JPH0143857Y2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0143857Y2 JPH0143857Y2 JP10621585U JP10621585U JPH0143857Y2 JP H0143857 Y2 JPH0143857 Y2 JP H0143857Y2 JP 10621585 U JP10621585 U JP 10621585U JP 10621585 U JP10621585 U JP 10621585U JP H0143857 Y2 JPH0143857 Y2 JP H0143857Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- semiconductor wafers
- core tube
- furnace
- semiconductor
- furnace core
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 73
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 claims description 65
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 10
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 9
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 29
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 13
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 11
- 239000012495 reaction gas Substances 0.000 description 8
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 6
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 238000012856 packing Methods 0.000 description 3
- 239000012159 carrier gas Substances 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 1
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 239000000376 reactant Substances 0.000 description 1
- 238000011282 treatment Methods 0.000 description 1
Description
【考案の詳細な説明】
産業上の利用分野
本考案は半導体製造装置に関し、詳しくは半導
体装置の製造において複数の半導体ウエーハを一
括して熱処理する炉心管構造に関するものであ
る。
体装置の製造において複数の半導体ウエーハを一
括して熱処理する炉心管構造に関するものであ
る。
従来の技術
半導体装置の製造における半導体ウエーハの熱
処理、例えば上記半導体ウエーハに不純物を拡散
する拡散処理工程では、石英製の炉心管からなる
横型拡散炉を使用するのが一般的である。この横
型拡散炉の具体例を、第4図を参照しながら説明
する。同図において、1は長尺な略筒状の石英製
炉心管で、一端にガス供給孔2を有し、他端に半
導体ウエーハの搬出入用の開口部3を有してこの
開口部3の近傍にガス排出孔4を配設する。上記
開口部3には、パツキングを介して蓋体5が開閉
自在に装着される。6は上記炉心管1に外嵌され
た円筒状のヒータ、7は複数の半導体ウエーハ
8,8…を所定のピツチで植立保持する石英製の
ボートで、上記半導体ウエーハ8,8…と共に炉
心管1の開口部3より搬入・搬出される。
処理、例えば上記半導体ウエーハに不純物を拡散
する拡散処理工程では、石英製の炉心管からなる
横型拡散炉を使用するのが一般的である。この横
型拡散炉の具体例を、第4図を参照しながら説明
する。同図において、1は長尺な略筒状の石英製
炉心管で、一端にガス供給孔2を有し、他端に半
