JPH01243404A - 積層磁性薄膜およびこれを用いた磁気ヘツド - Google Patents
積層磁性薄膜およびこれを用いた磁気ヘツドInfo
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- JPH01243404A JPH01243404A JP6936088A JP6936088A JPH01243404A JP H01243404 A JPH01243404 A JP H01243404A JP 6936088 A JP6936088 A JP 6936088A JP 6936088 A JP6936088 A JP 6936088A JP H01243404 A JPH01243404 A JP H01243404A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は低保磁力、高透磁率、高飽和磁束密度を有する
積層磁性薄膜に関し、特に磁気ディスク装置、VTRな
どに用いる磁気ヘッドおよび磁気ヘッドのコア材料に適
した積層磁性薄膜に関する。
積層磁性薄膜に関し、特に磁気ディスク装置、VTRな
どに用いる磁気ヘッドおよび磁気ヘッドのコア材料に適
した積層磁性薄膜に関する。
磁気ヘッドの記録時における磁気飽和を防ぐために、磁
気ヘッド材料は高飽和磁束密度を有することが必要であ
る。またヘッドの再生効率の面から低保磁力、高透磁率
の特性を有することも必要である。
気ヘッド材料は高飽和磁束密度を有することが必要であ
る。またヘッドの再生効率の面から低保磁力、高透磁率
の特性を有することも必要である。
このような高飽和磁束密度を有する磁性材料を得るため
、Feを主成分とする合金の開発が進められている。し
かしこれらの合金の中で飽和磁束密度が1.8T以上の
材料の多くは保磁力が大きく、磁気ヘッド材料としては
十分である。そこで特開昭52−112797に論じら
れているように、低保磁力、高透磁率の特性を得るため
に、磁性薄膜をSiOxを介して積層構造とすることが
行なわれてきた。
、Feを主成分とする合金の開発が進められている。し
かしこれらの合金の中で飽和磁束密度が1.8T以上の
材料の多くは保磁力が大きく、磁気ヘッド材料としては
十分である。そこで特開昭52−112797に論じら
れているように、低保磁力、高透磁率の特性を得るため
に、磁性薄膜をSiOxを介して積層構造とすることが
行なわれてきた。
しかし、Feを主成分とする合金薄膜を5xOzsA
Q z Oa等の酸化物を介して積層構造としても、F
e系合金の組成によって保磁力が十分に小さくならない
という問題があった。またSiOx。
Q z Oa等の酸化物を介して積層構造としても、F
e系合金の組成によって保磁力が十分に小さくならない
という問題があった。またSiOx。
AQzOs等の酸化物は多孔質であり、そのためこれら
の酸化物の直上に蒸着したFe系合金も空孔などの欠陥
を多く含み、飽和磁束密度が大幅に低下するという問題
もあった。
の酸化物の直上に蒸着したFe系合金も空孔などの欠陥
を多く含み、飽和磁束密度が大幅に低下するという問題
もあった。
本発明の目的は、上述の従来技術の欠点を解消し、低保
磁力、高透磁率ならびに高飽和磁束密度を有する積層磁
性薄膜およびこれを用いた高密度磁気記録用の磁気ヘッ
ドを提供することにある。
磁力、高透磁率ならびに高飽和磁束密度を有する積層磁
性薄膜およびこれを用いた高密度磁気記録用の磁気ヘッ
ドを提供することにある。
本発明者等はFe薄膜およびF’ eを主成分とする合
金薄膜に他の組成の薄膜を介して!&層構造とした磁性
薄膜について鋭意研究を重ねた結果、上記他の組成の薄
膜による積層磁性薄膜の磁気特性の変化を明らかにし、
本発明を完成するに至った。
金薄膜に他の組成の薄膜を介して!&層構造とした磁性
薄膜について鋭意研究を重ねた結果、上記他の組成の薄
