JPH01287939A - ウェハ位置決め機構 - Google Patents
ウェハ位置決め機構Info
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- JPH01287939A JPH01287939A JP63117611A JP11761188A JPH01287939A JP H01287939 A JPH01287939 A JP H01287939A JP 63117611 A JP63117611 A JP 63117611A JP 11761188 A JP11761188 A JP 11761188A JP H01287939 A JPH01287939 A JP H01287939A
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- JP
- Japan
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- wafer
- guide
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- 230000007246 mechanism Effects 0.000 title claims abstract description 24
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 3
- 238000003825 pressing Methods 0.000 abstract description 2
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract 1
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 56
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 7
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N novaluron Chemical compound C1=C(Cl)C(OC(F)(F)C(OC(F)(F)F)F)=CC=C1NC(=O)NC(=O)C1=C(F)C=CC=C1F NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 230000032258 transport Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Control Of Position Or Direction (AREA)
- Jigs For Machine Tools (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔(既 要〕
半導体装置のウェハプロセスにおけるウェハ検査装置の
ウェハ位置決め機構に関し、 サイズの異なるウェハを容易且つ効率的に検査すること
を目的とし、 所定点を中心とする円周上の少なくとも3箇所以上複数
箇所の所定位置に軸受孔を備えた載置台と、一端には片
面に突出して上記軸受孔と嵌合する回転軸をまた他端に
は反対面に突出するガイドピンを備え、且つ長さ方向ほ
ぼ中間部近傍には該ガイドピンと同じ方向に突出する摺
動ピンを備えた上記軸受孔と同数の弯曲した回転レバー
と、上記載置台の表面に近接して平行に該載置台の所定
点を中心として所定角度範囲で回転できる手段を存し、
且つ該載置台と対向する面には上記回転レバーの摺動ピ
ンがその直径方向で摺動できるガイド溝が上記孔のそれ
ぞれと対応する位置で所定の方向に形成されている幅が
一様なリング状のガイド板とで構成し、前記載置台のそ
れぞれの軸受孔に上記回転レバーの回転軸をガイドピン
を内側にして挿着し、更に各回転レバーの摺動ヒ2ンを
上記ガイド板の対応するガイド溝に嵌合させて構成する
。
ウェハ位置決め機構に関し、 サイズの異なるウェハを容易且つ効率的に検査すること
を目的とし、 所定点を中心とする円周上の少なくとも3箇所以上複数
箇所の所定位置に軸受孔を備えた載置台と、一端には片
面に突出して上記軸受孔と嵌合する回転軸をまた他端に
は反対面に突出するガイドピンを備え、且つ長さ方向ほ