導体ウエーハの搬出入用の開口部3を有してこの
開口部3の近傍にガス排出孔4を配設する。上記
開口部3には、パツキングを介して蓋体5が開閉
自在に装着される。6は上記炉心管1に外嵌され
た円筒状のヒータ、7は複数の半導体ウエーハ
8,8…を所定のピツチで植立保持する石英製の
ボートで、上記半導体ウエーハ8,8…と共に炉
心管1の開口部3より搬入・搬出される。
上記横型拡散炉を使用した半導体ウエーハの拡
散処理は、まず、ヒータ6により炉心管1内を加
熱すると共に、ガス供給孔2からキヤリヤガスを
導入して、該炉心管1内が所定の雰囲気及び温度
に設定された後、炉心管1内に半導体ウエーハ
8,8…をボート7上に整列させた状態で収納
し、炉心管1の開口部3を蓋体5で閉塞し、半導
体ウエーハ8,8…が所定の温度に達してから、
ガス供給孔2から不純物拡散に必要な反応ガスを
供給する。この炉心管1内に供給された反応ガス
は、加熱された半導体ウエーハ8,8…に接触
し、その熱で熱分解されて半導体ウエーハ8,8
…に不純物が拡散される。
散処理は、まず、ヒータ6により炉心管1内を加
熱すると共に、ガス供給孔2からキヤリヤガスを
導入して、該炉心管1内が所定の雰囲気及び温度
に設定された後、炉心管1内に半導体ウエーハ
8,8…をボート7上に整列させた状態で収納
し、炉心管1の開口部3を蓋体5で閉塞し、半導
体ウエーハ8,8…が所定の温度に達してから、
ガス供給孔2から不純物拡散に必要な反応ガスを
供給する。この炉心管1内に供給された反応ガス
は、加熱された半導体ウエーハ8,8…に接触
し、その熱で熱分解されて半導体ウエーハ8,8
…に不純物が拡散される。
考案が解決しようとする問題点
ところで、上記横型拡散炉を使用して半導体ウ
エーハ8,8…に不純物拡散した場合、炉心管1
の内部が高温状態であるため、ガス供給孔2から
供給された反応ガスは、上記炉心管1内部で暖め
られて、該炉心管1の上部を流れ、ガス排出孔4
から排気される。これにより第5図破線で示すよ
うにボート7上に植立された半導体ウエーハ8,
8…の上部での不純物拡散が、該半導体ウエーハ
8,8…の下部よりも盛んに行われ、半導体ウエ
ーハ8,8…の上部での導電率が良くなつて比抵
抗が小さくなり、上記半導体ウエーハ8,8…の
面内で比抵抗が不均一になる。近年においては半
導体ウエーハ8,8…が大口径化する傾向にあつ
て、上記比抵抗の不均一が重大な問題点となつて
いる。
エーハ8,8…に不純物拡散した場合、炉心管1
の内部が高温状態であるため、ガス供給孔2から
供給された反応ガスは、上記炉心管1内部で暖め
られて、該炉心管1の上部を流れ、ガス排出孔4
から排気される。これにより第5図破線で示すよ
うにボート7上に植立された半導体ウエーハ8,
8…の上部での不純物拡散が、該半導体ウエーハ
8,8…の下部よりも盛んに行われ、半導体ウエ
ーハ8,8…の上部での導電率が良くなつて比抵
抗が小さくなり、上記半導体ウエーハ8,8…の
面内で比抵抗が不均一になる。近年においては半
導体ウエーハ8,8…が大口径化する傾向にあつ
て、上記比抵抗の不均一が重大な問題点となつて
いる。
そこで上記問題点を解決する一手段として、最
近では縦型拡散炉が賞用されつつある。この縦型
拡散炉の具体例を第6図を参照しながら説明する
と、同図に示すように起立保持された石英製の炉
心管9に円筒状のヒータ10を外嵌したもので、
上記炉心管9の上端にガス供給孔11を有し、下
端開口部12にパツキングを介して蓋体13を開
閉自在に装着する((株)デンコー タテ型拡散炉
ERECTUSカタログ)。
近では縦型拡散炉が賞用されつつある。この縦型
拡散炉の具体例を第6図を参照しながら説明する
と、同図に示すように起立保持された石英製の炉
心管9に円筒状のヒータ10を外嵌したもので、
上記炉心管9の上端にガス供給孔11を有し、下
端開口部12にパツキングを介して蓋体13を開
閉自在に装着する((株)デンコー タテ型拡散炉
ERECTUSカタログ)。
この縦型拡散炉を使用した半導体ウエーハの拡
散処理は、前述の横型拡散炉の場合と同様に、ヒ
ータ10で上記炉心管9内を加熱すると共にガス
供給孔2からキヤリヤガスを導入して、炉心管1
内を所定の雰囲気及び温度に設定した後、複数の
半導体ウエーハ14,14…を所定のピツチで縦
積み状態に収納したボート15を炉心管9の下端
開口部12から供給して、上記ボート15を炉心
