JPH0137045B2 - - Google Patents

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JPH0137045B2
JPH0137045B2 JP59164639A JP16463984A JPH0137045B2 JP H0137045 B2 JPH0137045 B2 JP H0137045B2 JP 59164639 A JP59164639 A JP 59164639A JP 16463984 A JP16463984 A JP 16463984A JP H0137045 B2 JPH0137045 B2 JP H0137045B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
array
data
input
shift register
output
Prior art date
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Expired
Application number
JP59164639A
Other languages
English (en)
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JPS6094532A (ja
Inventor
Hiroshi Mayumi
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
Nippon Electric Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Electric Co Ltd filed Critical Nippon Electric Co Ltd
Priority to JP59164639A priority Critical patent/JPS6094532A/ja
Publication of JPS6094532A publication Critical patent/JPS6094532A/ja
Publication of JPH0137045B2 publication Critical patent/JPH0137045B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K19/00Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
    • H03K19/02Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components
    • H03K19/173Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using elementary logic circuits as components
    • H03K19/177Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using elementary logic circuits as components arranged in matrix form
    • H03K19/17704Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using elementary logic circuits as components arranged in matrix form the logic functions being realised by the interconnection of rows and columns
    • H03K19/17708Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using elementary logic circuits as components arranged in matrix form the logic functions being realised by the interconnection of rows and columns using an AND matrix followed by an OR matrix, i.e. programmable logic arrays
    • H03K19/17716Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using elementary logic circuits as components arranged in matrix form the logic functions being realised by the interconnection of rows and columns using an AND matrix followed by an OR matrix, i.e. programmable logic arrays with synchronous operation, i.e. using clock signals, e.g. of I/O or coupling register

