JPH0136846Y2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0136846Y2 JPH0136846Y2 JP1985053907U JP5390785U JPH0136846Y2 JP H0136846 Y2 JPH0136846 Y2 JP H0136846Y2 JP 1985053907 U JP1985053907 U JP 1985053907U JP 5390785 U JP5390785 U JP 5390785U JP H0136846 Y2 JPH0136846 Y2 JP H0136846Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- package
- light
- polarizing plate
- level
- signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 238000004804 winding Methods 0.000 claims description 6
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 11
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000010606 normalization Methods 0.000 description 1
- 238000011179 visual inspection Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Treatment Of Fiber Materials (AREA)
- Sorting Of Articles (AREA)
- Filamentary Materials, Packages, And Safety Devices Therefor (AREA)
- Spinning Or Twisting Of Yarns (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本考案は巻形不良パツケージの判別装置に関す
る。
る。
糸を巻取つたパツケージの表面に投光してその
反射光量の変化を電気的に検出することによつて
巻形の検査を行うものが、例えば実公昭52−
36041、特公昭58−51868に開示されている。
反射光量の変化を電気的に検出することによつて
巻形の検査を行うものが、例えば実公昭52−
36041、特公昭58−51868に開示されている。
このような光学式検査装置においては、目視の
場合のように糸１本ずつの配列状況までとらえて
判別することは不可能で、イメージセンサでは、
全体として影の明暗像で判別するものである。従
つて、この光学像を鮮明にすることが判別精度を
上げる上で要求される。しかしながら、前記各装
置では投光した光がパツケージ表面で反射する
際、乱反射光まで受光素子に入り、得られる光学
像の鮮明度が低下するという問題がある。
場合のように糸１本ずつの配列状況までとらえて
判別することは不可能で、イメージセンサでは、
全体として影の明暗像で判別するものである。従
つて、この光学像を鮮明にすることが判別精度を
上げる上で要求される。しかしながら、前記各装
置では投光した光がパツケージ表面で反射する
際、乱反射光まで受光素子に入り、得られる光学
像の鮮明度が低下するという問題がある。
本考案は上記問題を解決することを目的とする
ものである。
ものである。
本考案は、パツケージ表面に光を当てる投光器
とパツケージ間に第１の偏光板を配置し、かつ、
パツケージと受光素子間に上記偏光板と同方向の
第２の偏光板を配置したものである。
とパツケージ間に第１の偏光板を配置し、かつ、
パツケージと受光素子間に上記偏光板と同方向の
第２の偏光板を配置したものである。
投光側に第１の偏光板を入れれ、偏光を糸に対
し直角に当てれば、正反射光は同じ直角面内に反
射し、受光側にも同じ方向の第２の偏光板を入れ
ることにより、上記正反射光のみを受光し、乱反
射光を除去でき、鮮明な光学像が得られる。
し直角に当てれば、正反射光は同じ直角面内に反
射し、受光側にも同じ方向の第２の偏光板を入れ
ることにより、上記正反射光のみを受光し、乱反
射光を除去でき、鮮明な光学像が得られる。
以下、本考案装置の実施例を図面に従つて説明
する。
する。
第１図は、判別装置の概略構成図である。判別
装置は、検査対象となるパツケージ１の糸層表面
