JPH01136305A - 劣化監視装置 - Google Patents
劣化監視装置Info
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- JPH01136305A JPH01136305A JP62295521A JP29552187A JPH01136305A JP H01136305 A JPH01136305 A JP H01136305A JP 62295521 A JP62295521 A JP 62295521A JP 29552187 A JP29552187 A JP 29552187A JP H01136305 A JPH01136305 A JP H01136305A
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Links
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Landscapes
- Thermistors And Varistors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は避雷器をその特性要素の劣化検出により監視
する劣化監視装置に関するものである。
する劣化監視装置に関するものである。
第８図は従来周知の糧雷器の劣化監視装置を示す部分断
面図であり、図において田は磁器製の絶縁套管、＋２１
はこの絶縁套管の両端部に固着したフランジ、１３１は
このフランジと上記絶縁套管…との間隙に充填したセメ
ン）、＋４１は避雷器の特性要素でろって８個の堆積を
示す。鴬引は上記絶縁套管…の上端を封止する第１の金
属蓋であって図示はしないが送電線に導電接続するため
の端子が設けられている。１６１は上記絶縁套管１１１
の下端を封止する第８の金属蓋であって図示はしないが
接地線に導電接続するための端子が設けられている。１
７１は上記絶縁套管Ｉｌ＋の上端と上記ｖＩｌの金属蓋
＋５１との間及び上記絶縁套管；ｌ：の下端と上記第３
の金属蓋１６１との間に挟入したパツキンであって上記
絶縁套管Ｉｌ＋の内部の気密を保持する。ｇｔ＋はマイ
クロ・プロセッサ、（Ｉ２１は上記第８の金属蓋（６１
の外面の中心部と周辺部に装着した温度センサ、０３１
はこの温度センサと上記マイクロ・プロセッサａ刀とを
導電接続するケーブルである。
面図であり、図において田は磁器製の絶縁套管、＋２１
はこの絶縁套管の両端部に固着したフランジ、１３１は
このフランジと上記絶縁套管…との間隙に充填したセメ
ン）、＋４１は避雷器の特性要素でろって８個の堆積を
示す。鴬引は上記絶縁套管…の上端を封止する第１の金
属蓋であって図示はしないが送電線に導電接続するため
の端子が設けられている。１６１は上記絶縁套管１１１
の下端を封止する第８の金属蓋であって図示はしないが
接地線に導電接続するための端子が設けられている。１
７１は上記絶縁套管Ｉｌ＋の上端と上記ｖＩｌの金属蓋
＋５１との間及び上記絶縁套管；ｌ：の下端と上記第３
の金属蓋１６１との間に挟入したパツキンであって上記
絶縁套管Ｉｌ＋の内部の気密を保持する。ｇｔ＋はマイ
クロ・プロセッサ、（Ｉ２１は上記第８の金属蓋（６１
の外面の中心部と周辺部に装着した温度センサ、０３１
はこの温度センサと上記マイクロ・プロセッサａ刀とを
導電接続するケーブルである。
従来の劣化監視装置１！ｌは上記のように構成されＩＪ
ｓＩの金属蓋１５＋と＠８の金属蓋＋６１との間には例
えば送電線の高電圧が常時課電され正弦波の微小な電流
が特性要素１４１に一経て大地へ流れているがなんらか
の理由で特性要素（４１が劣化すると電流が増大する。
ｓＩの金属蓋１５＋と＠８の金属蓋＋６１との間には例
えば送電線の高電圧が常時課電され正弦波の微小な電流
が特性要素１４１に一経て大地へ流れているがなんらか
の理由で特性要素（４１が劣化すると電流が増大する。
そしてこの１［／ｉ！が所定のレベルを越えると特性要
素１４；で発生するジュール熱も急激に増大して特性要
素１４１が破壊し遂に第１の金属蓋・５１と第３の金属
蓋１６１との間が短絡するに１！１する。特性要素（４
１の劣化するこの過程において特性要素１４１の温度ｔ
ｏに近い第８の金属蓋１８１の中心部の温度ｔｃと周囲
温度恒に近い第８の金属蓋１６）の周辺部の温度ｔｆ、
、 ｔｔ、とをそそぞれ温度センサａ匂で検出しこの
検出した電気信号をケーブルα３１を経てマイクロ・プ
