JPH01298623A - Mim形電子放出素子 - Google Patents
Mim形電子放出素子Info
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- JPH01298623A JPH01298623A JP63126957A JP12695788A JPH01298623A JP H01298623 A JPH01298623 A JP H01298623A JP 63126957 A JP63126957 A JP 63126957A JP 12695788 A JP12695788 A JP 12695788A JP H01298623 A JPH01298623 A JP H01298623A
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Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B82—NANOTECHNOLOGY
- B82Y—SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
- B82Y10/00—Nanotechnology for information processing, storage or transmission, e.g. quantum computing or single electron logic
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2201/00—Electrodes common to discharge tubes
- H01J2201/30—Cold cathodes
- H01J2201/312—Cold cathodes having an electric field perpendicular to the surface thereof
- H01J2201/3125—Metal-insulator-Metal [MIM] emission type cathodes
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は電子放出素子、詳しくはMIM形の電子放出素
子に関する。
子に関する。
[従来の技術]
従来、簡単な構造で電子の放出が得られる素子として、
金属Mlの表面に絶縁体薄膜中1を付け、その表面に金
属M2を薄く付けたいわゆるMIM形電子電子放出素子
る。
金属Mlの表面に絶縁体薄膜中1を付け、その表面に金
属M2を薄く付けたいわゆるMIM形電子電子放出素子
る。
従来のMIM形電子電子放出素子動回路の概略的構成図
を第1図に示す。1は基板、2は金属Ml、3は絶縁体
薄膜、4は金属M2.5は金属M1と金属M2に電圧を
印加する為の電源、6は金属M2の表面から放出される
電子である。
を第1図に示す。1は基板、2は金属Ml、3は絶縁体
薄膜、4は金属M2.5は金属M1と金属M2に電圧を
印加する為の電源、6は金属M2の表面から放出される
電子である。
XIM形電子電子素子は、金属Mz側が正極になるよう
に素子に電圧を印加し、金属Mlから絶縁体薄膜中に電
子を注入し、注入した電子を絶縁体中で加速し、金属M
2を通して電子放出せしめるものである。
に素子に電圧を印加し、金属Mlから絶縁体薄膜中に電
子を注入し、注入した電子を絶縁体中で加速し、金属M
2を通して電子放出せしめるものである。
一般に、このような素子において、金属M2の厚さは、
電子放出電流を得る為に、数十〜数百Aにする必要があ
る。また絶縁体薄膜3の厚さは数十A〜300Aの薄い
ものと、数百へ〜数ミクロンの厚いものがある。
電子放出電流を得る為に、数十〜数百Aにする必要があ
る。また絶縁体薄膜3の厚さは数十A〜300Aの薄い
ものと、数百へ〜数ミクロンの厚いものがある。
絶縁体薄膜3の厚さが薄い旧X形電子放出素子の絶縁体
薄膜の製造法は、金属N!の材料としてAi)材料を用
い、このAi)金属の表面を熱酸化または陽極酸化を施
することによりAIhChの絶縁体薄膜を設けていた。
薄膜の製造法は、金属N!の材料としてAi)材料を用
い、このAi)金属の表面を熱酸化または陽極酸化を施
することによりAIhChの絶縁体薄膜を設けていた。
この絶縁体薄膜の厚さはひじように薄く、欠陥のない−
様な膜質が要求される為、実用的には上述した方法に限
定されている。
様な膜質が要求される為、実用的には上述した方法に限
