JPH01235189A - 薄膜el素子の製造方法 - Google Patents
薄膜el素子の製造方法Info
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- JPH01235189A JPH01235189A JP63059715A JP5971588A JPH01235189A JP H01235189 A JPH01235189 A JP H01235189A JP 63059715 A JP63059715 A JP 63059715A JP 5971588 A JP5971588 A JP 5971588A JP H01235189 A JPH01235189 A JP H01235189A
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- 239000010409 thin film Substances 0.000 title claims abstract description 25
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 17
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims abstract description 37
- RWSOTUBLDIXVET-UHFFFAOYSA-N Dihydrogen sulfide Chemical compound S RWSOTUBLDIXVET-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 30
- 229910000037 hydrogen sulfide Inorganic materials 0.000 claims abstract description 30
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 18
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 15
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 claims description 14
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims description 12
- 238000010030 laminating Methods 0.000 claims 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 abstract description 21
- 239000013078 crystal Substances 0.000 abstract description 6
- 229910052717 sulfur Inorganic materials 0.000 abstract description 3
- NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N Sulfur Chemical compound [S] NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 2
- 238000011109 contamination Methods 0.000 abstract description 2
- 239000012535 impurity Substances 0.000 abstract description 2
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 abstract description 2
- 239000011593 sulfur Substances 0.000 abstract description 2
- 239000008187 granular material Substances 0.000 abstract 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 abstract 1
- 239000012528 membrane Substances 0.000 abstract 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 29
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 13
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 11
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 6
- 229910004299 TbF3 Inorganic materials 0.000 description 5
