JPH01246192A - 単結晶引上げ装置 - Google Patents
単結晶引上げ装置Info
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- JPH01246192A JPH01246192A JP7539388A JP7539388A JPH01246192A JP H01246192 A JPH01246192 A JP H01246192A JP 7539388 A JP7539388 A JP 7539388A JP 7539388 A JP7539388 A JP 7539388A JP H01246192 A JPH01246192 A JP H01246192A
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- 239000002994 raw material Substances 0.000 abstract description 35
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- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
- Liquid Deposition Of Substances Of Which Semiconductor Devices Are Composed (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的]
(産業上の利用分野)
本発明は、半導体単結晶をCZ(チョクラルスキー法)
により引上げる際、原料融液に磁界を印加するようにし
た単結晶引上げ装置に関する。
により引上げる際、原料融液に磁界を印加するようにし
た単結晶引上げ装置に関する。
(従来の技術)
半導体の単結晶を作る場合に用いられる方法の1つとし
て、従来、チョクラルスキー法が知られている。
て、従来、チョクラルスキー法が知られている。
この方法は、先端に種結晶が取付けられた引上げ棒をル
ツボ内の原料融液中に浸しつつ、これを回転させながら
ゆっくり引上げて前記種結晶を核として単結晶を成長さ
せることを原理としている。
ツボ内の原料融液中に浸しつつ、これを回転させながら
ゆっくり引上げて前記種結晶を核として単結晶を成長さ
せることを原理としている。
第5図は、このようなチョクラルスキー法を用いた単結
晶引上げ装置の一例を示す断面図である。
晶引上げ装置の一例を示す断面図である。
この図に示す装置は、カップ状に形成されるルツボ10
4と、このルツボ104の周囲に配置されるヒータ10
つと、このヒータ109や前記ルツボ104を収納する
チャンバ103と、このチャンバ10゛3の外側に配置
される2つの常電導コイル101a 、101bと、こ
れら常 Sコイル101.101b間を繋ぐ磁路形成用
の鉄心102とを備えている。
4と、このルツボ104の周囲に配置されるヒータ10
つと、このヒータ109や前記ルツボ104を収納する
チャンバ103と、このチャンバ10゛3の外側に配置
される2つの常電導コイル101a 、101bと、こ
れら常 Sコイル101.101b間を繋ぐ磁路形成用
の鉄心102とを備えている。
そして単結晶生成時には、まずヒータ109によってル
ツボ104が加熱されて、このルツボ104内に入れら
れた原料が溶融され、原料融液105が生成される。こ
の後、先端に種結晶が取付けられた引上げ棒109が前
記原料溶液105中に浸されつつ、回転されながらゆっ
くり引上げられる。これにより、前記種結晶を核として
単結晶101が成長し、これがある程度成長した時点で
単結晶インゴットとして取出される。
ツボ104が加熱されて、このルツボ104内に入れら
れた原料が溶融され、原料融液105が生成される。こ
の後、先端に種結晶が取付けられた引上げ棒109が前
記原料溶液105中に浸されつつ、回転されながらゆっ
くり引上げられる。これにより、前記種結晶を核として
単結晶101が成長し、これがある程度成長した時点で
単結晶インゴットとして取出される。
しかし、この場合、ヒータ109によって加熱された原
料融液105の中や表面においては、第6図に示す如く
原料融液105全体を循環する熱対流Pと、原料融液1
05の表面が激しく波立つ撹乱状!gLとが生じる。
料融液105の中や表面においては、第6図に示す如く
原料融液105全体を循環する熱対流Pと、原料融液1
05の表面が激しく波立つ撹乱状!gLとが生じる。
これら熱対流Pや、撹乱状態りなどによって、単結晶1
10の固液界面層が撹乱状態になると、原料融液105
