JPH02162685A - 薄膜el素子の製造方法 - Google Patents
薄膜el素子の製造方法Info
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- JPH02162685A JPH02162685A JP63317445A JP31744588A JPH02162685A JP H02162685 A JPH02162685 A JP H02162685A JP 63317445 A JP63317445 A JP 63317445A JP 31744588 A JP31744588 A JP 31744588A JP H02162685 A JPH02162685 A JP H02162685A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、薄膜EL素子の製造方法に関するものであり
、発光輝度および効率が高く、かつ急峻な輝度−電圧特
性を有する薄膜EL素子の製造方法に関するものである
。
、発光輝度および効率が高く、かつ急峻な輝度−電圧特
性を有する薄膜EL素子の製造方法に関するものである
。
従来の技術
近年、コンピュータ端末などに用いるフラットデイスプ
レィ装置として、薄膜ELデイスプレィ装顛−が盛んに
研究されている。黄橙色発光のマンガン添加硫化亜鉛か
らなる蛍光体薄膜を用いたモノクロ薄膜ELデイスプレ
ィ装置は既に実用化されている。デイスプレィとしての
広汎な用途に対応するためにはカラー化が必要不可欠で
あり、現在カラー薄膜ELデイスプレィ装置の開発に多
くの力が注がれている。カラー薄膜ELデイスプレィ装
置に用いる蛍光体薄膜としては、赤色用としてはサマリ
ウムを発光不純物とする硫化亜鉛やユーロピウムを発光
不純物とする硫化カルシウムを用い、緑色用としてはテ
ルビウムを発光不純物とする硫化亜鉛やセリウムを発光
不純物とする硫化カルシウムを用い、青色用としてはセ
リウムを発光不純物とする硫化ストロンチウムを用いて
三原色の発光が得られている。しかしながら、たとえば
赤色、緑色および青色用として、それぞれユーロピウム
添加硫化カルシウム、テルビウム添加硫化亜鉛およびセ
リウム添加硫化ストロンチウムの焼結体を用いて電子ビ
ーム蒸着法により、三原色の蛍光体薄膜を形成し、二重
絶縁層型カラー薄膜ELデイスプレィ装置を形成した場
合、各色の発光輝度が必要とされる値の1/4から1/
20であり、輝度および色再現性が不十分であり、品位
の優れたカラー薄膜ELデイスプレィ装置は実現されて
いない。
レィ装置として、薄膜ELデイスプレィ装顛−が盛んに
研究されている。黄橙色発光のマンガン添加硫化亜鉛か
らなる蛍光体薄膜を用いたモノクロ薄膜ELデイスプレ
ィ装置は既に実用化されている。デイスプレィとしての
広汎な用途に対応するためにはカラー化が必要不可欠で
あり、現在カラー薄膜ELデイスプレィ装置の開発に多
くの力が注がれている。カラー薄膜ELデイスプレィ装
置に用いる蛍光体薄膜としては、赤色用としてはサマリ
ウムを発光不純物とする硫化亜鉛やユーロピウムを発光
不純物とする硫化カルシウムを用い、緑色用としてはテ
ルビウムを発光不純物とする硫化亜鉛やセリウムを発光
不純物とする硫化カルシウムを用い、青色用としてはセ
リウムを発光不純物とする硫化ストロンチウムを用いて
三原色の発光が得られている。しかしながら、たとえば
赤色、緑色および青色用として、それぞれユーロピウム
添加硫化カルシウム、テルビウム添加硫化亜鉛およびセ
リウム添加硫化ストロンチウムの焼結体を用いて電子ビ
ーム蒸着法により、三原色の蛍光体薄膜を形成し、二重
絶縁層型カラー薄膜ELデイスプレィ装置を形成した場
合、各色の発光輝度が必要とされる値の1/4から1/
20であり、輝度および色再現性が不十分であり、品位
の優れたカラー薄膜ELデイスプレィ装置は実現されて
いない。
蛍光体薄膜の発光輝度を改善する1つの手法として、硫
化水素プラズマ中で蛍光体薄膜を形成する試みもなされ
ている(特開昭61−273893号公報)。
化水素プラズマ中で蛍光体薄膜を形成する試みもなされ
ている(特開昭61−273893号公報)。
発明が解決しようとする課題
薄膜EL素子に用いる硫化物蛍光体薄膜を、硫化水素プ
ラズマ中で形成した場合、発光輝度は高いが輝度−電圧
特性の傾きが急峻でなく、マトリックス駆動時にクロス
