JPH01290008A - プラントの異常診断装置 - Google Patents
プラントの異常診断装置Info
- Publication number
- JPH01290008A JPH01290008A JP63120916A JP12091688A JPH01290008A JP H01290008 A JPH01290008 A JP H01290008A JP 63120916 A JP63120916 A JP 63120916A JP 12091688 A JP12091688 A JP 12091688A JP H01290008 A JPH01290008 A JP H01290008A
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- JP
- Japan
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- abnormality
- knowledge
- plant
- factor
- cause
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- 230000005856 abnormality Effects 0.000 title claims abstract description 57
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 26
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 claims description 11
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 abstract description 12
- 238000001514 detection method Methods 0.000 abstract description 11
- 230000001364 causal effect Effects 0.000 abstract description 10
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 238000010248 power generation Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、例えば発Ｉ’ｌｌプラント４ζど複数の装
置により構成されたプラントにおいて、異常σ）発生箇
所と原因を推定する異常診断装置に関するものである。
置により構成されたプラントにおいて、異常σ）発生箇
所と原因を推定する異常診断装置に関するものである。
第４図は例えば特開昭６０−９１４１３ 号公報に示
された従来のプラントの異常診断装置を示す構成図であ
る。
された従来のプラントの異常診断装置を示す構成図であ
る。
図において、電子計算機（１）は発電プラント（２）よ
りプロセス量を読み込むプロセス入力部（９）と、その
プロセス量より異常を検出する異常検出部（４）と、異
常検出部（４）において検出された異常事象より異常原
因を推論する異常原因推論部（５）と、因果関係による
知識の蓄積された知識データベース（６）とＣＲＴ表示
装置（７）へ出力する処理を行なう表示処理部（８）と
からなる。
りプロセス量を読み込むプロセス入力部（９）と、その
プロセス量より異常を検出する異常検出部（４）と、異
常検出部（４）において検出された異常事象より異常原
因を推論する異常原因推論部（５）と、因果関係による
知識の蓄積された知識データベース（６）とＣＲＴ表示
装置（７）へ出力する処理を行なう表示処理部（８）と
からなる。
また、第５図は、従来の異常診断装置における異常原因
推定方式を説明するための説明図である。
推定方式を説明するための説明図である。
次に動作について説明する。異常検出処理部（４）では
、プロセス入力部（３）により入力された発電プラント
のプロセス量の変化を監視し、正常範囲から逸脱した場
合に異常が発生したことを検出する。
、プロセス入力部（３）により入力された発電プラント
のプロセス量の変化を監視し、正常範囲から逸脱した場
合に異常が発生したことを検出する。
異常原因推論部（５）は、異常検出処理部（４）で異常
が検出された場合動作し、検出された異常事象により異
常原因を推論し、その推論結果は、表示処理部（８）に
より表示処理され、ＣＲＴ表示装置（７）に表示される
。異常原因の推論は、知識データベース（６）に蓄積さ
れた因果関係による知識により行なわれる。例えば、第
５図において原因１ＭＪであれば事象’Ｍ１．と’Ｍ２
Ｊが発生する。原因１ＭＩＪであれば事象’ＭＩＩＪと
’Ｍｉ２Ｊが発生し、原因’Ｍ ２ 、 ｆＪｔｌＪｆ
’Ｍ２１． ト”Ｍ２２． 、’Ｍ２３Ｊが発生する
。このように関連水として表わされた因果関係の知識に
より、発生した異常事象から原因を探索し、推定する。
が検出された場合動作し、検出された異常事象により異
常原因を推論し、その推論結果は、表示処理部（８）に
より表示処理され、ＣＲＴ表示装置（７）に表示される
。異常原因の推論は、知識データベース（６）に蓄積さ
れた因果関係による知識により行なわれる。例えば、第
５図において原因１ＭＪであれば事象’Ｍ１．と’Ｍ２
Ｊが発生する。原因１ＭＩＪであれば事象’ＭＩＩＪと