内の温度変動が激しくなって成長中の単結晶110に、
転位ループや、積層欠陥などが生じる。
10の固液界面層が撹乱状態になると、原料融液105
内の温度変動が激しくなって成長中の単結晶110に、
転位ループや、積層欠陥などが生じる。
また、大ぎな熱対流Pは、ルツボ104の径方向に対し
て流れるため、この熱対流Pによってルツボ104の壁
や、原料融液105の表面から不純物が取込まれて、こ
れが原料融液105中に拡散され、単結晶110の純度
が低下してしまうという問題が生じる。
て流れるため、この熱対流Pによってルツボ104の壁
や、原料融液105の表面から不純物が取込まれて、こ
れが原料融液105中に拡散され、単結晶110の純度
が低下してしまうという問題が生じる。
そこで、このような単結晶引上げ装置では、常′M導コ
イル101a、101bと、鉄心102とから欄成され
るマグネット111により、静磁界Gを発生させてルツ
ボ104内の原料融液105に均一な磁界(磁束密度の
差異が5%以下)を印加し、第7図(a )に示す如く
前記原料融液105の熱対流Pや、撹乱状態1−を抑制
している。
イル101a、101bと、鉄心102とから欄成され
るマグネット111により、静磁界Gを発生させてルツ
ボ104内の原料融液105に均一な磁界(磁束密度の
差異が5%以下)を印加し、第7図(a )に示す如く
前記原料融液105の熱対流Pや、撹乱状態1−を抑制
している。
この場合、この原料融液105の熱対流Pや、撹乱状態
しに対する抑止力(制動力F)は、ローレンツの原理に
基づくものであるから、静磁界Gに直交でる方向の流れ
に対しては、次式に示す制動力Fが働く。
しに対する抑止力(制動力F)は、ローレンツの原理に
基づくものであるから、静磁界Gに直交でる方向の流れ
に対しては、次式に示す制動力Fが働く。
F=に−(7−VR−BZ 2 −−− ・
−−< 1 )但し、K:定数。
−−< 1 )但し、K:定数。
σ:原料融液105の電気伝導度。
VR:磁束と直交する流速成分。
Bz:11重合度。
そして、原料融液105表面の錯乱状態りは、激しい動
きであるから、1000ガウス程度の比較的低い磁束密
度で充分抑えられるものの、ゆっくりとした熱対流Pは
、数千ガウス程度の磁束密度を必要とする。
きであるから、1000ガウス程度の比較的低い磁束密
度で充分抑えられるものの、ゆっくりとした熱対流Pは
、数千ガウス程度の磁束密度を必要とする。
このため、この種の単結晶引上げ装置では、常Itlコ
イル101a 、101bによって熱対流Pを抑えるこ
とができる数千ガウス程度の磁束密度を発生させて、上
述した不都合が発生しないようにしている。
イル101a 、101bによって熱対流Pを抑えるこ
とができる数千ガウス程度の磁束密度を発生させて、上
述した不都合が発生しないようにしている。
〈発明が解決しようとする課題)
ところで、従来の単結晶引上げ装置にお゛いては、熱対
流Pを抑える必要性からルツボ104内が数千ガウス程
度の磁束密度となるようにマグネット111によって静
磁場を与えている。
流Pを抑える必要性からルツボ104内が数千ガウス程
度の磁束密度となるようにマグネット111によって静
磁場を与えている。
しかしながら、熱対流Pを止めるということは、ヒータ
109によって得られた熱が熱伝導のみでしか中心部に
伝わらなくなるため、ルツボ104の径が大きくなると
、熱の伝達が不充分になり、原料融液105の周辺温度
と、中心温度とが数十度近く、異なってしまうことがあ
る。
109によって得られた熱が熱伝導のみでしか中心部に
伝わらなくなるため、ルツボ104の径が大きくなると
、熱の伝達が不充分になり、原料融液105の周辺温度
と、中心温度とが数十度近く、異なってしまうことがあ
る。
このため、このような単結晶引上げ装置においては、原
料融液105を安定、かつ均一な温度状態にするために
、引上げ捧108によって単結晶110を回転させて原
料融液105を攪拌している。
料融液105を安定、かつ均一な温度状態にするために
、引上げ捧108によって単結晶110を回転させて原
料融液105を攪拌している。
ところが、この場合、第7図(b)に示す如く単結晶1
10を回転させることによって生じる攪拌流Mは、第7
図(b)の左右部分において静磁界Gの方向と直交し、
また第7図(b )の上下部分において前記静磁界Gの
方向と並行となるため、静磁界Gと直交する部分で、攪
拌流Mの回転が阻害されて、径方向に向かう乱流が生じ
る。
10を回転させることによって生じる攪拌流Mは、第7
図(b)の左右部分において静磁界Gの方向と直交し、
また第7図(b )の上下部分において前記静磁界Gの
方向と並行となるため、静磁界Gと直交する部分で、攪