定されている。
絶縁体薄膜3の厚いMIX形電子電子放出素子に第1図
に示すような素子を製造しても電子放出は得られず、上
部金属M2が正極になるように金属M1と金属M2間に
電圧を印加するフォーミング処理を必要とする。このフ
ォーミング処理は、絶縁破壊とは異なり、電極物質の絶
縁体薄膜中への拡散、絶縁体中での結晶化、絶縁体組成
の化学量論的なズレ等の説があるがいまだ解明されてい
ない。このように非可逆的なフォーミング処理を行う為
には、絶縁体薄膜の材料としてAg2O3、MnO2、
SiO等の酸化物、LiF、 KF、 MgF2. N
aBr等のハロゲン化物、ZnS、 CdS等の硫化物
、特定の有機化合物に限定され、金属M2の材料、とし
てAu、 Cu、 Ag、 Aj)等に限定される。
に示すような素子を製造しても電子放出は得られず、上
部金属M2が正極になるように金属M1と金属M2間に
電圧を印加するフォーミング処理を必要とする。このフ
ォーミング処理は、絶縁破壊とは異なり、電極物質の絶
縁体薄膜中への拡散、絶縁体中での結晶化、絶縁体組成
の化学量論的なズレ等の説があるがいまだ解明されてい
ない。このように非可逆的なフォーミング処理を行う為
には、絶縁体薄膜の材料としてAg2O3、MnO2、
SiO等の酸化物、LiF、 KF、 MgF2. N
aBr等のハロゲン化物、ZnS、 CdS等の硫化物
、特定の有機化合物に限定され、金属M2の材料、とし
てAu、 Cu、 Ag、 Aj)等に限定される。
一般にMIX形電子電子放出素子電極Ml、M2に印加
する電圧に対し指数関数的に電子放出電流が得られる。
する電圧に対し指数関数的に電子放出電流が得られる。
[発明が解決しようとする課題]
しかしながら、上記のようなMIM形電子電子放出素子
子構造が簡単であるという利点があるにもかかわらず次
のような欠点がある為産業上積極的に応用されるには至
っていなかった。
子構造が簡単であるという利点があるにもかかわらず次
のような欠点がある為産業上積極的に応用されるには至
っていなかった。
先ず絶縁体膜が薄いMIX形電子電子放出素子題点とし
て絶縁体膜が薄い為絶縁破壊が生じ易い、素子に印加す
る電圧が低い為充分な放出電流が得られない、素子の製
造上金属M1と絶縁体薄膜の材料がそれぞれAj)どA
I!203に限定され素子設計上の融通性がない、とい
った点が挙げられる。次に絶縁体膜が厚いMIX形電子
電子放出素子題点としてはフォーミング処理の制御性が
悪い為素子を再現性良く製造することが難しくバラツキ
も生じ易い、フォーミング処理のできる絶縁体膜と金属
M2の材料が上述したように限定される、といった点で
ある。
て絶縁体膜が薄い為絶縁破壊が生じ易い、素子に印加す
る電圧が低い為充分な放出電流が得られない、素子の製
造上金属M1と絶縁体薄膜の材料がそれぞれAj)どA
I!203に限定され素子設計上の融通性がない、とい
った点が挙げられる。次に絶縁体膜が厚いMIX形電子
電子放出素子題点としてはフォーミング処理の制御性が
悪い為素子を再現性良く製造することが難しくバラツキ
も生じ易い、フォーミング処理のできる絶縁体膜と金属
M2の材料が上述したように限定される、といった点で
ある。
[問題点を解決するための手段及び作用]本発明は、比
較的厚い絶縁体膜中に微粒子を分散させることにより上
述問題点を解決するものである。つまり、数百Aから数
ルの厚い絶縁体膜中に微粒子を分散せしめた構造の旧N
形電子放出素子に比較的高電圧を印加することにより上
述問題点を解決するものである。
較的厚い絶縁体膜中に微粒子を分散させることにより上
述問題点を解決するものである。つまり、数百Aから数
ルの厚い絶縁体膜中に微粒子を分散せしめた構造の旧N
形電子放出素子に比較的高電圧を印加することにより上
述問題点を解決するものである。
第2図は、本発明による電子放出素子の第1実施形態を
示す概略的模式図である。
示す概略的模式図である。
同図において、7はガラス等の絶縁基板、8は電圧印加
用の電極M、、9は微粒子11を含む絶縁体膜、10は
電圧印加用の電極M2である。
用の電極M、、9は微粒子11を含む絶縁体膜、10は
電圧印加用の電極M2である。
第3図は素子を上から見た概略的模式図である。
同図において、12は電子放出部である。絶縁体膜9は
電子放出部12より広い面積に設けた。又電子放出部1
2は電極8と電極lOの重なり部分で形成する。
電子放出部12より広い面積に設けた。又電子放出部1
2は電極8と電極lOの重なり部分で形成する。