ぼ中間部近傍には該ガイドピンと同じ方向に突出する摺
動ピンを備えた上記軸受孔と同数の弯曲した回転レバー
と、上記載置台の表面に近接して平行に該載置台の所定
点を中心として所定角度範囲で回転できる手段を存し、
且つ該載置台と対向する面には上記回転レバーの摺動ピ
ンがその直径方向で摺動できるガイド溝が上記孔のそれ
ぞれと対応する位置で所定の方向に形成されている幅が
一様なリング状のガイド板とで構成し、前記載置台のそ
れぞれの軸受孔に上記回転レバーの回転軸をガイドピン
を内側にして挿着し、更に各回転レバーの摺動ヒ2ンを
上記ガイド板の対応するガイド溝に嵌合させて構成する
。
本発明は半導体装置のウェハプロセスにおけるウェハ検
査装置に係り、特にサイズの異なるウェハを容易且つ効
率的に検査するためのウェハ位置決め機構に関する。
査装置に係り、特にサイズの異なるウェハを容易且つ効
率的に検査するためのウェハ位置決め機構に関する。
〔従来の技術〕
第3図は従来の検査装置におけるウェハ位置決め機構の
例を示す図であり、(A)は装置全体の構成図をまた(
B)はウェハ位置決め機構部を拡大した平面図である。
例を示す図であり、(A)は装置全体の構成図をまた(
B)はウェハ位置決め機構部を拡大した平面図である。
図(^)で、二点鎖線で示す装置架台1の上面には、複
数個の被検つτハ2を整列して収納しているキャリア3
と、該キャリア3から被検ウェハ2を1個ずつ取り出し
て図示R方向に搬送する搬送アーム4と、該搬送アーム
4から被検つ丁ハ2を受は取ると共に該ウェハの位置を
正確に固定する位置決め機構部5および該位置決め機構
部5でセットされた上記ウェハ2を光学顕微鏡等よりな
る検査機構部6のステージ面に破線で示す2゛の如く図
示R′力方向反転移送する反転アーム7が、それぞれ所
定の位置関係を保って配設されている。
数個の被検つτハ2を整列して収納しているキャリア3
と、該キャリア3から被検ウェハ2を1個ずつ取り出し
て図示R方向に搬送する搬送アーム4と、該搬送アーム
4から被検つ丁ハ2を受は取ると共に該ウェハの位置を
正確に固定する位置決め機構部5および該位置決め機構
部5でセットされた上記ウェハ2を光学顕微鏡等よりな
る検査機構部6のステージ面に破線で示す2゛の如く図
示R′力方向反転移送する反転アーム7が、それぞれ所
定の位置関係を保って配設されている。
また、上記の位置決め機構部5は図(B)の0図に示す
如(、所定の間隔を保って表面に突出する複数個(図の
場合は2個)のガイドピン5aを備え且つ被検ウェハ2
に対応して前記装置架台1に一体化固定した固定ガイド
5bと、該固定ガイド5bと同様の2個のガイドピン5
aを備え且つ該固定ガイド5bとの間隔が変えられるよ
うに同一面上で平行を保って図示Ru方向に移動できる
可動ガイド5cとで構成されている。特に固定ガイド5
bと可動ガ稀 イド5cの対向面5b’と5c’部分には被接ウェハ2
の外周とほぼ等しい円弧状のへこみが形成されており、
該可動ガイド5cが被検ウェハを押して所定の位置に移
動した時点で破線で示す被検ウェハ2の周囲を該円弧状
のへこみおよび4個の上記ガイドピン5aで挟持固定す
るようになっている。
如(、所定の間隔を保って表面に突出する複数個(図の
場合は2個)のガイドピン5aを備え且つ被検ウェハ2
に対応して前記装置架台1に一体化固定した固定ガイド
5bと、該固定ガイド5bと同様の2個のガイドピン5
aを備え且つ該固定ガイド5bとの間隔が変えられるよ
うに同一面上で平行を保って図示Ru方向に移動できる
可動ガイド5cとで構成されている。特に固定ガイド5
bと可動ガ稀 イド5cの対向面5b’と5c’部分には被接ウェハ2
の外周とほぼ等しい円弧状のへこみが形成されており、
該可動ガイド5cが被検ウェハを押して所定の位置に移
動した時点で破線で示す被検ウェハ2の周囲を該円弧状
のへこみおよび4個の上記ガイドピン5aで挟持固定す
るようになっている。
ここで前述の搬送アーム4で被検ウェハ2を図の破線で
示す位置決め機構部5の所定位置にセントした後、可動
ガイド5cをR11方向に移動させて0図に示す如く被
検ウェハ2をその周囲で挟んで固定し、以後前述の反転
アーム7で該被検ウェハ2を検査機構部6のステージ部
分に移動して該ウェハ2を検査するようにしている。
示す位置決め機構部5の所定位置にセントした後、可動
ガイド5cをR11方向に移動させて0図に示す如く被
