JPH01295215A - 照明装置 - Google Patents

照明装置

Info

Publication number
JPH01295215A
JPH01295215A JP1087787A JP8778789A JPH01295215A JP H01295215 A JPH01295215 A JP H01295215A JP 1087787 A JP1087787 A JP 1087787A JP 8778789 A JP8778789 A JP 8778789A JP H01295215 A JPH01295215 A JP H01295215A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light source
reflecting member
light
incident
images
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP1087787A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0375846B2 (ja
Inventor
Masato Shibuya
眞人 渋谷
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
Priority to JP1087787A priority Critical patent/JPH01295215A/ja
Publication of JPH01295215A publication Critical patent/JPH01295215A/ja
Publication of JPH0375846B2 publication Critical patent/JPH0375846B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Light Sources And Details Of Projection-Printing Devices (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)
  • Lenses (AREA)
  • Projection-Type Copiers In General (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はレーザ光のようなコヒーレント光により所望の
コヒーレンシィの照明を行い得る照明装置に関する。
〔従来の技術〕
結像光学系においては、必要な解像力を得るため照明の
コヒーレンシィを適当な値にすることが必要であり、こ
のためにσ値(対物レンズのNA。
に対する照明系のN、A、の比)を制御することが知ら
れている。
〔発明が解決しようとする課題〕
レーザ光のようなコヒーレントな光源を照明光源とする
場合には、光源をスポットに集光し、それを結像光学系
の瞳位置で適当な大きさだけ走査することによって、必
要とするコヒーレンシィを得ることかできる。しかし走
査する面積が大きい場合には、走査するための光学系が
大きくなり、また走査に要する時間が長くなるという欠
点がある。
そこで、本発明の目的は、コヒーレンシィの高いレーザ
光源を用いた場合にも、コヒーレンシィを低減した証明
を可能とし、簡単な構成によって実質的にインコヒーレ
ントな光源を形成することもでき、対物光学系を介して
効率良い照明を可能とする照明装置を提供することにあ
る。
〔課題を解決するための手段〕
本発明による照明装置は、光源と、内面反射可能な側面
を有する反射部材と、該反射部材と前記光源との間に配
置されて前記反射部材に入射する光源からの入射光束を
所定の点を中心として所望の角度で交差する光束に変換
する光束変換手段とを有し、前記反射部材の内面反射に
よって複数の光源像を形成し、前記複数の光源の像を対
物光学系の入射瞳上に形成することによって被照明物体
を照明するものである。
〔作用〕
上記の如き本発明の構成によれば、光束変換手段によっ
て内面反射可能な側面を有する反射部材に入射する光束
の角度が種々に異なることとなるため、反射部材の各反
射面での反射により入射側に多数の光源像か形成される
。そして、これら多数の光源像それぞれから物体面に達
するまでの光路長が、内面反射による反射光路の長さに
よって差を生ずるために、複数の光源像全体としてのコ
ヒーレンシィを低減させることかできる。さらに、光束
変換手段の構成を、反射部材に入射する光束の角度を時
間と共に変化するような走査手段として構成する場合に
は、時間平均されることによってさらにコヒーレンシィ
を低下させることが可能となり、実質的なインコヒーレ
ント光源を形成することも可能になる。
〔実施例〕
以下、本発明を図示した構成に基ついて説明する。
第1図は本発明による照明装置の原理的構成を示す光路
図であり、光源像形成手段として透明物質で形成された
柱状部材を用い物体面(10)をインコヒーレントに照
明するものである。レーザー光源(1)からのコヒーレ
ント光は走査光学装置(20)により所定の光束径に拡
大されてX−Z平面内で所定の角度範囲にわたって二次
元的に走査され、第2図の斜視図に示したごとき四角柱
部材(9)の入射面(9a)より四角柱部材(9)内に
入射する。四角柱部材(9)の各側面には内面反射する
よう反射膜が蒸着されており、入射する光束は走査角度
θに応じて四角柱部材(9)の側面の内面で反射されて
射出面(9b)より射出する。第1図は光軸方向に2軸
をとった場合のX−Z平面内での走査光束の様子を示す
光路図である。第1図に示したごとく−4= 走査光学装置(20)により平行光束が四角柱部材(9
)の入射面(9a)の中央A。点を回転中心として回転
し、X−2平面内で光軸となす角θが十〇。
〜0〜−〇。の範囲で連続的に変化する。
平行光束の傾角θがいま時計方向に0〜θ。まで変化す
る場合を説明すれば、0〜θ1まては平行光束は側面で
反射されることなく直接射出面(9b)に達するが、0
1〜θ2の時には第1図中下方の側面で内面反射されて
射出面(9b)に達するためこの範囲では、光束があた
かも下方側面に関してAh点と対象なA1点を中心とし