トークが生じ易く、駆動中に絶縁破壊を生じやすいとい
う問題点があった。
ラズマ中で形成した場合、発光輝度は高いが輝度−電圧
特性の傾きが急峻でなく、マトリックス駆動時にクロス
トークが生じ易く、駆動中に絶縁破壊を生じやすいとい
う問題点があった。
本発明の目的は、前記問題点を解決し、発光輝度および
効率が高く、長期間安定に動作し、広い面積に渡り均一
な特性を有し、かつ揮度−電圧特性の傾きが急峻な特性
を有する薄膜EL素子の製造方法を提供することである
。
効率が高く、長期間安定に動作し、広い面積に渡り均一
な特性を有し、かつ揮度−電圧特性の傾きが急峻な特性
を有する薄膜EL素子の製造方法を提供することである
。
課題を解決するための手段
直流、高周波あるいはマイクロ波によりプラズマ化され
た硫化水素中、あるいは直流、高周波あるいはマイクロ
波によりプラズマ化された硫化水素を含むガス中で真空
蒸着法により形成した硫化物蛍光体薄膜を、プラズマ化
された硫化水素を含まないガス中で形成した硫化亜鉛薄
膜で挟持することにより薄膜EL素子を製造する。
た硫化水素中、あるいは直流、高周波あるいはマイクロ
波によりプラズマ化された硫化水素を含むガス中で真空
蒸着法により形成した硫化物蛍光体薄膜を、プラズマ化
された硫化水素を含まないガス中で形成した硫化亜鉛薄
膜で挟持することにより薄膜EL素子を製造する。
作用
硫化水素プラズマ中で形成した硫化物蛍光体薄膜は結晶
性に優れ発光効率も高いが、その表面に配設される絶縁
体薄膜との界面に多くの浅いトラップが形成されるため
、輝度−電圧特性の傾きが急峻にならず、経時的な安定
性にも問題があった。
性に優れ発光効率も高いが、その表面に配設される絶縁
体薄膜との界面に多くの浅いトラップが形成されるため
、輝度−電圧特性の傾きが急峻にならず、経時的な安定
性にも問題があった。
硫化水素プラズマ中で形成した硫化物蛍光体薄膜の両面
を、プラズマ化された硫化水素を含まないガス中で形成
した硫化亜鉛薄膜で挟持することにより、その表面に配
設される絶縁体薄膜との界面にはあまり多くのトラップ
は形成されないため、発光輝度および効率が高(、輝度
−電圧特性が急峻な薄膜EL素子が形成できると考えら
れる。
を、プラズマ化された硫化水素を含まないガス中で形成
した硫化亜鉛薄膜で挟持することにより、その表面に配
設される絶縁体薄膜との界面にはあまり多くのトラップ
は形成されないため、発光輝度および効率が高(、輝度
−電圧特性が急峻な薄膜EL素子が形成できると考えら
れる。
実施例
以下、本発明の実施例について図面を用いて説明する
第1図は本発明の薄膜EL素子の製造方法において用い
た薄膜形成装置の1つの形態を示す。金属製容器1は、
真空排気系11により内部を真空にすることができる。
た薄膜形成装置の1つの形態を示す。金属製容器1は、
真空排気系11により内部を真空にすることができる。
金属製容器1の内部には、基板加熱ヒータ4が埋め込ま
れた基板保持具2、基板3、シャッタ10、磁界発生装
置5、抵抗加熱蒸発源7.8.9などが設置されている
。磁界発生装置5は、サマリウム、コバルト、鉄、銅す
どを主成分とするドーナツ状の希土類磁石であり、外径
200 mm1 内径120mm、 厚さ3501I
11の形状を有し、中心部の磁束密度は約900Gau
ssであった。この磁界発生装置5により生ずる磁界は
、主に基板3の表面へ向かって発散する。磁界発生装置
5の上方には、ガス導入口6がある。磁界発生装置5の
下方にはマイクロ波導入窓12を設置し、発振器14に
より発生させた2 、45GHzの電磁波を、電力計1
3を介して導波管15によりマイクロ波導入窓12から
金属製容器1へ導入した。
れた基板保持具2、基板3、シャッタ10、磁界発生装
置5、抵抗加熱蒸発源7.8.9などが設置されている
。磁界発生装置5は、サマリウム、コバルト、鉄、銅す
どを主成分とするドーナツ状の希土類磁石であり、外径
200 mm1 内径120mm、 厚さ3501I
11の形状を有し、中心部の磁束密度は約900Gau
ssであった。この磁界発生装置5により生ずる磁界は
、主に基板3の表面へ向かって発散する。磁界発生装置
5の上方には、ガス導入口6がある。磁界発生装置5の
下方にはマイクロ波導入窓12を設置し、発振器14に
より発生させた2 、45GHzの電磁波を、電力計1
3を介して導波管15によりマイクロ波導入窓12から