検ウェハ2をその周囲で挟んで固定し、以後前述の反転
アーム7で該被検ウェハ2を検査機構部6のステージ部
分に移動して該ウェハ2を検査するようにしている。
かかる構成になるウェハ位置決め機構では、位置決めさ
れる被検ウェハ2の中心位置(図示の0点)が一定なる
ため同一サイズのウェハを連続して検査する場合は効率
がよいが、径の異なるウェハを検査する場合にはウェハ
の中心位置がずれることから固定ガイド5bおよび可動
ガイド5Cを共に交換しなければならない。
れる被検ウェハ2の中心位置(図示の0点)が一定なる
ため同一サイズのウェハを連続して検査する場合は効率
がよいが、径の異なるウェハを検査する場合にはウェハ
の中心位置がずれることから固定ガイド5bおよび可動
ガイド5Cを共に交換しなければならない。
従来のウェハ位置決め機構では、外径の異なるウェハを
連続して検査機構部に搬送することができないという問
題があった。
連続して検査機構部に搬送することができないという問
題があった。
上記問題点は、所定点を中心とする円周上の少な(とも
3箇所以上複数箇所の所定位置に軸受孔を備えた載置台
と、 一端には片面に突出して上記軸受孔と嵌合する回転軸を
また他端には反対面に突出するガイドピンを備え、且つ
長さ方向ほぼ中間部近傍には該ガイドピンと同じ方向に
突出する摺動ピンを備えた上記軸受孔と同数の弯曲した
回転レバーと、上記載置台の表面に近接して平行に該載
置台の所定点を中心として所定角度範囲で回転できる手
段を有し、且つ該載置台と対向する面には上記回転レバ
ーの摺動ピンがその直径方向で摺動できるガイド溝が上
記孔のそれぞれと対応する位置で所定の方向に形成され
ている幅が一様なリング状のガイド板とで構成し、 前記載置台のそれぞれの軸受孔に上記回転レバーの回転
軸をガイドピンを内側にして挿着し、更に各回転レバー
の摺動ピンを上記ガイド板の対応するガイド溝に嵌合さ
せてなるウェハ位置決め機構によって解決される。
3箇所以上複数箇所の所定位置に軸受孔を備えた載置台
と、 一端には片面に突出して上記軸受孔と嵌合する回転軸を
また他端には反対面に突出するガイドピンを備え、且つ
長さ方向ほぼ中間部近傍には該ガイドピンと同じ方向に
突出する摺動ピンを備えた上記軸受孔と同数の弯曲した
回転レバーと、上記載置台の表面に近接して平行に該載
置台の所定点を中心として所定角度範囲で回転できる手
段を有し、且つ該載置台と対向する面には上記回転レバ
ーの摺動ピンがその直径方向で摺動できるガイド溝が上
記孔のそれぞれと対応する位置で所定の方向に形成され
ている幅が一様なリング状のガイド板とで構成し、 前記載置台のそれぞれの軸受孔に上記回転レバーの回転
軸をガイドピンを内側にして挿着し、更に各回転レバー
の摺動ピンを上記ガイド板の対応するガイド溝に嵌合さ
せてなるウェハ位置決め機構によって解決される。
送られてくるウェハを固定ガイドで位置決めする従来の
方法に代えて、ウェハの周囲から同一の押圧力で固定す
る機構部を装置の所定位置に配設すれば、いかなる外径
のウェハでも所定の位置に容易に固定することができる
。
方法に代えて、ウェハの周囲から同一の押圧力で固定す
る機構部を装置の所定位置に配設すれば、いかなる外径
のウェハでも所定の位置に容易に固定することができる
。
本発明では、装置架台の所定点を中心とする円周上に所
定間隔を持って配置し且つほぼ半径方向に同時に同距離
だけ移動できる少なくとも3個以上襟数個のガイドピン
でウェハの周囲を固定するようにしている。
定間隔を持って配置し且つほぼ半径方向に同時に同距離
だけ移動できる少なくとも3個以上襟数個のガイドピン
でウェハの周囲を固定するようにしている。
従って外径に関係な(いかなるウェハでも連続して容易
に且つ正確に所定位置への位置決めを実現している。
に且つ正確に所定位置への位置決めを実現している。
第1図は本発明になるウェハ位置決め機構を説明する図
であり、(A)は動作原理を示した図を(B)は理解し
易くするために付した部品図である。
であり、(A)は動作原理を示した図を(B)は理解し
易くするために付した部品図である。
なお図(B)の■は部品上面からまた■は部品を下側か
らそれぞれ見た場合を示している。
らそれぞれ見た場合を示している。
また第2図は本発明になるウェハ位置決め機構でウェハ
を固定した図である。
を固定した図である。
第1図(A) 、 (B)で、10は第3図における所