て供給されるように射出面(9b)に達する。そしてさ
らに大きな角度の02〜θ。の時には、下方側面で反射
された後、上方側面でも反射されるため、光束はあたが
も上方側面に関してA1点と対象なA2点を中心として
供給されるように射出面に達する。他方、平行光束の傾
角θが反時計方向に0〜θ。まで変化する場合には、0
〜θ1では光束は直接射出面(9b)に達し、01〜θ
2の範囲では光束はあたかも上方側面に関してA。点と
対象なA1′点より供給されるごとくして射出面(9b
)に達し、02〜θ。の範囲では光束はあたかも下方側
面に関してA1′点と対称なA2”点より供給されるよ
うに射出面(9b)に達する。従って、第1図に示した
X−Z平面図で四角柱部材(9)に入射する光束の角度
か0→+θ。→0→−θ0→0と1周期走査されると、
射出面(9b)には、あたかも順に、A o 、  A
 I+A2.AI、AO,AI’、A2’、A1.AQ
の各点から順次光束か供給されることとなり、四角柱部
材(9)の側面での内面反射により実質的には極めて大
きな光源より光束か供給される状態となる。この状態は
第1図に示したx−Z平面と直交するY−Z平面内ても
同様に形成されるため、四角柱部材(9)の射出面(9
b)近傍の物体面(10)は四角柱部材(9a)の入射
面(9a)を含むX−Y平面上の極めて大きな領域から
照明されることとなる。
ここで、第1図の光路図から明らかな如く、A。At 
 (A+’)A2  (AI−の各点上に形成される各
光源の像から物体面(0)までの光路長はそれぞれ異な
るため、多数の光源像の全体としては空間的にコヒーレ
ンシィの低減した光源か形成されることになる。そして
、所定の時間内の走査についてみれば、その時間内に光
源像の位置が変わることにより、時間的にもコヒーレン
シィを低減させることができ、実質的なインコヒーレン
ト照明を行うことが可能となる。このようなインコヒー
レント照明において、物体面(10)へ達する照明光の
開口数N、 A、は走査光束の最大傾斜角によって決定
される。
尚、上記の構成において、実質的な拡大されたインコヒ
ーレント光源面の位置が、四角柱部材の入射面(9a)
に合致しているが、これは走査される光束の回転中心入
〇が四角柱部材(9)の入射面(9a)上に位置するか
らであり、上記の配置に限られるものではない。また、
X−2平面内とY−Z平面内とで各走査光束の回転中心
の位置か一致する必要がないことはいうまでもない。ま
た四角柱部材の光軸方向の長さか長いほど、内面反射の
回数が多(なり、それだけ光束の実質的供給源の数が増
し、より均一で面光源に近い光源を形成し得るか、反射
率や透過率の低下か避けられないため適当な長さに選定
することか望ましい。
第3図は本発明の実施例に用いられる走査光学装置の例
を示す概略斜視図である。レーザ光源(1)からの光束
はビームエキスパンダー(21)により光束径を拡大さ
れ、Y軸方向に回転軸を存する第1回転ミラー(22)
に入射し、ここでの反射後アフォーカルレンズ系(23
)を通って、X軸方向に回転軸を有する第2回転ミラー
(24)に入射する。第2回転ミラー(24)で反射さ
れた光束は、2つの正レンズ群26a、 26bからな
る所謂ケプラー型のアフォーカルレンズ系(26)を通
って、走査面(3)上に達する。
ここで第1及び第2回転ミラー(22,24)かそれぞ
れ回転することにより、アフォーカルレンズ系(26)
に入射する光束は、所定の角度範囲で第1図に示す如く
走査する。第1及び第2回転ミラー(22、24)はそ
れぞれ多面鏡として構成することもできるし、第1、第
2回転ミラーの間に設けられるアフォーカルレンズ(2
3)に関して、両ミラーが兵役位置に構成されることも
有効であり、二次元老査のための構成は図示したものに
限られるものではない。
第4図は第1図に示したインコヒーレント照明の原理的
構成を投影露光装置に応用した実施例の光学系配置図で
ある。第4図の構成例では走査光学装置(20″)によ
り走査される平行光束の回転中心A。点が、四角柱部材
(9)の入射面(9a)から離れた位置にあり、AI点
を含むX−Y平面上に実質的に拡大されたインコヒーレ
ント光源が形成される。そして、四角柱部材の射出面(
9b)の近傍に配置された被照明物体としてのレチクル
(R)かインコヒーレント照明され、投影対物レンズ(
7′)によりレチクル(R)上のパターンがウェハ(W
)上に投影される。レチクル(R)を照明する実質的な
光源面がAI点にあるため、投影対物レンズ(7′)は
その入射瞳がこのA。点の近傍に形成されるものである
ことが望ましい。また、四角柱部材(9)とレチクル(
R)との間にコンデンサーレンズを挿入する場合には、
このコンデンサーレンズに関して、投影対物レンズ(7
°)の入射瞳とへ〇点とが共役になるよう構成すること
が望ましい。
尚、上記実施例では四角柱部材により実質的な拡大され
たインコヒーレント光源を形成したが、柱状部材であれ
ば四角柱に限られるものではない。
また、走査光学装置においてレーザー光源からの光束径
をビームエキスパンダーによって拡大することは必ずし
も必要ではなく、レーザー光源からの光束を角度走査す
るだけで直ちに柱状部材へ入射させることによっても十
分にインコヒーレント照明を行うことができる。
以上のごとく、本発明によれば、コヒーレンシィの高い
光源を用いた場合にも、光束変換手段と内面反射面を有
する反射部材とにより、拡大された大きなインコヒーレ
ント光源が形成されるため、簡単な構成にてコヒーレン
シィの低下した光源を形成することかでき、対物光学系
を介して効率良い照明を行うことか可能である。そして
、レーザ光を小さな領域で走査することとすれば、実質
的にインコヒーレントな光源を形成することができ、簡
単な構成によって高速での走査が可能なインコヒーレン
ト照明装置が達成される。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による原理的構成を示す光路図、第2図
は柱状部材の斜視図、第3図は実施例に用いられる走査
光学装置の斜視図、第4図は本発明による実施例の光学
構成図である。 〔主要部分の符号の説明〕 1・・・レーザー光源 2・・・光束変換手段 7・・・対物光学系