- LKNRQYTYDPPUOX-UHFFFAOYSA-K trifluoroterbium Chemical compound F[Tb](F)F LKNRQYTYDPPUOX-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 5
- 239000010408 film Substances 0.000 description 4
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 3
- 229910052761 rare earth metal Inorganic materials 0.000 description 3
- 150000002910 rare earth metals Chemical class 0.000 description 3
- 229910052772 Samarium Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 238000009125 cardiac resynchronization therapy Methods 0.000 description 2
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 2
- 239000008188 pellet Substances 0.000 description 2
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 2
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 2
- 229910020187 CeF3 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052684 Cerium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052693 Europium Inorganic materials 0.000 description 1
- -1 SrS Chemical class 0.000 description 1
- 229910052771 Terbium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BJXXCWDIBHXWOH-UHFFFAOYSA-N barium(2+);oxygen(2-);tantalum(5+) Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[Ba+2].[Ba+2].[Ba+2].[Ba+2].[Ba+2].[Ta+5].[Ta+5].[Ta+5].[Ta+5] BJXXCWDIBHXWOH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 229910017052 cobalt Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010941 cobalt Substances 0.000 description 1
- GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N cobalt atom Chemical compound [Co] GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N indium;oxotin Chemical compound [In].[Sn]=O AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 239000001048 orange dye Substances 0.000 description 1
- KZUNJOHGWZRPMI-UHFFFAOYSA-N samarium atom Chemical compound [Sm] KZUNJOHGWZRPMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VEALVRVVWBQVSL-UHFFFAOYSA-N strontium titanate Chemical compound [Sr+2].[O-][Ti]([O-])=O VEALVRVVWBQVSL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000003568 thioethers Chemical class 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は薄膜EL素子の製造方法に関し、特に平面デイ
スプレィ、或は透明デイスプレィに適した高輝度、高効
率の薄膜EL素子の製造方法に関するものである。
スプレィ、或は透明デイスプレィに適した高輝度、高効