絶縁体v9中に分散されている微粒子11の粒径は数十
A〜数pm、望ましくは100OA以下で、さらに微粒
子の間隔は数10A〜数100OAの範囲で形成される
とよい。又絶縁体膜9の厚さは通常数10A〜数終mが
適当である。
A〜数pm、望ましくは100OA以下で、さらに微粒
子の間隔は数10A〜数100OAの範囲で形成される
とよい。又絶縁体膜9の厚さは通常数10A〜数終mが
適当である。
本発明で用いられる微粒子の材料は非常に広い範囲にお
よび通常の金属、半金属、半導体といった導電性材料の
ほとんど全てを使用可能である。
よび通常の金属、半金属、半導体といった導電性材料の
ほとんど全てを使用可能である。
こうした材料から必要とする目的に応じて適宜材料を選
んで微粒子として用いることにより、所望の電子放出素
子を形成することができる。
んで微粒子として用いることにより、所望の電子放出素
子を形成することができる。
具体的にはNb、 Mo、 Rh、 Hf、 Ta、
W 、 Re、 Ir。
W 、 Re、 Ir。
Pt、 Ti、 Au、 Ag、 Cu、 Cr、 A
I!、 Go、旧、 Fe、 Pb。
I!、 Go、旧、 Fe、 Pb。
Pd、 Cs、 Baなどの金属、LaBb 、 Ce
Bb 、 YB4 、 GdBaなどの硼化物、TiC
,ZrC,HfC,TaC,Sin、 Weなどの炭化
物、TiN、 ZrN、 HfNなどの窒化物、In2
03 、5u02 、5b203などの金属酸化物、S
i、 Geなどの半導体、カーボン、AgMgなどを一
例として挙げることができる。なお本発明は上記材料に
限定されるものではない。
Bb 、 YB4 、 GdBaなどの硼化物、TiC
,ZrC,HfC,TaC,Sin、 Weなどの炭化
物、TiN、 ZrN、 HfNなどの窒化物、In2
03 、5u02 、5b203などの金属酸化物、S
i、 Geなどの半導体、カーボン、AgMgなどを一
例として挙げることができる。なお本発明は上記材料に
限定されるものではない。
微粒子を分散して形成するには、所望材料の微粒子の分
散液を回転塗布、ディッピング等の手法で基板等に塗布
し、加熱処理で溶剤、バインダー等を除去する方法が最
も簡便である。この場合に微粒子の粒径、含量、塗布条
件等を調整することにより、その分散の分布状態を容易
に制御することができる。
散液を回転塗布、ディッピング等の手法で基板等に塗布
し、加熱処理で溶剤、バインダー等を除去する方法が最
も簡便である。この場合に微粒子の粒径、含量、塗布条
件等を調整することにより、その分散の分布状態を容易
に制御することができる。
[実施例]
実施例1
実施例により塗布による微粒子の分散の具体的な製造方
法を以下に示す。
法を以下に示す。
まず、清浄なガラス、セラミックス等の絶縁基板7の上
に、電圧印加用の電極8を形成する0通常の真空堆積法
とフォトリソグラフィーの手法又は印刷法等で行うこと
ができる。
に、電圧印加用の電極8を形成する0通常の真空堆積法
とフォトリソグラフィーの手法又は印刷法等で行うこと
ができる。
電極材としては一般的な導電性材料、Au、 Pt。
Ag等の金属の他、Sr+02. ITO等の酸化物導
電性材料でも使用できる。電極7の厚みは数100Aか
ら数μm程度が適当であるが、この数値に限るものでは
ない6本発明ではAuにより形成した。また、電極の幅
はある数値範囲に限定されるものではないが本実施例で
は1.5mmで形成した。
電性材料でも使用できる。電極7の厚みは数100Aか
ら数μm程度が適当であるが、この数値に限るものでは
ない6本発明ではAuにより形成した。また、電極の幅
はある数値範囲に限定されるものではないが本実施例で
は1.5mmで形成した。
絶縁体の材料は特に限定されるものではないが、絶縁耐
圧の高い材料が望ましく、106ポルト/C11の電界
強度で絶縁破壊しないものが好適である。こうした材料
として、5i02. Aβ2Q3 、5i02を主成分
とする絶縁体、Ai’20aを主成分とする絶縁体など
が用いることができる。
圧の高い材料が望ましく、106ポルト/C11の電界
強度で絶縁破壊しないものが好適である。こうした材料
として、5i02. Aβ2Q3 、5i02を主成分
とする絶縁体、Ai’20aを主成分とする絶縁体など
が用いることができる。
次に電極8上に微粒子を含む絶縁体膜を形成する方法を
説明する。
説明する。
分散液は、5i02液体コーティング剤(東京応化工業
製OC:D)にAu微粒子を混合し、5i02 : A
uのモル比を約10:1に調整して製造した。Au微粒