定点Cに中心を持つ円形状の載置台であり、該載置台2
の上記0点を中心とする円周上の所定位置(図の場合に
は六等分しである)P点には軸受孔10aが設けられて
いる。
定点Cに中心を持つ円形状の載置台であり、該載置台2
の上記0点を中心とする円周上の所定位置(図の場合に
は六等分しである)P点には軸受孔10aが設けられて
いる。
また該載置台2の上面に組合わせる弯曲した板状の回転
レバー11は、斜視図■に示す如くその一端に上記軸受
孔10aと嵌合して円滑に回転する回転軸11aをまた
他端には該回転軸11aと反対面に突出するガイドピン
11bを備え、且つ上記回転レバー11の長さ方向のほ
ぼ中間部分には該ガイドピン11bと同じ方向に突出す
る摺動ピン11cが固定されている。
レバー11は、斜視図■に示す如くその一端に上記軸受
孔10aと嵌合して円滑に回転する回転軸11aをまた
他端には該回転軸11aと反対面に突出するガイドピン
11bを備え、且つ上記回転レバー11の長さ方向のほ
ぼ中間部分には該ガイドピン11bと同じ方向に突出す
る摺動ピン11cが固定されている。
従って該回転レバー11の回転軸11aを上記at台1
0のP点に設けられている軸受孔10aに挿入した状態
では、該回転レバー11はP点を中心として自由に回転
することができる。
0のP点に設けられている軸受孔10aに挿入した状態
では、該回転レバー11はP点を中心として自由に回転
することができる。
また該回転レバー11を上記載1台10に挿着しだ後そ
の上部に配設する円板リング状のガイド板12は、その
外周部分が前記載置台lOの周辺部所定位置に形成され
ているガイド10bの内面部10b ”でガイドされて
上記0点を中心として回転するように構成されている。
の上部に配設する円板リング状のガイド板12は、その
外周部分が前記載置台lOの周辺部所定位置に形成され
ているガイド10bの内面部10b ”でガイドされて
上記0点を中心として回転するように構成されている。
更に該ガイド板12は、下側から見た斜視図■の如(上
記0点を中心とする同心のリング状に形成されており、
その下面には円周を六等分する位置ト に上記回転レバー11のガイドピン11今がその直径方
向に円滑に摺動できるガイド溝12aが上記0点に対し
て所定の角度αをもって同じ方向に傾いて形成されてお
り、また外周上の一箇所には該ガイドFi12と一体化
されているレバー12bが形成されている。
記0点を中心とする同心のリング状に形成されており、
その下面には円周を六等分する位置ト に上記回転レバー11のガイドピン11今がその直径方
向に円滑に摺動できるガイド溝12aが上記0点に対し
て所定の角度αをもって同じ方向に傾いて形成されてお
り、また外周上の一箇所には該ガイドFi12と一体化
されているレバー12bが形成されている。
そこで上述の如く複数の回転レバー11を載置台l÷に
それぞれ挿着し、更に該ガイド板12をそのガイド溝1
2aが回転レバー11の各対応する摺動ピン11cと嵌
合するように組合わせて配設する。
それぞれ挿着し、更に該ガイド板12をそのガイド溝1
2aが回転レバー11の各対応する摺動ピン11cと嵌
合するように組合わせて配設する。
この状態で回転レバー11は、回転軸11aおよび摺動
ピン11cによって位置が決定せられて動くことがない
。
ピン11cによって位置が決定せられて動くことがない
。
例えば図では、摺動ピン11cが・で示すP+にある場
合にはガイドピン11bが固定するウェハサイズは一点
鎖線で示すDである。
合にはガイドピン11bが固定するウェハサイズは一点
鎖線で示すDである。
ここでレバー12bでガイド板12を図示矢印R方向に
回転させると、ガイド溝12aがP点を中心として回転
する回転レバー11の上記摺動ピン11cを溝に沿って
移動させて例えば・で示すP2の位置に移動する。この
結果該回転レバー11の他端にあるガイドピン11bは
上記P点を中心として回転し破線で示す如く図示R°の
方向に移動する。
回転させると、ガイド溝12aがP点を中心として回転
する回転レバー11の上記摺動ピン11cを溝に沿って
移動させて例えば・で示すP2の位置に移動する。この
結果該回転レバー11の他端にあるガイドピン11bは
上記P点を中心として回転し破線で示す如く図示R°の
方向に移動する。
この場合のガイドピン11bが固定できるウェハサイズ