ロセッサα１に入力し特性要素＋４１の温度ｔｅと周囲
温度ｔａとの温度差ｔｅ−ｔａに近似した第８の金属蓋
（６）の中心部と同辺部との温度差ｔｃ −（ｔ’ ｒ
＋ ｔｆｔ ）／２ ｋ演算する。この演算した値が
予め設定した値を越えると特性要素（４１が劣化したと
判定して警報を出すようになっている。
素１４；で発生するジュール熱も急激に増大して特性要
素１４１が破壊し遂に第１の金属蓋・５１と第３の金属
蓋１６１との間が短絡するに１！１する。特性要素（４
１の劣化するこの過程において特性要素１４１の温度ｔ
ｏに近い第８の金属蓋１８１の中心部の温度ｔｃと周囲
温度恒に近い第８の金属蓋１６）の周辺部の温度ｔｆ、
、 ｔｔ、とをそそぞれ温度センサａ匂で検出しこの
検出した電気信号をケーブルα３１を経てマイクロ・プ
ロセッサα１に入力し特性要素＋４１の温度ｔｅと周囲
温度ｔａとの温度差ｔｅ−ｔａに近似した第８の金属蓋
（６）の中心部と同辺部との温度差ｔｃ −（ｔ’ ｒ
＋ ｔｆｔ ）／２ ｋ演算する。この演算した値が
予め設定した値を越えると特性要素（４１が劣化したと
判定して警報を出すようになっている。
従来の劣化監視装置１１Ｆｉ上記のように構成きれてお
り特性要素１４１の温度を第８の金属蓋１６１の中心部
め温度でまた周囲温度１１の金属蓋１６）の同辺部の温
度でそれぞれ近似して検出しているので誤差を伴い劣化
検出の精度があまり高くないと云う問題点があった。
り特性要素１４１の温度を第８の金属蓋１６１の中心部
め温度でまた周囲温度１１の金属蓋１６）の同辺部の温
度でそれぞれ近似して検出しているので誤差を伴い劣化
検出の精度があまり高くないと云う問題点があった。
この発明はかかる問題点を解決するためになされたもの
で特性要素の劣化検出の精度の高い劣化監視装置を得る
ことを目的とする。
で特性要素の劣化検出の精度の高い劣化監視装置を得る
ことを目的とする。
この発明に係る劣化監視装置は所定数の特性要素の堆積
？絶縁套管の内部に収容しこの堆積の両端面にそれぞれ
導電接続した高電位側の第１の金属蓋と接地電位側の第
８の金属蓋とにより絶縁套管の両端を密閉した避雷器、
中間部を特性要素の側面に伝熱装着しかつ両端部をして
第８の金属蓋を気密貫通させて外部に導出したプラスチ
ック光学繊維、このプラスチック光学繊維の一端に入射
する所定波長の入射光とその他端から出射する出射光と
に基づいて入射光に対応した電気信号と出射光に対応し
た電気信号との差または比を演算しこの差または比に基
づいて特性要素の劣化を検出する検出手段を備えたもの
である。
？絶縁套管の内部に収容しこの堆積の両端面にそれぞれ
導電接続した高電位側の第１の金属蓋と接地電位側の第
８の金属蓋とにより絶縁套管の両端を密閉した避雷器、
中間部を特性要素の側面に伝熱装着しかつ両端部をして
第８の金属蓋を気密貫通させて外部に導出したプラスチ
ック光学繊維、このプラスチック光学繊維の一端に入射
する所定波長の入射光とその他端から出射する出射光と
に基づいて入射光に対応した電気信号と出射光に対応し
た電気信号との差または比を演算しこの差または比に基
づいて特性要素の劣化を検出する検出手段を備えたもの
である。
このφ明においてはプラスチック光学繊維の中間部を特
性要素の側面に伝熱装着しその両端部を第８の金属蓋を
気密貫通して外部に導出しこの導出した一端に入射する
所定波長の入射光とその他端から出射する出射光に基づ
いて入射光に対応した電気信号と出射光に対応した電気
信号との差または比を演算しこの差または比に基づいて
特性要素の劣化を検出する。
性要素の側面に伝熱装着しその両端部を第８の金属蓋を
気密貫通して外部に導出しこの導出した一端に入射する
所定波長の入射光とその他端から出射する出射光に基づ
いて入射光に対応した電気信号と出射光に対応した電気
信号との差または比を演算しこの差または比に基づいて
特性要素の劣化を検出する。
第１図はこの発明の一実施例？示す部分断面図、第８図
はプラスチック光学繊維を示す断面図である。第１図に
おいて…〜電吐、（７）は上記従来装置と全く同一の４
のである。ａ・は上記絶縁套管…の下端を封止する１１
ｇ５の金属蓋であって図示はしないが接地線に導電接続
するための端子が設けられている。囮は上記特性要素＋
４１に巻着したプラスチック光学繊維、０１１はこのプ
ラスチック光学繊維の端部をして上記第８の金属蓋を気
密貫通させ？亨ツシング、■は検出手段であって上記プ