’Ｍｉ２Ｊが発生し、原因’Ｍ ２ 、 ｆＪｔｌＪｆ
’Ｍ２１． ト”Ｍ２２． 、’Ｍ２３Ｊが発生する
。このように関連水として表わされた因果関係の知識に
より、発生した異常事象から原因を探索し、推定する。
従来のプラントの異常診断装置は以上のように構成され
ているので、原因と事象間の因果関係が第５図のように
整理されている場合には容易に実現できるが、全ての故
障原因を想定するのは困難である。また、想定できたと
しても故障原因に対する事象が発電プラントなどの場合
にはプラントの運転状態によって異なるため、原因と事
象間の因果関係の知識を整理するのは容易でなく、適用
し難いなどの課題があった。
ているので、原因と事象間の因果関係が第５図のように
整理されている場合には容易に実現できるが、全ての故
障原因を想定するのは困難である。また、想定できたと
しても故障原因に対する事象が発電プラントなどの場合
にはプラントの運転状態によって異なるため、原因と事
象間の因果関係の知識を整理するのは容易でなく、適用
し難いなどの課題があった。
この発明は上記のような課題を解消するためになこれた
もので、故障原因と事象間の因果関係の知識が整理きれ
難い対象プラントに対して、表現し易すい知識と推論手
段とを備えたプラントσ）異常診断装置を得ることを目
的とする。
もので、故障原因と事象間の因果関係の知識が整理きれ
難い対象プラントに対して、表現し易すい知識と推論手
段とを備えたプラントσ）異常診断装置を得ることを目
的とする。
この発明に係るプラントの異常診断装置は、複数の装置
で構成されたプラントから入力されたプロセス値の変化
により異常を推定し５運転員にガイドするプラントの異
常診断装置において、上記プラン）（７’）構成装置毎
に作成され該装置が正常な時の特性を定性的・定量的に
表現した知識と、上記プラントからのプロセス値とを比
較推論し、異常の原因となっている箇所を有する装置を
特定する手段を備えたものである。
で構成されたプラントから入力されたプロセス値の変化
により異常を推定し５運転員にガイドするプラントの異
常診断装置において、上記プラン）（７’）構成装置毎
に作成され該装置が正常な時の特性を定性的・定量的に
表現した知識と、上記プラントからのプロセス値とを比
較推論し、異常の原因となっている箇所を有する装置を
特定する手段を備えたものである。
この発明におけるプラントの異常診断袋Ｍは、プラント
の構成装置毎に作成された装置が正常な時の特性を定性
的・定量的に表現した知識と、プラントからのプロセス
値とを比較推論し、異常（ｈ原因となっている箇所を有
する装置を特定して、この特定された装置について異常
原因を推定する。
の構成装置毎に作成された装置が正常な時の特性を定性
的・定量的に表現した知識と、プラントからのプロセス
値とを比較推論し、異常（ｈ原因となっている箇所を有
する装置を特定して、この特定された装置について異常
原因を推定する。
以下、この発明の一実施例を図について説明する。第１
図において、（１）は電子計算機であり、発電プラント
（２）よりプロセス量を読み込むプロセス入力部（３）
と、そのプロセス量より異常を検出する異常検出部（４
）と、異常検出部（４）において検出された異常事象と
プロセス入力部（３）において入力されたデータとから
異常箇所と異常原因を推論する昆常原因推論部（５）と
、プラントの構成装置毎に作成した正常時の特性を定性
的・定量的に表現した知識及び故障原因と事象間の因果
関係の知識とから構成される知識ベース（６）と、ＣＲ
Ｔ表示装置（７）へ発生事象、故障箇所・原因、対応処
置などを出力する処理を行なう表示処理部（８）とから
なる。
図において、（１）は電子計算機であり、発電プラント
（２）よりプロセス量を読み込むプロセス入力部（３）
と、そのプロセス量より異常を検出する異常検出部（４
）と、異常検出部（４）において検出された異常事象と
プロセス入力部（３）において入力されたデータとから
異常箇所と異常原因を推論する昆常原因推論部（５）と
、プラントの構成装置毎に作成した正常時の特性を定性
的・定量的に表現した知識及び故障原因と事象間の因果
関係の知識とから構成される知識ベース（６）と、ＣＲ
Ｔ表示装置（７）へ発生事象、故障箇所・原因、対応処
置などを出力する処理を行なう表示処理部（８）とから
なる。
また、第２図はこの発明における異常匣内推論方式を説
明するための説明図であり、第２図における装置１、装
置２、・・・、装置ｎはそれぞれプラントを構成する装
置を示し、それぞれ、プロセス入力部（３）にプロセス
値を入力することによって区切られた部分であり、必ず
しも独立した装置として切り離すことが出来るも内でな
くともよい。
明するための説明図であり、第２図における装置１、装
置２、・・・、装置ｎはそれぞれプラントを構成する装
置を示し、それぞれ、プロセス入力部（３）にプロセス
値を入力することによって区切られた部分であり、必ず
しも独立した装置として切り離すことが出来るも内でな
くともよい。
第３図は上言ｅプラントを構成する装置ごとに作成され
た知識を説明するための説明図であり、知識ベース（６
）に記憶されている。
た知識を説明するための説明図であり、知識ベース（６
）に記憶されている。
次に上記実施例の動作について説明する。プロセス入力
部（３）では、発電プラント（２）よりデータを入力す
るとともに定量的なプロセス値を異常原因推論部（５）