金属製容器1へ導入した。
この装置を用いてセリウム添加硫化ストロンチラム薄膜
からなる蛍光体薄膜を有する薄膜EL素子を製造する場
合について説明する。抵抗加熱蒸発源7には金属ストロ
ンチウム、抵抗加熱蒸発源8には三塩化セリウム、抵抗
加熱蒸発源9には塊状の硫化亜鉛をセットする。基板保
持具2には、透明電極17および厚さ500nmのチタ
ン酸ストロンチウム誘電体薄膜よりなる第1絶縁体層1
日が順次形成されたガラス基板16をセットする。基板
温度を150℃に保ち金属製容器1を1O−7)−ルま
で排気後、抵抗加熱蒸発源9に通電し1050℃に保持
した後、シャッタ10を開き蒸着を開始する。5分間の
蒸着により厚さ1100nの第1の硫化亜鉛薄膜19を
形成した。次に基板温度を450°Cに保ちガス導入口
6より硫化水素を導入し、圧力?txto−4トールと
する。抵抗加熱蒸発源7および8に通電し、金属ストロ
ンチウムと三塩化セリウムの堆積速度の割合り月000
72となるように印加電力を制御する。
からなる蛍光体薄膜を有する薄膜EL素子を製造する場
合について説明する。抵抗加熱蒸発源7には金属ストロ
ンチウム、抵抗加熱蒸発源8には三塩化セリウム、抵抗
加熱蒸発源9には塊状の硫化亜鉛をセットする。基板保
持具2には、透明電極17および厚さ500nmのチタ
ン酸ストロンチウム誘電体薄膜よりなる第1絶縁体層1
日が順次形成されたガラス基板16をセットする。基板
温度を150℃に保ち金属製容器1を1O−7)−ルま
で排気後、抵抗加熱蒸発源9に通電し1050℃に保持
した後、シャッタ10を開き蒸着を開始する。5分間の
蒸着により厚さ1100nの第1の硫化亜鉛薄膜19を
形成した。次に基板温度を450°Cに保ちガス導入口
6より硫化水素を導入し、圧力?txto−4トールと
する。抵抗加熱蒸発源7および8に通電し、金属ストロ
ンチウムと三塩化セリウムの堆積速度の割合り月000
72となるように印加電力を制御する。
このときの抵抗加熱蒸発源7および8の温度はそれぞれ
500℃および670°Cであった。さらに発振器14
を動作させ、200Wのマイクロ波電力を印加し、金属
製容器1に硫化水素のプラズマを発生させた後、シャッ
タ8を開き蒸着を開始する。15分間の蒸着により厚さ
800nmのセリウム添加硫化ストロンチウムの蛍光体
薄膜20を形成した。さらにその上に、基板温度を15
0℃で、前記の方法により厚さ10QnlIの第2の硫
化亜鉛薄膜21を形成した。さらにその上に厚さ20Q
nmのタンタル酸バリウム誘電体薄膜よりなる第2絶縁
体層22およびアルミニウムよりなる背面電極23をそ
れぞれ高周波スパッタリング法および真空蒸着法により
順次形成し薄膜EL素子(第2図参照)を作成した。
500℃および670°Cであった。さらに発振器14
を動作させ、200Wのマイクロ波電力を印加し、金属
製容器1に硫化水素のプラズマを発生させた後、シャッ
タ8を開き蒸着を開始する。15分間の蒸着により厚さ
800nmのセリウム添加硫化ストロンチウムの蛍光体
薄膜20を形成した。さらにその上に、基板温度を15
0℃で、前記の方法により厚さ10QnlIの第2の硫
化亜鉛薄膜21を形成した。さらにその上に厚さ20Q
nmのタンタル酸バリウム誘電体薄膜よりなる第2絶縁
体層22およびアルミニウムよりなる背面電極23をそ
れぞれ高周波スパッタリング法および真空蒸着法により
順次形成し薄膜EL素子(第2図参照)を作成した。
本実施例の薄膜EL素子と、蛍光体薄膜の両側に硫化亜
鉛薄膜を配設せず、他は本実施例と同様にして作成した
比較例の薄膜EL素子との輝度−電圧特性の比較を第3
図に示す。図よりわかるように、本実施例の薄膜EL素
子は発光輝度が高く、かつ輝度−電圧特性の傾きが急峻
であった。
鉛薄膜を配設せず、他は本実施例と同様にして作成した
比較例の薄膜EL素子との輝度−電圧特性の比較を第3
図に示す。図よりわかるように、本実施例の薄膜EL素
子は発光輝度が高く、かつ輝度−電圧特性の傾きが急峻
であった。
蛍光体薄膜としては、マンガン、希土類元素、あるいは
これらの元素のフッ化物や塩化物などを不純物として含
む硫化亜鉛、セレン化亜鉛、硫化カルシウム、硫化スト
ロンチウム、硫化バリウム、の中から選ばれた1種ある
いは2種以上を主成分とする材料を用いて、本発明の効
果を発揮することができた。
これらの元素のフッ化物や塩化物などを不純物として含