率の薄膜EL素子の製造方法に関するものである。
従来の技術
近年、コンピュータ端末等の映像情報端末の分野におい
て、高品質のデイスプレィの開発が進められている。こ
れらの映像情報端末としては、現在圧倒的にCRTが用
いられているが、小型化、平面化の面からCRTに変わ
る高品質の平面デイスプレィの開発が望まれており、そ
の一つとして薄膜ELデイスプレィが有望視され広く研
究が行われている。
て、高品質のデイスプレィの開発が進められている。こ
れらの映像情報端末としては、現在圧倒的にCRTが用
いられているが、小型化、平面化の面からCRTに変わ
る高品質の平面デイスプレィの開発が望まれており、そ
の一つとして薄膜ELデイスプレィが有望視され広く研
究が行われている。
従来薄膜ELの分野においては、発光層としてZnS:
Mnを用いた黄橙色素子である程度満足出来るものが得
られているが、今後のマルチカラー化、或はフルカラー
化を考え、高輝度、高効率の赤色、緑色、青色等のカラ
ーEL素子の開発が強く望まれている。
Mnを用いた黄橙色素子である程度満足出来るものが得
られているが、今後のマルチカラー化、或はフルカラー
化を考え、高輝度、高効率の赤色、緑色、青色等のカラ
ーEL素子の開発が強く望まれている。
発明が解決しようとする課題
従来、緑色EL素子材料としてはZnS:Tb。
Fl 赤色EL素子材料としてはCaS: Eu% S
rS: Eu、ZnS: Smなど、また青色EL素子
としては、SrS:Ceなどが用いられ、蒸着法、RF
スパッタ法、CVD法等により素子の作製がなされてい
るが、これら従来の方法で作製されたEL素子では十分
な輝度、効率が得られていない。
rS: Eu、ZnS: Smなど、また青色EL素子
としては、SrS:Ceなどが用いられ、蒸着法、RF
スパッタ法、CVD法等により素子の作製がなされてい
るが、これら従来の方法で作製されたEL素子では十分
な輝度、効率が得られていない。
この様な問題を解決するために、発光層を成膜する際真
空容器内に硫化水素ガスを導入し、同時にこの硫化水素
ガスをプラズマ化する手段を設けることにより、硫化水
素ガスのプラズマ雰囲気中で発光層を成膜することによ
り高輝度、高効率のEL素子が得られることが明らかに
されている(例えば、特開昭62−008517号公報
)。しかしながら本方法によれば、EL素子を構成する
第1絶縁層の材料によっては、発光層の成膜時における
プラズマによるダメージにより剥離が起こるなどの欠点
があることが明かとなった。
空容器内に硫化水素ガスを導入し、同時にこの硫化水素
ガスをプラズマ化する手段を設けることにより、硫化水
素ガスのプラズマ雰囲気中で発光層を成膜することによ
り高輝度、高効率のEL素子が得られることが明らかに
されている(例えば、特開昭62−008517号公報
)。しかしながら本方法によれば、EL素子を構成する
第1絶縁層の材料によっては、発光層の成膜時における
プラズマによるダメージにより剥離が起こるなどの欠点
があることが明かとなった。
課題を解決するための手段
母体材料と発光中心となる元素を含む化合物とを各々独
立させて蒸発させる手段、若しくは母体材料に発光中心
となる元素を含む化合物を蒸発させる手段と、硫化水素
ガスを導入し且つその硫化水素ガスをプラズマ化する手
段とを備える真空容器において発光層を成膜する。この
際発光層を、硫化水素ガスをプラズマ化せずに成膜した
第1発光層と、第1発光層上に硫化水素ガスをプラズマ
化して成膜した第2発光層を積層した2層構造、若しく
は更に第2発光層上に硫化水素ガスをプラズマ化せずに
成膜した第3発光層を積層した3層構造とする。
立させて蒸発させる手段、若しくは母体材料に発光中心
となる元素を含む化合物を蒸発させる手段と、硫化水素
ガスを導入し且つその硫化水素ガスをプラズマ化する手
段とを備える真空容器において発光層を成膜する。この
際発光層を、硫化水素ガスをプラズマ化せずに成膜した
第1発光層と、第1発光層上に硫化水素ガスをプラズマ
化して成膜した第2発光層を積層した2層構造、若しく
は更に第2発光層上に硫化水素ガスをプラズマ化せずに
成膜した第3発光層を積層した3層構造とする。
作用
本発明の製造方法によれば、発光層を堆積する際、第1
絶縁層上に硫化水素ガスをプラズマ化せずに成膜した第
1発光層を堆積することによって、プラズマによる第1
a@縁層へのダメージを防ぐことができる。この第1発
光層は、結晶成長を抑えるために1100n以下の厚さ
にする。第1発光層上に第2発光層として、硫化水素ガ
スをプラズマ化して発光層を成膜する。この第21発光
層は、ガスをイオン化することによって母体材料と硫黄
との反応が促進されるために化学量論的組成比のずれが
小さく、またプラズマ中のイオンやラジカルが基板に衝
突することにより結晶成長が抑えられ、結晶粒の小さい
ち密な膜が得られ、その結果高輝度、高効率の素子が得
られると考えられる。更に、成膜時に1.OX 1O−
3Torr以下の高真空中で堆積しているために不純物
による汚染が少ないことも発光特性の向上に寄与してい
ると考えられる。