で使用する１−ゆっくり増加ヨ、「一定ヨなどの定性的
なデータに変換する。異常検出処理部（４）では、プロ
セス入力部（３）で入力処理されたプロセス量を監視し
、正常範囲から逸脱した場合に異常が発生したことを検
出する。異常原因推論部（５）は異常検出処理部（４）
で異常が検出された場合動作し、検出された異常事象及
び定性的・定量的なプロセス量により故障箇所・原因の
推論を行ない、その推論結果は表示処理部（８）により
表示処理されＣＲＴ表示装置（７）に表示される。異常
原因の推論は知識ベース（６）に蓄積されたプラントの
構成装置毎に作成された正常時の特性を定性的・定量的
に表現しナコ知識及び故障原因と事仲間の因果関係σ）
知識により行なわれる。例えば、第２図においでプラン
トは装置１から装置ｎにより構成されており、装置毎に
作成これた知識は第３図のように「入力データがゆっく
り増加ならば出力データもゆっくり増加、のように正常
時の特性を定性的に表現した知識と正常時の入力データ
と出力データの関係を定量的に表現しナコ知識と１原因
Ａならば入力データ一定のとき出力データはハンチング
するヨのような故障原因と事象間の因果関係の知識とか
ら構成されている。例えば異常検出処理部で１
異常事象Ｚが検出された場合には、異常原因推論部では
、異常事象２を出力データとして持つ装置５から探索を
始め、各装置の正常特性知識と定性的・定量的データと
を比較することにより異常の原因にな−ている装置を特
定する。さらに特定された装置の知識の中にある故障原
因・事象間の因果関係の知識により故障原因を推論する
。
部（３）では、発電プラント（２）よりデータを入力す
るとともに定量的なプロセス値を異常原因推論部（５）
で使用する１−ゆっくり増加ヨ、「一定ヨなどの定性的
なデータに変換する。異常検出処理部（４）では、プロ
セス入力部（３）で入力処理されたプロセス量を監視し
、正常範囲から逸脱した場合に異常が発生したことを検
出する。異常原因推論部（５）は異常検出処理部（４）
で異常が検出された場合動作し、検出された異常事象及
び定性的・定量的なプロセス量により故障箇所・原因の
推論を行ない、その推論結果は表示処理部（８）により
表示処理されＣＲＴ表示装置（７）に表示される。異常
原因の推論は知識ベース（６）に蓄積されたプラントの
構成装置毎に作成された正常時の特性を定性的・定量的
に表現しナコ知識及び故障原因と事仲間の因果関係σ）
知識により行なわれる。例えば、第２図においでプラン
トは装置１から装置ｎにより構成されており、装置毎に
作成これた知識は第３図のように「入力データがゆっく
り増加ならば出力データもゆっくり増加、のように正常
時の特性を定性的に表現した知識と正常時の入力データ
と出力データの関係を定量的に表現しナコ知識と１原因
Ａならば入力データ一定のとき出力データはハンチング
するヨのような故障原因と事象間の因果関係の知識とか
ら構成されている。例えば異常検出処理部で１
異常事象Ｚが検出された場合には、異常原因推論部では
、異常事象２を出力データとして持つ装置５から探索を
始め、各装置の正常特性知識と定性的・定量的データと
を比較することにより異常の原因にな−ている装置を特
定する。さらに特定された装置の知識の中にある故障原
因・事象間の因果関係の知識により故障原因を推論する
。
以上のように、この発明によれば異常原因の推論に用い
る知識をプラントの構成装置毎に作成した正常時の特性
を定性的・定量的に表現した知識ベースを主体に構成し
たので、脚定していない異常原因に対しても異常箇所の
推論が可能となり、また異常原因と事象間の因果関係の
知識の獲得・整理が、プラントの構成装置毎に限定して
できるため容易になるなどの効果がある。
る知識をプラントの構成装置毎に作成した正常時の特性
を定性的・定量的に表現した知識ベースを主体に構成し
たので、脚定していない異常原因に対しても異常箇所の
推論が可能となり、また異常原因と事象間の因果関係の
知識の獲得・整理が、プラントの構成装置毎に限定して
できるため容易になるなどの効果がある。
第１図はこの発明の一実施例によるプラントの異常診断
装置を示す構成図、第２図は第１図の装置の異常原因推
論方式を説明するための説明図、第３図は第１図の装置
の知識ベースに記憶された知識を説明するための説明図
、第４図は従来のプラントの異常診断装置を示す構成図
、第５図は第４図の装置の異常原因推論方式を説明する
ための説明図である。 図において、＋１）は電子計算機、（２）は発電プラン
ト、（３）はプロセス入力部、（４）は異常検出処理部
、（５）は異常原因推論部、（６）は知識ベース、（７
）はＣＲ１表示装置、（８）は表示処理部である。 なお、図中同一符号は同一、又は相当部分を示す。
装置を示す構成図、第２図は第１図の装置の異常原因推
論方式を説明するための説明図、第３図は第１図の装置
の知識ベースに記憶された知識を説明するための説明図
、第４図は従来のプラントの異常診断装置を示す構成図
、第５図は第４図の装置の異常原因推論方式を説明する
ための説明図である。 図において、＋１）は電子計算機、（２）は発電プラン
ト、（３）はプロセス入力部、（４）は異常検出処理部
、（５）は異常原因推論部、（６）は知識ベース、（７
）はＣＲ１表示装置、（８）は表示処理部である。 なお、図中同一符号は同一、又は相当部分を示す。
Claims (1)
- 複数の装置で構成されたプラントから入力されたプロセ