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1)光源と、内面反射可能な側面を有する反射部材と、
    該反射部材と前記光源との間に配置されて前記反射部材
    に入射する光源からの入射光束を所定の点を中心として
    所望の角度で交差する光束に変換する光束変換手段とを
    有し、前記反射部材の内面反射によって複数の光源像を
    形成し、前記複数の光源の像を対物光学系の入射瞳上に
    形成することによって被照明物体を照明することを特徴
    とする照明装置。 2)前記光源はレーザ光源であり、前記反射部材と前記
    光束変換手段とにより形成される複数の光源像によって
    コヒーレンシィを低減した光源を形成することを特徴と
    する特許請求の範囲第1項記載の照明装置。 3)前記光束変換手段は、射出光束の交差角を時間的に
    変化させる走査手段を有することを特徴とする特許請求
    の範囲第2項記載の照明装置。 4)前記対物光学系は、所定のパターンを有するレチク
    ルをウェハ上に投影するための投影対物レンズを有し、
    前記複数の光源像を該投影対物レンズの入射瞳上に形成
    することを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の照明
    装置。
JP1087787A 1989-04-06 1989-04-06 照明装置 Granted JPH01295215A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1087787A JPH01295215A (ja) 1989-04-06 1989-04-06 照明装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1087787A JPH01295215A (ja) 1989-04-06 1989-04-06 照明装置

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP58100689A Division JPS59226317A (ja) 1983-06-06 1983-06-06 照明装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH01295215A true JPH01295215A (ja) 1989-11-28
JPH0375846B2 JPH0375846B2 (ja) 1991-12-03

Family

ID=13924697

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1087787A Granted JPH01295215A (ja) 1989-04-06 1989-04-06 照明装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH01295215A (ja)

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6285855B1 (en) 1997-03-24 2001-09-04 Canon Kabushiki Kaisha Illumination system and exposure apparatus having the same
US6377336B1 (en) 1991-09-11 2002-04-23 Nikon Corporation Projection exposure apparatus
US6392742B1 (en) 1999-06-01 2002-05-21 Canon Kabushiki Kaisha Illumination system and projection exposure apparatus
US6636293B1 (en) 1990-08-21 2003-10-21 Nikon Corporation Exposure method and apparatus having a decreased light intensity distribution
US6665050B2 (en) 1990-11-15 2003-12-16 Nikon Corporation Projection exposure methods using difracted light with increased intensity portions spaced from the optical axis
US6710855B2 (en) 1990-11-15 2004-03-23 Nikon Corporation Projection exposure apparatus and method
US7649676B2 (en) 2006-06-14 2010-01-19 Asml Netherlands B.V. System and method to form unpolarized light
US7656504B1 (en) 1990-08-21 2010-02-02 Nikon Corporation Projection exposure apparatus with luminous flux distribution
US7728954B2 (en) 2006-06-06 2010-06-01 Asml Netherlands B.V. Reflective loop system producing incoherent radiation
US7948606B2 (en) 2006-04-13 2011-05-24 Asml Netherlands B.V. Moving beam with respect to diffractive optics in order to reduce interference patterns