管9内で適宜の手段にて固定し、該炉心管9の下
端開口部12を蓋体13で閉塞し、半導体ウエー
ハ8,8…が所定温度に達した後、ガス供給孔1
1から反応ガスを供給して、加熱された半導体ウ
エーハ14,14…に不純物を拡散する。
散処理は、前述の横型拡散炉の場合と同様に、ヒ
ータ10で上記炉心管9内を加熱すると共にガス
供給孔2からキヤリヤガスを導入して、炉心管1
内を所定の雰囲気及び温度に設定した後、複数の
半導体ウエーハ14,14…を所定のピツチで縦
積み状態に収納したボート15を炉心管9の下端
開口部12から供給して、上記ボート15を炉心
管9内で適宜の手段にて固定し、該炉心管9の下
端開口部12を蓋体13で閉塞し、半導体ウエー
ハ8,8…が所定温度に達した後、ガス供給孔1
1から反応ガスを供給して、加熱された半導体ウ
エーハ14,14…に不純物を拡散する。
ところで、上記縦型拡散炉を使用して半導体ウ
エーハ14,14…に不純物拡散した場合、炉心
管9の内部での加熱効率が良好で消費電力も大幅
に削減することが可能な上に、熱分布が均一とな
り、反応ガスの半導体ウエーハ14,14…への
接触状態が、前述の横型拡散炉の場合と比較して
安定しており、上記半導体ウエーハ14,14…
の全面に亘つて反応ガスが接触する。そのため、
上記反応ガスによる不純物拡散で得られた半導体
ウエーハ14,14…の比抵抗も、その全面に亘
つて均一化され、前記横型拡散炉を使用した場合
での問題点が容易に解決される。
エーハ14,14…に不純物拡散した場合、炉心
管9の内部での加熱効率が良好で消費電力も大幅
に削減することが可能な上に、熱分布が均一とな
り、反応ガスの半導体ウエーハ14,14…への
接触状態が、前述の横型拡散炉の場合と比較して
安定しており、上記半導体ウエーハ14,14…
の全面に亘つて反応ガスが接触する。そのため、
上記反応ガスによる不純物拡散で得られた半導体
ウエーハ14,14…の比抵抗も、その全面に亘
つて均一化され、前記横型拡散炉を使用した場合
での問題点が容易に解決される。
ところが、上述のように縦型拡散炉を使用した
場合、横型拡散炉で生じていた問題点は解決され
たにもかかわらず、別の問題点が新たに発生す
る。即ち上記縦型拡散炉の場合、炉心管9への半
導体ウエーハ14,14…の搬入・搬出は、該炉
心管9の下端開口部12から行うため、炉心管9
の下方に複数の半導体ウエーハ14,14…が整
列収納されたボート15を搬入・搬出するスペー
スが必要となる。通常、作業効率の向上化のた
め、複数の半導体ウエーハ14,14…を一括し
て拡散処理するので、1回での半導体ウエーハ1
4,14…の処理数が増加すれば、上記ボート1
5を搬入・搬出するスペースを大きくする必要が
あると共に、炉心管9も長くなる。そのため装置
全体が非常に高くなり、既設工場等の限られた空
間スペースに設置することが困難になるという問
題点があつた。一方、既設工場等の限られた空間
スペースに設置するためには、半導体ウエーハ
8,8…の一回の処理枚数は著しく少なくしなけ
ればならなかつた。
場合、横型拡散炉で生じていた問題点は解決され
たにもかかわらず、別の問題点が新たに発生す
る。即ち上記縦型拡散炉の場合、炉心管9への半
導体ウエーハ14,14…の搬入・搬出は、該炉
心管9の下端開口部12から行うため、炉心管9
の下方に複数の半導体ウエーハ14,14…が整
列収納されたボート15を搬入・搬出するスペー
スが必要となる。通常、作業効率の向上化のた
め、複数の半導体ウエーハ14,14…を一括し
て拡散処理するので、1回での半導体ウエーハ1
4,14…の処理数が増加すれば、上記ボート1
5を搬入・搬出するスペースを大きくする必要が
あると共に、炉心管9も長くなる。そのため装置
全体が非常に高くなり、既設工場等の限られた空
間スペースに設置することが困難になるという問
題点があつた。一方、既設工場等の限られた空間
スペースに設置するためには、半導体ウエーハ
8,8…の一回の処理枚数は著しく少なくしなけ
ればならなかつた。
問題点を解決するための手段
本考案は上記問題点に鑑みて提案されたもの
で、この問題点を解決するための技術的手段は、
複数の半導体ウエーハを定ピツチで整列収納して
熱処理する炉心管を、縦横配置が可能なように垂
直面内で回動自在に支承し、上記半導体ウエーハ
の炉心管への搬入・搬出時には、炉心管を水平状
態に配置し、半導体ウエーハの熱処理時には、炉
