocket wheels 26 and 27.
8 and 29 are each rotatably attached to the tape position adjustment plate 30. The tape position adjustment plate 30 is fixed to an XY table 31 that is driven in the XY directions. Further, the one sprocket wheel 27 is rotationally driven in one direction by a stepping motor (not shown). In order to guide the spacer tape 17 wound around the reel 15 toward the reel 18, spacer tape guide rollers 32 and 33 are rotatably attached to the tape loader section 12 and the tape unloader section 13, respectively.

前記ボンデイングツール10の下方には、回転
及び上下に駆動される回転テーブル40がその回
転中心をボンデイングツール10より偏位させて
配設されており、回転テーブル40はXY方向に
駆動されるXYテーブル41に搭載されている。
また回転テーブル40にはボンデイングツール1
0の真下及びこの真下の位置と同心円上にダイ載
置台42A,42Bが固定されている。前記ダイ
載置台42Bの上方には、対向した一対のダイ位
置決め爪43A,43Bがダイ載置台42A,4
2Bの移動をさまたげない隙間を保つて配設され
ており、これらダイ位置決め爪43A,43Bは
図示しない駆動機構により開閉されるようになつ
ている。
Below the bonding tool 10, a rotary table 40 that rotates and is driven up and down is arranged with its center of rotation deviated from the bonding tool 10, and the rotary table 40 is an XY table that is driven in the XY direction. It is installed on 41.
In addition, the rotary table 40 has a bonding tool 1.
Die mounting tables 42A and 42B are fixed directly below 0 and concentrically with the position directly below this. A pair of opposing die positioning claws 43A, 43B are provided above the die mounting base 42B.
These die positioning claws 43A, 43B are opened and closed by a drive mechanism (not shown).

前記ダイ位置決め爪43A,43Bの前方(ボ
ンデイングツール10と反対側)には、ウエフア
載置用XYテーブル50が配設されており、この
ウエフア載置用XYテーブル50上には等間隔に
分割された複数のダイ51からなるウエフア52
が固定されたウエフア基板53が位置決め固定さ
れている。またウエフア載置用XYテーブル50
の内側には、このウエフア載置用XYテーブル5
0に位置決め載置されたウエフア基板53のウエ
フア52の裏面を真空吸着するプランジヤ54が
上下動可能に配設されており、このプランジヤ5
4内には1個のダイ51を突き上げる突き上げ針
55が上下動可能に配設されている。前記ダイ位
置決め爪43A,43Bとウエフア載置用XYテ
ーブル50との間には、ウエフア載置用XYテー
ブル50上の1個のダイ51を真空吸着して前記
ダイ位置決め爪43A,43B部に位置するダイ
載置台42B上に移送する上下動及び揺動可能な
ダイ移送レバー56が配設されている。
A wafer mounting XY table 50 is provided in front of the die positioning claws 43A, 43B (on the opposite side from the bonding tool 10). A wafer 52 consisting of a plurality of dies 51
A wafer substrate 53 on which is fixed is positioned and fixed. Also, XY table 50 for wafer placement.
Inside is this XY table 5 for placing the wafer.
A plunger 54 for vacuum suctioning the back side of the wafer 52 of the wafer substrate 53 positioned at
A push-up needle 55 for pushing up one die 51 is disposed within the die 4 so as to be movable up and down. Between the die positioning claws 43A, 43B and the wafer mounting XY table 50, one die 51 on the wafer mounting XY table 50 is vacuum-adsorbed and positioned at the die positioning claws 43A, 43B. A die transfer lever 56 that can move up and down and swing is disposed on the die mounting table 42B.

