JPH01215002A - 避雷器劣化監視装置 - Google Patents
避雷器劣化監視装置Info
- Publication number
- JPH01215002A JPH01215002A JP3935788A JP3935788A JPH01215002A JP H01215002 A JPH01215002 A JP H01215002A JP 3935788 A JP3935788 A JP 3935788A JP 3935788 A JP3935788 A JP 3935788A JP H01215002 A JPH01215002 A JP H01215002A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- optical fiber
- memory element
- shape memory
- signal corresponding
- deterioration
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 title claims abstract description 18
- 238000012806 monitoring device Methods 0.000 title description 7
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims abstract description 31
- 238000012546 transfer Methods 0.000 claims abstract description 6
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 17
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 17
- 238000001514 detection method Methods 0.000 abstract description 5
- 238000005452 bending Methods 0.000 abstract description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 3
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 8
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 4
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 3
- 238000005253 cladding Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 229910001285 shape-memory alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 1
- 239000004568 cement Substances 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 238000012856 packing Methods 0.000 description 1
- 229910052573 porcelain Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 230000003014 reinforcing effect Effects 0.000 description 1
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
- 239000012780 transparent material Substances 0.000 description 1
- 238000004804 winding Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Thermistors And Varistors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、避雷器をその特性要素の劣化検出により監
視するための避雷器劣化監視装置に関するものである。
視するための避雷器劣化監視装置に関するものである。
第６図は、例えば本出願人の先の出願（特願昭６２−２
