JPH01282752A - 光ピツクアツプ - Google Patents
光ピツクアツプInfo
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- JPH01282752A JPH01282752A JP63110177A JP11017788A JPH01282752A JP H01282752 A JPH01282752 A JP H01282752A JP 63110177 A JP63110177 A JP 63110177A JP 11017788 A JP11017788 A JP 11017788A JP H01282752 A JPH01282752 A JP H01282752A
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- Japan
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 73
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Landscapes
- Optical Head (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
技術分野
本発明は、光ディスク、光カード等の光情報記録媒体に
対する光ピツクアップに関する。
対する光ピツクアップに関する。
従来技術
従来、この種の光ピツクアップとしては、第6図に示す
ように構成したものがある。即ち、情報に応じて凹凸1
が記録形成された光記録媒体(光ディスク)2に対し、
活性層3を備えた半導体レーザ4と集光レンズ5とを設
け、半導体レーザ4の背面側に光検出器6を設けてなる
。
ように構成したものがある。即ち、情報に応じて凹凸1
が記録形成された光記録媒体(光ディスク)2に対し、
活性層3を備えた半導体レーザ4と集光レンズ5とを設
け、半導体レーザ4の背面側に光検出器6を設けてなる
。
このような構成により、まず、半導体レーザ4からの出
射光は集光レンズ5により光記録媒体2上に集光さ゛れ
る。この光記録媒体5からの戻り光は再び集光レンズ5
により半導体レーザ4の出射端面上に集光され、この半
導体レーザ4と結合する。ここに、光記録媒体2上の凹
凸1の凹部と凸部とでは回折光強度が変化し、半導体レ
ーザ4への戻り光の光量も変化する。この場合、戻り光
量が多いと半導体レーザ4の光出力が増加し、逆に、戻
り光量が少ないと半導体レーザ4の光出力が減少する。
射光は集光レンズ5により光記録媒体2上に集光さ゛れ
る。この光記録媒体5からの戻り光は再び集光レンズ5
により半導体レーザ4の出射端面上に集光され、この半
導体レーザ4と結合する。ここに、光記録媒体2上の凹
凸1の凹部と凸部とでは回折光強度が変化し、半導体レ
ーザ4への戻り光の光量も変化する。この場合、戻り光
量が多いと半導体レーザ4の光出力が増加し、逆に、戻
り光量が少ないと半導体レーザ4の光出力が減少する。
このような半導体レーザ4の光出力の強弱変化を光検出
器6により検知し、記録情報を読取るものである。
器6により検知し、記録情報を読取るものである。
しかし、半導体レーザ4と光記録媒体2との間に集光レ
ンズ5を配置しているため、レンズ支持機構を必要とし
、かつ、その相対位置の調整も必要となる。このため、
経時変化が生じたり、信頼性が低下しやすいものでもあ
る。また、このようにレンズ支持手段を必要とすること
から、光ピツクアップ全体の重量が増し、アクセスタイ
ムが遅くなりやすい。さらには、半導体レーザ4・光記
録媒体2間に集光レンズ5が存在するため、半導体レー
ザ4〜集光レンズ5〜光記録媒体2の距離が長めとなり
、これらを高精度の位置関係で保持することは難しい。
ンズ5を配置しているため、レンズ支持機構を必要とし
、かつ、その相対位置の調整も必要となる。このため、
経時変化が生じたり、信頼性が低下しやすいものでもあ
る。また、このようにレンズ支持手段を必要とすること
から、光ピツクアップ全体の重量が増し、アクセスタイ
ムが遅くなりやすい。さらには、半導体レーザ4・光記
録媒体2間に集光レンズ5が存在するため、半導体レー
ザ4〜集光レンズ5〜光記録媒体2の距離が長めとなり
、これらを高精度の位置関係で保持することは難しい。
よって、位相変化等によるノイズを生じやすく、S/N
比が低下しやすいものである。
比が低下しやすいものである。
目的
本発明は、このような点に鑑みなされたもので、簡易・
軽量・小型の構成にして高速アクセス動作が可能な光ピ