膜による積層磁性薄膜の磁気特性の変化を明らかにし、
本発明を完成するに至った。
すなわち、上記他の組成の薄膜の結晶構造を面心立方格
子あるいはそれに類似する構造とし、その格子定数を3
.243〜3.296人あるいは3.322〜3,37
5人あるいは3.744〜3.805人あるいは3,8
35〜3.897人あるいは3.973〜4.038人
あるいは4.070〜4.135 人の範囲とするこ
とにより、低保磁力。
子あるいはそれに類似する構造とし、その格子定数を3
.243〜3.296人あるいは3.322〜3,37
5人あるいは3.744〜3.805人あるいは3,8
35〜3.897人あるいは3.973〜4.038人
あるいは4.070〜4.135 人の範囲とするこ
とにより、低保磁力。
高透磁率の特性が得られる。また積層化影響により飽和
磁束密度は低下するが、 S x O2,A Q z
Os等を介した場合よりも飽和磁束密度は高い。
磁束密度は低下するが、 S x O2,A Q z
Os等を介した場合よりも飽和磁束密度は高い。
また、上記積層磁性薄膜のFeあるいはFeを主成分と
する合金薄膜にCを1〜20at%添加することにより
さらに低保磁力、高透磁率を有する積層磁性薄膜が得ら
れる。
する合金薄膜にCを1〜20at%添加することにより
さらに低保磁力、高透磁率を有する積層磁性薄膜が得ら
れる。
さらに本発明の積層磁性薄膜を磁気ヘッドの磁気回路に
用いることにより、記録特性の優れた磁気ヘッドを得る
ことができる。
用いることにより、記録特性の優れた磁気ヘッドを得る
ことができる。
本発明の積層磁性薄膜におけるFe薄膜は、結晶の(1
10)面が基板と平行になるように配向している。この
場合、中間層が面心立方格子を有し、(111)配向し
ているとすると、中間層の格子定数が3.309人、3
.820人、4,054人の時、Feと中間層材料はエ
ピタキシャル関係をもつ、中間層の格子定数を81.上
記3.309人。
10)面が基板と平行になるように配向している。この
場合、中間層が面心立方格子を有し、(111)配向し
ているとすると、中間層の格子定数が3.309人、3
.820人、4,054人の時、Feと中間層材料はエ
ピタキシャル関係をもつ、中間層の格子定数を81.上
記3.309人。
3.820人、4.054人のうち最もalに近い値を
a2とすると、エピタキシャル関係からの変位はlal
/az−11で表される。
a2とすると、エピタキシャル関係からの変位はlal
/az−11で表される。
上記tax/ax−11と積層磁性薄膜の磁化困薙方向
の保磁力Haとの関係においては、lat/a2−11
がXo、004から0.02 の範囲のとき保磁力を3
0e以下にすることができる。この時の保磁力は、5i
Ozを中間層として用いた場合よりも大幅に小さい、こ
の範囲に対応する格子定数の値は前述の如<3.243
から3.296人、3.322から3.75人、3.7
44から3.805人、3.835から3.897人、
3.973から4.038人、4.070から4.13
5人の範囲テある。
の保磁力Haとの関係においては、lat/a2−11
がXo、004から0.02 の範囲のとき保磁力を3
0e以下にすることができる。この時の保磁力は、5i
Ozを中間層として用いた場合よりも大幅に小さい、こ
の範囲に対応する格子定数の値は前述の如<3.243
から3.296人、3.322から3.75人、3.7
44から3.805人、3.835から3.897人、
3.973から4.038人、4.070から4.13
5人の範囲テある。
以下に本発明の一実施例を挙げ1図表を参照しながらさ
らに具体的に説明する。
らに具体的に説明する。
[実施例1]
積層磁性薄膜の作製にはデュアル・イオンビーム・スパ
ッタリング装置を用いた。スパッタリングは以下の条件
で行った。
ッタリング装置を用いた。スパッタリングは以下の条件