子の粒径は500A以下のものを用いた。この分散液を
スピンコード法で電極8上に塗布した。その後約400
℃で1時間焼成し、膜厚3000AのAu微粒子を分散
した絶縁体膜9を形成した。ここで実際には絶縁基板7
上にも絶縁体膜9が形成されるが、これは何ら素子特性
に影響を与えるものではない。
製OC:D)にAu微粒子を混合し、5i02 : A
uのモル比を約10:1に調整して製造した。Au微粒
子の粒径は500A以下のものを用いた。この分散液を
スピンコード法で電極8上に塗布した。その後約400
℃で1時間焼成し、膜厚3000AのAu微粒子を分散
した絶縁体膜9を形成した。ここで実際には絶縁基板7
上にも絶縁体膜9が形成されるが、これは何ら素子特性
に影響を与えるものではない。
次に電極10を絶縁体膜9上に通常の真空堆積法とフォ
トリソグラフィーの手法により形成した。電極材として
Au、 Pt、 Ag、 Ai’等の金属の他、511
02. ITO電極等の酸化物導電材料でも使用できる
が本発明ではAuにより形成した。電極lOの厚さは、
薄い方が望ましいが、あまり薄すぎると電極としての機
能を得ることができない。一般には数十A〜100OA
が望ましく、本発明では300Aで形成した。
トリソグラフィーの手法により形成した。電極材として
Au、 Pt、 Ag、 Ai’等の金属の他、511
02. ITO電極等の酸化物導電材料でも使用できる
が本発明ではAuにより形成した。電極lOの厚さは、
薄い方が望ましいが、あまり薄すぎると電極としての機
能を得ることができない。一般には数十A〜100OA
が望ましく、本発明では300Aで形成した。
本発明では電子放出部12の面積を1mm角に形成した
。
。
以上の工程により作製された素子をI X 1O−5T
orr以上の真空下に置き先に述べた電極8,10に電
圧を印加し、電子放出の特性を検討した。
orr以上の真空下に置き先に述べた電極8,10に電
圧を印加し、電子放出の特性を検討した。
従来の素子においては、絶縁破壊が生じ易くまた数10
%も特性がばらつく例が多かったが、本発明の素子は、
素子間のばらつきが小さく、15Vの電圧を印加して放
出電流2.5.Aが安定に得られた。また本素子に電圧
18Vを印加しても絶縁破壊が生じない、きわめて絶縁
耐圧が高い素子であることがわかった。
%も特性がばらつく例が多かったが、本発明の素子は、
素子間のばらつきが小さく、15Vの電圧を印加して放
出電流2.5.Aが安定に得られた。また本素子に電圧
18Vを印加しても絶縁破壊が生じない、きわめて絶縁
耐圧が高い素子であることがわかった。
本発明の素子は微粒子の材料や大きさ、微粒子密度、電
極材料、絶縁体薄膜の材料等を変化させるとそれぞれの
条件に応じて電子放出特性の異なる素子が再現性良く作
成できることがわかった。
極材料、絶縁体薄膜の材料等を変化させるとそれぞれの
条件に応じて電子放出特性の異なる素子が再現性良く作
成できることがわかった。
本実施例において金の微粒子を用いたが、これに限定さ
れるものではなく、上述したように他の金属あるいは半
導体の微粒子においても同様な結果が期待できる。
れるものではなく、上述したように他の金属あるいは半
導体の微粒子においても同様な結果が期待できる。
実施例2
次に本発明の第2の実施例を説明する。
絶縁体膜9の形成方法として、5i02等の液体コーテ
ィング剤に有機金属化合物の溶液を電極8上に塗布した
後、熱分解によって半導体の金属酸化物や金属の微粒子
を絶縁体膜中に形成する手法も用いた。−例としては、
カプリル酸スズ(G7H+5C00)2Sn 、ジイソ
アシロキシエトキシアンチモンCzHsO((5H+1
0)2sbの熱分解によってそれぞれ5n02 、 S
b203の微粒子を形成したり、有機パラジウム化合物
からPd微粒子を形成する例などを挙げることができる
。
ィング剤に有機金属化合物の溶液を電極8上に塗布した
後、熱分解によって半導体の金属酸化物や金属の微粒子
を絶縁体膜中に形成する手法も用いた。−例としては、
カプリル酸スズ(G7H+5C00)2Sn 、ジイソ
アシロキシエトキシアンチモンCzHsO((5H+1
0)2sbの熱分解によってそれぞれ5n02 、 S
b203の微粒子を形成したり、有機パラジウム化合物
からPd微粒子を形成する例などを挙げることができる
。
具体的に示すと5iCh液体コーティング剤に有機パラ
ジウム化合物とPd金属換算比率で0.2%含む酢酸ブ
チル溶液(奥野製薬工業製キャタペースト(CAP−4