心管を回転させて直立状態に配置するようにした
ものである。
で、この問題点を解決するための技術的手段は、
複数の半導体ウエーハを定ピツチで整列収納して
熱処理する炉心管を、縦横配置が可能なように垂
直面内で回動自在に支承し、上記半導体ウエーハ
の炉心管への搬入・搬出時には、炉心管を水平状
態に配置し、半導体ウエーハの熱処理時には、炉
心管を回転させて直立状態に配置するようにした
ものである。
作 用
上記技術的手段によれば、炉心管を、半導体ウ
エーハの搬入・搬出時及び熱処理時に応じて縦横
自在に配置することが可能で、上記半導体ウエー
ハの搬入・搬出時は、炉心管を水平状態に配置し
て該炉心管の横方向から半導体ウエーハを搬入・
搬出し、その半導体ウエーハの搬入後には、炉心
管を回動させて直立状態に配置して熱処理するよ
うにしたことによつて、縦型及び横型拡散炉の両
者における前記問題点を容易に解決し得る。
エーハの搬入・搬出時及び熱処理時に応じて縦横
自在に配置することが可能で、上記半導体ウエー
ハの搬入・搬出時は、炉心管を水平状態に配置し
て該炉心管の横方向から半導体ウエーハを搬入・
搬出し、その半導体ウエーハの搬入後には、炉心
管を回動させて直立状態に配置して熱処理するよ
うにしたことによつて、縦型及び横型拡散炉の両
者における前記問題点を容易に解決し得る。
実施例
本考案に係る半導体製造装置の一実施例を、第
1図乃至第3図を参照しながら説明する。同図に
おいて、16は長尺な略筒状の石英製炉心管で、
一般にガス供給孔17を有し、他端に半導体ウエ
ーハの搬出入用の開口部18を有し、この開口部
18の近傍にガス排出孔19が配設される。上記
開口部18には、パツキングを介して蓋体20が
開閉自在に装着される。21は上記炉心管16に
外嵌された円筒状のヒータ、22は上記炉心管1
6をその軸方向と直交する垂直面内で回動自在に
支承する支持フレームで、この支持フレーム22
は基台23上に立設されている。24は複数の半
導体ウエーハ25,25…を所定のピツチで整列
収納する石英製のボートで、上記半導体ウエーハ
25,25…は、図示しないがボート24に形成
された溝に嵌合させることによつて支持されてお
り、後述するように炉心管16を直立させた状態
でボート24から半導体ウエーハ25,25…
が、抜け落ちないように若干傾斜させてボート2
4に収納される。
1図乃至第3図を参照しながら説明する。同図に
おいて、16は長尺な略筒状の石英製炉心管で、
一般にガス供給孔17を有し、他端に半導体ウエ
ーハの搬出入用の開口部18を有し、この開口部
18の近傍にガス排出孔19が配設される。上記
開口部18には、パツキングを介して蓋体20が
開閉自在に装着される。21は上記炉心管16に
外嵌された円筒状のヒータ、22は上記炉心管1
6をその軸方向と直交する垂直面内で回動自在に
支承する支持フレームで、この支持フレーム22
は基台23上に立設されている。24は複数の半
導体ウエーハ25,25…を所定のピツチで整列
収納する石英製のボートで、上記半導体ウエーハ
25,25…は、図示しないがボート24に形成
された溝に嵌合させることによつて支持されてお
り、後述するように炉心管16を直立させた状態
でボート24から半導体ウエーハ25,25…
が、抜け落ちないように若干傾斜させてボート2
4に収納される。
本考案に係る上記半導体製造装置を使用した半
導体ウエーハの拡散処理について以下説明する
と、まず半導体ウエーハ25,25…の搬入時に
は、第2図に示すように炉心管16を水平状態に
配置する。この状態で複数の半導体ウエーハ2
5,25…を整列させたボート24を炉心管16
の開口部18から該炉心管16内に収納して適宜
の手段で固定し、その開口部18を蓋体20で閉
塞する。このようにして半導体ウエーハ25,2
5…の搬入が完了すると、第3図に示すように、
炉心管16を垂直面内で90度回転させて直立状態
に配置する。この時、ボート24は炉心管16内
で適宜の手段で固定支持され、また半導体ウエー
ハ25,25…は上記ボート24に若干傾斜して
収納されているため、抜け落ちることはない。こ
の状態で半導体ウエーハ8,8…が所定の温度に
達した後、ガス供給孔17から不純物拡散に必要
な反応ガスを供給する。この反応ガスが、炉心管
16内で加熱された半導体ウエーハ25,25…
に接触することで熱分解され、上記半導体ウエー
ハ25,25…に不純物が拡散される。この半導