拌流Mの回転が阻害されて、径方向に向かう乱流が生じ
る。
そこで、このような乱流を防止するために、静磁界Gの
大きさを小さくすることも考えられるが、このようにす
ると、上述した理由により径方向に向かうゆっくりとし
た熱対流Pを抑制することができなくなってしまう。
大きさを小さくすることも考えられるが、このようにす
ると、上述した理由により径方向に向かうゆっくりとし
た熱対流Pを抑制することができなくなってしまう。
本発明は上記の事情に鑑み、単結晶の生成時に有害とな
る原料融液表面の熱攪乱や、径方向に流れるゆっくりと
した熱対流を抑えることができるとともに、攪拌流の流
れが乱れないようにすることができ、これによって原料
融液の温度分布を安定化させて、良好な単結晶を生成す
ることができる単結晶引上げ装置を提供することを目的
としている。
る原料融液表面の熱攪乱や、径方向に流れるゆっくりと
した熱対流を抑えることができるとともに、攪拌流の流
れが乱れないようにすることができ、これによって原料
融液の温度分布を安定化させて、良好な単結晶を生成す
ることができる単結晶引上げ装置を提供することを目的
としている。
[発明の構成]
〈課題を解決するための手段)
上記の目的をj構成するために本発明による単結晶引上
げ装置は、単結晶を引上げるための単結晶引上げ部と、
この単結晶引上げ部を囲むようにほぼ水平に配置される
4つ以上の極を有するマグネット部とを備えたことを特
徴としている。
げ装置は、単結晶を引上げるための単結晶引上げ部と、
この単結晶引上げ部を囲むようにほぼ水平に配置される
4つ以上の極を有するマグネット部とを備えたことを特
徴としている。
(作用)
上記の構成において、4つ以上の極を有づるマグネット
部によって単結晶引上げ部の中心部からの距離に応じて
強くなる静磁界を生成し、単結晶引上げ部内にある原料
融液が径方向に流れるのを防止するとともに、原料融液
中心付近での攪拌流が乱れないようにする。
部によって単結晶引上げ部の中心部からの距離に応じて
強くなる静磁界を生成し、単結晶引上げ部内にある原料
融液が径方向に流れるのを防止するとともに、原料融液
中心付近での攪拌流が乱れないようにする。
(実施例)
第1図は本発明による単結晶引上げ装置の一実施例を示
す縦断面図である。
す縦断面図である。
この図に示す単結晶引上げ装置は、カップ状に形成され
るルツボ2と、このルツボ2の周囲に配置されるヒータ
3と、このヒータ3や前記ルツボ2を収納するチャンバ
4と、このチャンバ4の外側に配置される4つの常電導
コイル5a〜5d(第2図参照)と、これら各常電導コ
イル5a〜5dの磁路となる鉄心6とを備えている。
るルツボ2と、このルツボ2の周囲に配置されるヒータ
3と、このヒータ3や前記ルツボ2を収納するチャンバ
4と、このチャンバ4の外側に配置される4つの常電導
コイル5a〜5d(第2図参照)と、これら各常電導コ
イル5a〜5dの磁路となる鉄心6とを備えている。
そして、第2図に示す如く前記各常電導コイル5a〜5
dは、前記ルツボ2を中心として90度毎に、かつS極
と、N極とが交互になるように配置され、これら各常電
導コイル5a〜5dによって前記ルツボ2に静磁界G+
、G2を印加し得るようになっている。
dは、前記ルツボ2を中心として90度毎に、かつS極
と、N極とが交互になるように配置され、これら各常電
導コイル5a〜5dによって前記ルツボ2に静磁界G+
、G2を印加し得るようになっている。
この場合、各静磁界Gl 、G2は、ルツボ2の中心部
分において、互いに反発するので、これらの各静磁界G
+ 、G2によってルツボ2には、第3図に示す如く中
心部で弱く、かつ、この中心部からの距離に応じて強く
なる同心円状の磁場が発生ずる。
分において、互いに反発するので、これらの各静磁界G
+ 、G2によってルツボ2には、第3図に示す如く中
心部で弱く、かつ、この中心部からの距離に応じて強く
なる同心円状の磁場が発生ずる。
、次に、第4図を参照しながらこの実施例の動作を説明
する。
する。
まず、前記各常電導コイル5a〜5dをオンさせて静磁
界G+ 、G2を発生さぜながらヒータ3によってルツ
ボ2を加熱して、このルツボ2内に入れられた原料を溶
融する。これによって、原料融液7が生成される。
界G+ 、G2を発生さぜながらヒータ3によってルツ
ボ2を加熱して、このルツボ2内に入れられた原料を溶
融する。これによって、原料融液7が生成される。
この後、先端に種結晶が取付けられた引上げ棒8を前記
原料融液5内に浸しつつ、これを回転されながらゆっく
り引上げて前記種結晶を核と゛して単結晶9を成長させ
る。
原料融液5内に浸しつつ、これを回転されながらゆっく