絶縁層上に硫化水素ガスをプラズマ化せずに成膜した第
1発光層を堆積することによって、プラズマによる第1
a@縁層へのダメージを防ぐことができる。この第1発
光層は、結晶成長を抑えるために1100n以下の厚さ
にする。第1発光層上に第2発光層として、硫化水素ガ
スをプラズマ化して発光層を成膜する。この第21発光
層は、ガスをイオン化することによって母体材料と硫黄
との反応が促進されるために化学量論的組成比のずれが
小さく、またプラズマ中のイオンやラジカルが基板に衝
突することにより結晶成長が抑えられ、結晶粒の小さい
ち密な膜が得られ、その結果高輝度、高効率の素子が得
られると考えられる。更に、成膜時に1.OX 1O−
3Torr以下の高真空中で堆積しているために不純物
による汚染が少ないことも発光特性の向上に寄与してい
ると考えられる。
第3発光層は必ずしも必要ないが、第2絶縁層の材料に
よっては第2発光層との付着力が弱く剥離が起こること
があり、剥離を防止し第2絶縁層との付着力を高めるこ
とに第3発光層が寄与すると考えられる。
よっては第2発光層との付着力が弱く剥離が起こること
があり、剥離を防止し第2絶縁層との付着力を高めるこ
とに第3発光層が寄与すると考えられる。
実施例
第1図は本発明の薄膜EL素子の製造方法において用い
た薄膜形成装置の一つの形態を示すゆ 真空排気系lを
備えた真空容器2内部には、基板加熱用ヒーター3を備
えた基板保持具4、基板5、シャッタ6、磁界発生装置
7、電子線加熱蒸発源8、電子線加熱装置9、抵抗加熱
蒸発源10、抵抗加熱装薗11などが配置されている。
た薄膜形成装置の一つの形態を示すゆ 真空排気系lを
備えた真空容器2内部には、基板加熱用ヒーター3を備
えた基板保持具4、基板5、シャッタ6、磁界発生装置
7、電子線加熱蒸発源8、電子線加熱装置9、抵抗加熱
蒸発源10、抵抗加熱装薗11などが配置されている。
電子線加熱装置9、及び抵抗加熱装@llは各々独立に
制御できる構成となっている。磁界発生装置7はサマリ
ウム、コバルトなどを主成分とする中空状の希土類磁石
からなり、外径200m、内径120關、厚さ35am
の形状を有し、中心部の磁束密度は約900Gauss
である。磁界発生装置7は、基板5の下方約100mm
+の位置に配置した。この磁界発生装置7により発生す
る磁界は、基板5の表面に垂直な向きに発散する。真空
容器2の側面にはマイクロ波導入窓12が設けられてお
り、発振器13により発生させた2、45GHzのマイ
クロ波を、電力計14を介した導波管15によりマイク
ロ波導入窓12より真空容器2内に導入できる構成とな
っている。
制御できる構成となっている。磁界発生装置7はサマリ
ウム、コバルトなどを主成分とする中空状の希土類磁石
からなり、外径200m、内径120關、厚さ35am
の形状を有し、中心部の磁束密度は約900Gauss
である。磁界発生装置7は、基板5の下方約100mm
+の位置に配置した。この磁界発生装置7により発生す
る磁界は、基板5の表面に垂直な向きに発散する。真空
容器2の側面にはマイクロ波導入窓12が設けられてお
り、発振器13により発生させた2、45GHzのマイ
クロ波を、電力計14を介した導波管15によりマイク
ロ波導入窓12より真空容器2内に導入できる構成とな
っている。
第2図は本発明の製造方法により作製した薄膜EL素子
の構成の一つの形態を示す。薄膜EL素子は、ガラス基
板21上に順次、透明電極22、第1絶縁層23a1発
光Ffi24、第2絶縁層23b、背面電極25を積層
した構成になっている。
の構成の一つの形態を示す。薄膜EL素子は、ガラス基
板21上に順次、透明電極22、第1絶縁層23a1発
光Ffi24、第2絶縁層23b、背面電極25を積層
した構成になっている。
発光層24は、マイクロ波を照射せずに堆積させた第1
発光N 24 a、マイクロ波を照射して堆積させた第
2発光J’324b、及びマイクロ波を照射せずに堆積
させた第3発光F’ 24 cとの積層構造となってい
る。第3発光層24cは第2p!縁層23bの種類によ
っては形成しなくても良い。
発光N 24 a、マイクロ波を照射して堆積させた第
2発光J’324b、及びマイクロ波を照射せずに堆積
させた第3発光F’ 24 cとの積層構造となってい
る。第3発光層24cは第2p!縁層23bの種類によ
っては形成しなくても良い。
上述の装置を用い、ZnS: Tb、F緑色EL素子を
作製する場合について説明する。電子線加熱装置9に電
子線加熱蒸発源8としてZnSベレットを、また抵抗加
熱装置11に抵抗加熱蒸発源lOとしてTbF3粉末を
セットする。基板5には、ガラス基板21上に透明電極
22として酸化インジウムすずを堆積させ、その上に第
1絶縁層23aとしてチタン酸ジルコン酸ストロンチウ
ムを堆積させたものを用いた。真空容器2内を1.0×
1O−6Torr以下まで排気した後、排気しつつガス
導入口16より硫化水素(II 25 )ガスを導入し
、真空容器2内を所望の一定圧力に保った後、抵抗加熱
装置11を動作させ、抵抗加熱蒸発源lOであるTbF
3粉末を蒸発させる。TbF3の堆積速度が所望の一定