前記突き上げ針55の上方、即ちダイピツクア
ツプポジシヨン60の上方には、ダイ51の欠け
及び不良マーク等を検出するダイ不良検出用カメ
ラ61が配設され、一対のダイ位置決め爪43
A,43Bの上方、即ちダイ位置決めポジシヨン
62の上方には、ダイ51の位置パターンを検出
するダイ位置パターン検出用カメラ63が配設さ
れ、テープ16の上方でかつボンデイングツール
10の上方、即ちボンデイングポジシヨン64の
上方には、テープ16のリードの位置パターンを
検出するリード位置パターン検出用カメラ65が
配設されており、これらカメラ61,63,65
は架台14に固定されたカメラホルダー66に固
定されている。
Above the push-up needle 55, that is, above the die pick-up position 60, a die defect detection camera 61 for detecting chips, defective marks, etc. on the die 51 is disposed, and a pair of die positioning claws 43 are provided.
A die position pattern detection camera 63 for detecting the position pattern of the die 51 is disposed above the die positioning position 62, above the tape 16 and above the bonding tool 10, that is, above the die positioning position 62. A lead position pattern detection camera 65 for detecting the lead position pattern of the tape 16 is disposed above the position 64, and these cameras 61, 63, 65
is fixed to a camera holder 66 fixed to the frame 14.

次に作用について説明する。ウエフア基板53
がウエフア載置用XYテーブル50上に載置され
ると、ウエフア基板53はウエフア載置用XYテ
ーブル50上に図示しない位置決め機構で位置決
め固定される。次にウエフア載置用XYテーブル
50は図示しない駆動機構によりXY方向に駆動
され、ダイ51とXYテーブル50の軸との傾き
をθモータで補正した後、ピツクアツプされるダ
イ51がダイ不良検出用カメラ61の真下のダイ
ピツクアツプポジシヨンン60に移動させられ
る。そして、ダイ不良検出用カメラ61によつて
ダイ51の良、不良が検出される。ダイ51が不
良であると、次のダイ51がダイピツクアツプポ
ジシヨン60に移動され、同様にして検出され
る。ダイ51が良品であると、プランジヤ54が
上昇し、プランジヤ54の真空が働いてウエフア
52を真空吸着する。また同時にダイ移送レバー
56が図示しない駆動機構によりダイピツクアツ
プポジシヨン60の真上に回動させられ、続いて
下降させられる。これによりダイ移送レバー56
の先端に固定された真空吸着コレツト57が前記
検出された良品ダイ51に当接し、真空吸着コレ
ツト57の真空が働いてダイ51を吸着する。次
にダイ移送レバー56が上昇すると同時に突き上
げ針55が上昇し、ダイ51を突き上げる。これ
によりダイ51は真空吸着コレツト57に吸着さ
れてピツクアツプされる。その後ダイ移送レバー
56はダイ位置決めポジシヨン62の上方に回動
し、続いて下降させられる。これにより真空吸着
コレツト57に吸着されているダイ51がダイ載
置台42B上に当接し、真空吸着コレツト57の
真空が切れる。次にダイ移送レバー56はダイ5
1をダイ載置台42B上に残して上昇し、続いて
回動して元のスタート位置に戻る。また前記のよ
うにダイ移送レバー56の真空吸着コレツト57
によつてウエフア載置用XYテーブル50上より
ダイ51がピツクアツプされると、ウエフア載置
用XYテーブル50はXY方向に駆動され、次に
ピツクアツプされるダイ51がダイ不良検出用カ
メラ61によつて検出される。
Next, the effect will be explained. Wafer substrate 53
When the wafer substrate 53 is placed on the wafer placement XY table 50, the wafer substrate 53 is positioned and fixed on the wafer placement XY table 50 by a positioning mechanism (not shown). Next, the wafer mounting XY table 50 is driven in the XY direction by a drive mechanism (not shown), and after the inclination between the die 51 and the axis of the XY table 50 is corrected by a θ motor, the picked up die 51 is used for die defect detection. It is moved to a die pick-up position 60 directly below the camera 61. Then, the die defect detection camera 61 detects whether the die 51 is good or defective. If a die 51 is defective, the next die 51 is moved to the die pick-up position 60 and detected in the same manner. If the die 51 is a good product, the plunger 54 rises, and the vacuum of the plunger 54 acts to vacuum-adsorb the wafer 52. At the same time, the die transfer lever 56 is rotated by a drive mechanism (not shown) directly above the die pick-up position 60, and then lowered. As a result, the die transfer lever 56
A vacuum suction collet 57 fixed to the tip of the die 51 comes into contact with the detected good die 51, and the vacuum of the vacuum suction collet 57 works to suction the die 51. Next, at the same time as the die transfer lever 56 rises, the push-up needle 55 rises and pushes the die 51 up. As a result, the die 51 is attracted to the vacuum suction collet 57 and picked up. The die transfer lever 56 is then rotated above the die positioning position 62 and then lowered. As a result, the die 51 adsorbed by the vacuum suction collet 57 comes into contact with the die mounting table 42B, and the vacuum of the vacuum suction collet 57 is cut off. Next, the die transfer lever 56 moves the die 5
1 on the die mounting table 42B, and then rotates and returns to the original starting position. Further, as described above, the vacuum suction collet 57 of the die transfer lever 56
When the die 51 is picked up from the wafer mounting XY table 50 by the detected.