体ウエーハ25,25…の拡散処理が完了する
と、第2図に示すように、再度上記炉心管16を
水平状態に配置し、蓋体20を開放して炉心管1
6の開口部18から処理済の半導体ウエーハ2
5,25…を、ボート24ごと取り出して後工程
へ搬送する。
導体ウエーハの拡散処理について以下説明する
と、まず半導体ウエーハ25,25…の搬入時に
は、第2図に示すように炉心管16を水平状態に
配置する。この状態で複数の半導体ウエーハ2
5,25…を整列させたボート24を炉心管16
の開口部18から該炉心管16内に収納して適宜
の手段で固定し、その開口部18を蓋体20で閉
塞する。このようにして半導体ウエーハ25,2
5…の搬入が完了すると、第3図に示すように、
炉心管16を垂直面内で90度回転させて直立状態
に配置する。この時、ボート24は炉心管16内
で適宜の手段で固定支持され、また半導体ウエー
ハ25,25…は上記ボート24に若干傾斜して
収納されているため、抜け落ちることはない。こ
の状態で半導体ウエーハ8,8…が所定の温度に
達した後、ガス供給孔17から不純物拡散に必要
な反応ガスを供給する。この反応ガスが、炉心管
16内で加熱された半導体ウエーハ25,25…
に接触することで熱分解され、上記半導体ウエー
ハ25,25…に不純物が拡散される。この半導
体ウエーハ25,25…の拡散処理が完了する
と、第2図に示すように、再度上記炉心管16を
水平状態に配置し、蓋体20を開放して炉心管1
6の開口部18から処理済の半導体ウエーハ2
5,25…を、ボート24ごと取り出して後工程
へ搬送する。
尚、上記実施例では、半導体装置製造における
不純物拡散に適用した場合について説明したが、
本考案はこれに限定されることなく、半導体装置
製造における酸化、シシタリング等の他の熱処理
に適用可能であるには勿論である。
不純物拡散に適用した場合について説明したが、
本考案はこれに限定されることなく、半導体装置
製造における酸化、シシタリング等の他の熱処理
に適用可能であるには勿論である。
考案の効果
本考案によれば、炉心管を回転自在に支承して
半導体ウエーハの搬入・搬出時には、上記炉心管
を水平状態に配置するようにしたから、従来の横
型拡散炉で使用されていた既存設備を利用するこ
とができる。また、半導体ウエーハの熱処理時に
は、炉心管を回動させて直立状態に配置するた
め、従来の縦型拡散炉と比較して、炉心管の下方
に、半導体ウエーハを該炉心管へ搬入・搬出する
ための配置スペースが必要ないので、装置全体の
高さを低く設定することが可能となつて空間スペ
ースを有効利用することができると共に、各半導
体ウエーハを略全体的に均一に熱処理することが
可能となり、半導体ウエーハの高品質化が図れ
て、半導体ウエーハの大型化にも容易に対応する
ことができるて、歩留まりも大幅に向上する。
半導体ウエーハの搬入・搬出時には、上記炉心管
を水平状態に配置するようにしたから、従来の横
型拡散炉で使用されていた既存設備を利用するこ
とができる。また、半導体ウエーハの熱処理時に
は、炉心管を回動させて直立状態に配置するた
め、従来の縦型拡散炉と比較して、炉心管の下方
に、半導体ウエーハを該炉心管へ搬入・搬出する
ための配置スペースが必要ないので、装置全体の
高さを低く設定することが可能となつて空間スペ
ースを有効利用することができると共に、各半導
体ウエーハを略全体的に均一に熱処理することが
可能となり、半導体ウエーハの高品質化が図れ
て、半導体ウエーハの大型化にも容易に対応する
ことができるて、歩留まりも大幅に向上する。
第1図は本考案に係る半導体製造装置の一実施
例を示す正面図、第2図は第1図の装置における
半導体ウエーハの搬出入状態を示す正断面図、第
3図は第1図の装置における半導体ウエーハの熱
処理状態を示す正断面図である。第4図は本考案
の前提となる横型拡散炉の具体例を示す正断面
図、第5図はボート上の半導体ウエーハを示す正
面図、第6図は本考案の前提となる縦型拡散炉の
具体例を示す正断面図である。 16……炉心管、25……半導体ウエーハ。
例を示す正面図、第2図は第1図の装置における
半導体ウエーハの搬出入状態を示す正断面図、第
3図は第1図の装置における半導体ウエーハの熱
処理状態を示す正断面図である。第4図は本考案
の前提となる横型拡散炉の具体例を示す正断面
図、第5図はボート上の半導体ウエーハを示す正
面図、第6図は本考案の前提となる縦型拡散炉の
