JPH01278115A - パルス発生装置 - Google Patents

パルス発生装置

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JPH01278115A
JPH01278115A JP63107800A JP10780088A JPH01278115A JP H01278115 A JPH01278115 A JP H01278115A JP 63107800 A JP63107800 A JP 63107800A JP 10780088 A JP10780088 A JP 10780088A JP H01278115 A JPH01278115 A JP H01278115A
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pulse
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signals
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Yoshihiko Kumazawa
熊澤 良彦
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 【産業上の利用分野】
この発明は、核医学診断装置とくにガンマカメラの調整
・検査用シュミレータ(模擬信号発生装置)として用い
るのに好適な、パルス発生装置に関する。
【従来の技術】
通常のパルス発生装置では、その出力パルス信号の振幅
や波形は可変できるように構成されているものでも、出
力パルス信号のタイミングは規則的(一定間隔)である
。 ガンマカメラの調整・検査用シュミレータとして用いる
場合は、このようなパルス発生装置の出力パルス信号を
、ガンマカメラの光電子増倍管の出力を増幅するプリア
ンプの前または後に入力するようにしている。
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、ガンマカメラが実際に取り扱う信号は放
射線事象に起因するためタイミングが不規則(ランダム
)であって、上記のようなタイミングが規則的な信号に
よっては、ガンマカメラの信号処理回路が不規則なタイ
ミングの信号に対しても正常に動作し所定の性能を満足
しているかどうかの検査ができないという問題がある。 そのため、このようなガンマカメラの検査項目について
は、実際に放射線源を用いて検査しており、検査工程時
間が長くなり、また定量性を欠くという不満が存在して
いる。 また、このようなガンマカメラの検査の場合だけでなく
、一般にランダムなタイミングのパルス信号が必要な場
合に、従来のパルス発生装置ではそれに応えられない。 この発明は、タイミングが不規則なパルス信号を発生す
るパルス発生装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため、この発明によるパルス発生装
置においては、タイミングが規則的なパルス信号を発生
する手段と、該パルス信号が入力され、遅延時間の異な
る2つ以上の出力パルス信号を生じる遅延手段と、該遅
延手段からの複数の出力パルス信号のいずれか1つを選
択して出力する信号選択手段と、該信号選択手段を制御
してその選択するパルス信号をどれにするかをランダム
に決定する制御手段とが備えられる。 また、タイミングが規則的なパルス信号を発生する手段
と、該パルス信号が入力され、選択可能なスイッチ手段
と、少なくとも1ビットのデータがランダムな順序に記
録されており、上記のパルス信号の発生に応じて上記の
データが順次読み出される記録手段と、この読み出され
たデータに応じて、上記のパルス信号を後続の回路へ伝
達するか否かを選択する手段とによってもパルス発生装
置を構成できる。
【作  用】
この発明によるパルス発生装置ではタイミングが規則的
な1つのパルス信号から複数の、遅延時間が異なるパル
ス信号がつくり出される。そして、これら複数のパルス
信号のどれを選択するかがランダムに決定される。した
がって、選択されて得られるパルス信号のタイミングは
ランダムなものとなり、時間的にランダムなパルス信号
を発生する装置が実現できる。 また、他の構成のパルス発生装置ではランダムに記録さ
れたデータが順次読み出され、これにより、タイミング
が規則的なパルス信号を後続の回路に伝達するか否かが
決定される。したがって、タイミングが規則的なパルス
信号が後続の回路に伝達されるか否かがランダムに決定
されることになるので、結局こうして得られるパルス信
号のタイミングはランダムなものとなり、時間的にラン
ダムなパルス信号を発生する装置が実現できる。
【実 施 例】
つぎにこの発明の一実施例について図面を参照しながら
説明する。第1図は第1の実施例を示すもので、この図
において、パルス信号発生器1は発信回路などにより構
成され、一定周期のデジタルパルス信号PO及びPo’
  (ともに周期はTp)を出力する。このパルス信号
POは遅延回路2に入力され、互いに遅延時間の異なる
複数の信号、この例では4つの信号P1〜P4に変換さ
れてマルチプレクサ3に送られる。マルチプレクサ3は
各周期Tpごとにこれらの入力信号のどれか1つを選択
するもので、マルチプレクサ制2御回路4からの制御信
号により制御されて信号P1〜P4のいずれか1つを出
力信号Pmとして出力する。 マルチプレクサ制御回路4は、この例ではカウンタ41
と乱数テーブルメモリ42と制御信号変換器43とから
構成される。カウンタ41はパルス信号Po’をカウン
トし、その出力信号を乱数テーブルメモリ42のアドレ