は二点11線で示すDoとなる。
は二点11線で示すDoとなる。
更に該回転レバー11上のガイドピン11bの径を摺動
ピン11cの径に合わせた場合には、該ガイドピン11
bをガイド板12に形成したガイド溝12aに嵌合させ
ることが可能となり、かかる構成にした場合には摺動ピ
ン11cの突出部が被検ウェハ2を保持することになる
ため径の大きい被検ウェハ2を保持することができる。
ピン11cの径に合わせた場合には、該ガイドピン11
bをガイド板12に形成したガイド溝12aに嵌合させ
ることが可能となり、かかる構成にした場合には摺動ピ
ン11cの突出部が被検ウェハ2を保持することになる
ため径の大きい被検ウェハ2を保持することができる。
なおいずれの場合でもウェハ中心位置は0点であってウ
ェハの径によって変わることがない。
ェハの径によって変わることがない。
従っていかなるサイズのウェハでも、レバー12bの回
転角度を変えることによって位置決めし固定することが
できる。
転角度を変えることによって位置決めし固定することが
できる。
第2図で載置台10の上にはガイド板12が配設されて
おり、この載置台10とガイド板12の間に回転レバー
11が組合わされていることは第1図で説明した通りで
あり、図では回転レバー11の一部が表面に露出してい
るが、被検ウェハ2はガイドピン11bで所定の位置す
なわち第1図の0点と中心が合致する位置に固定されて
いる。
おり、この載置台10とガイド板12の間に回転レバー
11が組合わされていることは第1図で説明した通りで
あり、図では回転レバー11の一部が表面に露出してい
るが、被検ウェハ2はガイドピン11bで所定の位置す
なわち第1図の0点と中心が合致する位置に固定されて
いる。
13はガイド板12を保護するためのカバーであり、そ
の一部にはガイド板12のレバー12b用の窓13aが
あけられている。
の一部にはガイド板12のレバー12b用の窓13aが
あけられている。
図では被検ウェハ2がガイドピン11bで固定されてい
るが、レバー12bを図のR+方向に逆回転させると第
1図における説明と逆の動作によってガイドピン11b
が外側すなわち図示R+ “方向に開いて被検ウェハ
2を取り出すことができる。
るが、レバー12bを図のR+方向に逆回転させると第
1図における説明と逆の動作によってガイドピン11b
が外側すなわち図示R+ “方向に開いて被検ウェハ
2を取り出すことができる。
上述の如く本発明により、いかなる径のウェハでもレバ
ーを動作することによって自由に且つ確実に装置架台上
の所定位置に固定することのできるウェハ位置決め機構
を提供することができる。
ーを動作することによって自由に且つ確実に装置架台上
の所定位置に固定することのできるウェハ位置決め機構
を提供することができる。
なお本発明の説明に当たっては、回転レバーを動作させ
るのに外部に突出しているレバーを使用しているが、外
部からの制御信号によって回転レバーを電気的に回転さ
せても同等の効果を得ることができる。
るのに外部に突出しているレバーを使用しているが、外
部からの制御信号によって回転レバーを電気的に回転さ
せても同等の効果を得ることができる。
第1図は本発明になるウェハ位置決め機構を説明する図
、 第2図は本発明になるウェハ位置決め機構でウェハを固
定した図、 第3図は従来の検査装置におけるウェハ位置決め機構の
例を示す図、 である。図において、 2は被検ウェハ、 10は!!載置台 10aは軸受孔、10bはガ
イド、 10b1は内面部、11は回転レバー、
11aは回転軸、11bはガイドピン、 11cは摺
動ピン、12はガイド板、 12aはガイド溝、
12bはレバー、 13はカバー、 13aは窓、 をそれぞれ表わす。 (A) 子 1 霧 第 2 図
、 第2図は本発明になるウェハ位置決め機構でウェハを固
定した図、 第3図は従来の検査装置におけるウェハ位置決め機構の
例を示す図、 である。図において、 2は被検ウェハ、 10は!!載置台 10aは軸受孔、10bはガ
イド、 10b1は内面部、11は回転レバー、
11aは回転軸、11bはガイドピン、 11cは摺
動ピン、12はガイド板、 12aはガイド溝、
12bはレバー、 13はカバー、 13aは窓、 をそれぞれ表わす。 (A) 子 1 霧 第 2 図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 所定点を中心とする円周上の少なくとも3箇所以上複