230)を混合した。混合する割合はSiO2: Pd
のモル比を約10=1にした。次に実施例1と同様この
混合分散液を電極8上に塗布、熱処理(250℃前後)
して約500A程度の微粒子を含む絶縁体膜9を形成し
た。
ジウム化合物とPd金属換算比率で0.2%含む酢酸ブ
チル溶液(奥野製薬工業製キャタペースト(CAP−4
230)を混合した。混合する割合はSiO2: Pd
のモル比を約10=1にした。次に実施例1と同様この
混合分散液を電極8上に塗布、熱処理(250℃前後)
して約500A程度の微粒子を含む絶縁体膜9を形成し
た。
前記と同様に特性を測定したところ、16vの印加電圧
で放出電流1.21LAが安定に得られた。また有機パ
ラジウム化合物の濃度や熱処理温度を変えると、放出電
流の値を再現よく変化させることができた。
で放出電流1.21LAが安定に得られた。また有機パ
ラジウム化合物の濃度や熱処理温度を変えると、放出電
流の値を再現よく変化させることができた。
実施例3
本発明の第3の実施例である絶縁体膜9の形成方法を説
明する。絶縁体膜9の形成方法としてプラズマや熱CV
D法等による5i02等の真空堆積法がある。この時堆
積膜材料のガス種やガス量、比を適当に選ぶことによっ
て堆積中に電気的導体゛あるいは、半導体の微粒子が発
生し膜内に分散された絶縁体膜9が得られる。
明する。絶縁体膜9の形成方法としてプラズマや熱CV
D法等による5i02等の真空堆積法がある。この時堆
積膜材料のガス種やガス量、比を適当に選ぶことによっ
て堆積中に電気的導体゛あるいは、半導体の微粒子が発
生し膜内に分散された絶縁体膜9が得られる。
ここで絶縁体膜と電気的導体あるいは半導体の微粒子材
は特に限定されるものではなく、CVD法等の真空堆積
法で形成されるものであれば同様な結果が得られる。
は特に限定されるものではなく、CVD法等の真空堆積
法で形成されるものであれば同様な結果が得られる。
具体的に示すと、電極8上にN20ガスとSiH4ガス
を流量比をN20 : 5iHa= 3 : 1から5
0=1の範囲として約700℃の加熱状態でプラズマC
VDにより粒径が約100A以下のSiを1%から15
%含むS i02絶縁体膜9を形成した。膜厚は約30
00Aで形成した。
を流量比をN20 : 5iHa= 3 : 1から5
0=1の範囲として約700℃の加熱状態でプラズマC
VDにより粒径が約100A以下のSiを1%から15
%含むS i02絶縁体膜9を形成した。膜厚は約30
00Aで形成した。
本実施例における電子放出素子においてその特性を検討
したところ、13Vの印加電圧で放出電流が約0.1鉢
A得られた。
したところ、13Vの印加電圧で放出電流が約0.1鉢
A得られた。
また、本実施例において、5i02絶縁体膜9中のSi
の量や、成膜時の温度によって電子放出特性を制御でき
る。
の量や、成膜時の温度によって電子放出特性を制御でき
る。
[発明の効果]
以上説明したように、HIM形電子電子素子の絶縁体膜
中に微粒子を分散させた比較的厚い絶縁体■々を形成す
ることにより、次のような効果が得られた。
中に微粒子を分散させた比較的厚い絶縁体■々を形成す
ることにより、次のような効果が得られた。
■ 絶縁破壊が生じにくい為、歩留りや再現性が改善さ
れた。
れた。
■IOV以上の電圧を素子に印加できる為高い放出電流
が得られた。
が得られた。
■電極材や絶縁体膜材および微粒子材の材質が限定され
ない為、素子設計の幅が広がった。
ない為、素子設計の幅が広がった。
■フォーミング処理を必要としない為、電子放出特性の
制御や、材料の選択範囲で広がった。
制御や、材料の選択範囲で広がった。
第1図は従来のMIX形電子電子放出素子動回路を示す
概略的な構成図である。第2図は本発明によるMIX形
電子電子放出素子略的模式図である。 第3図は本発明によるMIX形電子電子放出素子から見
た概略的模式図である。 l・・・基板 2・・・金属M+ (電極M
+)3・・・絶縁体薄膜 ・ 4・・・金属M2 (
電極M2)5・・・電源 6・・・電子7・
・・微粒子を含む絶縁体膜 8・・・微粒子 9・・・電子放出部用願人
キャノン株式会社 代理人 豊 1) 善 雄 t t t t t、/’ 第1図 第2図 第3図 f 続 補 正 書 昭和63年8月19 日 特許庁長官 吉 1)文 毅 殿 1、用件の表示 特願昭63−126957号 2、発明の名称 HIM形電子電子素子 3、補正をする者 事件との関係・特許出願人 東京都大田区下丸子3丁目30番2号 (100) ′!F−ヤノン株式会社 代表者 賀 来 龍 三 部 4、代 理 人 東京都千代田区有楽町1丁目4番1号 三信ビル204号室 電話501−2138自発補正 6、補正の対象 明細書の「発明の詳細な説明」及び図面の7、補正の内