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3693515A (en) * 1971-04-30 1972-09-26 Vari Typer Corp Optical reflector system
JPS56160040A (en) * 1980-05-14 1981-12-09 Canon Inc Printing device

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3693515A (en) * 1971-04-30 1972-09-26 Vari Typer Corp Optical reflector system
JPS56160040A (en) * 1980-05-14 1981-12-09 Canon Inc Printing device

Cited By (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7656504B1 (en) 1990-08-21 2010-02-02 Nikon Corporation Projection exposure apparatus with luminous flux distribution
US6636293B1 (en) 1990-08-21 2003-10-21 Nikon Corporation Exposure method and apparatus having a decreased light intensity distribution
US6665050B2 (en) 1990-11-15 2003-12-16 Nikon Corporation Projection exposure methods using difracted light with increased intensity portions spaced from the optical axis
US6710855B2 (en) 1990-11-15 2004-03-23 Nikon Corporation Projection exposure apparatus and method
US6704092B2 (en) 1990-11-15 2004-03-09 Nikon Corporation Projection exposure method and apparatus that produces an intensity distribution on a plane substantially conjugate to a projection optical system pupil plane
US6392740B1 (en) 1991-09-11 2002-05-21 Nikon Corporation Projection exposure apparatus
US6710854B2 (en) 1991-09-11 2004-03-23 Nikon Corporation Projection exposure apparatus
US6864959B2 (en) 1991-09-11 2005-03-08 Nikon Corporation Projection exposure apparatus
US6377336B1 (en) 1991-09-11 2002-04-23 Nikon Corporation Projection exposure apparatus
US6285855B1 (en) 1997-03-24 2001-09-04 Canon Kabushiki Kaisha Illumination system and exposure apparatus having the same
US6392742B1 (en) 1999-06-01 2002-05-21 Canon Kabushiki Kaisha Illumination system and projection exposure apparatus
US7948606B2 (en) 2006-04-13 2011-05-24 Asml Netherlands B.V. Moving beam with respect to diffractive optics in order to reduce interference patterns
US7728954B2 (en) 2006-06-06 2010-06-01 Asml Netherlands B.V. Reflective loop system producing incoherent radiation
US7649676B2 (en) 2006-06-14 2010-01-19 Asml Netherlands B.V. System and method to form unpolarized light

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0375846B2 (ja) 1991-12-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS59226317A (ja) 照明装置
US4974919A (en) Illuminating device
WO1993016373A1 (en) Apparatus for optical inspection of patterned substrates
JP2002509653A (ja) 専用鏡投写システムを備える走査リソグラフィック装置
JP3278277B2 (ja) 投影露光装置及びこれを用いたデバイス製造方法
JP2008272806A (ja) レーザ加工装置
JPH01295215A (ja) 照明装置
JPH05509178A (ja) 顕微鏡のための共焦点画像システム
KR960001904A (ko) 노광 장치
KR20000069918A (ko) 리소그래픽 투사용 3-거울 시스템과, 그와 같은 거울 시스템을포함하는 투사 장치
JP2586662B2 (ja) 投影露光装置
JPS63114186A (ja) 照明装置
JP2712590B2 (ja) 倒立顕微鏡
JPS6381420A (ja) 照明装置
JPH11231549A (ja) 走査型露光装置および露光方法
JP2765162B2 (ja) 照明装置
JPH086263A (ja) 面位置検出装置
JPH01109720A (ja) 照明装置
JP2004012574A (ja) 投影露光光学系および投影露光装置
JPH0697047A (ja) 照明光学系
RU1805286C (ru) Устройство измерени линейных размеров деталей
JPS5989417A (ja) マスク設定方法
JP3600919B2 (ja) 走査型投影露光装置、走査投影露光方法及び半導体集積回路の製造方法
JPH11257959A (ja) レーザー光投影光学系
JPS60155912A (ja) 広視野測距装置