ツクアップを得ることを目的とする。
軽量・小型の構成にして高速アクセス動作が可能な光ピ
ツクアップを得ることを目的とする。
構成
本発明は、上記目的を達成するため、半導体レーザを光
記録媒体に対し微小間隔を介して近接配置させて複合共
振器レーザを構成し、かつ、半導体レーザに対し光記録
媒体とは反対側に配設されて光記録媒体からの戻り光の
位相変化より生ずる半導体レーザの出力変化を検出する
光検出器を設けたことを特徴とする。
記録媒体に対し微小間隔を介して近接配置させて複合共
振器レーザを構成し、かつ、半導体レーザに対し光記録
媒体とは反対側に配設されて光記録媒体からの戻り光の
位相変化より生ずる半導体レーザの出力変化を検出する
光検出器を設けたことを特徴とする。
以下、本発明の一実施例を第1図ないし第3図に基づい
て説明する。
て説明する。
まず、光記録媒体11に近接対向させて半導体レーザI
2が設けられている。この半導体レーザ12は各種タイ
プのもの(例えば、面発光タイプのもの)を用い得るが
、ここでは通常のスラブ形導波路を共振器としたもので
ある。この半導体レーザ12は活性層13部分からレー
ザ光を光記録媒体11に向けて射出するものである。こ
こに、活性層13に平行な横方向の光の閉じ込めは、な
るべくよいほうが望ましい。
2が設けられている。この半導体レーザ12は各種タイ
プのもの(例えば、面発光タイプのもの)を用い得るが
、ここでは通常のスラブ形導波路を共振器としたもので
ある。この半導体レーザ12は活性層13部分からレー
ザ光を光記録媒体11に向けて射出するものである。こ
こに、活性層13に平行な横方向の光の閉じ込めは、な
るべくよいほうが望ましい。
また、前記光記録媒体11表面には信号情報に応じて凹
凸14が書込み形成されており、このような凹凸14に
より半導体レーザ12の端面と光記録媒体11との距離
がわずかに変化することになる。ここに、光記録媒体1
1の記録層材料としては低融点の合金(例えば、Ge−
8e等)や有機物を基板上に塗布した後、ピンホールを
形成したもの等が考えられる。
凸14が書込み形成されており、このような凹凸14に
より半導体レーザ12の端面と光記録媒体11との距離
がわずかに変化することになる。ここに、光記録媒体1
1の記録層材料としては低融点の合金(例えば、Ge−
8e等)や有機物を基板上に塗布した後、ピンホールを
形成したもの等が考えられる。
さらに、前記半導体レーザ12の背面(光記録媒体11
とは反対側)には、光検出器15が設けられている。
とは反対側)には、光検出器15が設けられている。
このような構成において、凹凸14に応じた光情報の検
出は、次のように行われる。まず、半導体レーザ12に
一定電流を流して発振状態とし、かつ、光記録媒体11
を第1図に矢印Aで示す方向に移動させる。この時、半
導体レーザ12は光記録媒体11からの戻り光の影響に
より、半導体レーザ12と、光記録媒体11・半導体レ
ーザ12間の微小間隔(空隙)とにより、複合共振器レ
ーザ16が構成される。この場合、詳細は後述するが、
半導体レーザ12の光出力は微小間隔の長さが変化する
ことにより大きく変化する。このような出力変動は微小
間隔の長さがλ/2周期で変化することに対応する。こ
のため、λ/4以下の距離の変化(即ち、π以下の位相
差)を戻り光に与えた場合、半導体レーザ12の光出力
の変動が位相差の変化に対応する。よって、光記録媒体
11の凹凸14の山の高さがλ/4以下であれば、光記
録媒体11を矢印方向に移動させることにより、凹凸1
4に応じて半導体レーザ12の光出力が変動する。そこ
で、このような半導体レーザ12の光出力の変動を光検
出器15により検出することで、光情報が読取られる。
出は、次のように行われる。まず、半導体レーザ12に
一定電流を流して発振状態とし、かつ、光記録媒体11
を第1図に矢印Aで示す方向に移動させる。この時、半
導体レーザ12は光記録媒体11からの戻り光の影響に
より、半導体レーザ12と、光記録媒体11・半導体レ
ーザ12間の微小間隔(空隙)とにより、複合共振器レ
ーザ16が構成される。この場合、詳細は後述するが、
半導体レーザ12の光出力は微小間隔の長さが変化する
ことにより大きく変化する。このような出力変動は微小
間隔の長さがλ/2周期で変化することに対応する。こ
のため、λ/4以下の距離の変化(即ち、π以下の位相
差)を戻り光に与えた場合、半導体レーザ12の光出力
の変動が位相差の変化に対応する。よって、光記録媒体
11の凹凸14の山の高さがλ/4以下であれば、光記
録媒体11を矢印方向に移動させることにより、凹凸1