前記のようにダイ51がダイ載置台42B上に
載置されると、ダイ位置決め爪43A,43Bが
図示しない駆動機構により閉方向に移動させら
れ、ダイ51のX方向及びθ方向の位置が修正さ
れる。その後、ダイ位置決め爪43A,43Bは
開方向に移動させられる。ダイ51のX方向の位
置が修正されると、ダイ位置パターン検出用カメ
ラ63によつてダイ51のパターンのXY方向の
位置ずれが検出され、図示しない記憶装置に記憶
される。その後、回転テーブル40は180度回転
させられ、また回転と同時にXYテーブル41で
前記位置ずれを補正し、ダイ51が載置されたダ
イ載置台42Bはボンテイングポジシヨン62に
位置する。
When the die 51 is placed on the die mounting table 42B as described above, the die positioning claws 43A and 43B are moved in the closing direction by a drive mechanism (not shown), and the positions of the die 51 in the X direction and the θ direction are corrected. be done. Thereafter, the die positioning claws 43A, 43B are moved in the opening direction. When the position of the die 51 in the X direction is corrected, a positional shift of the pattern of the die 51 in the XY direction is detected by the die position pattern detection camera 63 and stored in a storage device (not shown). Thereafter, the rotary table 40 is rotated 180 degrees, and at the same time as the rotation, the XY table 41 corrects the positional deviation, and the die mounting table 42B on which the die 51 is mounted is located at the bonding position 62.

一方、スプロケツトホイル27が図示しない駆
動機構で間欠駆動される毎に、リール15に巻回
されたテープ16はテープガイドローラ20,2
1,28、スプロケツトホイル26、テープガイ
ドローラ24を経て送られ、テープ16のリード
がボンデイングポジシヨン64に送られる。また
スプロケツトホイル27とリール18間にたるん
だテープ16を図示しない検出手段で検知し、こ
れにより図示しない駆動機構によりリール18が
駆動され、テープ16はリール18に巻き取られ
る。また同時にリール15に巻回されたスペーサ
テープ17はスペーサテープガイドローラ32,
33を経てリール18にテープ16と一緒に重ね
て巻き取られる。この状態においては、ボンデイ
ングツール10はボンテイングポジシヨン64の
真上から後方に後退した位置に位置している。
On the other hand, each time the sprocket wheel 27 is intermittently driven by a drive mechanism (not shown), the tape 16 wound around the reel 15 is moved to the tape guide rollers 20, 2.
1, 28, a sprocket wheel 26, and a tape guide roller 24, and the lead of the tape 16 is sent to a bonding position 64. Further, the slack tape 16 between the sprocket wheel 27 and the reel 18 is detected by a detection means (not shown), and the reel 18 is thereby driven by a drive mechanism (not shown), and the tape 16 is wound onto the reel 18. At the same time, the spacer tape 17 wound around the reel 15 is moved by the spacer tape guide roller 32,
33, and is wound onto the reel 18 together with the tape 16. In this state, the bonding tool 10 is located at a position retracted rearward from directly above the bonding position 64.