９５６２１号）に示された従来の避雷器劣化監視装置で
あシ、図において、磁器製の絶縁套管（１）の両端部に
７ランジ（２）が固着されておシ、フランジ（２）と絶
縁套管（１）との間隙にはセメント（３）が充填されて
いる。避雷器の特性要素（４）は、この場合は８個の堆
積を示している。絶縁套管（１）の上端を封止する第１
の金属蓋（５）には、図示はしないが送電線に導電接続
するための線に導電接続するための端子が設けられてい
る。
９５６２１号）に示された従来の避雷器劣化監視装置で
あシ、図において、磁器製の絶縁套管（１）の両端部に
７ランジ（２）が固着されておシ、フランジ（２）と絶
縁套管（１）との間隙にはセメント（３）が充填されて
いる。避雷器の特性要素（４）は、この場合は８個の堆
積を示している。絶縁套管（１）の上端を封止する第１
の金属蓋（５）には、図示はしないが送電線に導電接続
するための線に導電接続するための端子が設けられてい
る。
絶縁套管（１）の上端と第“ｔの金属蓋（６）との間お
よび絶縁套管（１）の下端と第２の金属蓋（６）との間
にはパツキン（７）が介在し、絶縁套管（１）の内部の
気密を保持している。
よび絶縁套管（１）の下端と第２の金属蓋（６）との間
にはパツキン（７）が介在し、絶縁套管（１）の内部の
気密を保持している。
特性要素（４）の１つには光学繊維（１８）が巻着され
ておシ、光学繊維（１８）の端部Ｘ気密ブッシング（１
９）によシ第２の金属蓋（６）を気密に貫通している。
ておシ、光学繊維（１８）の端部Ｘ気密ブッシング（１
９）によシ第２の金属蓋（６）を気密に貫通している。
検出手段（２０）は、光学−繊維（１８）の一端に入射
する所定波長の光とその他端から出射する出射光とに基
づいて、入射光に対応した電気信号と出射光に対応した
電気信号との比を演算し、この比に基づいて特性要素（
４）の劣化を検出するもので、所定波長の光を発振する
とともにこの光を光−電気変換してそれに対応した電気
信号を出力する光発振器（２１）、所定波長の光を受光
して光−電気変換しそれに対応した電気信号を出力する
受光器（２２）、演算と表示を行うマイクロ−プロセッ
サ（２３）およびケーブル（２４）とからなっている。
する所定波長の光とその他端から出射する出射光とに基
づいて、入射光に対応した電気信号と出射光に対応した
電気信号との比を演算し、この比に基づいて特性要素（
４）の劣化を検出するもので、所定波長の光を発振する
とともにこの光を光−電気変換してそれに対応した電気
信号を出力する光発振器（２１）、所定波長の光を受光
して光−電気変換しそれに対応した電気信号を出力する
受光器（２２）、演算と表示を行うマイクロ−プロセッ
サ（２３）およびケーブル（２４）とからなっている。
また、第７図に示した光学繊維（１８）は、光が全反射
を繰シ返しながら伝搬するコア（１８１）、このコア（
ｔＳｔ）内に光を全反射させるためにコア（１８１）の
屈折率よシ屈折率が小さい透明な材料よりなっているク
ラッド（１８２） 、コア（１８１）とクラッド（１８
２）とを補強するジャケット（１８３）とからなってい
る。
を繰シ返しながら伝搬するコア（１８１）、このコア（
ｔＳｔ）内に光を全反射させるためにコア（１８１）の
屈折率よシ屈折率が小さい透明な材料よりなっているク
ラッド（１８２） 、コア（１８１）とクラッド（１８
２）とを補強するジャケット（１８３）とからなってい
る。
以上の構成においては、第１の金属蓋（５）と第２の金
属蓋（６）との間に、例えは送電線の高電圧が常時線型
され、微小な電流が特性要素（４）を経て大地へ流れて
いるが、なんらかの理由で特性要素（４）が劣化すると
電流が増加し、この電流が所定のレベルを越えると特性
要素（４）で発生するジュール熱が急激に増大して特性
要素（４）が破壊し、遂に第１の金属蓋（６）と第２の
金属蓋（６）との間が短絡するに至る。
属蓋（６）との間に、例えは送電線の高電圧が常時線型
され、微小な電流が特性要素（４）を経て大地へ流れて
いるが、なんらかの理由で特性要素（４）が劣化すると
電流が増加し、この電流が所定のレベルを越えると特性
要素（４）で発生するジュール熱が急激に増大して特性
要素（４）が破壊し、遂に第１の金属蓋（６）と第２の
金属蓋（６）との間が短絡するに至る。
一方、光発振器（２１）で所定波長の光を発振して光学
繊維（１８）の一端に入射させるとともに光−電気変換
してこの入射光に対応した電気信号をケーブル（２４）
を経てマイクロ−プロセッサ（２３）Ｋ入力する。光学
繊維（１８）を透過した光はその他端から出射し、受光
器（２２）で光−電気変換してこの光射光に対応した電