4に応じて半導体レーザ12の光出力が変動する。そこ
で、このような半導体レーザ12の光出力の変動を光検
出器15により検出することで、光情報が読取られる。
ここで、複合共振器レーザ13を構成する半導体レーザ
12の動作について第2図により説明する。まず、半導
体レーザ12の共振器長をLl 、半導体レーザ端面の
内部から見た反射率をRL、閾値電流をIT+(、注入
電流を工、レーザ光の空気中での伝搬定数をK、元肥R
媒体11・半導体レーザ12間の微小間隔をL2、戻り
光の半導体レーザ端面への結合効率をη、光記録媒体1
1の反射率をRFとする。この時、半導体レーザ12と
光記録媒体11との間の間隔L2が、レーザ光のコヒー
レンス長よりも充分短い場合、反射戻り光の周波数は、
レーザ共振器内の光の周波数と等しく、かつ、位相が2
KL2だけ遅れたものとみなすことができる。この時の
半導体レーザ12の利得の飽和効果を考慮し、定常状態
の半導体レーザの共振器内部の電界の振幅1Enl
は、戻り光のない場合の共振器内部の電界の振幅IE。
12の動作について第2図により説明する。まず、半導
体レーザ12の共振器長をLl 、半導体レーザ端面の
内部から見た反射率をRL、閾値電流をIT+(、注入
電流を工、レーザ光の空気中での伝搬定数をK、元肥R
媒体11・半導体レーザ12間の微小間隔をL2、戻り
光の半導体レーザ端面への結合効率をη、光記録媒体1
1の反射率をRFとする。この時、半導体レーザ12と
光記録媒体11との間の間隔L2が、レーザ光のコヒー
レンス長よりも充分短い場合、反射戻り光の周波数は、
レーザ共振器内の光の周波数と等しく、かつ、位相が2
KL2だけ遅れたものとみなすことができる。この時の
半導体レーザ12の利得の飽和効果を考慮し、定常状態
の半導体レーザの共振器内部の電界の振幅1Enl
は、戻り光のない場合の共振器内部の電界の振幅IE。
1 に対して、近似的に次式の如く表すことができる。
上式は、半導体レーザ12の発振波長をλとすると、戻
り光の位相変化によりレーザ光強度が、位相変化量2π
を周期として余弦関数的に変動することを示している。
り光の位相変化によりレーザ光強度が、位相変化量2π
を周期として余弦関数的に変動することを示している。
このため、間隔L8 を変化させた場合、第3図に示す
ように周期λ/2で光強度IEQビが変動することにな
る。さらに、この変動量を大きくするには、半導体レー
ザ12の内部端面反射率RLを小さくし、結合効率ηを
大きくし、光記録媒体11の反射率RFを大きくし、注
入電流■を閾値電流ITHより大きい範囲でなるべく小
さくすればよいことが、上式から判る。勿論、これらの
条件中の1つだけを実行しても光出力の変動量を増大さ
せ得る。このような現象を利。
ように周期λ/2で光強度IEQビが変動することにな
る。さらに、この変動量を大きくするには、半導体レー
ザ12の内部端面反射率RLを小さくし、結合効率ηを
大きくし、光記録媒体11の反射率RFを大きくし、注
入電流■を閾値電流ITHより大きい範囲でなるべく小
さくすればよいことが、上式から判る。勿論、これらの
条件中の1つだけを実行しても光出力の変動量を増大さ
せ得る。このような現象を利。
用し、位相変化による半導体レーザ2の光出力の変化を
光検出器15で検出することにより、信号の読取りが可
能となる。
光検出器15で検出することにより、信号の読取りが可
能となる。
例えば、゛第1図において、光記録媒体11と半導体レ
ーザ12との間の間隔が近い時(凸部)に半導体レーザ
12の動作点を第3図中の点Bに設定し、遠い時(凹S
)の動作点を点Cに設定する。
ーザ12との間の間隔が近い時(凸部)に半導体レーザ
12の動作点を第3図中の点Bに設定し、遠い時(凹S
)の動作点を点Cに設定する。
そして、光検出器15の出力値に閾値を設定し、第3図
に示す閾値THの光出力より光強度が強い時に信号“1
”、弱い時に信号“0”となるように、光検出器15に
対する信号処理電気回路を構成することにより、半導体
レーザ12と光記録媒体11との間隔が最大値で±λ/
8程度変動しても、1”、”O″の信号検知が可能とな
る。もつとも、半導体レーザ12の出射端面と光記録媒
体11との間の間隔はできるだけ一定に保たれることが
望ましい。
に示す閾値THの光出力より光強度が強い時に信号“1
”、弱い時に信号“0”となるように、光検出器15に
対する信号処理電気回路を構成することにより、半導体
レーザ12と光記録媒体11との間隔が最大値で±λ/
8程度変動しても、1”、”O″の信号検知が可能とな