スとして用いる。乱数テーブルメモリ42はこの場合た
とえば第2図に示すように2ビットのデータをランダム
に記憶しており、これらが周期Tpごとに順次アドレス
指定されて読み出される。読み出されたデータは制御信
号変換器43によりマルチプレクサ3を制御する信号に
変換される。 この第1図の実施例では、遅延回路2は遅延線21とバ
ッファ22などから構成され、第、3図に示すように、
各遅延時間Td=nXtd (n=1゜2,3.4)と
し、Tdm (4td)=Tpとなるように設定されて
いる。また、信号Po、Pi〜P4のパルス幅twは遅
延時間tdに比較して非常に短い(tw<<td)。た
とえば、乱数テーブルメモリ42のデータ「00」、「
01」、「10」、「11」がマルチプレクサ3への入
力信号PL、P2.P3.P4をそれぞれ選択すること
を指示する制御信号に変換されるとすると、第2図のよ
うな順序で「01」、「11」、「00」が乱数テーブ
ルメモリ42から順次読み出された場合、マルチプレク
サ3の出力信号Pmは第3図に示すように入力信号P2
.P4.PLがそれぞれ順次選択されたものとなる。 こうして、この第1図の実施例では、マルチプレクサ3
より出力されるデジタルパルス信号Pmの間隔がtd〜
7tdの範囲でtdを単位として不規則に変化すること
になる。この不規則性は乱数テーブルメモリ42の内容
を変えることにより自由に設定できる。また、このデジ
タルパルス信号Pmをアナログ信号に変換して波形整形
などを行なうことにより、所定の波形の(たとえばri
setime: tr、 fall  time: t
fを持つ)アナログパルス信号を不規則なタイミングで
得ることができる。 なお、この実施例において遅延回路2やマルチプレクサ
制御回路4は上記以外の構成をとることも可能である。 たとえば、遅延回路2はバッファなどの回路内の伝搬遅
延時間を利用して構成したり、マルチプレクサ制御回路
4は演算によるランダム制御で実現できる。また、パル
ス信号POをアナログパルス信号とし、バッファ22を
ボルテージフォロワなどのようなアナログ信号用バッフ
ァとし、さらにマルチプレクサ3をアナログマルチプレ
クサとすれば、タイミングが不規則なアナログパルス信
号が直接径られる。 第4図は第2の実施例を示すものである。この第4図に
おいて、パルス信号発生器1は上記のものと同じであり
、その一方のデジタル出力パルス信号POは○N/○F
Fスイッチ回路7に送られる。他方のデジタル出力パル
ス信号Po’はカウンタ5によりカウントされ、このカ
ウンタ5の出力データがメモリ6のアドレスとして用い
られる。 メモリ6には1ビットのデータ(「1」または「0」)
が第5図に示すようにあらかじめランダムに記録されて
いる。このメモリ6から読み出されたデータにより0N
10FFスイッチ回路7が制御される。 ON/○FFスイッチ回路7は具体的にはたとえば第6
図に示すようにエツジトリガタイプのD−フリップフロ
ップ回路71とアンド回路72とにより構成される。し
たがって、この場合、1とットデータが「1」のときは
フリップフロップ回路71のQ出力が「1」となってア
ンド回路72を経てパルス信号Poが出力され、1とッ
トデータが「0」のときはQ出力が「0」となるのでパ
ルス信号Poの伝達は停止される。 ここで、メモリ6から周期Tpごとにたとえば第5図の
ように「1」、「0」、「0」、「1」、「1」、「0
」、「0」、「0」、「1」の順序で順次データが読み
出されたとすると、0N10FFスイッチ回路7の出力
パルス信号Pmは第7図に示すように周期Tp単位で不
規則に生じたり生じなかったりする。この場合、メモリ
6の容量をM(アドレス)×1ビットとすれば、デジタ
ルパルス信号Pmのパルス間隔をTp〜M X T p
の範囲でTpを単位として不規則に変化させることがで
きる。したがって、この実施例では第1図の実施例に比
較してパルス間隔の最大値を、メモリ6の容量で決まる
範囲内で十分に大きく設定できる。そしてメモリ6の記
憶内容を変更すれば、その不規則性を自由に設定できる
。 なお、この実施例においてもデジタルパルス信号Pmを
アナログ信号に変換して波形整形などを行なうことによ
り、所定の波形のアナログパルス信号を不規則なタイミ
ングで得ることができることは第1図の実施例と同じで
ある。また、第4図においてパルス信号POをアナログ
パルス信号とし、0N10 F Fスイッチ回路7をア
ナログ用のものを用いれば、タイミングが不規則なアナ
ログパルス信号を直接得ることができる。アナログ用の
ON10 F Fスイツチ回路7の具体例としては、第
8図のような、D−フリップフロップ回路81と、イン
バータ82と、これらフリップフロップ回路81のQ出
力とその反転出力とによりそれぞれ制御されるアナログ
スイッチ84.83と、加算回路85とからなる回路を
あげることができる。 また、第4図において、メモリ6のデータを2ビット以
上の構成とし、ランダムに(乱数データとして)記録し
ておき、それらを順次読み出してデジタルコンパレータ
をへてON10 F Fスイツチ回路7の制御信号とす
るようにすれば、メモリ6の記憶内容は固定のままでも
コンパレータのしきい値を変えるだけで、不規則なタイ
ミングのパルス信号Pmの出現頻度(計数率)を簡単に
変更できる。
【発明の効果】
この発明のパルス発生装置によれば、比較的簡単な構成
で、タイミングが不規則なデジタルまたはアナログのパ
ルス信号を発生することができる。 そして、そのタイミングの不規則性を任意に且つ容易に
設定・変更できる。とくに第2の発明のパルス発生装置
では出力パルス信号間の時間間隔の最大値を十分に大き
く設定することができる。 したがって、とくにガンマカメラの調整・検査用シュミ