気信号をケーブル（２４）を経てマイクロ−プロセッサ
（２３）に入力する。
繊維（１８）の一端に入射させるとともに光−電気変換
してこの入射光に対応した電気信号をケーブル（２４）
を経てマイクロ−プロセッサ（２３）Ｋ入力する。光学
繊維（１８）を透過した光はその他端から出射し、受光
器（２２）で光−電気変換してこの光射光に対応した電
気信号をケーブル（２４）を経てマイクロ−プロセッサ
（２３）に入力する。
マイクロ−プロセッサ（２３）では入射光に対応した電
気信号Ｘ出射光に対応した電気信号との比を演算し、特
性要素（４）の劣化を検出する。光学繊維（１８）は特
性要素（４）の側面に巻着され、そこで発生するジュー
ル熱の伝達によシ特性要素（４）とほぼ同じ温度になる
が、その温度の変化とともに伝達損失も変化する。
気信号Ｘ出射光に対応した電気信号との比を演算し、特
性要素（４）の劣化を検出する。光学繊維（１８）は特
性要素（４）の側面に巻着され、そこで発生するジュー
ル熱の伝達によシ特性要素（４）とほぼ同じ温度になる
が、その温度の変化とともに伝達損失も変化する。
特性要素（４）が劣化してジュール熱の発生が急激に増
大すると、光学繊維（１８）の温度もさらに上昇し、限
界温度領域に達すると変形を生じ、透過する光は極度に
減衰し遂には光学繊維（１Ｂ）の溶断にいたる。この過
程でマイクロ−プロセッサ（２３）で演算した入射光に
対応した電気信号と出射光に対応した電気信号の比が予
め設定した値に達すると、特性要素（４）の劣化を検出
することになる。
大すると、光学繊維（１８）の温度もさらに上昇し、限
界温度領域に達すると変形を生じ、透過する光は極度に
減衰し遂には光学繊維（１Ｂ）の溶断にいたる。この過
程でマイクロ−プロセッサ（２３）で演算した入射光に
対応した電気信号と出射光に対応した電気信号の比が予
め設定した値に達すると、特性要素（４）の劣化を検出
することになる。
従来の避雷器劣化監視装置は以上のように構成されてい
るので、光学繊維の巻着、接触具合や長さの違いから検
出精度にバラツキが生じる。また、光学繊維の固定手段
も、第６図のようＫするなら、光学繊維を変形させる特
殊加工、もしくは絶縁を保った固定用支持が必要なこと
、さらに、適度な熱可塑性をもつ光学繊維の選定が必要
となるなどの問題があった。
るので、光学繊維の巻着、接触具合や長さの違いから検
出精度にバラツキが生じる。また、光学繊維の固定手段
も、第６図のようＫするなら、光学繊維を変形させる特
殊加工、もしくは絶縁を保った固定用支持が必要なこと
、さらに、適度な熱可塑性をもつ光学繊維の選定が必要
となるなどの問題があった。
この発明は上記のような課題を解決するためになされた
もので、簡単に光学繊維の取付けができ、かつ、安定し
て高精度な劣化検出ができる避雷器劣化監視装置を得る
ことを目的とする。
もので、簡単に光学繊維の取付けができ、かつ、安定し
て高精度な劣化検出ができる避雷器劣化監視装置を得る
ことを目的とする。
この発明に係る避雷器劣化監視装置は、熱伝達に適した
形に形成した形状記憶要素を、堆積した特性要素の間に
挟みこむとともに、その堆積された部分から突出した変
化部分に、絶縁套管に気密を保って引きこまれた光学繊
維が装着されている。
形に形成した形状記憶要素を、堆積した特性要素の間に
挟みこむとともに、その堆積された部分から突出した変
化部分に、絶縁套管に気密を保って引きこまれた光学繊
維が装着されている。
〔作用〕 。
この発明においては、形状記憶要素の温度による形状変
化によシ、光学繊維が強制的に変形されることになシ、
その伝送損失が変化する。これを従来と同様にして演算
することにより、特性要素の温度変化、劣化を検出する
。
化によシ、光学繊維が強制的に変形されることになシ、
その伝送損失が変化する。これを従来と同様にして演算
することにより、特性要素の温度変化、劣化を検出する
。
以下、この発明の一実施例を第１図、第２図について説
明する。第１図において、符号（１）〜（７）、（１９
）〜（２４）・１第６図の従来装置と全く同一の部分で
ある。形状記憶要素（２５）が堆積した特性要素（４）
の間に挾みこまれておシ、゛その変化部分は、第２図の
円板（２５１１）から突出した突出部（２５２）である
。突出部（２５２）の両側の突出部（２６１）、（２５
３）も変化させる場合には、その変化方向は突出部（２
５２）と逆の方向になる。これらは形状記憶合金やパイ
・メタル等で構成される。挟みこまれる円板部分（２５
０）は導電性のものであればよ□い。気密ブッシング（
１９）を介して絶縁套管（１）に引込まれている光学繊