２に光、特に平行光線３を照射する光源４、レン
ズ５および第１の偏光板６等からなる投光部７
と、糸層表面で反射した光を受光する第２の偏光
板８、レンズ９、イメージセンサ即ち受光素子１
０等からなる受光部１１と、受光した光情報を分
析した巻形の良否を判別する第４図示の分析装置
１２とから構成される。
装置は、検査対象となるパツケージ１の糸層表面
２に光、特に平行光線３を照射する光源４、レン
ズ５および第１の偏光板６等からなる投光部７
と、糸層表面で反射した光を受光する第２の偏光
板８、レンズ９、イメージセンサ即ち受光素子１
０等からなる受光部１１と、受光した光情報を分
析した巻形の良否を判別する第４図示の分析装置
１２とから構成される。
上記偏光板６，８は同じ方向に偏光板で、投光
側においては、偏光板６を通した偏光が糸、即ち
円筒体の軸心に直角に当たるように位置調節し、
受光側においても、円筒体の軸心に直角な平面内
の光のみを通すように偏光板８の方向性が決めら
れる。即ち、第２図に模式的に示すように、糸を
円筒体Ｙとみなし、該円筒体Ｙの軸心１３方向に
直角に光PH１を照射すべく偏光板６が配置さ
れ、円筒体Ｙ表面に反射した光はランダムな角度
で反射する乱反射成分PH２と、軸１３方向の正
反射成分PH３と、軸１３に直角な正反射成分
PH４となり、このうち、本実施例では偏光板８
を介して、軸１３に直角な正反射成分PH４のみ
を受光素子によつて光学像として得るのである。
側においては、偏光板６を通した偏光が糸、即ち
円筒体の軸心に直角に当たるように位置調節し、
受光側においても、円筒体の軸心に直角な平面内
の光のみを通すように偏光板８の方向性が決めら
れる。即ち、第２図に模式的に示すように、糸を
円筒体Ｙとみなし、該円筒体Ｙの軸心１３方向に
直角に光PH１を照射すべく偏光板６が配置さ
れ、円筒体Ｙ表面に反射した光はランダムな角度
で反射する乱反射成分PH２と、軸１３方向の正
反射成分PH３と、軸１３に直角な正反射成分
PH４となり、このうち、本実施例では偏光板８
を介して、軸１３に直角な正反射成分PH４のみ
を受光素子によつて光学像として得るのである。
上記装置によつて得られる光学像の一例を第３
図に示す。パツケージ端面の糸層表面２に前記方
法で直角に照射された平行光線PH１のうち、正
反射成分PH４のみを受光して得られる受光像は
破線１４の如くなる。即ち、糸層表面の凹凸に比
例する影の明暗として、光量レベル線図１４が得
られる。即ち、斜面２ａ部分では影部となり正反
射光量は少なく、斜面２ｂ部分では明部となり他
の平面部分２ｃ，２ｄとの差が生じる。一方、偏
光板を使用しない場合には、乱反射成分と正反射
成分とが混合され、得られるレベル線図は斜線部
分１５の如く、高低のレベル差ｌ１の小さいもの
となる。上記偏光板を配置した合にはレベル差ｌ
２は大きくなる。即ち、影の明暗が鮮明になるの
である。
図に示す。パツケージ端面の糸層表面２に前記方
法で直角に照射された平行光線PH１のうち、正
反射成分PH４のみを受光して得られる受光像は
破線１４の如くなる。即ち、糸層表面の凹凸に比
例する影の明暗として、光量レベル線図１４が得
られる。即ち、斜面２ａ部分では影部となり正反
射光量は少なく、斜面２ｂ部分では明部となり他
の平面部分２ｃ，２ｄとの差が生じる。一方、偏
光板を使用しない場合には、乱反射成分と正反射
成分とが混合され、得られるレベル線図は斜線部
分１５の如く、高低のレベル差ｌ１の小さいもの
となる。上記偏光板を配置した合にはレベル差ｌ
２は大きくなる。即ち、影の明暗が鮮明になるの
である。
第４図はイメージセンサ１０で得られた光信号
の処理分析装置を示す。即ち、イメージセンサ１
０で得られた光信号Ｌ１は電気信号に変換され
て、雑音除去器１６を経て、増巾器１７により処
理に適した大きさの信号とされ、さらにアナログ
ーデジタル変換器１８を介してデジタル信号化さ
れる。該信号は設定レベルと比較するのに適した
信号とするため正規化回路１９に入力される。場
合によつてはメモリ２０に入力し、一時待機させ
ることも可能である。上記正規化された信号はレ
ベル比較器２１に入力され、予め入力されている
設定レベルと演算装置２２により比較演算され、
比較した結果、設定レベルを越える信号がある場
合に巻形不良信号Ｌ４が出力表示されるのであ
る。
の処理分析装置を示す。即ち、イメージセンサ１
０で得られた光信号Ｌ１は電気信号に変換され
て、雑音除去器１６を経て、増巾器１７により処
理に適した大きさの信号とされ、さらにアナログ
ーデジタル変換器１８を介してデジタル信号化さ
れる。該信号は設定レベルと比較するのに適した