速度になるように抵抗加熱装置11を制御した後、引き
続いて電子線加熱装置9を動作させ電子線加熱蒸発源8
であるZnSベレットに電子線を照射し、ZnSを蒸発
させる。ZnSの堆積速度が所望の一定速度になるよう
に電子線加熱装置9を制御した後シャッタ6を閏き、マ
イクロ波を照射しない状態で基板5にZnSとTbF3
を同時に堆積させ所望の厚さの第1発光層24aを堆積
させる。次に一旦シャッタ6を閉じ、発振器13を動作
させマイクロ波導入窓12より真空容器2内にマイクロ
波を導入し、H2Sガスをプラズマ化する。再びシャッ
タ6を開き、基板5に所望の厚さの第2発光層24bを
堆積させる。所望の厚さの第2発光層24bを堆積した
らマイクロ波の導入を止め、マイクロ波を導入しない状
態で第3発光@ 24 cを堆積させる。第3発光H2
4(が所望の厚さになったらシャッタ6を閑じ、抵抗加
熱装置11、及び電子線加熱装置9の動作を止め、発光
層24の成膜を終了する。EL素子は、発光層24の上
に第2絶aj!23bとしてタンタル酸バリウムを堆積
し、更に背面電極25としてアルミ電極を形成して得ら
れる。
作製する場合について説明する。電子線加熱装置9に電
子線加熱蒸発源8としてZnSベレットを、また抵抗加
熱装置11に抵抗加熱蒸発源lOとしてTbF3粉末を
セットする。基板5には、ガラス基板21上に透明電極
22として酸化インジウムすずを堆積させ、その上に第
1絶縁層23aとしてチタン酸ジルコン酸ストロンチウ
ムを堆積させたものを用いた。真空容器2内を1.0×
1O−6Torr以下まで排気した後、排気しつつガス
導入口16より硫化水素(II 25 )ガスを導入し
、真空容器2内を所望の一定圧力に保った後、抵抗加熱
装置11を動作させ、抵抗加熱蒸発源lOであるTbF
3粉末を蒸発させる。TbF3の堆積速度が所望の一定
速度になるように抵抗加熱装置11を制御した後、引き
続いて電子線加熱装置9を動作させ電子線加熱蒸発源8
であるZnSベレットに電子線を照射し、ZnSを蒸発
させる。ZnSの堆積速度が所望の一定速度になるよう
に電子線加熱装置9を制御した後シャッタ6を閏き、マ
イクロ波を照射しない状態で基板5にZnSとTbF3
を同時に堆積させ所望の厚さの第1発光層24aを堆積
させる。次に一旦シャッタ6を閉じ、発振器13を動作
させマイクロ波導入窓12より真空容器2内にマイクロ
波を導入し、H2Sガスをプラズマ化する。再びシャッ
タ6を開き、基板5に所望の厚さの第2発光層24bを
堆積させる。所望の厚さの第2発光層24bを堆積した
らマイクロ波の導入を止め、マイクロ波を導入しない状
態で第3発光@ 24 cを堆積させる。第3発光H2
4(が所望の厚さになったらシャッタ6を閑じ、抵抗加
熱装置11、及び電子線加熱装置9の動作を止め、発光
層24の成膜を終了する。EL素子は、発光層24の上
に第2絶aj!23bとしてタンタル酸バリウムを堆積
し、更に背面電極25としてアルミ電極を形成して得ら
れる。
上述した薄膜EL素子の製造方法により、基板温度ヲ1
50℃、H2Sガスノ圧力ヲ1.OX 1O−5Tor
r、2ns、及びTbF3の蒸発速度を各々2.Onm
/sec、及び0、O2nm/seeとし、第1発光層
、第2発光層、及び第;(発光層を各々50rwn、5
00nm及び50nmとしたZnS:Tb、F緑色EL
素子を作製した。この緑色E1、素子は剥離が起こらず
、また輝度、効率は従来のEL素子に比べて高く、本発
明の薄膜EL素子の製造方法の有効性が認められる。
50℃、H2Sガスノ圧力ヲ1.OX 1O−5Tor
r、2ns、及びTbF3の蒸発速度を各々2.Onm
/sec、及び0、O2nm/seeとし、第1発光層
、第2発光層、及び第;(発光層を各々50rwn、5
00nm及び50nmとしたZnS:Tb、F緑色EL
素子を作製した。この緑色E1、素子は剥離が起こらず
、また輝度、効率は従来のEL素子に比べて高く、本発
明の薄膜EL素子の製造方法の有効性が認められる。
112Sガスの圧力としては、1.OX 1O−3To
rrより高い場合には、1.OkW以上の高いマイクロ
波電力を必要とするが、この場合H2Sガスプラズマの
温度が非常に高くなるため堆積したZnSの基板からの
再蒸発が大きく、良好な堆積速度が得られない。またH
2Sガスの圧力が1.OX 1O−5Torrより低い
場合には、マイクロ波放電が発生せず良好な薄膜EL素
子を得ることができなかった。
rrより高い場合には、1.OkW以上の高いマイクロ
波電力を必要とするが、この場合H2Sガスプラズマの
温度が非常に高くなるため堆積したZnSの基板からの
再蒸発が大きく、良好な堆積速度が得られない。またH
2Sガスの圧力が1.OX 1O−5Torrより低い
場合には、マイクロ波放電が発生せず良好な薄膜EL素
子を得ることができなかった。
基板は必ずしも加熱する必要はないが、基板によっては
、100℃から300℃程度に加熱した方が基板に対す
るZnS: Tb、F膜の付着力が強くなる。
、100℃から300℃程度に加熱した方が基板に対す
るZnS: Tb、F膜の付着力が強くなる。