維（１８）は第１図（または第２図）のように装着され
るが、接着の必要はなく、形状記憶要素（２６）の突出
部に光学繊維（１８）がはずれないような凹部か穴（２
５４）を設け、光学繊維（１８）を支持すればよい。
明する。第１図において、符号（１）〜（７）、（１９
）〜（２４）・１第６図の従来装置と全く同一の部分で
ある。形状記憶要素（２５）が堆積した特性要素（４）
の間に挾みこまれておシ、゛その変化部分は、第２図の
円板（２５１１）から突出した突出部（２５２）である
。突出部（２５２）の両側の突出部（２６１）、（２５
３）も変化させる場合には、その変化方向は突出部（２
５２）と逆の方向になる。これらは形状記憶合金やパイ
・メタル等で構成される。挟みこまれる円板部分（２５
０）は導電性のものであればよ□い。気密ブッシング（
１９）を介して絶縁套管（１）に引込まれている光学繊
維（１８）は第１図（または第２図）のように装着され
るが、接着の必要はなく、形状記憶要素（２６）の突出
部に光学繊維（１８）がはずれないような凹部か穴（２
５４）を設け、光学繊維（１８）を支持すればよい。
以上の構成によ少、なんらかの理由で特性要素（４）が
劣化すると、第１．第２の金属蓋（５）、（６）間に流
れる電流が増加し、この電流が所定のレベルを越えると
特性要素（４）で発生するジュール熱が急激に増大して
特性要素（４）が破壊し、遂に第１、第２の金属蓋（５
）、（６）間が短絡するに至る。
劣化すると、第１．第２の金属蓋（５）、（６）間に流
れる電流が増加し、この電流が所定のレベルを越えると
特性要素（４）で発生するジュール熱が急激に増大して
特性要素（４）が破壊し、遂に第１、第２の金属蓋（５
）、（６）間が短絡するに至る。
一方、検出手段（２０）では、従来装置と同様にしテマ
イクロープロセッサ（２３）で入射光に対応した電気信
号と出射光に対応した電気信号との比または差を演算し
特性要素（４）の劣化を検出する。
イクロープロセッサ（２３）で入射光に対応した電気信
号と出射光に対応した電気信号との比または差を演算し
特性要素（４）の劣化を検出する。
ここで、光学繊維（１８）は特性要素（４）の間に挟み
こまれた形状記憶要素（２５）に装着され、温度変化に
伴なう形状記憶要素（２６）の形状変化に対応して強制
的に曲げ応力が加えられ、その伝達損失が変化する。
こまれた形状記憶要素（２５）に装着され、温度変化に
伴なう形状記憶要素（２６）の形状変化に対応して強制
的に曲げ応力が加えられ、その伝達損失が変化する。
特性要素（４）が劣化してジュール熱の発生が急激に増
大すると、形状記憶要素（２５）の変化はさらに大きく
なり、光学繊維（１Ｂ）に加えられる曲げ応力もそれに
対応して増大し、ついＫは光学繊維（１８）の切断にい
たる。この過程でマイクロ−プロセッサ（２３）で演算
した入射光に対応した電気信号と出射光に対応した電気
信号の差または比が予め設定した値に達すると、特性要
素（４）の劣化を検出することになる。
大すると、形状記憶要素（２５）の変化はさらに大きく
なり、光学繊維（１Ｂ）に加えられる曲げ応力もそれに
対応して増大し、ついＫは光学繊維（１８）の切断にい
たる。この過程でマイクロ−プロセッサ（２３）で演算
した入射光に対応した電気信号と出射光に対応した電気
信号の差または比が予め設定した値に達すると、特性要
素（４）の劣化を検出することになる。
なお、上記実施例では形状記憶要素（２５）として第一
図のように３本の変形部分（円板からの突出部）が設け
られているが、変化を顕著にして精度を上げようと思え
ば、突出部の本数を増やすとか、第３図のように形状記
憶要素（２５）を複数用いることも考えられる。また、
形状記憶合金を使用する場合には、第４図（ａ）のよう
に形状記憶要素（ｚａａ）（２ａｂ）（２ａｃ）を各々
反応温度の異なるもので構成して矢印のように突出部を
変形させると、例えば第４図（ｂ） １１ｙ）ようにあ
る設定温度Ｔａ、Ｔｂ、Ｔｃ（例えば注意、警戒、警報
レベル）Ｋなると光学繊維（１８）の伝送損失が順次、
ステップ状に増大するので、確実にその状態を検出でき
ることになる。
図のように３本の変形部分（円板からの突出部）が設け
られているが、変化を顕著にして精度を上げようと思え
ば、突出部の本数を増やすとか、第３図のように形状記
憶要素（２５）を複数用いることも考えられる。また、
形状記憶合金を使用する場合には、第４図（ａ）のよう
に形状記憶要素（ｚａａ）（２ａｂ）（２ａｃ）を各々
反応温度の異なるもので構成して矢印のように突出部を
変形させると、例えば第４図（ｂ） １１ｙ）ようにあ