ラスチック光学繊維−の一端に入射する所定波長の入射
光とその他端から出射する出射光とに基づいてその入射
光に対応した電気信号とその出射光に対応した電気信号
との比を演算しこの比に基づいて上記特性要素（４１の
劣化を検出する。シυは所定波長の尤を発振すると共に
この光を光電変換してそれに対応した電気信号を出力す
る光発振器、因は所定波長の光を受光して光電変換しそ
れに対応した電気信号を出力する受光器、コバ演算と表
示を行なうマイクロ・プロセッサである。また第３図に
おいて（１８１）Ｆｉ光が全反射を繰り返しながら伝搬
するコア、（１８１Ａ）はこのコア内に光を全反射させ
るクラッドであって上記コア（１８１）の屈折率より小
さい透明な材料よりなっている。（１８８）は上記のコ
ア（１８１）とクラッド（ＩＨ） 七を補強するジャケ
ットである。この実施例では検出手段（至）は光発振器
３υと受光器−とマイクロ・プロセッサ器トケーブル例
とから構成されている。
はプラスチック光学繊維を示す断面図である。第１図に
おいて…〜電吐、（７）は上記従来装置と全く同一の４
のである。ａ・は上記絶縁套管…の下端を封止する１１
ｇ５の金属蓋であって図示はしないが接地線に導電接続
するための端子が設けられている。囮は上記特性要素＋
４１に巻着したプラスチック光学繊維、０１１はこのプ
ラスチック光学繊維の端部をして上記第８の金属蓋を気
密貫通させ？亨ツシング、■は検出手段であって上記プ
ラスチック光学繊維−の一端に入射する所定波長の入射
光とその他端から出射する出射光とに基づいてその入射
光に対応した電気信号とその出射光に対応した電気信号
との比を演算しこの比に基づいて上記特性要素（４１の
劣化を検出する。シυは所定波長の尤を発振すると共に
この光を光電変換してそれに対応した電気信号を出力す
る光発振器、因は所定波長の光を受光して光電変換しそ
れに対応した電気信号を出力する受光器、コバ演算と表
示を行なうマイクロ・プロセッサである。また第３図に
おいて（１８１）Ｆｉ光が全反射を繰り返しながら伝搬
するコア、（１８１Ａ）はこのコア内に光を全反射させ
るクラッドであって上記コア（１８１）の屈折率より小
さい透明な材料よりなっている。（１８８）は上記のコ
ア（１８１）とクラッド（ＩＨ） 七を補強するジャケ
ットである。この実施例では検出手段（至）は光発振器
３υと受光器−とマイクロ・プロセッサ器トケーブル例
とから構成されている。
上記のように構成された劣化監視装置においてＩｒｉ第
１の金属蓋＋５１と第８の金属蓋αＧとの間に例えば送
電線の高電圧が常時課電された正弦波の微小な′ｄ！を
流が特性要素（４１を経て大地へ流れているがなんらか
の理由で特性要素（４１が劣化すると電流が増大した所
定のレベルを越えると特性要素１４１で発生するジュー
ル熱が急激に増大して特性要素１４１が破壊し遂に第五
の金属蓋１１と第８の金属蓋ａＳとの間が短絡するに到
る。
１の金属蓋＋５１と第８の金属蓋αＧとの間に例えば送
電線の高電圧が常時課電された正弦波の微小な′ｄ！を
流が特性要素（４１を経て大地へ流れているがなんらか
の理由で特性要素（４１が劣化すると電流が増大した所
定のレベルを越えると特性要素１４１で発生するジュー
ル熱が急激に増大して特性要素１４１が破壊し遂に第五
の金属蓋１１と第８の金属蓋ａＳとの間が短絡するに到
る。
一方、光発振ａＩ（２Ｘｌで所定波長の光を発振してプ
ラスチック光学繊維１１１の一端に入射させると共に光
電変換してこの入射光に対応した電気信号をケーブルｃ
２４１１に経てマイクロ・プロセラ？ｆｆｌに人力する
。プラスチック光学縁ｍ ｉｓ 倉透過した光はその他
端から出射し受晃器固で光電変換してこの出射光に対応
した電気信号をケーブル＋２４１１−経てマイクロ・プ
ロセッサ器に入力する。
ラスチック光学繊維１１１の一端に入射させると共に光
電変換してこの入射光に対応した電気信号をケーブルｃ
２４１１に経てマイクロ・プロセラ？ｆｆｌに人力する
。プラスチック光学縁ｍ ｉｓ 倉透過した光はその他
端から出射し受晃器固で光電変換してこの出射光に対応
した電気信号をケーブル＋２４１１−経てマイクロ・プ
ロセッサ器に入力する。
マイクロ・プロセッサ例では入射光に対応した犠；気信
号と出射光に対応した電気信号との比を演算し特性要素
１４１の劣化を検出する。プラスチック光学繊維ａ騰は
特性要素（４１の側面に巻着されそこで発生するジュー
ル熱の伝達により特性要素＋４１とほぼ同じ温度になる