磁界発生装置として希土類磁石を用いたが、電磁石を用
いても同様の結果が得られることは明らかである。しか
し、電磁石で希土類磁石と同等の強さの磁界を発生させ
るには装置が大きくなり、構成も若干複雑になるという
欠点がある。磁界発生部の中心での磁束密度が150G
auss以、ヒてあれば、容易にプラズマを発生させる
ことができた。
いても同様の結果が得られることは明らかである。しか
し、電磁石で希土類磁石と同等の強さの磁界を発生させ
るには装置が大きくなり、構成も若干複雑になるという
欠点がある。磁界発生部の中心での磁束密度が150G
auss以、ヒてあれば、容易にプラズマを発生させる
ことができた。
プラズマを発生させる手段としては必ずしもマイクロ波
放電を用いる必要はなく、RF放電を用いた場合にも同
様の薄膜EL素子が得られるが、プラズマを発生させな
い場合には良好な発光特性が得られなかった。
放電を用いる必要はなく、RF放電を用いた場合にも同
様の薄膜EL素子が得られるが、プラズマを発生させな
い場合には良好な発光特性が得られなかった。
本実施例では、母体材料であるZnSを蒸発させる手段
として電子ビーム加熱を、また発光中心となる元素を含
む化合物であるTbF:+蒸発させる手段として抵抗加
熱を用いたが、それぞれの場合について、抵抗加熱、或
は電子ヒータ、加熱、スパッタリング蒸発等の他の蒸発
手段を用いることも可能である。また本実施例では、母
体材料と発光中心となる元素を含む化合物とを別々に蒸
発させたが、p1体材料に発光中心となる元素を含む化
合物を単体で蒸発させても同様の高輝度薄膜ELが得ら
れる。
として電子ビーム加熱を、また発光中心となる元素を含
む化合物であるTbF:+蒸発させる手段として抵抗加
熱を用いたが、それぞれの場合について、抵抗加熱、或
は電子ヒータ、加熱、スパッタリング蒸発等の他の蒸発
手段を用いることも可能である。また本実施例では、母
体材料と発光中心となる元素を含む化合物とを別々に蒸
発させたが、p1体材料に発光中心となる元素を含む化
合物を単体で蒸発させても同様の高輝度薄膜ELが得ら
れる。
なお以上の実施例では、硫化水素ガスをプラズマ化せず
に堆積させた第1発光層、及び第3発光層として発光中
心となる原子を含む発光層を用いたが、必ずしも発光中
心となる原子を含む必要はなく、Bj体材料のみを堆積
させても同等の効果がj!tられる。例えば発光層を、
硫化水素ガスをプラズマ化しないで堆積させる層として
ZnSのみの層を50nm、 fC化水素ガスをプラ
ズマ化して堆h1させろT b F :lを含むZ n
S層である第2発光層を600nm、 史にHpS
ガスをプラズマ化しないで堆積させる層としてZnSの
みの層を50nm堆積させた3層構造とした前述と同じ
構成の薄膜EL素子においても同様の高輝度、高効率が
得られた。
に堆積させた第1発光層、及び第3発光層として発光中
心となる原子を含む発光層を用いたが、必ずしも発光中
心となる原子を含む必要はなく、Bj体材料のみを堆積
させても同等の効果がj!tられる。例えば発光層を、
硫化水素ガスをプラズマ化しないで堆積させる層として
ZnSのみの層を50nm、 fC化水素ガスをプラ
ズマ化して堆h1させろT b F :lを含むZ n
S層である第2発光層を600nm、 史にHpS
ガスをプラズマ化しないで堆積させる層としてZnSの
みの層を50nm堆積させた3層構造とした前述と同じ
構成の薄膜EL素子においても同様の高輝度、高効率が
得られた。
以上の実施例では、母体材料にZnS、発光中心となる
原子を含む化合物にTbF3を用いて作製した緑色EL
素子について説明したが、その他の母体材料、或は発光
中心となる原子を含む化合物を用いて作製した薄膜EL
素子についても同様の効果が得られる。例えば母体材料
としてはSrS、ZnS、CaS等の硫化物を用いるこ
とが出来る。
原子を含む化合物にTbF3を用いて作製した緑色EL
素子について説明したが、その他の母体材料、或は発光
中心となる原子を含む化合物を用いて作製した薄膜EL
素子についても同様の効果が得られる。例えば母体材料
としてはSrS、ZnS、CaS等の硫化物を用いるこ
とが出来る。
また発光中心となる原子を含む化合物としてはTb2S
3、EI】F2、EuS、SmP、CeF3等のTb、
Eu、Sm、Ce等を含む化合物を用いることが出来る
。
3、EI】F2、EuS、SmP、CeF3等のTb、
Eu、Sm、Ce等を含む化合物を用いることが出来る
。
発明の効果
本発明の製造方法によれは、高輝度、高効率の薄膜EL
素子を、剥離がなく、また容易に効率良く製造すること
ができる。
素子を、剥離がなく、また容易に効率良く製造すること
ができる。
第1図は本発明の製造方法のl実施例において用いた薄
膜形成装置の断面図、第2図は本発明の緑色EL素子の
構成図を示す。 1・・・真空排気系、2・・・真空容器、3・・・基板
加熱用ヒーター、4・・・基板保持具、5・・・基板、
6・・・シャッタ、7・・・磁界発生装置、8・・・電
子線加熱蒸発源、9・・・電子線加熱装置、10・・・