で行った。
イオンガス ・・・・・・Ar装置
内Arガス圧力 ・・・・・・2.5X10
−”Pa蒸看用イオンガン加速電圧 ・・・・・・
1200V蒸着用イオンガンイオン電流 ・・・・・
・120mAターゲット電流 ・・・・
・・ 70mA基板照射用イオンガン加速電圧 ・・・
・・・200v基板照射用イオンガンイオン電流・・・
・・・ 40mAターゲット・基板間距離 ・・
・・・・1271m1作製した積層磁性薄膜の断面図を
第1図に示す。
内Arガス圧力 ・・・・・・2.5X10
−”Pa蒸看用イオンガン加速電圧 ・・・・・・
1200V蒸着用イオンガンイオン電流 ・・・・・
・120mAターゲット電流 ・・・・
・・ 70mA基板照射用イオンガン加速電圧 ・・・
・・・200v基板照射用イオンガンイオン電流・・・
・・・ 40mAターゲット・基板間距離 ・・
・・・・1271m1作製した積層磁性薄膜の断面図を
第1図に示す。
本実施例では主磁性膜11としてFe薄膜、中間層12
として面心立方格子を有する種々の元素、基板13とし
てコーニング社製7o59ガラス基板を用いた。また主
磁性膜11の層数を10層。
として面心立方格子を有する種々の元素、基板13とし
てコーニング社製7o59ガラス基板を用いた。また主
磁性膜11の層数を10層。
1層当りの膜厚を450人、中間層12の膜厚を50人
、積層磁性薄膜の総膜厚を約5000八−定とした。ま
た積層磁性薄膜に対して300 ’C11時間の熱処理
を行った。
、積層磁性薄膜の総膜厚を約5000八−定とした。ま
た積層磁性薄膜に対して300 ’C11時間の熱処理
を行った。
本発明の積層磁性薄膜におけるFe薄膜は結晶の(11
0)面が基板と平行になるように配向している。この場
合、中間層12が面心立方格子を有し、(111)配向
しているとすると、中間層12の格子定数が3.309
人、3.820人。
0)面が基板と平行になるように配向している。この場
合、中間層12が面心立方格子を有し、(111)配向
しているとすると、中間層12の格子定数が3.309
人、3.820人。
4.054 人の時、Feと中間層材料はエピタキシ
ャル関係を持つ、中間層12の格子定数をal、上記3
.309人、3,820人、4.054 人のうち最
もatに近い値をazとすると、エピタキシャル関係か
らの変位はlax/at−11で表わされる。
ャル関係を持つ、中間層12の格子定数をal、上記3
.309人、3,820人、4.054 人のうち最
もatに近い値をazとすると、エピタキシャル関係か
らの変位はlax/at−11で表わされる。
fax/ax−11と積層磁性薄膜の磁化回連方向の保
磁力HCとの関係を第2図に示す、同図に示すようにl
ax/ax 11が0.004〜0.02の範囲の時
、保磁力が30以下となる。この値は5i()zを中間
層12として用いた場合の保磁カフ、20sより大幅に
小さい。また同図のように、fax/az−IIが0.
004〜0.02範囲の元素としてはRh g I r
t A u g A g HP dがあげられる。ま
た上記範囲に対応する格子定数は3.243〜3.29
6人、3.322〜3.375人、3.744〜3.8
05人、3,835〜3.897人、3.973〜4.
038人、4.070〜4.135人の範囲である。
磁力HCとの関係を第2図に示す、同図に示すようにl
ax/ax 11が0.004〜0.02の範囲の時
、保磁力が30以下となる。この値は5i()zを中間
層12として用いた場合の保磁カフ、20sより大幅に
小さい。また同図のように、fax/az−IIが0.
004〜0.02範囲の元素としてはRh g I r
t A u g A g HP dがあげられる。ま
た上記範囲に対応する格子定数は3.243〜3.29
6人、3.322〜3.375人、3.744〜3.8
05人、3,835〜3.897人、3.973〜4.
