JPH01261731A

JPH01261731A - 信号処理装置の故障検査方法

Info

Publication number: JPH01261731A
Application number: JP63090900A
Authority: JP
Inventors: Yuichi Goto; 裕一後藤; Mitsuo Azumai; 満男東井
Original assignee: Konica Minolta Inc
Current assignee: Konica Minolta Inc
Priority date: 1988-04-12
Filing date: 1988-04-12
Publication date: 1989-10-18
Anticipated expiration: 2012-01-22
Also published as: JP2573652B2

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】（産業上の利用分野）本発明は、ＩＣ，ＣＰＬＩを有する信号処理装置に関し
、更に詳しくは、回路の故障を検査することが可能な信
号処理装置に関する。

（発明の背景）近年、信号処理装置には、ＩＣ（ゲートアレイ。

ＰＬＡ等も含む）が多数使用されている。この様なＩＣ
等の内部の故障あるいは周辺回路との接続部の不良の検
査については、以下の方法がある。

（１）生産工程に於ける故障検査方法＜ａ　）部品が取り付けられた基板を目視あるいはテス
タで調べ、半田付は不良、ショートが無いか等調べる。

（ｂ）又は１１部品が取り付けられた基板を専用ボード
テスタで調べ、所定の電圧が得られているか等を調べる
。

（２）動作時における検査方法（ａ　）信号処理装置が正常に動作しなくなった場合、
間接的に判断する。

（ｂ　）人間が、基板を目視あるいはテスタで検査する
。

（３）ＩＣ単体の故障検査方法（ａ）［０に所定のテストパターンの信号を印加し、そ
の処理出力により判断する。

（ｂ）順序回路のテスト法として、スキャンバス法と呼
ばれる方法がある。これは、回路全体を７リツプフロツ
プのような記憶素子と組み合わせ回路とに分け、記憶素
子にテストパターンをスキャン入力し、組み合わせ回路
で動作させた後に、記憶素子の内容を順次読出して判断
する方法である。

（ｃ）特開昭６１−１６００７１号公報に記載のように
、同一の回路構成を持つ２回路を１チツプ内に配置し、
それぞれに同一の入力を印加し、出力が異なる場合に故
障を検出する方法もある。

（発明が解決しようとする課題）上記した方法によれば、以下に述べるような欠点がある
。その欠点について、上記の項目に合わせて説明する。

（１）生産工程に於ける故障検査方法（ａ　）人間の経験に頼るため、故障の発見率を高くで
きない。また、熟練や多くの工数を要する。

（ｂ）専用の装置（専用ボードテスタ）を必要とするた
め、費用がかかる。また、専用のプログラムの作成など
の工数を要する。

フラットパッケージの１Ｇを使用している場合は、その
ままでは検査することができない。また、高密度実装の
基板では使用不可能である。

（２）動作時における検査方法＜ａ　＞故障発生から対処までの間に、異常動作をし、
部間の破壊、事故をもたらす恐れがある。

（ｂ）人間の経験に頼るため、故障の発見率を高くでき
ない。また、熟練や多くの工数を要する。

（３）ＩＣ単体の故障検査方法（ａ　）適切なテストパターンを作成することが極めて
雌しい。また、多くのパターンを必要とする。

（ｂ）回路設計の作業が極めて困難であり、多くの工数
を必要とする。

（Ｃ）回路規模が通常の場合と比較して、２倍以上にな
る。また、出力に影響を与えないような故障の場合、発
見、が困難である。

本発明は上記問題点に鑑みてなされたもので、その目的
とするところは、簡単な構成で、ＩＣ内部の故障あるい
は周辺接続部での故障を検査して発見することのできる
信号処理装置を実現することにある。

（課題を解決するための手段）上記課題を解決する本発明は、信号処理を行うための少
なくとも１個以上のＩＣと、このＩＣに接続されたＣＰ
Ｕとを有する信号処理装置であって、前記ＣＰＵ及びＩ
Ｃは故障検査手段を具備し、前記故障検査手段は特定の
信号をＣＰＵからＩＣに送出し、ＩＣからの処理結果を
受信して故障の判定を行うよう構成したことを特徴とす
るものである。

（作用）本発明では、ＣＰＬＪは特定の信号をＩＣに送出し、ｒ
Ｃからの処理結果を受信して故障の判定を行う。

（実施例〉以下、図面を参照して、本発明の実施例を詳細に説明す
る。

第１図は本発明の一実施例の要部の構成を示すブロック
図である。

図において、１及び２は信号処理を行うための信号処理
ＩＣ（以下、単にＩＣという）である。

このＩＣには、外部から与えられる信号と出力信号との
関係から、故障を判別するための故障検査用回路が搭載
されている。３は各部を制御するためのＣＰＵである。

このＣＰＵ３には、検査データを前記故障検査用回路に
送出するため及び、故障検査用回路からの戻り信号によ
りｌＣの故障を判定する故障検査用プログラムが組み込
まれている。