信号とするため正規化回路１９に入力される。場
合によつてはメモリ２０に入力し、一時待機させ
ることも可能である。上記正規化された信号はレ
ベル比較器２１に入力され、予め入力されている
設定レベルと演算装置２２により比較演算され、
比較した結果、設定レベルを越える信号がある場
合に巻形不良信号Ｌ４が出力表示されるのであ
る。
例えば、第３図のようにパツケージ端面に環状
凹部を有する段巻状の不良パツケージの場合、パ
ツケージの半径部分の反射光を受光したとする。
光電変換された電気信号Ｌ１は第５図の線Ｌ１と
なり、さらに雑音除去後の信号Ｌ２は第５図のＬ
２となる。即ち、パツケージの平面部分の反射光
レベルをゼロと設定すると前記傾斜面２ａ，２ｂ
に相当するレベルはレベルVa、レベルVbとな
る。さらに正規化された信号Ｌ３が、設定レベル
VL，VHと比較される。即ち設定低レベルVLあ
るいは設定高レベルVHを越えるレベルVa，Vb
が存在する場合に、当該レベル信号を有するパツ
ケージは不良パツケージと判別し、不良パツケー
ジ信号を出力するのである。
凹部を有する段巻状の不良パツケージの場合、パ
ツケージの半径部分の反射光を受光したとする。
光電変換された電気信号Ｌ１は第５図の線Ｌ１と
なり、さらに雑音除去後の信号Ｌ２は第５図のＬ
２となる。即ち、パツケージの平面部分の反射光
レベルをゼロと設定すると前記傾斜面２ａ，２ｂ
に相当するレベルはレベルVa、レベルVbとな
る。さらに正規化された信号Ｌ３が、設定レベル
VL，VHと比較される。即ち設定低レベルVLあ
るいは設定高レベルVHを越えるレベルVa，Vb
が存在する場合に、当該レベル信号を有するパツ
ケージは不良パツケージと判別し、不良パツケー
ジ信号を出力するのである。
なお、基準レベルVH，VLの設定は糸の太さ、
色、イメージセンサの精度等により適宜変更する
ことが可能である。
色、イメージセンサの精度等により適宜変更する
ことが可能である。
以上のように、本考案では偏光板によつて乱反
射成分を除去できるため、パツケージ表面の凹凸
の影を鮮明に読取ることができ、不良パツケージ
の判別を正確に行うことができる。特に光学像を
デイスプレイ上で直接読取る場合にはレベル差ｌ
２が大きく判別が容易となる。
射成分を除去できるため、パツケージ表面の凹凸
の影を鮮明に読取ることができ、不良パツケージ
の判別を正確に行うことができる。特に光学像を
デイスプレイ上で直接読取る場合にはレベル差ｌ
２が大きく判別が容易となる。
第１図は本考案の実施例を示す概略構成図、第
２図は偏光板の作用を説明する斜視図、第３図は
パツケージ表面に照射した光の反射によつて得ら
れる光学像の説明図、第４図はイメージセンサで
得られる光信号の分析装置の一例を示すブロツク
図、第５図は同分析装置により処理される信号の
変化を示す信号レベル線図である。 １……パツケージ、２……糸層表面、４……光
源、６……第１の偏光板、８……第２の偏光板、
１０……受光素子。
２図は偏光板の作用を説明する斜視図、第３図は
パツケージ表面に照射した光の反射によつて得ら
れる光学像の説明図、第４図はイメージセンサで
得られる光信号の分析装置の一例を示すブロツク
図、第５図は同分析装置により処理される信号の
変化を示す信号レベル線図である。 １……パツケージ、２……糸層表面、４……光
源、６……第１の偏光板、８……第２の偏光板、
１０……受光素子。
Claims (1)
- パツケージ表面に光を当てる光源とパツケージ
間に第１の偏光板を配置し、パツケージと受光素
子間に上記偏光板と同方向の第２の偏光板を配置
したことを特徴とする巻形不良パツケージの判別
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1985053907U JPH0136846Y2 (ja) | 1985-04-11 | 1985-04-11 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1985053907U JPH0136846Y2 (ja) | 1985-04-11 | 1985-04-11 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61178759U JPS61178759U (ja) | 1986-11-07 |
| JPH0136846Y2 true JPH0136846Y2 (ja) | 1989-11-08 |
Family
ID=30575202