038人、4.070〜4.135人の範囲である。
中間層材料は面心立方格子あるいはこれに類似す°る構
造を有し、lax/ax−IIが0.004〜0.02
範囲となれば、どのような材料でもよい、また、Fe以
外のFe系合金を主磁性膜とし場合も本実施例に示す中
間層材料の効果を生じる。
造を有し、lax/ax−IIが0.004〜0.02
範囲となれば、どのような材料でもよい、また、Fe以
外のFe系合金を主磁性膜とし場合も本実施例に示す中
間層材料の効果を生じる。
なお1本実施例のFe多層膜は全て比透磁率600〜1
000.飽和磁束密度1.88〜1.95Tの特性を示
した。
000.飽和磁束密度1.88〜1.95Tの特性を示
した。
[実施例2]
実施例1と同様のスパッタリング条件でFe−C系合金
を主磁性膜とし、Auを中間層として用いた積層磁性薄
膜を形成した。膜の断面構造は実施例1と同様にした。
を主磁性膜とし、Auを中間層として用いた積層磁性薄
膜を形成した。膜の断面構造は実施例1と同様にした。
C濃度と軟磁気特性との関係を第3図に示す、同図のよ
うにCをlat%以上添加すると保磁力が低下し、比透
磁率が高くなる。しかしCを20at%より多く添加す
ると膜が基板より剥離した。これはCがFeに対して侵
入型で固溶するため、Cの量が多いと内部応力が大きく
なるためと考えられる。
うにCをlat%以上添加すると保磁力が低下し、比透
磁率が高くなる。しかしCを20at%より多く添加す
ると膜が基板より剥離した。これはCがFeに対して侵
入型で固溶するため、Cの量が多いと内部応力が大きく
なるためと考えられる。
上述の結果よりp’ 6 / A u積層膜においてF
aにCを1〜20at%添加するとさらに小さい保磁力
が得られることがわかった。また、1a1/ax−11
が0.004〜0.02 を満す面心立方格子を有す
る中間層材料をAuの代りに用いても結果はほぼ同じで
ある。また主磁性膜としてFe以外のFe系合金を用い
てもC添加の効果が生じる。
aにCを1〜20at%添加するとさらに小さい保磁力
が得られることがわかった。また、1a1/ax−11
が0.004〜0.02 を満す面心立方格子を有す
る中間層材料をAuの代りに用いても結果はほぼ同じで
ある。また主磁性膜としてFe以外のFe系合金を用い
てもC添加の効果が生じる。
【実施例3]
本発明のFe−1,5at%N i −5、5a t%
C合金薄膜をAgを介して5M積層した磁性薄膜(膜厚
0.2 μm)ないし従来の実用材料であるパーマロ
イ(Ni−19,8at%Fe)合金薄膜(膜厚0.2
μm)を用いて第4図に示す構造の垂直磁気記録用
単磁極型磁気へラド71を作製した。この磁気ヘッド7
1の作製工程を以下に述べる。 第4図(a)に示すM
n −Z nフェライト61および高融点ガラス62
からなる基板63を用い、その表面に第4図(b)に示
すように上記磁性薄膜64をイオンビームスパッタリン
グ法で作製した。さらにこの上に接着用pb系ガラス膜
(図示せず)をイオンビームスパッタリング法により形
成し、第4図(a)に示す基板63を重ね合わせて45
0℃で30分間加熱し、上記pb系ガラス膜を溶融固着
させ、第4図(、)に示す主磁極ブロック65を作製し
た。そして第4図(d)に示すM n −Z nフェラ
イト66および高融点ガラス67からなる補助コアブロ
ック68を用意し、接合面70に上記と同様の接着用p
b系ガラス膜を形成した後、主磁極ブロック65を補助
コアブロック68の接合面によって挟み、450℃で3
0分間加熱することにより、上記pb系ガラス膜を溶融
固着させて接合ブロック69を作製した0次に第4図(
d)に示す2点鎖線部を切断し、第4図(e)に示す垂
直磁気記録用単磁極型ヘッド71を得た。
C合金薄膜をAgを介して5M積層した磁性薄膜(膜厚
0.2 μm)ないし従来の実用材料であるパーマロ