レータ(模擬信号発生装置)として用いる場合、検査工
程時間の短縮、検査の定量化及び自動化が可能となる。 また、このようなガンマカメラの調整・検査用シュミレ
ータとしての用途以外に、他の放射線測定機器や理工学
分野への応用も可能であり、たとえば、ダイナミックR
AMの検査用シュミレータなどとして一般的に使用でき
る。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の第1の一実施例のブロック図、第2
図は第1図の乱数テーブルメモリのデータ内容を示す図
、第3図は動作説明のためのタイムチャート、第4図は
第2の実施例のブロック図、第5図は第4図のメモリの
データ内容を示す図、第6図は第4図のON10 F 
Fスイッチ回路の具体例を示すブロック図、第7図は動
作説明のためのタイムチャート、第8図は第4図のON
10 F Fスイッチ回路の他の具体例を示すブロック
図である。 1・・・パルス信号発生器、°2・・・遅延回路、21
・・・遅延線、22・・・バッファ、3・・・マルチプ
レクサ、4・・・マルチプレクサ制御回路、41.5・
・・カウンタ、42・・・乱数テーブルメモリ、43・
・・制御信号変換器、6・・・メモリ、7・・・ON1
0 F Fスイッチ回路、71.81・・・D−フリッ
プフロップ回路、72・・・アンド回路、82・・・イ
ンバータ、83.84・・・アナログスイッチ、85・
・・加算回路。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)タイミングが規則的なパルス信号を発生する手段
    と、該パルス信号が入力され、遅延時間の異なる2つ以
    上の出力パルス信号を生じる遅延手段と、該遅延手段か
    らの複数の出力パルス信号のいずれか1つを選択して出
    力する信号選択手段と、該信号選択手段を制御してその
    選択するパルス信号をどれにするかをランダムに決定す
    る制御手段とを有することを特徴とするパルス発生装置
  2. (2)タイミングが規則的なパルス信号を発生する手段
    と、該パルス信号が入力され、選択可能なスイッチ手段
    と、少なくとも1ビットのデータがランダムな順序に記
    録されており、上記のパルス信号の発生に応じて上記の
    データが順次読み出される記録手段と、この読み出され
    たデータに応じて、上記のパルス信号を後続の回路へ伝
    達するか否かを選択する手段とを有することを特徴とす
    るパルス発生装置。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001068979A (ja) * 1999-07-19 2001-03-16 Mannesmann Vdo Ag ディジタル回路に対するベースクロックの変調方法およびクロック変調器
JP2007515051A (ja) * 2003-12-19 2007-06-07 テキサコ ディベラップメント コーポレイション 燃料電池スタック用の燃料電池保全装置
JP2009516404A (ja) * 2005-10-27 2009-04-16 ディー・エフ・ティー・マイクロシステムズ・インコーポレーテッド ジッタ注入を組み込んだ高速トランシーバテスタ
JP2009111997A (ja) * 2007-10-12 2009-05-21 Sanyo Electric Co Ltd 半導体集積回路
WO2009116176A1 (ja) * 2008-03-21 2009-09-24 株式会社島津製作所 擬似パルス生成器

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62274915A (ja) * 1986-05-23 1987-11-28 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> ジツタ発生回路

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62274915A (ja) * 1986-05-23 1987-11-28 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> ジツタ発生回路

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001068979A (ja) * 1999-07-19 2001-03-16 Mannesmann Vdo Ag ディジタル回路に対するベースクロックの変調方法およびクロック変調器
JP2007515051A (ja) * 2003-12-19 2007-06-07 テキサコ ディベラップメント コーポレイション 燃料電池スタック用の燃料電池保全装置
JP2009516404A (ja) * 2005-10-27 2009-04-16 ディー・エフ・ティー・マイクロシステムズ・インコーポレーテッド ジッタ注入を組み込んだ高速トランシーバテスタ
JP2009111997A (ja) * 2007-10-12 2009-05-21 Sanyo Electric Co Ltd 半導体集積回路
WO2009116176A1 (ja) * 2008-03-21 2009-09-24 株式会社島津製作所 擬似パルス生成器
JP5007768B2 (ja) * 2008-03-21 2012-08-22 株式会社島津製作所 擬似パルス生成器

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