る。もつとも、半導体レーザ12の出射端面と光記録媒
体11との間の間隔はできるだけ一定に保たれることが
望ましい。
ところで、半導体レーザ12・光記録媒体11間の間隔
は、あまり大きくなると、回折によりレーザビームが広
がってしまう。そこで、光記録媒体11からの戻り光の
半導体レーザ端面への結合効率ηをできるだけ大きくす
るためには、微小間隔L2 ができるだけ短いほうがよ
い。一方、移動する光記録媒体11と半導体レーザ12
との接触も避ける必要がある。よって、光記録媒体11
や半導体レーザ12の支持方法にもよるが、両者が接触
しないように保持できる範囲で、できるだけ間隔を短く
するのがよい。
は、あまり大きくなると、回折によりレーザビームが広
がってしまう。そこで、光記録媒体11からの戻り光の
半導体レーザ端面への結合効率ηをできるだけ大きくす
るためには、微小間隔L2 ができるだけ短いほうがよ
い。一方、移動する光記録媒体11と半導体レーザ12
との接触も避ける必要がある。よって、光記録媒体11
や半導体レーザ12の支持方法にもよるが、両者が接触
しないように保持できる範囲で、できるだけ間隔を短く
するのがよい。
例えば、半導体レーザ12を空気浮上スライダ上に保持
させるようにすれば、浮上量を高精度に調整でき、±0
.1μm程度の変動量にて両者間の間隔L8 を維持で
きる。第4図はこの空気浮上型の変形例を示すもので、
空気浮上スライダ17の側面に半導体レーザ12と光検
出器15とを搭載固定してなる。ここに、空気浮上スラ
イダ17は光記録媒体11の回転等による移動に伴い、
空気浮上するものである。また、この空気浮上スライダ
17は半導体レーザ12に対するヒートシンクの役割を
も兼用することになる。
させるようにすれば、浮上量を高精度に調整でき、±0
.1μm程度の変動量にて両者間の間隔L8 を維持で
きる。第4図はこの空気浮上型の変形例を示すもので、
空気浮上スライダ17の側面に半導体レーザ12と光検
出器15とを搭載固定してなる。ここに、空気浮上スラ
イダ17は光記録媒体11の回転等による移動に伴い、
空気浮上するものである。また、この空気浮上スライダ
17は半導体レーザ12に対するヒートシンクの役割を
も兼用することになる。
勿論、このような空気浮上型に限らず、アクチュエータ
等の支持機構を用いて両者間の微小間隔を一定に維持さ
せてもよい。
等の支持機構を用いて両者間の微小間隔を一定に維持さ
せてもよい。
第6図は、半導体レーザ12の出射側端面にピンホール
18を装荷した変形例を示す。即ち、第1図の場合、光
情報記録媒体11の記録ビットを半導体レーザ12の出
射ビーム径程度以下には小さくできないが、この変形例
によればピンホール18によって出射ビーム径以下に小
さい記録ビットとすることができ、記録密度の増大が可
能となる。
18を装荷した変形例を示す。即ち、第1図の場合、光
情報記録媒体11の記録ビットを半導体レーザ12の出
射ビーム径程度以下には小さくできないが、この変形例
によればピンホール18によって出射ビーム径以下に小
さい記録ビットとすることができ、記録密度の増大が可
能となる。
この場合、ピンホール18の形状は、円形、矩形、その
他のビーム径より小さい範囲で任意に設定できるため、
記録に適した形状を選択すればよい。この場合も、光記
録媒体11と半導体レーザ12(ピンホール18)との
間の間隔も、回折によるビームの広がりを避けるため、
波長の数倍以下程度に近い状態に抑える必要がある。
他のビーム径より小さい範囲で任意に設定できるため、
記録に適した形状を選択すればよい。この場合も、光記
録媒体11と半導体レーザ12(ピンホール18)との
間の間隔も、回折によるビームの広がりを避けるため、
波長の数倍以下程度に近い状態に抑える必要がある。
ところで、光記録媒体11がライト・ワンス型(追記型
)の場合、第1図又は第5図に示す構成において、半導
体レーザ12を信号読取り時の出力よりも大きい光出力
状態で、情報信号に応じてオン/オフ変調制御すること
により、光記録媒体11の記録層材料を蒸発させたり、
表面形状を変化させることにより、凹凸状の記録ビット
を書込み形成し、記録できる。この記録ビットの形状は
、円形、楕円形、その他、適宜の形とすればよい。
)の場合、第1図又は第5図に示す構成において、半導
体レーザ12を信号読取り時の出力よりも大きい光出力
状態で、情報信号に応じてオン/オフ変調制御すること
により、光記録媒体11の記録層材料を蒸発させたり、
表面形状を変化させることにより、凹凸状の記録ビット
を書込み形成し、記録できる。この記録ビットの形状は