り引上げて前記種結晶を核と゛して単結晶9を成長させ
る。
このとき、前記各常電導コイル5a〜5dによってルツ
ボ2の径方向に静磁界G+ 、G2が形成されているの
で、原料融液7の径方向に対する熱対流に対して、前記
(1)式で示される制動力Fが働ぎ、対流が抑制される
。
ボ2の径方向に静磁界G+ 、G2が形成されているの
で、原料融液7の径方向に対する熱対流に対して、前記
(1)式で示される制動力Fが働ぎ、対流が抑制される
。
また、このとき、前記各静磁界G+ 、G2によってル
ツボ2の中心から離れるにしたがって強くなるように磁
場が形成されているので、単結晶9を回転させることに
よって生じる攪拌流Mに対しては、ルツボ2の中心から
離れるにしたがって、大きな制動力Fが働く。しかしこ
の場合、ルツボ2の中心部分においては、制動力Fがほ
とんど働かない。
ツボ2の中心から離れるにしたがって強くなるように磁
場が形成されているので、単結晶9を回転させることに
よって生じる攪拌流Mに対しては、ルツボ2の中心から
離れるにしたがって、大きな制動力Fが働く。しかしこ
の場合、ルツボ2の中心部分においては、制動力Fがほ
とんど働かない。
これによって、ルツボ2内にある原料融液7の中心部分
においては、単結晶9の回転に起因して同心円状の攪拌
流Mが生じ、この攪拌流Mによって原料融液7の温度勾
配を前記単結晶9の芯を中心として同心円状にすること
ができる。
においては、単結晶9の回転に起因して同心円状の攪拌
流Mが生じ、この攪拌流Mによって原料融液7の温度勾
配を前記単結晶9の芯を中心として同心円状にすること
ができる。
このようにこの実施例においては、ルツボ2の中心部か
らの距離に応じて強くなるように静磁界G+ 、G2を
生成したので、単結晶9を回転させたとき、第4図の特
性曲線P+ に示す如く、ルツボ2の周縁部分での攪拌
流Mの速度を撓めて小さくすることができる。
らの距離に応じて強くなるように静磁界G+ 、G2を
生成したので、単結晶9を回転させたとき、第4図の特
性曲線P+ に示す如く、ルツボ2の周縁部分での攪拌
流Mの速度を撓めて小さくすることができる。
ここで、この特性曲線P1と、ルツボ2に静磁界を印加
しないときの特性曲線P3と、従来のマグネットにより
ルツボ2に静磁界を印加したときの特性曲線P2とを比
較すれば、明らかなように、本発明による単結晶引上げ
装置においては、ルツボ2の周縁部分での攪拌流Mの速
度を極めて小さくすることができ、これによってルツボ
2内にある原料融液7が径方向に流れるのを完全に防止
することができる。
しないときの特性曲線P3と、従来のマグネットにより
ルツボ2に静磁界を印加したときの特性曲線P2とを比
較すれば、明らかなように、本発明による単結晶引上げ
装置においては、ルツボ2の周縁部分での攪拌流Mの速
度を極めて小さくすることができ、これによってルツボ
2内にある原料融液7が径方向に流れるのを完全に防止
することができる。
なお、上述した実施例においては、常電導コイル5a〜
5dによって静磁界G1.G2を生成しているが、超電
導コイルによって、これらの静磁界G+ 、G2を生成
するようにしても良い。
5dによって静磁界G1.G2を生成しているが、超電
導コイルによって、これらの静磁界G+ 、G2を生成
するようにしても良い。
また、上述した実施例においては、4つの常電導コイル
5a〜5dによって静磁界を生成σているが、常電導コ
イルの数をもっと多くして、更に多極化しても良い。
5a〜5dによって静磁界を生成σているが、常電導コ
イルの数をもっと多くして、更に多極化しても良い。
[発明の効果]
以上説明したように本発明によれば、単結晶の生成時に
有害となる原料融液表面の熱攪乱や、径方向に流れるゆ
っくりとした熱対流を抑えることができるとともに、攪
拌流の流れが乱れないようにすることができ、これによ
って原料融液の温度分布を安定化させて、良好な単結晶
を生成することができる。
有害となる原料融液表面の熱攪乱や、径方向に流れるゆ
っくりとした熱対流を抑えることができるとともに、攪
拌流の流れが乱れないようにすることができ、これによ
って原料融液の温度分布を安定化させて、良好な単結晶
を生成することができる。
第1図は本発明による単結晶引上げ装置の一実施例を示
す縦断面図、第2図は第1図に示す単結晶引上げ装置の
コイル配置例を示す模式図、第3図は同実施例の磁界強
度例を示づ図、第4図は同実施例の効果を説明づるため
の模式図、第5図は従来からある単結晶引上げ装置の一
例を示づ縦断面図、第6図は第5図に示す単結晶引上げ
装置の熱対流と表面擾乱状態とを示す模式図、第7図は
第5図に示す単結晶引上げ装置の静磁界効果を説明する