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、プログラマブルロジツクアレイ
(PLA)回路に関し、特にモノリシツク集積回路
化されアンドアレイおよびオアアレイを含む
PLA回路に関するものである。
デジタル論理集積回路のLSI化に伴ない、上述
したPLA回路のアンドアレイの積項線の数が飛
躍的に増大している。このため、通常の動作モー
ドを用いたテストでは様々な論理入力状態を設け
る必要がある。テストを簡単に行なえる構成が望
まれている。
本発明の目的は、アンドアレイおよびオアアレ
イを有し、かつ簡単にテストを行なうことができ
る構成をもつたPLA集積回路を提供する事にあ
る。
本発明によるPLA回路は、アンドアレイとオ
アアレイとを有し、さらに、アンドアレイの複数
の積項線に接続続されるとともにデータ入力端子
を有するシフトレジスタと、テスト動作モードを
検出して検出信号を発生する手段と、上記データ
入力端子に直列にデータを転送する手段とを設
け、上記シフトレジスタは上記検出信号によつて
活性化されて、データ入力端子へのデータを選択
データとして取り込み、当該取り込んだ選択デー
タにもとづきアンドアレイの所定の積項線を選択
することを特徴としている。
すなわち、本発明では、上記各手段によつて、
あるテスト動作モードにおいてアンドアレイ内の
積(AND)項(OR項)の一つ又は一部を選択的
に活性化している。これによつて、次の(1)で示す
可制御性、もしくは(2)で示す可観測性、又は(1)と
(2)の測定を行なうことができる。
(1) 選択されたAND(OR)項以外の全AND
(OR)項を不活性にし、全体の論理が選択さ
れたAND(OR)項のみで動作するようにする。
(2) 選択されたAND(OR)項のみの状態を別に
設けたデータ出力端子に伝える。
また、本発明の好ましい実施例では上述したテ
スト動作モードを得るために、通常の論理電圧値
域(たとえばTTLでは−0.5V〜+5.5V)以外の
所謂第3値(たとえば+8V)を使い、この第3
値で動作する回路を通常の入力端子に設け、この
端子を通常モード、テストモードのセレクトモー
ド制御入力と使つており、これによつて端子効率
を向上している。
第1図を参照して本発明の一実施例を説明す
る。本実施例によるPLA回路はAND−ORアレ
イを有しているが、さらにこれを順序論理化する
場合の好適例として、ORアレイ出力の一部を
ANDアレイの入力へフリツプフロツプを介して
フイードバツクする構成も有している。
入力バツフア1は入力端子I1〜I16およびフリツ
プフロツプ部5の出力Q1〜Q8が入力され、その
出力はアンドアレイ部2に入力されている。この
アンドアレイ部2はアンド項出力A1〜A128を有
し、このアンド項出力A1〜A128はオアアレイ部
3に入力されている。オアアレイ部3の出力の一
部はフリツプフロツプ部5に入力され、他の出力
は出力バツフア4を介して出力端子O1〜O8に出
力されている。またアンドアレイ部2の各出力項
A1〜A128は本発明に従つて設けられたシフトレ
ジスタ部6の選択出力によつて各々選択し得るよ
うに構成されている。アンドアレイ2及びオアア
レイ3中、任意の交点が黒丸で図示したようにプ
ログラム可能である。交点の黒丸は実際にはトラ
ンジスタ又はダイオード等の素子により具現され
る。
シフトレジスタ部6には端子DIからアンド項
選択のためのデータ入力DIAが与えられ、シフト
レジスタ部6の出力DOAはアンドゲートA13およ
びオアゲートR20を介して出力端子DOに導出さ
れている。ここで端子DIおよびDOはフリツプフ
ロツプ部5のデータ入力および出力端子として兼
用されている。シフトレジスタ6にはブロツクイ
ネーブルADEおよびクロツクCLK3が与え得る
如くされている。イネーブル入力端子ENはイン
バータ51およびアンドゲートA11に入力され、
このアンドゲートA11に他入力はインバータ51
の出力が入力されており、出力はブロツク
4にそのイネーブルCEとして与え得る如くなさ
れる。は一入力がクロツク入力端子CLKに
接続されたアンドゲートA10の他の入力に接続さ
れ、その出力はラツチクロツクCLK0としてブ
ロツク4に与え得る如くなされる。一方、インバ
ータ52の出力はブロツク6へブロツクイネーブ
ルADEとして与えられると共にクロツク端子
CLKに一入力が接続されたアンドゲートA12の他
の入力にも印加される。ゲートA12の出力はブロ
ツク6へクロツクCLK3として与え得る如くな
される。ここでインバータ51はブロツク4への
イネーブル入力CEに対し、その第3レベルを
ADEとし、イネーブル入力端子ENが通常レベル
か第3レベルかで、通常動作モードか、ブロツク
6によるAND項の選択を活性化するモードかの
切替えを行なう。前モードではADEは低レベル
でCLK3は遮断されるためブロツク6は不活性
でブロツク4がイネーブルであり、後モードで
は、シフトレジスタ部6イネーブル状態である。
このようにしてブロツクイネーブルADEにより、
出力ラツチクロツクCLK0と、ブロツク6のシ
フトクロツクCLK3の切替えを行なう。かくし
て第1図の如く構成されたPLA集積回路におい
て、そのテスト・デバツク時に、アンドアレイ2
及びオアアレイ3の各項、特にアンドアレイ2の
各AND項(A1〜A128)の可制御性・可観測性の
測定を行なうことができる。すなわち、端子
に第3レベルを供給してシフトレジスタ6にイネ
ーブル信号ADEおよびクロツクCLK3を与え、
このクロツクCLK3に同期して端子DIからAND
項選択データを供給する。この結果、シフトレジ
スタ部6は入力データに応じて各AND項中任意
の(複数)項を選択せしめることが可能となる。
このように、本発明は任意のAND項選択手段
を備えているので、前述したテストが容易にかつ
短時間に行えることができる。
なお本発明は上述の各実施例に限定されること
なく、他のPLAにも広範な応用が可能であるこ
とは勿論である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例によるPLA集積回
路の構成を示すブロツク図である。 1……入力バツフア、A1〜A8……アンドゲー
ト、2……アンドアレイ、3……オアアレイ、4
……出力バツフア、5……フリツプフロツプ部、
6……シフトレジスタ部。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 アンドアレイおよびオアアレイを有するプロ
    グラマブルロジツクアレイ回路において、前記ア
    ンドアレイの複数の積項線に接続されると共にデ
    ータ入力端子を有するシフトレジスタと、テスト
    動作モードを検出しテスト動作モードであること
    を示す検出信号を発生する手段とを設け、前記デ
    ータ入力端子に直列にデータを転送する手段とを
    設け、前記シフトレジスタは前記検出信号によつ
    て活性化されて、前記データ入力端子に直列に転
    送されたデータを選択データとして取り込み、当
    該取り込んだ選択データにもとづき前記アンドア
    レイの複数の積項線の中の所定の積項線を選択す
    ることを特徴とするプログラマブルロジツクアレ
    イ回路。
JP59164639A 1984-08-06 1984-08-06 プログラマブルロジツクアレイ回路 Granted JPS6094532A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59164639A JPS6094532A (ja) 1984-08-06 1984-08-06 プログラマブルロジツクアレイ回路

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JP59164639A JPS6094532A (ja) 1984-08-06 1984-08-06 プログラマブルロジツクアレイ回路

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP15130777A Division JPS5483341A (en) 1977-12-15 1977-12-15 Digital integrated circuit

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6094532A JPS6094532A (ja) 1985-05-27
JPH0137045B2 true JPH0137045B2 (ja) 1989-08-03

Family

ID=15797007

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JP59164639A Granted JPS6094532A (ja) 1984-08-06 1984-08-06 プログラマブルロジツクアレイ回路

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Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4703206A (en) * 1985-11-19 1987-10-27 Signetics Corporation Field-programmable logic device with programmable foldback to control number of logic levels

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5483341A (en) * 1977-12-15 1979-07-03 Nec Corp Digital integrated circuit
JPS6231527A (ja) * 1985-08-02 1987-02-10 Kubota Ltd 四輪駆動車輛の後輪駆動装置

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5483341A (en) * 1977-12-15 1979-07-03 Nec Corp Digital integrated circuit
JPS6231527A (ja) * 1985-08-02 1987-02-10 Kubota Ltd 四輪駆動車輛の後輪駆動装置

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JPS6094532A (ja) 1985-05-27

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