が、その温度の変化と共に伝送損失も変化する。
号と出射光に対応した電気信号との比を演算し特性要素
１４１の劣化を検出する。プラスチック光学繊維ａ騰は
特性要素（４１の側面に巻着されそこで発生するジュー
ル熱の伝達により特性要素＋４１とほぼ同じ温度になる
が、その温度の変化と共に伝送損失も変化する。
ところでプラスチック光学繊維０樽は例えばアクリル系
樹脂のコア（１８１）とこれ倉保護する弗素系樹脂のク
ラッド（１８ｇ）と史に被覆してこれらを補強するポリ
エチレン樹脂のジャケット（１８８）とから構成されて
いる。このプラスチック光学繊維（Ｉｓｌの例ではその
耐熱特性は次表に示す様である。
樹脂のコア（１８１）とこれ倉保護する弗素系樹脂のク
ラッド（１８ｇ）と史に被覆してこれらを補強するポリ
エチレン樹脂のジャケット（１８８）とから構成されて
いる。このプラスチック光学繊維（Ｉｓｌの例ではその
耐熱特性は次表に示す様である。
コア クラッド ジャケット
機械強度の低下温度 ８ＯＮ１００’ＣＩ８０〜２００
’Ｃ８Ｇ 〜１００’ｃ軟化温度 約１５０℃約ｓ
ｏａ’ｃ 約ＩＳＯで特性要素１４１が劣化してジュ
ール熱の発生が急激に増大するとプラスチック光学繊維
ａ口の温度も更に上昇し限界１度領域に達すると変形を
生じて透過する光は極度に減衰し遂にプラスチック光学
繊維舖の溶断に至る。この過程でマイクロ・プロセッサ
って演算した入射光に対応した電気信号と出射光に対応
した電気信号との比が予め設定した値に達すると特性要
素＋４１の劣化を検出することＫなる。
’Ｃ８Ｇ 〜１００’ｃ軟化温度 約１５０℃約ｓ
ｏａ’ｃ 約ＩＳＯで特性要素１４１が劣化してジュ
ール熱の発生が急激に増大するとプラスチック光学繊維
ａ口の温度も更に上昇し限界１度領域に達すると変形を
生じて透過する光は極度に減衰し遂にプラスチック光学
繊維舖の溶断に至る。この過程でマイクロ・プロセッサ
って演算した入射光に対応した電気信号と出射光に対応
した電気信号との比が予め設定した値に達すると特性要
素＋４１の劣化を検出することＫなる。
なお上記実施例ではプラスチック光学繊維Ｏａは特性要
素１４１の側面に巻着するものとしたが所定の断熱材を
介して特性要素１４１の開面に巻着するものであっても
よく検出する温度のレベルを変えることができる。
素１４１の側面に巻着するものとしたが所定の断熱材を
介して特性要素１４１の開面に巻着するものであっても
よく検出する温度のレベルを変えることができる。
また上記実施例ではグラスチック光学縁＃１（１１はア
クリル系樹脂のコア（１８１）と弗素系樹脂のクラッド
（１８１）とポリエチレン樹脂のジャケラ）（ＩＨ）と
から構成されるものとしたがコア（１８１）とクラッド
（ｌｏｇ）とジャケット（１８１）の材料は電気絶縁性
と熱可塑性と全兼備するものであれば池の材料であって
もよい゛ことは云うまでもない。
クリル系樹脂のコア（１８１）と弗素系樹脂のクラッド
（１８１）とポリエチレン樹脂のジャケラ）（ＩＨ）と
から構成されるものとしたがコア（１８１）とクラッド
（ｌｏｇ）とジャケット（１８１）の材料は電気絶縁性
と熱可塑性と全兼備するものであれば池の材料であって
もよい゛ことは云うまでもない。
この発明は以上説明したとおり所定数の特性要素の堆積
？絶縁套管の内部に収容しこの堆積の両端面にそれぞれ
導電接続した高電位側の第五の金属蓋と接地電位側の第
８の金属蓋とにより絶縁套管の両端を密閉した礎雷器の
特性要素の側面にプラスチック光学繊維？伝熱装着しこ
のプラスチック光学繊維の両端部Ｉ口の金属蓋を気密貫
通させて外部に導出しその一端に入射する所定波長の入
射光と他端から出射する出射光とに基づいて入射光に対
応した電気信号と出射光に対応した電気信号との差また
は比を演算しこの差または比に基づいて特性要素劣化を
検出するので精度の高い劣化監視装置が得られると云う
効果がある。
？絶縁套管の内部に収容しこの堆積の両端面にそれぞれ
導電接続した高電位側の第五の金属蓋と接地電位側の第
８の金属蓋とにより絶縁套管の両端を密閉した礎雷器の
特性要素の側面にプラスチック光学繊維？伝熱装着しこ
のプラスチック光学繊維の両端部Ｉ口の金属蓋を気密貫
通させて外部に導出しその一端に入射する所定波長の入
射光と他端から出射する出射光とに基づいて入射光に対
応した電気信号と出射光に対応した電気信号との差また
は比を演算しこの差または比に基づいて特性要素劣化を