る設定温度Ｔａ、Ｔｂ、Ｔｃ（例えば注意、警戒、警報
レベル）Ｋなると光学繊維（１８）の伝送損失が順次、
ステップ状に増大するので、確実にその状態を検出でき
ることになる。
また、形状記憶要素（２５）をパ□イ・メタルとの組み
合せ構造とすれば、変形の途中で変化も高精度に検出で
きるなど、これらの組合せによるものが各種考えられる
ことはいうまでもない。
合せ構造とすれば、変形の途中で変化も高精度に検出で
きるなど、これらの組合せによるものが各種考えられる
ことはいうまでもない。
さらに、形状記憶要素（２５）の取付は方であるが第５
図のようＫ、コ字状の薄膜片（２５ｄ）とすれば特性要
素（６）へ挟み込むのＫさほど厚みを要しない。他にも
、ベルトのようにしめつけて固定する構成などが考えら
れる。
図のようＫ、コ字状の薄膜片（２５ｄ）とすれば特性要
素（６）へ挟み込むのＫさほど厚みを要しない。他にも
、ベルトのようにしめつけて固定する構成などが考えら
れる。
以上のように、この発明によれば、熱伝達に適した形に
成形して、特性要素に挾みこまれた形状記憶要素の変化
によシ光学繊維の伝送損失が変化するよ５Ｋしたので、
光学繊維の取付けが簡草−任 なシ、予め設定した！意の温度付近を高精度で検出する
ことが可能となる。
成形して、特性要素に挾みこまれた形状記憶要素の変化
によシ光学繊維の伝送損失が変化するよ５Ｋしたので、
光学繊維の取付けが簡草−任 なシ、予め設定した！意の温度付近を高精度で検出する
ことが可能となる。
第１図はこの発明の一実施例の立断面図、第２図は第１
図のものの一部斜視図、第３図は他の実施例の一部立断
面図、第４図はさらに他の実施例の一部で（ａ）は斜視
図、（ｂ）は伝達損失特性線図、第５図は別の実施例の
一部で（ａ）は斜視図、（ｂ）は側断面図、第６図は従
来の避雷器劣化監視装置の立断面図、第７図は同じく一
部断面図である。 （１）・・絶縁套管、（４）・・特性要素、（５）・・
第１の金属蓋、（６）・・第２の金属蓋、（１８）・・
光学繊維、（２０）・・検出手段、（２１）・・九発戯
器、（２２）−・受光器、（２３）・・マイクロ−プロ
セッサ、（２６）・・形状記憶要素。 なお、各図中、同一符号は同−又は相当部分を示す。 第１図 ｆＪａ 図 第 ４Ｉｌａ 第７図 第６図
図のものの一部斜視図、第３図は他の実施例の一部立断
面図、第４図はさらに他の実施例の一部で（ａ）は斜視
図、（ｂ）は伝達損失特性線図、第５図は別の実施例の
一部で（ａ）は斜視図、（ｂ）は側断面図、第６図は従
来の避雷器劣化監視装置の立断面図、第７図は同じく一
部断面図である。 （１）・・絶縁套管、（４）・・特性要素、（５）・・
第１の金属蓋、（６）・・第２の金属蓋、（１８）・・
光学繊維、（２０）・・検出手段、（２１）・・九発戯
器、（２２）−・受光器、（２３）・・マイクロ−プロ
セッサ、（２６）・・形状記憶要素。 なお、各図中、同一符号は同−又は相当部分を示す。 第１図 ｆＪａ 図 第 ４Ｉｌａ 第７図 第６図
Claims (1)
- 所定数の特性要素の堆積を絶縁套管の内部に収容し上記
堆積の両端面にそれぞれ導電接続した高電位側の第１の
金属蓋と接地電位側の第２の金属蓋とにより上記絶縁套
管の両端を密閉した避雷器と、堆積された上記特性要素
の間に外部から絶縁されて熱伝達に適した形で挟みこま
れた形状記憶要素と、中間部を上記形状記憶要素の一部
に装着されかつ両端部が上記第２の金属蓋を気密貫通し
て外部に導出された光学繊維と、この光学繊維の一端に
入射する所定波長の入射光とその他端から出射する出射
光とに基づいて上記入射光に対応した電気信号と上記出
射光に対応した電気信号との差および比のいずれかを演
算して上記特性要素の劣化を検出する検出手段とを備え
てなる避雷器劣化監視装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3935788A JPH01215002A (ja) | 1988-02-24 | 1988-02-24 | 避雷器劣化監視装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3935788A JPH01215002A (ja) | 1988-02-24 | 1988-02-24 | 避雷器劣化監視装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01215002A true JPH01215002A (ja) | 1989-08-29 |
Family
ID=12550820