イ(Ni−19,8at%Fe)合金薄膜(膜厚0.2
μm)を用いて第4図に示す構造の垂直磁気記録用
単磁極型磁気へラド71を作製した。この磁気ヘッド7
1の作製工程を以下に述べる。 第4図(a)に示すM
n −Z nフェライト61および高融点ガラス62
からなる基板63を用い、その表面に第4図(b)に示
すように上記磁性薄膜64をイオンビームスパッタリン
グ法で作製した。さらにこの上に接着用pb系ガラス膜
(図示せず)をイオンビームスパッタリング法により形
成し、第4図(a)に示す基板63を重ね合わせて45
0℃で30分間加熱し、上記pb系ガラス膜を溶融固着
させ、第4図(、)に示す主磁極ブロック65を作製し
た。そして第4図(d)に示すM n −Z nフェラ
イト66および高融点ガラス67からなる補助コアブロ
ック68を用意し、接合面70に上記と同様の接着用p
b系ガラス膜を形成した後、主磁極ブロック65を補助
コアブロック68の接合面によって挟み、450℃で3
0分間加熱することにより、上記pb系ガラス膜を溶融
固着させて接合ブロック69を作製した0次に第4図(
d)に示す2点鎖線部を切断し、第4図(e)に示す垂
直磁気記録用単磁極型ヘッド71を得た。
上述の工程によって作製した本発明の積層磁性薄膜を用
いたヘッドおよびパーマロイ薄膜を用いたヘッドの記録
特性をG o −Cr垂直磁気記録媒体を用いて測定し
た。再生ヘッドにはパーマロイ薄膜を有するヘッドを用
いた。その結果、本発明の積層磁性薄膜を用いたヘッド
は、従来の実用材料であるパーマロイ合金薄膜を用いた
ヘッドと比較して約5dB高い出力を示した。このよう
に本発明の積層磁性薄膜を用いた磁気ヘッドは優れた記
録特性を有することが明らかとなった。
いたヘッドおよびパーマロイ薄膜を用いたヘッドの記録
特性をG o −Cr垂直磁気記録媒体を用いて測定し
た。再生ヘッドにはパーマロイ薄膜を有するヘッドを用
いた。その結果、本発明の積層磁性薄膜を用いたヘッド
は、従来の実用材料であるパーマロイ合金薄膜を用いた
ヘッドと比較して約5dB高い出力を示した。このよう
に本発明の積層磁性薄膜を用いた磁気ヘッドは優れた記
録特性を有することが明らかとなった。
以上詳細に説明したごとく、Fe@膜あるいはFsを主
成分とする合金薄膜を他の組成の薄膜を介して積層構造
とした磁性薄膜において、上記能の組成の薄膜の結晶構
造を面心立方格子あるいはそれに類似する構造とし、さ
らにその格子定数を3.243〜3.296人、3.3
22〜3.375人、3.744〜3.805人、3,
835〜3,897人、3,973〜4.038人、4
.070〜4.135人のいずれかの範囲とすることに
より、低保磁力。
成分とする合金薄膜を他の組成の薄膜を介して積層構造
とした磁性薄膜において、上記能の組成の薄膜の結晶構
造を面心立方格子あるいはそれに類似する構造とし、さ
らにその格子定数を3.243〜3.296人、3.3
22〜3.375人、3.744〜3.805人、3,
835〜3,897人、3,973〜4.038人、4
.070〜4.135人のいずれかの範囲とすることに
より、低保磁力。
高透磁率を有する積層磁性薄膜を得ることができる。ま
た主磁性膜にCを1〜20at%添加するとさらに優れ
た軟磁気特性を得ることができる。
た主磁性膜にCを1〜20at%添加するとさらに優れ
た軟磁気特性を得ることができる。
また上記積層磁性薄膜を磁気ヘッドの磁気回路に用いた
本発明の磁気ヘッドは優れた記録特性を有する。
本発明の磁気ヘッドは優れた記録特性を有する。
第1図は本発明の積層磁性薄膜の縦断面図、第2図は本
発明の実施例1におけるFe積層磁性薄膜の保磁力のエ
ピタキシャル関係依存性を示すグラフ、第3図は本発明
の実施例2におけるFe−C/ A u積層磁性薄膜の
軟磁気特性のC濃度依存性を示すグラフ、第4図は本発
明の実施例3における垂直磁気記録用単磁極型磁気ヘッ