抵抗加熱蒸発源、11・・・抵抗加熱装置、12・・・
マイクロ波導入窓、13・・・発掘器、14・・・電力
計、15・・・導波管、16・・・ガス導入口、21・
・・ガラス基板、22・・・透明電極、23a・・・第
1絶縁層、23b・・・第2絶縁層、24・・・発光層
、24a・・・第1発光層、24b・・・第2発光層、
24c・・・第3発光層、25・・・背面電極。 代理人の氏名 弁理士 中尾敏男 はか1名第1図 第2図
膜形成装置の断面図、第2図は本発明の緑色EL素子の
構成図を示す。 1・・・真空排気系、2・・・真空容器、3・・・基板
加熱用ヒーター、4・・・基板保持具、5・・・基板、
6・・・シャッタ、7・・・磁界発生装置、8・・・電
子線加熱蒸発源、9・・・電子線加熱装置、10・・・
抵抗加熱蒸発源、11・・・抵抗加熱装置、12・・・
マイクロ波導入窓、13・・・発掘器、14・・・電力
計、15・・・導波管、16・・・ガス導入口、21・
・・ガラス基板、22・・・透明電極、23a・・・第
1絶縁層、23b・・・第2絶縁層、24・・・発光層
、24a・・・第1発光層、24b・・・第2発光層、
24c・・・第3発光層、25・・・背面電極。 代理人の氏名 弁理士 中尾敏男 はか1名第1図 第2図
Claims (6)
- (1) 発光層の成膜に用いる真空容器が、母体材料と
発光中心となる元素を含む化合物とを各々独立させて蒸
発させる手段、若しくは発光中心となる元素を含む化合
物を含む母体材料を蒸発させる手段と、硫化水素ガスを
導入し且つその硫化水素ガスをプラズマ化する手段とを
備え、前記硫化水素ガスをプラズマ化せずに成膜する第
1発光層を形成する工程と、前記第1発光層上に前記硫
化水素ガスをプラズマ化して成膜した第2発光層を積層
する工程により、前記発光層を2層構造とすることを特
徴とする薄膜EL素子の製造方法。 - (2) 第2発光層上に更に硫化水素ガスをプラズマ化
せずに成膜した第3発光層を積層することにより、発光
層を3層構造とすることを特徴とする請求項1記載の薄
膜EL素子の製造方法。 - (3) 母体材料が、ZnS、CaS、SrSのうちの
少なくとも1種以上の化合物からなることを特徴とする
請求項1または2に記載の薄膜EL素子の製造方法。 - (4) 硫化水素ガスをプラズマ化せずに堆積させた発
光層の厚さが、100nm以下であることを特徴とする
請求項1または2に記載の薄膜EL素子の製造方法。 - (5) 硫化水素ガスをプラズマ化する手段が、マイク
ロ波放電、或はRF放電であることを特徴とする請求項
1または2に記載の薄膜EL素子の製造方法。 - (6) 硫化水素ガスをプラズマ化する手段がマイクロ
波放電の場合に、硫化水素ガスの圧力が、1.0×10
^−^3Torr以下、1.0×10^−^5Torr
以上であることを特徴とする請求項5に記載の薄膜EL
素子の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63059715A JPH01235189A (ja) | 1988-03-14 | 1988-03-14 | 薄膜el素子の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63059715A JPH01235189A (ja) | 1988-03-14 | 1988-03-14 | 薄膜el素子の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01235189A true JPH01235189A (ja) | 1989-09-20 |
Family
ID=13121179
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63059715A Pending JPH01235189A (ja) | 1988-03-14 | 1988-03-14 | 薄膜el素子の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01235189A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0256897A (ja) * | 1988-08-22 | 1990-02-26 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 蛍光体薄膜の製造方法および薄膜el素子 |
-
1988
- 1988-03-14 JP JP63059715A patent/JPH01235189A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0256897A (ja) * | 1988-08-22 | 1990-02-26 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 蛍光体薄膜の製造方法および薄膜el素子 |
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