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3935788A Pending JPH01215002A (ja) | 1988-02-24 | 1988-02-24 | 避雷器劣化監視装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01215002A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1998012780A1 (de) * | 1996-09-18 | 1998-03-26 | Asea Brown Boveri Ag | Elektrischer apparat, insbesondere überspannungsableiter, und system zur anzeige des zustands dieses apparats in einer zentralen auswertevorrichtung |
-
1988
- 1988-02-24 JP JP3935788A patent/JPH01215002A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1998012780A1 (de) * | 1996-09-18 | 1998-03-26 | Asea Brown Boveri Ag | Elektrischer apparat, insbesondere überspannungsableiter, und system zur anzeige des zustands dieses apparats in einer zentralen auswertevorrichtung |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4876898A (en) | High temperature coriolis mass flow rate meter | |
| US4510441A (en) | Electric field detector | |
| US4839767A (en) | Element and device for detecting internal faults in an insulating gas charged electrical apparatus | |
| JPH01215002A (ja) | 避雷器劣化監視装置 | |
| JP2003149058A (ja) | 温度センサ及びプラント温度計測装置 | |
| US2621268A (en) | Connecting device of the liquid manometer type | |
| KR100283248B1 (ko) | 광파이버를 이용한 광학적 고전압 측정장치 | |
| CN202403831U (zh) | 一种利用光纤Bragg光栅监测中压电力电缆中间接头温度的卡环式传感器 | |
| JPH01136305A (ja) | 劣化監視装置 | |
| CN104142188B (zh) | 一种变压器绕组测温装置 | |
| JPS6038202Y2 (ja) | 光フアイバを用いた温度センサ | |
| JPH03226651A (ja) | 活線絶縁診断装置 | |
| CN213779302U (zh) | 一种光纤测温探头保护装置 | |
| CN210802681U (zh) | 一种光纤光栅周界振动传感器 | |
| JPH01284722A (ja) | 巻線温度測定装置 | |
| JP3013068B2 (ja) | 温度センサ | |
| JPH07181086A (ja) | 光ファイバ温度センサ | |
| JPS5956111A (ja) | 冷却用気密容器内の冷却媒体量の監視方法 | |
| JPS5912360A (ja) | 密閉機器の導体電圧測定装置 | |
| JPS5968702A (ja) | 光フアイバ | |
| EP1229313A2 (en) | System and method for measuring liquid metal level | |
| JPH0738865Y2 (ja) | ガス絶縁開閉装置の異常監視装置 | |
| CN115628826A (zh) | 适用于真空高温高电压带电部件的光纤布拉格光栅温度传感器 | |
| JPS6290561A (ja) | ガス絶縁開閉装置用電流測定装置 | |
| JPH02134524A (ja) | 光ファイバ温度センサ |