む硫化亜鉛、セレン化亜鉛、硫化カルシウム、硫化スト
ロンチウム、硫化バリウム、の中から選ばれた1種ある
いは2種以上を主成分とする材料を用いて、本発明の効
果を発揮することができた。
本実施例では、硫化水素プラズマを作るため硫化水素の
みを用いたが、アルゴンやネオンなどの希ガスとの混合
ガスを用いても本発明の効果を発揮することができた。
みを用いたが、アルゴンやネオンなどの希ガスとの混合
ガスを用いても本発明の効果を発揮することができた。
硫化水素あるいは硫化水素を含むガスの圧力は、2X1
0−”)−ル以上で安定なプラズマが発生し本発明の効
果を発揮することができたが、5X10−’トールより
高い場合は、形成された薄膜の付着力が小さく、表面の
平滑性が悪いこともあり実用的ではなかった。またプラ
ズマ化する手段として本実施例では有磁場マイクロ波放
電を用いたが、この他に直流放電や高周波放電を用いる
こともできた。ただ、有磁場マイクロ波放電を用いるこ
とにより低い圧力においても安定な放電が得られるため
、密度が高く、結晶性の優れた蛍光体薄膜を再現性よく
形成する事ができた。
0−”)−ル以上で安定なプラズマが発生し本発明の効
果を発揮することができたが、5X10−’トールより
高い場合は、形成された薄膜の付着力が小さく、表面の
平滑性が悪いこともあり実用的ではなかった。またプラ
ズマ化する手段として本実施例では有磁場マイクロ波放
電を用いたが、この他に直流放電や高周波放電を用いる
こともできた。ただ、有磁場マイクロ波放電を用いるこ
とにより低い圧力においても安定な放電が得られるため
、密度が高く、結晶性の優れた蛍光体薄膜を再現性よく
形成する事ができた。
本実施例では、蛍光体薄膜を挟持する硫化亜鉛薄膜を真
空蒸着法で形成したが、たとえばアルゴン中で硫化亜鉛
ターゲットを高周波スパッタリングすることにより作成
した硫化亜鉛薄膜を用いても、本発明の効果を発揮する
ことができた。
空蒸着法で形成したが、たとえばアルゴン中で硫化亜鉛
ターゲットを高周波スパッタリングすることにより作成
した硫化亜鉛薄膜を用いても、本発明の効果を発揮する
ことができた。
また本実施例では、二重絶縁層タイプの薄膜EL素子に
ついて説明したが、低電圧で駆動が可能なように、一方
の絶縁体薄膜のみを用いる片側絶縁層タイプの薄膜EL
素子や、絶縁体薄膜の代わりに、直流電圧の印加により
電流を若干流すことができる酸化タンタル、酸化クロム
珪素などの半導体層(抵抗体層)を用いた直流タイプの
薄膜EL素子にも本発明の効果を発揮できることはもち
ろんである。
ついて説明したが、低電圧で駆動が可能なように、一方
の絶縁体薄膜のみを用いる片側絶縁層タイプの薄膜EL
素子や、絶縁体薄膜の代わりに、直流電圧の印加により
電流を若干流すことができる酸化タンタル、酸化クロム
珪素などの半導体層(抵抗体層)を用いた直流タイプの
薄膜EL素子にも本発明の効果を発揮できることはもち
ろんである。
発明の効果
以上で説明したように、本発明によれば発光輝度、経時
的安定性および効率が高く、かつ輝度−電圧特性の傾き
が急峻な特性を有する薄膜EL素子を提供することが可
能となり、実用的価値は大きい。
的安定性および効率が高く、かつ輝度−電圧特性の傾き
が急峻な特性を有する薄膜EL素子を提供することが可
能となり、実用的価値は大きい。
第1図は本発明の薄膜EL素子の製造方法に用いた薄膜
形成装置の断面図、第2図は本発明の実施例の薄膜EL
素子の断面図、第3図傘;日鯰出11本発明の実施例の
薄膜EL 素子および比較例の薄膜EL素子の輝度−電圧特性を示
す特性曲線図である。 1・・・・・・金属製容器、3・・・・・・基板、5・
・・・・・磁界発生装置、6・・・・・・ガス導入口、
7. 8. 9・・・・・・抵抗加熱蒸発源、11・・
・・・・真空排気系、12・・・・・・マイクロ波導入
窓、14・・・・・・発振器、15・・・・・・導波管
、 16・・・・・・ガラス基板、17・・・・・・透
明電極、18・・・・・・第1絶縁体層、19・・・・
・・第1の硫化亜鉛薄膜、20・・・・・・蛍光体薄膜
、21・・・・・・第2の硫化亜鉛薄膜、22・・・・
・・第2絶縁体層、23・・・・・・背面電極。
形成装置の断面図、第2図は本発明の実施例の薄膜EL
素子の断面図、第3図傘;日鯰出11本発明の実施例の
薄膜EL 素子および比較例の薄膜EL素子の輝度−電圧特性を示