、円形、楕円形、その他、適宜の形とすればよい。
効果
本発明は、上述したように半導体レーザと半導体レーザ
・光記録媒体間の微小間隔とにより複合共振器レーザを
構成し、光記録媒体からの戻り光の位相変化により生ず
る半導体レーザの光出力変化を光検出器により検出する
ようにしたので、半導体レーザと光記録媒体との間に集
光レンズ等の光学部品を介在させる必要がなくなり、光
ピツクアップとしてその構成を簡易・小型・軽量化し、
高速アクセスも可能と外り、かつ、レンズ支持機構等も
不要となり、調整個所が減少して信頼性も向上するもの
である。
・光記録媒体間の微小間隔とにより複合共振器レーザを
構成し、光記録媒体からの戻り光の位相変化により生ず
る半導体レーザの光出力変化を光検出器により検出する
ようにしたので、半導体レーザと光記録媒体との間に集
光レンズ等の光学部品を介在させる必要がなくなり、光
ピツクアップとしてその構成を簡易・小型・軽量化し、
高速アクセスも可能と外り、かつ、レンズ支持機構等も
不要となり、調整個所が減少して信頼性も向上するもの
である。
第1図は本発明の一実施例を示す概略正面図、第2図は
半導体レーザの動作を拡大して示す概略正面図、第3図
は距離−光強度の特性図、第4図は変形例を示す概略正
面図、第5図は異なる変形例を示す概略正面図、第6図
は従来例を示す概略正面図である。
半導体レーザの動作を拡大して示す概略正面図、第3図
は距離−光強度の特性図、第4図は変形例を示す概略正
面図、第5図は異なる変形例を示す概略正面図、第6図
は従来例を示す概略正面図である。
Claims (1)
- 半導体レーザを光記録媒体に対し微小間隔を介して近
接配置させて複合共振器レーザを構成し、前記半導体レ
ーザに対し前記光記録媒体とは反対側に配設され前記光
記録媒体からの戻り光の位相変化より生ずる前記半導体
レーザの出力変化を検出する光検出器を設けたことを特
徴とする光ピックアップ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63110177A JPH01282752A (ja) | 1988-05-06 | 1988-05-06 | 光ピツクアツプ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63110177A JPH01282752A (ja) | 1988-05-06 | 1988-05-06 | 光ピツクアツプ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01282752A true JPH01282752A (ja) | 1989-11-14 |
Family
ID=14529000
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63110177A Pending JPH01282752A (ja) | 1988-05-06 | 1988-05-06 | 光ピツクアツプ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01282752A (ja) |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6374128A (ja) * | 1986-09-18 | 1988-04-04 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光ヘツド |
JPS63209036A (ja) * | 1987-02-26 | 1988-08-30 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光ヘツド |
-
1988
- 1988-05-06 JP JP63110177A patent/JPH01282752A/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6374128A (ja) * | 1986-09-18 | 1988-04-04 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光ヘツド |
JPS63209036A (ja) * | 1987-02-26 | 1988-08-30 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光ヘツド |
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