容 7−1 明細書第8頁5行目「電極7」を「電極8」
と訂正する。 7−2 図面の第2図及び第3図を別紙の通り訂正する
。 以上
概略的な構成図である。第2図は本発明によるMIX形
電子電子放出素子略的模式図である。 第3図は本発明によるMIX形電子電子放出素子から見
た概略的模式図である。 l・・・基板 2・・・金属M+ (電極M
+)3・・・絶縁体薄膜 ・ 4・・・金属M2 (
電極M2)5・・・電源 6・・・電子7・
・・微粒子を含む絶縁体膜 8・・・微粒子 9・・・電子放出部用願人
キャノン株式会社 代理人 豊 1) 善 雄 t t t t t、/’ 第1図 第2図 第3図 f 続 補 正 書 昭和63年8月19 日 特許庁長官 吉 1)文 毅 殿 1、用件の表示 特願昭63−126957号 2、発明の名称 HIM形電子電子素子 3、補正をする者 事件との関係・特許出願人 東京都大田区下丸子3丁目30番2号 (100) ′!F−ヤノン株式会社 代表者 賀 来 龍 三 部 4、代 理 人 東京都千代田区有楽町1丁目4番1号 三信ビル204号室 電話501−2138自発補正 6、補正の対象 明細書の「発明の詳細な説明」及び図面の7、補正の内
容 7−1 明細書第8頁5行目「電極7」を「電極8」
と訂正する。 7−2 図面の第2図及び第3図を別紙の通り訂正する
。 以上
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1)相対向する2枚の電極間に微粒子を含む絶縁体を設
けたことを特徴とするMIM形電子放出素子。 2)微粒子が金属である請求項1記載のMIM形電子放
出素子。 3)微粒子が半導体である請求項1記載のMIM形電子
放出素子。 4)微粒子が平均粒径1000Å以下の超微粒子である
請求項1記載のMIM形電子放出素子。 5)微粒子を含む絶縁体が塗布法によって形成されてい
る請求項1〜4記載のMIM形電子放出素子。 6)微粒子が有機化合物の熱分解により形成されている
請求項1〜4記載のMIM形電子放出素子。 7)微粒子を含む絶縁体が真空堆積法によって形成され
ている請求項1〜4記載のMIM形電子放出素子。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12695788A JP2715304B2 (ja) | 1988-05-26 | 1988-05-26 | Mim形電子放出素子 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12695788A JP2715304B2 (ja) | 1988-05-26 | 1988-05-26 | Mim形電子放出素子 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01298623A true JPH01298623A (ja) | 1989-12-01 |
JP2715304B2 JP2715304B2 (ja) | 1998-02-18 |
Family
ID=14948080
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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WO2009066723A1 (ja) * | 2007-11-20 | 2009-05-28 | Sharp Kabushiki Kaisha | 電子放出素子、電子放出装置、自発光デバイス、画像表示装置、送風装置、冷却装置、帯電装置、画像形成装置、電子線硬化装置、および電子放出素子の製造方法 |
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JP2021093265A (ja) * | 2019-12-09 | 2021-06-17 | シャープ株式会社 | 電子放出素子及びその製造方法 |
-
1988
- 1988-05-26 JP JP12695788A patent/JP2715304B2/ja not_active Expired - Fee Related
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