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1985053907U Expired JPH0136846Y2 (ja) | 1985-04-11 | 1985-04-11 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0136846Y2 (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5946048B2 (ja) * | 1977-04-22 | 1984-11-10 | 株式会社日立製作所 | 磁気記録再生装置 |
| JPS6014526A (ja) * | 1983-07-05 | 1985-01-25 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | オ−ルバンドダブルス−パ−ヘテロダインａｍ受信機 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5946048U (ja) * | 1982-09-17 | 1984-03-27 | 日本マランツ株式会社 | 受信機 |
-
1985
- 1985-04-11 JP JP1985053907U patent/JPH0136846Y2/ja not_active Expired
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5946048B2 (ja) * | 1977-04-22 | 1984-11-10 | 株式会社日立製作所 | 磁気記録再生装置 |
| JPS6014526A (ja) * | 1983-07-05 | 1985-01-25 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | オ−ルバンドダブルス−パ−ヘテロダインａｍ受信機 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61178759U (ja) | 1986-11-07 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5076692A (en) | Particle detection on a patterned or bare wafer surface | |
| KR100261387B1 (ko) | 이물검사방법 및 장치 | |
| JPH01143945A (ja) | テープ欠陥検出方法 | |
| JP3676092B2 (ja) | 表面欠陥検査装置 | |
| JP2001280935A (ja) | 光学検査方法及び光学検査装置 | |
| JPH0136846Y2 (ja) | ||
| EP0335163B1 (en) | Apparatus for detecting foreign matter on the surface of a substrate | |
| JPH11153549A (ja) | 表面検査方法及びその方法を用いる表面検査装置 | |
| JPS63163150A (ja) | プリント基板検査装置 | |
| JPH0821709A (ja) | 表面形状測定装置 | |
| JP2873450B2 (ja) | 光による欠点検査装置 | |
| JPH0227242A (ja) | ケーブルの表面欠陥検出装置 | |
| JP2603078B2 (ja) | 欠陥検査装置 | |
| JPH04178545A (ja) | 透明帯状体の検査方法及び装置 | |
| JPS62249005A (ja) | 物体の形状異常検査装置 | |
| JPH0350008B2 (ja) | ||
| US5995216A (en) | Pattern inspection apparatus | |
| JP2781724B2 (ja) | 巻糸ボビンの検査装置 | |
| JPS62299705A (ja) | 実装部品検査装置 | |
| JP2532513B2 (ja) | 物体有無検査方法 | |
| JPS61194305A (ja) | 形状検査装置 | |
| JP2001513594A (ja) | 素子の端子の位置検出および／またはコプラナリティ検査および／または分離検査のための方法および装置 | |
| JPS60183808U (ja) | 表面検査装置 | |
| JPS6375545A (ja) | 外観検査装置 | |
| JPS63122229A (ja) | 厚膜ｉｃのパタ−ン検査装置 |