す特性曲線図である。 1・・・・・・金属製容器、3・・・・・・基板、5・
・・・・・磁界発生装置、6・・・・・・ガス導入口、
7. 8. 9・・・・・・抵抗加熱蒸発源、11・・
・・・・真空排気系、12・・・・・・マイクロ波導入
窓、14・・・・・・発振器、15・・・・・・導波管
、 16・・・・・・ガラス基板、17・・・・・・透
明電極、18・・・・・・第1絶縁体層、19・・・・
・・第1の硫化亜鉛薄膜、20・・・・・・蛍光体薄膜
、21・・・・・・第2の硫化亜鉛薄膜、22・・・・
・・第2絶縁体層、23・・・・・・背面電極。
Claims (5)
- (1) 直流、高周波あるいはマイクロ波によりプラズ
マ化された硫化水素中、あるいは直流、高周波あるいは
マイクロ波によりプラズマ化された硫化水素を含むガス
中で真空蒸着法により形成した硫化物蛍光体薄膜を、プ
ラズマ化された硫化水素を含まないガス中で形成した硫
化亜鉛薄膜で挟持することを特徴とする薄膜EL素子の
製造方法。 - (2) 硫化物蛍光体薄膜が硫化亜鉛、セレン化亜鉛、
硫化カルシウム、硫化ストロンチウム、硫化バリウムの
中から選ばれた1種あるいは2種以上からなる材料を主
成分とする請求項1に記載の薄膜EL素子の製造方法。 - (3) 硫化水素を含むガスが、硫化水素と希ガスとの
混合ガスであることを特徴とする請求項1もしくは2に
記載の薄膜EL素子の製造方法。 - (4) 硫化水素あるいは硫化水素を含むガスの圧力が
2×10^−^5トール以上、5×10^−^4トール
以下であることを特徴とする請求項1もしくは2に記載
の薄膜EL素子の製造方法。 - (5) 硫化物蛍光体薄膜をプラズマ化された硫化水素
、あるいはプラズマ化された硫化水素を含むガス中で、
少なくともII族元素と、発光中心元素あるいは発光中心
元素を含む化合物とを同時に加熱蒸発させることにより
形成する請求項1もしくは2に記載の薄膜EL素子の製
造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63317445A JPH02162685A (ja) | 1988-12-15 | 1988-12-15 | 薄膜el素子の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63317445A JPH02162685A (ja) | 1988-12-15 | 1988-12-15 | 薄膜el素子の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02162685A true JPH02162685A (ja) | 1990-06-22 |
Family
ID=18088298
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63317445A Pending JPH02162685A (ja) | 1988-12-15 | 1988-12-15 | 薄膜el素子の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02162685A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11377735B2 (en) * | 2016-11-02 | 2022-07-05 | Commissariat A L'energie Atomique Et Aux Energies Alternatives | Apparatus for depositing chalcogenide thin films |
-
1988
- 1988-12-15 JP JP63317445A patent/JPH02162685A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11377735B2 (en) * | 2016-11-02 | 2022-07-05 | Commissariat A L'energie Atomique Et Aux Energies Alternatives | Apparatus for depositing chalcogenide thin films |
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