具体例を示す正断面図である。 16……炉心管、25……半導体ウエーハ。
Claims (1)
- 複数の半導体ウエーハを整列収納して熱処理す
る長尺な略筒状の炉心管を、垂直面内で回動自在
に支承し、上記半導体ウエーハの炉心管への搬
入・搬出時に炉心管を水平状態に配置し、半導体
ウエーハの熱処理時に炉心管を直立状態に配置す
るようにしたことを特徴とする半導体製造装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10621585U JPH0143857Y2 (ja) | 1985-07-10 | 1985-07-10 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10621585U JPH0143857Y2 (ja) | 1985-07-10 | 1985-07-10 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6214723U JPS6214723U (ja) | 1987-01-29 |
JPH0143857Y2 true JPH0143857Y2 (ja) | 1989-12-19 |
Family
ID=30981365
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10621585U Expired JPH0143857Y2 (ja) | 1985-07-10 | 1985-07-10 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0143857Y2 (ja) |
-
1985
- 1985-07-10 JP JP10621585U patent/JPH0143857Y2/ja not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS6214723U (ja) | 1987-01-29 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7312156B2 (en) | Method and apparatus for supporting a semiconductor wafer during processing | |
US6033215A (en) | Heat treatment apparatus and heat treatment boat | |
US5556275A (en) | Heat treatment apparatus | |
US5178639A (en) | Vertical heat-treating apparatus | |
JPS5588323A (en) | Manufacture of semiconductor device | |
JPH0143857Y2 (ja) | ||
JP3863786B2 (ja) | 半導体製造装置および半導体装置の製造方法 | |
JP2002083859A (ja) | 基板処理装置及び基板処理方法 | |
JP3115164B2 (ja) | 熱処理装置 | |
JP3603189B2 (ja) | 熱処理装置 | |
JP2000150403A (ja) | 保温筒および縦型熱処理装置 | |
JPH06132390A (ja) | ウェーハボート | |
JPS59104123A (ja) | 不純物拡散装置 | |
JP3023977B2 (ja) | 縦型熱処理装置 | |
JP3960864B2 (ja) | 縦型拡散炉 | |
JPH01272112A (ja) | ウエハ保持治具 | |
JPS633155Y2 (ja) | ||
JPS60140814A (ja) | 半導体製造装置 | |
JPH08330245A (ja) | 半導体装置の製造方法及び半導体装置の製造装置 | |
JPH0758045A (ja) | 横形熱処理装置 | |
JPS5922114Y2 (ja) | 熱処理装置 | |
JPS5817614A (ja) | 気相成長膜形成装置 | |
JPH0783000B2 (ja) | 処理装置 | |
JPS62252932A (ja) | 半導体ウエハの熱処理装置 | |
JPS6323313A (ja) | 半導体ウエハの熱処理方法 |