ス値の変化により異常を推定し、運転員にガイドするプ
ラントの異常診断装置において、上記プラントの構成装
置毎に作成され該装置が正常な時の特性を定性的・定量
的に表現した知識と、上記プラントからのプロセス値と
を比較推論し、異常の原因となっている箇所を有する装
置を特定する手段を備えたことを特徴とするプラントの
異常診断装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12091688A JP2540909B2 (ja) | 1988-05-17 | 1988-05-17 | プラントの異常診断装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12091688A JP2540909B2 (ja) | 1988-05-17 | 1988-05-17 | プラントの異常診断装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01290008A true JPH01290008A (ja) | 1989-11-21 |
| JP2540909B2 JP2540909B2 (ja) | 1996-10-09 |
Family
ID=14798164
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12091688A Expired - Lifetime JP2540909B2 (ja) | 1988-05-17 | 1988-05-17 | プラントの異常診断装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2540909B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0497431A (ja) * | 1990-08-15 | 1992-03-30 | Nec Corp | 故障診断用エキスパートシステム |
| JP2009211344A (ja) * | 2008-03-04 | 2009-09-17 | Hitachi Electronics Service Co Ltd | 階層因果関係マトリクスによる想定問題特定方法 |
| JP2018005715A (ja) * | 2016-07-06 | 2018-01-11 | Ｊｆｅスチール株式会社 | 製造プロセスの異常状態診断方法及び異常状態診断装置 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54103975A (en) * | 1978-02-01 | 1979-08-15 | Hitachi Ltd | Detection of abnormality in plant |
| JPS62204302A (ja) * | 1986-03-05 | 1987-09-09 | Hitachi Ltd | プラントの制御方法及びその装置 |
| JPS63191208A (ja) * | 1987-02-04 | 1988-08-08 | Toshiba Corp | プラント運転ガイド装置 |
-
1988
- 1988-05-17 JP JP12091688A patent/JP2540909B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54103975A (en) * | 1978-02-01 | 1979-08-15 | Hitachi Ltd | Detection of abnormality in plant |
| JPS62204302A (ja) * | 1986-03-05 | 1987-09-09 | Hitachi Ltd | プラントの制御方法及びその装置 |
| JPS63191208A (ja) * | 1987-02-04 | 1988-08-08 | Toshiba Corp | プラント運転ガイド装置 |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0497431A (ja) * | 1990-08-15 | 1992-03-30 | Nec Corp | 故障診断用エキスパートシステム |
| JP2009211344A (ja) * | 2008-03-04 | 2009-09-17 | Hitachi Electronics Service Co Ltd | 階層因果関係マトリクスによる想定問題特定方法 |
| JP2018005715A (ja) * | 2016-07-06 | 2018-01-11 | Ｊｆｅスチール株式会社 | 製造プロセスの異常状態診断方法及び異常状態診断装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2540909B2 (ja) | 1996-10-09 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
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|
| EXPY | Cancellation because of completion of term | ||
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