ド作製工程を示す斜視図である。 11・・・主磁性膜、12・・・中間層、13・・・基
板、21・・・Fe多層膜の保磁力、31・・・保磁力
のC濃度依存性、32・・・比透磁率のC濃度依存性、
61゜66・・・M n −Z nフェライト、62,
67・・・高融点ガラス、63・・・基板、64・・・
磁性薄膜、65・・・主磁極ブロック、68・・・補助
コアブロック、69・・・接合ブロック、70・・・接
合面、71・・・垂直磁気茅 2図 Liニー11 2/ Feff4HLn41Jhj/茅 )肥 弄4図
発明の実施例1におけるFe積層磁性薄膜の保磁力のエ
ピタキシャル関係依存性を示すグラフ、第3図は本発明
の実施例2におけるFe−C/ A u積層磁性薄膜の
軟磁気特性のC濃度依存性を示すグラフ、第4図は本発
明の実施例3における垂直磁気記録用単磁極型磁気ヘッ
ド作製工程を示す斜視図である。 11・・・主磁性膜、12・・・中間層、13・・・基
板、21・・・Fe多層膜の保磁力、31・・・保磁力
のC濃度依存性、32・・・比透磁率のC濃度依存性、
61゜66・・・M n −Z nフェライト、62,
67・・・高融点ガラス、63・・・基板、64・・・
磁性薄膜、65・・・主磁極ブロック、68・・・補助
コアブロック、69・・・接合ブロック、70・・・接
合面、71・・・垂直磁気茅 2図 Liニー11 2/ Feff4HLn41Jhj/茅 )肥 弄4図
Claims (3)
- 1.Fe薄膜あるいはFeを主成分とする合金薄膜Aに
他の組成の薄膜Bを介して積層構造とした磁性薄膜にお
いて、上記薄膜Bの結晶構造が面心立方格子であり、そ
の格子定数が3.243〜3.296Åあるいは3.3
22〜3.375Å3.744〜3.805Åあるいは
3.835〜3.897Åあるいは3.973〜4.0
38Åあるいは4.070〜4.135Åの範囲である
ことを特徴とする積層磁性薄膜。 - 2.Feを主成分とする合金薄膜AがCを1〜20原子
%含むことを特徴とする特許請求の範囲第1項に記載の
積層磁性薄膜。 - 3.磁性薄膜を磁気回路の少なくとも一部に用いる磁気
ヘッドにおいて、上記磁性薄膜は特許請求の範囲第1項
または第2項記載の薄膜であることを特徴とする磁気ヘ
ッド。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6936088A JPH01243404A (ja) | 1988-03-25 | 1988-03-25 | 積層磁性薄膜およびこれを用いた磁気ヘツド |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6936088A JPH01243404A (ja) | 1988-03-25 | 1988-03-25 | 積層磁性薄膜およびこれを用いた磁気ヘツド |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01243404A true JPH01243404A (ja) | 1989-09-28 |
Family
ID=13400315
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6936088A Pending JPH01243404A (ja) | 1988-03-25 | 1988-03-25 | 積層磁性薄膜およびこれを用いた磁気ヘツド |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01243404A (ja) |
-
1988
- 1988-03-25 JP JP6936088A patent/JPH01243404A/ja active Pending
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