ための模式図である。 2・・・単結晶引上げ部(ルツボ) 5a〜5d・・・マグネッ1〜部(常電導コイル)9・
・・単結晶
す縦断面図、第2図は第1図に示す単結晶引上げ装置の
コイル配置例を示す模式図、第3図は同実施例の磁界強
度例を示づ図、第4図は同実施例の効果を説明づるため
の模式図、第5図は従来からある単結晶引上げ装置の一
例を示づ縦断面図、第6図は第5図に示す単結晶引上げ
装置の熱対流と表面擾乱状態とを示す模式図、第7図は
第5図に示す単結晶引上げ装置の静磁界効果を説明する
ための模式図である。 2・・・単結晶引上げ部(ルツボ) 5a〜5d・・・マグネッ1〜部(常電導コイル)9・
・・単結晶
Claims (1)
- 単結晶を引上げるための単結晶引上げ部と、この単結
晶引上げ部を囲むようにほぼ水平に配置される4つ以上
の極を有するマグネット部とを備えたことを特徴とする
単結晶引上げ装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63075393A JP2623465B2 (ja) | 1988-03-29 | 1988-03-29 | 単結晶引上げ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63075393A JP2623465B2 (ja) | 1988-03-29 | 1988-03-29 | 単結晶引上げ装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01246192A true JPH01246192A (ja) | 1989-10-02 |
JP2623465B2 JP2623465B2 (ja) | 1997-06-25 |
Family
ID=13574900
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63075393A Expired - Fee Related JP2623465B2 (ja) | 1988-03-29 | 1988-03-29 | 単結晶引上げ装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2623465B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100783646B1 (ko) * | 2002-11-11 | 2007-12-07 | 스미도모쥬기가이고교 가부시키가이샤 | 냉동기 냉각형 초전도 자석장치 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61222985A (ja) * | 1985-03-28 | 1986-10-03 | Toshiba Corp | 単結晶の製造装置 |
JPS61222984A (ja) * | 1985-03-28 | 1986-10-03 | Toshiba Corp | 単結晶の製造装置 |
JPS6424087A (en) * | 1987-07-20 | 1989-01-26 | Nec Corp | Device for pulling up single crystal |
-
1988
- 1988-03-29 JP JP63075393A patent/JP2623465B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61222985A (ja) * | 1985-03-28 | 1986-10-03 | Toshiba Corp | 単結晶の製造装置 |
JPS61222984A (ja) * | 1985-03-28 | 1986-10-03 | Toshiba Corp | 単結晶の製造装置 |
JPS6424087A (en) * | 1987-07-20 | 1989-01-26 | Nec Corp | Device for pulling up single crystal |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100783646B1 (ko) * | 2002-11-11 | 2007-12-07 | 스미도모쥬기가이고교 가부시키가이샤 | 냉동기 냉각형 초전도 자석장치 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2623465B2 (ja) | 1997-06-25 |
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