４は信号処理における各種表示及び故障時の表示を行う
ための表示部である。

第２図は、ＣＰＵ２の故障検査用プログラムの概略を説
明するためのフローチャートである。

以下、本装置の動作の概略を第１図及び第２図を用いて
説明する。

信号処理装置の電源投入直後あるいは信号処理の動作終
了後等にテストモードに入るようにし、ＣＰＵ３はＩＣ
１，ＩＣ２に所定の検査データを送信する（ステップ■
）。ＩＣ１，２内の故障検査用回路は、この検査データ
を受信して、所定の信号処理を行い、処理結果をＣＰＵ
３に送信する。

この時、ＣＰＵ３は、故障検出回路からの応答を監視し
ており（ステップ■）、応答がなければＩＣ１若しくは
］Ｃ２，または周辺接続部の故障と判断して、表示部３
に故障表示を行い、故障と判断されたＬＣの動作を停止
させる（ステップ■）。

また、故障検出回路から応答があった場合にも、この応
答結果を正常動作時に予想される応答結果と比較を行う
（ステップ■）。両者が一致すれば、【Ｃを正常と判断
して検査を終了する。一致していなければ、ＩＣの故障
と判断して、表示部３に故障の表示を行うと共に、ＩＣ
の動作を停止させる。

次に、本発明を画像処理装置に適用した場合について第
３図を用いて説明する。

図において、第１図と同一のものについては同一番号を
付し、説明は省略する。１０は被写体の光学像をレッド
Ｒの色分解酸とシアンＣの色分解像とに分離するダイク
ロイックミラー、１１及び１２はそれぞれレッドＲの色
分解像とシアンＣの色分解像とを電気信号に変換するた
めのＣＯＤ、１３はＣＣＤ１１，１２の出力を△１０ｆ
ｆ換するためのＡ／Ｄ変挽回路、１４はＡ／Ｄ変換され
た画像信号のうち有効領域のみを扱き取るゲート回路、
１５は画像信号をカラーコードとｉ１１度データとに分
離する色分離回路、１６は画像信号に含まれるカラーゴ
ーストを補正するカラーゴースト補正回路、１７は解像
度の補正を行うＭＴＦ補正回路、１８は濃度を選択する
ための濃度選択回路、１９は画像信号を多値化するため
の多値化回路である。これらＭ王Ｆ補正回路１７．ＩＩ
Ｊｌ［選択回路１８、多値化回路１９は１チツプのｒＣ
によって構成されており、故障検査用回路が設けられて
いる（以下、ｌＣｂという）。２０は画像のうち一部分
の色を変換する部分色変換回路であり、１チツプのＩＣ
によって構成されており、故障検査用回路が設けられて
いる（以下、ＩＣｃという）。

２１は画像の変倍を行う変倍回路、２２は画像信号をプ
リンタ出力用の信号に変換するプリンタインターフェー
ス回路である。これら変倍回路２１゜プリンタインター
フェース回路２２は１チツプのＩＣによって構成されて
おり、故障検査用回路が設けられている（以下、ｒＣｄ
という）。２３は各部を駆動するためのタイミング発生
回路である。

このタイミング発生回路２３は１チツプのＩＣによって
構成されており、故障検査用回路が設けられている（以
下、ｌｅａという）。尚、このタイミング発生回路２３
から各部への配線は省略しである。

以下、動作を説明する。スキャナ（図示せず）によって
Ｉｉ像された光学像は、ダイクロイックミラー１０によ
りレッドＲの色分解像とシアンＣの色分解像とに分離さ
れて、それぞれＣＧＤｌｌ。

１２で読み取られる。そして、Ａ／Ｄ変換回路１３でＡ
ＩＤ変換された後、ゲート回路１４で有効領域のみの画
像信号が抜き取られる。このゲート回路１４にはＣＰＬ
Ｉ３から有効領域を示す信号（Ｂ４若しくは△３）が与
えられている。この画像信号は色分離回路１５で、カラ
ーコードと濃度データとに分離される。このカラーコー
ドと１度データとは、カラーゴースト補正回路１６に送
られてカラーゴースト補正が行われる。このカラーゴー
スト補正回路は、主走査方向、副走査方向でカラーゴー
スト補正を実行する。カラーゴースト補正された濃度デ
ータは解像度補正、濃度選択がなされる。また、カラー
コードは部分色変換回路２０に与えられ、ＣＰＵ３から
指示があった場合は部分色変換が実行される。濃度選択
回路１８の出力は変倍回路２１により、ＣＰＬＩ３がら
の変倍データに基づいて、変倍が実行される。この後、
ＣＰＵ３からの閾値データを基準にして、多値化回路１
９が変倍回路２１からの濃度データを多値化してプリン
タインターフェースに送る。この多値化信号はプリンタ
インターフェース２２からプリンタ（図示せず）に送出
される。尚、この様な動作を行っているときは、タイミ
ング回路２３はＣＰＵ３からのタイミング発生データを
受けて、各回路にタイミング信号を与えている。