このようにしてテープ16が送られ、テープ1
6のリードがボンデイングポジシヨンに位置する
と、テープ位置調整板30がXY方向に駆動さ
れ、テープ16のリードの検出位置をリード位置
パターン検出用カメラ65の下方に移動させてテ
ープ16のリードの検出位置が検出される。そし
て、前記のようにダイ位置パターン検出用カメラ
63によつて検出されたダイ51のパターンに対
するテープ16のリードのパターンの位置ずれが
図示しない演算装置によつて算出される。そし
て、再びテープ位置調整板30がXYテーブル3
1によつてXY方向に駆動され、前記算出されて
補正された位置にテープ16のリードを位置させ
る動作が行われる。XYテーブル31がXY方向
に駆動されると、テープ位置調整板30を介して
スプロケツトホイル26,27が移動させられ
る。スプロケツトホイル26,27の爪部はテー
プ16のスプロケツト孔に係合しているので、前
記のようにスプロケツトホイル26,27が移動
させられると、スプロケツトホイル26,27間
のテープ16の部分も移動させられる。これによ
り、ボンデイングポジシヨン64部におけるテー
プ16のリードのパターンがダイ51のパターン
に位置合せされる。
In this way, tape 16 is fed, and tape 1
When the lead No. 6 is located at the bonding position, the tape position adjustment plate 30 is driven in the XY direction, and the detection position of the lead of the tape 16 is moved below the lead position pattern detection camera 65 to detect the lead of the tape 16. The position is detected. Then, the positional deviation of the lead pattern of the tape 16 with respect to the pattern of the die 51 detected by the die position pattern detection camera 63 as described above is calculated by an arithmetic device (not shown). Then, the tape position adjustment plate 30 is moved to the XY table 3 again.
1 in the XY directions to position the lead of the tape 16 at the calculated and corrected position. When the XY table 31 is driven in the XY directions, the sprocket wheels 26 and 27 are moved via the tape position adjustment plate 30. Since the claws of the sprocket wheels 26 and 27 engage with the sprocket holes of the tape 16, when the sprocket wheels 26 and 27 are moved as described above, the tape 16 between the sprocket wheels 26 and 27 is moved. Parts can also be moved. As a result, the lead pattern of the tape 16 at the bonding position 64 is aligned with the pattern of the die 51.

次に回転テーブル40が上昇してダイ51がテ
ープ16のリードに圧接される。また同時にボン
デイングヘツド11が駆動されてボンデイングツ
ール10がボンデイングポジシヨン64の真上に
移動させられ、続いて下降してテープ16のリー
ドにダイ51をボンデイングする。その後、ボン
デイングツール10は上昇及び後退し、回転テー
ブル40は下降する。これにより、ダイボンデイ
ングの1サイクルが終了する。以後、上記動作を
繰返して順次ダイ51がテープ16のリードにボ
ンデイングされる。
Next, the rotary table 40 is raised and the die 51 is pressed against the leads of the tape 16. At the same time, the bonding head 11 is driven to move the bonding tool 10 directly above the bonding position 64, and then descend to bond the die 51 to the leads of the tape 16. Thereafter, the bonding tool 10 is raised and retreated, and the rotary table 40 is lowered. This completes one cycle of die bonding. Thereafter, the above operation is repeated to sequentially bond the die 51 to the leads of the tape 16.

このように、ダイ位置決めポジシヨン62で位
置決めされたダイ51の位置パターンはダイ位置
パターン検出用カメラ63で認識され、ボンデイ
ングポジシヨン64で位置決めされたテープ16
のリードの位置パターンはリード位置パターン検
出用カメラ65で認識されるので、照明、レンズ
倍率、カメラ、増幅回路等の認識の条件をそれぞ
れに適合するように別々に定めることができ、条
件の設定が非常に容易である。またダイ51とテ
ープ16のリードの重なり合つた複雑な模様を認
識しなくてすむので、試料の変更時には短時間に
調整作業を行うことができる。
In this way, the position pattern of the die 51 positioned at the die positioning position 62 is recognized by the die position pattern detection camera 63, and the position pattern of the die 51 positioned at the bonding position 64 is recognized by the die position pattern detection camera 63.
Since the lead position pattern is recognized by the lead position pattern detection camera 65, recognition conditions such as lighting, lens magnification, camera, amplifier circuit, etc. can be set separately to suit each, and the condition setting is very easy. Further, since it is not necessary to recognize the complicated pattern in which the leads of the die 51 and the tape 16 overlap, adjustments can be made in a short time when changing the sample.