検出するので精度の高い劣化監視装置が得られると云う
効果がある。
第１図はこの発明の一実施例を示す部分断面図、第８図
はプラスチック光学繊維を示す断面図、第８図は従来の
避雷器の劣化監視装置を示す部分断面図である。 図において…は絶縁套管、（４１け特性要素％１６１は
第１の金属蓋、α０は第８の金属蓋、９１４はプラスチ
ック光学繊維、四は気密ブッシング、蜘は検出手段、２
＋＋ Ｉ／ｉ光発振器、（２２は受光器、器はマイクロ
・プロセッサ、−はケーブルである。 なお各図中同一符号は同一または相当部分を示す〇
はプラスチック光学繊維を示す断面図、第８図は従来の
避雷器の劣化監視装置を示す部分断面図である。 図において…は絶縁套管、（４１け特性要素％１６１は
第１の金属蓋、α０は第８の金属蓋、９１４はプラスチ
ック光学繊維、四は気密ブッシング、蜘は検出手段、２
＋＋ Ｉ／ｉ光発振器、（２２は受光器、器はマイクロ
・プロセッサ、−はケーブルである。 なお各図中同一符号は同一または相当部分を示す〇
Claims (1)
- 所定数の特性要素の堆積を絶縁套管の内部に収容し上
記堆積の両端面にそれぞれ導電接続した高電位側の第１
の金属蓋と接地電位側の第８の金属蓋とにより上記絶縁
套管の両端を密閉した避雷器、中間部を上記特性要素の
側面に伝熱装着しかつ両端部をして上記第８の金属蓋を
気密貫通させて外部に導出したプラスチック光学繊維、
このプラスチック光学繊維の一端に入射する所定波長の
入射光とその他端から出射する出射光とに基づいて上記
入射光に対応した電気信号と上記出射光に対応した電気
信号との差または比を演算し上記差または比に基づいて
上記特性要素の劣化を検出する検出手段を備えたことを
特徴とする劣化監視装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62295521A JPH01136305A (ja) | 1987-11-24 | 1987-11-24 | 劣化監視装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62295521A JPH01136305A (ja) | 1987-11-24 | 1987-11-24 | 劣化監視装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01136305A true JPH01136305A (ja) | 1989-05-29 |
Family
ID=17821698
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62295521A Pending JPH01136305A (ja) | 1987-11-24 | 1987-11-24 | 劣化監視装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01136305A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1998012780A1 (de) * | 1996-09-18 | 1998-03-26 | Asea Brown Boveri Ag | Elektrischer apparat, insbesondere überspannungsableiter, und system zur anzeige des zustands dieses apparats in einer zentralen auswertevorrichtung |
-
1987
- 1987-11-24 JP JP62295521A patent/JPH01136305A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1998012780A1 (de) * | 1996-09-18 | 1998-03-26 | Asea Brown Boveri Ag | Elektrischer apparat, insbesondere überspannungsableiter, und system zur anzeige des zustands dieses apparats in einer zentralen auswertevorrichtung |
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