ところで、以−Ｆの画像処理装置において、ＩＣａはタ
イミング発生回路を構成するカスタムＩＣ１ｒＣｂはＭ
ＴＦ補正回路、濃度選択回路、多値化回路を構成するカ
スタムＩＣ１ＩＣｃは部分色変換回路を構成するカスタ
ムＩＣ，ＩＣｄは変倍回路、プリンタインターフェース
を構ｌｉするカスタムＩＣである。そして、それぞれの
ＩＣは故障検査用回路を有しており、ＣＰＵ３とは信号
線を介して直接データの授受を行う。すなわち、故障検
査モードではない場合（通常動作モード）では、このＣ
ＰＵ３及びｒｃａ−ｒｃｄは通常の動作をしている。

ここで、ＩＣａの故障検査について説明する。

画像処理装置の電源投入直後あるいは画像処理動作終了
後（例えば１秒後）に、ＣＰＵ３から故障検査用プログ
ラムを、タイミング発生データ線を介してＩＣａに送出
する。ＩＣａは、内蔵している故障検査用回路により故
障検査を行い、その結果をタイミング発生データ線を介
してＣＰＬＩ３に送り返す。ＣＰＵ３は応答結果により
ＩＣａの状態を判定し、故障があれば表示部３にその旨
の表示を行い、ＩＣａ（タイミング発生回路２３）の動
作を停止させる。故障がなければ、検査は終了し、通常
の動作を続ける。

ＩＣｂ、ＩＣｃ、ＩＣｄについても同様の故障検査を実
行する。この為、詳細については省略する。

尚、ＣＰＬＩ３は、通常動作で用いるＣＰＬＩと別であ
ってもかまわない。

以上のような構成にすることにより、人間の経験に頼ら
ず故障を発見できるので、発見率は極めて高い。また、
部品の追加を要しないので、部品追加（部品の増加）に
起因する信頼性の低下を防止できる。この為、基板面積
の増加も抑えられる。

更に、本発明は、最近多用されているフラットパッケー
ジのＩＣや高密度実装基板にも使用できる。

そして、故障検査を一定期間毎に実行すれば、動作中に
故障が発生しても、故障発生とほぼ同時に検出が可能で
ある。この為、異常動作９部品の破壊、事故を防止する
ことも可能になる。

尚、上記した実施例では、画像処理装置に適用した場合
について説明したが、これに限定されるものではなく、
種々の信号処理装置に適用できることは言うまでもない
。

（発明の効果）以上詳細に説明したように、本発明では、信号処理を行
うためのＩＣを備えた信号処理装置において、ｒＣに接
続されたＣＰＵは故障検出用プログラムを有し、このＣ
ＰＵは特定の信号（故障検出データ）をＩＣに送出し、
ＩＣからの処理結果を受信して故障の判定を行うよう構
成している。

この為、ＩＣ内部の故障あるいは周辺接続部での故障を
、簡単な回路構成で検査し、確実に発見することのでき
る信号処理装置を実現することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例の要部構成を示すブロック図
、第２図は故障検査を説明するためのフローチャート、
第３図は本発明の応用例の構成を示すブロック図である
。１．２・・・信号処理ｆｃ３・・・ＣＰＵ４・・・表示部１０・・・ダイクロイックミラー１１．１２・・・Ｃ０Ｄ１３・・・Ａ／、Ｄ変換回路１４・・・ゲート１５・・・色分離回路１６・・・カラーゴースト補正回路１７・・・ＭＴＦ補正回路１８・・・濃度選択回路１９・・・多値化回路２０・・・部分色変換回路２１・・・変倍回路２２・・・プリンタインターフェース２３・・・タイミング発生回路特許出願人　　コ　　ニ　　カ　　株　　式　　会　　
礼式　　理　　人　　弁　　理　　士　　井　　島　　
藤　　治外１名第１図Ｊ　　　　　　　　　　　　４第２図

Claims

【特許請求の範囲】

信号処理を行うための少なくとも１個以上のＩＣと、こ
のＩＣに接続されたＣＰＵとを有する信号処理装置であ
って、前記ＣＰＵ及びＩＣは故障検査手段を具備し、前
記故障検査手段は特定の信号をＣＰＵからＩＣに送出し
、ＩＣからの処理結果を受信して故障の判定を行うよう
構成したことを特徴とする信号処理装置。