またダイ51を1個ずつダイ位置決めポジシヨ
ン62に送つて位置決めし、その後ボンデイング
ポジシヨン64に送るので、他のダイ及びボンデ
イングポジシヨン近傍のリードに悪影響を及ぼす
こともなく、高精度のボンデイングが行える。
Furthermore, since the dies 51 are sent one by one to the die positioning position 62 for positioning and then sent to the bonding position 64, high-precision bonding can be performed without adversely affecting other dies or leads near the bonding position. .

(発明の効果) 以上の説明から明らかなように、本発明によれ
ば、ダイとテープのリードとを個別のカメラで
別々に認識させるので、認識の条件をそれぞれに
適合するように別々に定めることができ、条件の
設定が非常に容易であり、また品種切換時にも短
時間に調整作業が行える。またダイを1個ずつボ
ンデイングポジシヨンに送るので、他のダイ及び
リードに悪影響を及ぼすこともなく、高精度のボ
ンデイングが行える。
(Effects of the Invention) As is clear from the above description, according to the present invention, the die and the tape lead are recognized separately by separate cameras, so the recognition conditions are determined separately to suit each. It is very easy to set conditions, and adjustments can be made in a short time when changing types. Furthermore, since the dies are sent one by one to the bonding position, highly accurate bonding can be performed without adversely affecting other dies and leads.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の一実施例を示す斜視図、第2
図は第1図の平面図、第3図は第2図の矢視3−
3部分の側面説明図である。 10……ボンデイングツール、16……キヤリ
アテープ、40……回転テーブル、51……ダ
イ、56……ダイ移送レバー、60……ダイピツ
クアツプポジシヨン、61……ダイ不良検出用カ
メラ、62……ダイ位置決めポジシヨン、63…
…ダイ位置パターン検出用カメラ、64……ボン
デイングポジシヨン、65……リード位置パター
ン検出用カメラ。
Fig. 1 is a perspective view showing one embodiment of the present invention;
The figure is a plan view of Fig. 1, and Fig. 3 is the view from arrow 3- in Fig. 2.
It is a side explanatory view of three parts. 10...Bonding tool, 16...Carrier tape, 40...Rotary table, 51...Die, 56...Die transfer lever, 60...Die pick-up position, 61...Die defect detection camera, 62... Die positioning position, 63...
...Camera for detecting die position pattern, 64...Bonding position, 65...Camera for detecting lead position pattern.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1 ダイを1個ずつダイピツクアツプポジシヨン
よりピツクアツプしてダイ位置決めポジシヨンに
送つて位置決めし、この位置決めされたダイをボ
ンデイングポジシヨンに送る一方、キヤリアテー
プのリードを前記ボンテイングポジシヨンに送つ
て前記ダイの上方に位置させ、ボンデイングツー
ルで前記キヤリアテープのリードを前記ダイに押
圧してボンデイングするインナーリードボンダー
において、前記ダイピツクアツプポジシヨンの上
方にダイの欠け、不良マーク等を検出するダイ不
良検出用カメラを配設し、前記ダイ位置決めポジ
シヨンの上方にダイの位置パターンを検出するダ
イ位置パターン検出用カメラを配設し、前記ボン
デイングポジシヨンの上方にキヤリアテープのリ
ードの位置パターンを検出するリード位置パター
ン検出用カメラを配設し、ダイとリードとをそれ
ぞれ個別の認識系で別々に認識することを特徴と
するインナーリードボンダー。
1 Pick up the dies one by one from the die pick-up position and send them to the die positioning position for positioning, and send the positioned dies to the bonding position, while sending the carrier tape lead to the bonding position and positioning them. In an inner lead bonder that is positioned above the die and presses and bonds the lead of the carrier tape to the die using a bonding tool, die defect detection detects die chips, defective marks, etc. above the die pick-up position. A die position pattern detection camera is disposed above the die positioning position to detect a die position pattern, and a die position pattern detection camera is disposed above the bonding position to detect a lead position pattern of the carrier tape. An inner lead bonder that is equipped with a position pattern detection camera and that recognizes the die and lead separately using separate recognition systems.
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