数箇所の所定位置に軸受孔(10a)を備えた載置台(
10)と、 一端には片面に突出して上記軸受孔(10a)と嵌合す
る回転軸(11a)をまた他端には反対面に突出するガ
イドピン(11b)を備え、且つ長さ方向ほぼ中間部近
傍には該ガイドピン(11b)と同じ方向に突出する摺
動ピン(11c)を備えた上記軸受孔(10a)と同数
の弯曲した回転レバー(11)と、上記載置台(10)
の表面に近接して平行に該載置台(10)の所定点を中
心として所定角度範囲で回転できる手段を有し、且つ該
載置台(10)と対向する面には上記回転レバー(11
)の摺動ピン(11c)がその直径方向で摺動できるガ
イド溝(12a)が上記軸受孔(10a)のそれぞれと
対応する位置で所定の方向に形成されている幅が一様な
リング状のガイド板(12)とで構成し、 前記載置台(10)のそれぞれの軸受孔(10a)に上
記回転レバー(11)の回転軸(11a)をガイドピン
(11b)を内側にして挿着し、更に各回転レバー(1
1)の摺動ピン(11c)を上記ガイド板(12)の対
応するガイド溝(12a)に嵌合させてなることを特徴
とするウェハ位置決め機構。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63117611A JPH0680721B2 (ja) | 1988-05-13 | 1988-05-13 | ウェハ位置決め機構 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63117611A JPH0680721B2 (ja) | 1988-05-13 | 1988-05-13 | ウェハ位置決め機構 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01287939A true JPH01287939A (ja) | 1989-11-20 |
JPH0680721B2 JPH0680721B2 (ja) | 1994-10-12 |
Family
ID=14716046
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63117611A Expired - Lifetime JPH0680721B2 (ja) | 1988-05-13 | 1988-05-13 | ウェハ位置決め機構 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0680721B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009194217A (ja) * | 2008-02-15 | 2009-08-27 | Disco Abrasive Syst Ltd | 板状物の搬送装置 |
CN110838460A (zh) * | 2018-08-15 | 2020-02-25 | 致茂电子股份有限公司 | 晶片旋转暂置台 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6062491A (ja) * | 1983-09-09 | 1985-04-10 | 藏野 正彦 | 自転及び公転可能な回転式チヤツク |
-
1988
- 1988-05-13 JP JP63117611A patent/JPH0680721B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6062491A (ja) * | 1983-09-09 | 1985-04-10 | 藏野 正彦 | 自転及び公転可能な回転式チヤツク |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009194217A (ja) * | 2008-02-15 | 2009-08-27 | Disco Abrasive Syst Ltd | 板状物の搬送装置 |
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JPH0680721B2 (ja) | 1994-10-12 |
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