JPH01214035A - 電気回路装置 - Google Patents

電気回路装置

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JPH01214035A
JPH01214035A JP63038865A JP3886588A JPH01214035A JP H01214035 A JPH01214035 A JP H01214035A JP 63038865 A JP63038865 A JP 63038865A JP 3886588 A JP3886588 A JP 3886588A JP H01214035 A JPH01214035 A JP H01214035A
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Tetsuo Yoshizawa
吉沢 徹夫
Masaaki Imaizumi
昌明 今泉
Hideyuki Nishida
秀之 西田
Hiroshi Kondo
浩史 近藤
Takashi Sakaki
隆 榊
Yasuteru Ichida
市田 安照
Masaki Konishi
小西 正暉
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野〕 本発明は、電気回路装置に関する。
[従来技術] 従来、電気回路部品同士を電気的に接続して構成される
電気回路部材を封止した電気回路装置に関する技術とし
ては以下に述べる技術が知られている。
■ワイヤボンディング方法 第13図および第14図はワイヤボンディング方法によ
って接続され、封止された半導体装置の代表例を示して
おり、以下、第13図および第14図に基づきワイヤボ
ンディング方法を説明する。
この方法は、Agペースト3等を用いて半導体素子4を
素子搭載部2に固定支持し、次いで、半導体素子4の接
続部5と、リードフレーム1の所望の接続部6とを金等
の極細金属線7を用いて電気的に接続部する方法である
接続後は、トランスファーモールド法等の方法でエポキ
シ樹脂等の熱硬化性樹脂である樹脂8を用いて半導体素
子4とリードフレーム1を封止し、その後、樹脂封止部
品から外に伸びたリードフレーム1の不要部分を切断し
、所望の形に曲げ半導体9を作る。
■T A B (Tape Automated Bo
nding )法(例えば、特開昭59−139636
号公報)第15図はTAB法により接続すれ封止された
半導体装置の代表例を示す。
この方法は、テープキャリア方式による自動ボンディン
グ法である。すなわち、第15図に基づいて説明すると
、キャリアフィルム基板16と半導体素子4とを位置決
めした後、キャリアフィルム基板16のインナーリード
部17と半導体素子4の接続部5とを熱圧着することに
より接続する方法である。接続後は、エポキシ樹脂等の
熱硬化性樹脂である樹脂20乃至樹脂21で封止し半導
体装置9とする。
■CCB (Controlled Co11apse
 Bonding )法(例えば、特公昭42−209
6号公報、特開昭60−57944号公報) 第16図はCCB法によって接続され封止された半導体
装置の代表例を示す。この方法を第16図に基づき説明
する。なお、本方法はフリップチップボンディング法と
も言われている。
半導体素子4の接続部5に予め半田バンブ31を設け、
半田バンブ31が設けられた半導体素子4を回路基板3
2上に位置決めして搭載する。
その後、半田を加熱溶解することにより回路基板32と
半導体素子4とを接続させ、フラックス洗浄後封止して
半導体装置9を作る。
■第17図および第18図に示す方法 すなわち、第1の半導体素子4の接続部5以外の部分に
ポリイミド等よりなる絶縁膜71を形成せしめ、接続部
5にはAu等よりなる金属材70を設け、次いで、金属
材70および絶縁膜71の露出面73.72を平らにす
る。一方、第2の半導体素子4゛の接続部5°以外の部
分にポリイミド等よりなる絶縁膜71°を形成し、接続
部5゜にはAu等よりなる金属材70°を設け、次いで
、金属材70°および絶縁膜71゛の露出面73°、7
2°を平らにする。
しかる後、第18図に示すように第1の半導体素子4と
第2の半導体素子4°とを位置決めし、位置決め後、熱
圧着することにより第1の半導体素子4の接続部5と第
2の半導体素子4°の接続部5°を、金属材70,70
°を介して接続する。
■第19図に示す方法 すなわち、第1の回路基材75と第2の回路基材75゛
の間に、絶縁物質77中に導電粒子79を分散させた異
方性導電膜78を介在させ、第1の回路基材75と第2
の回路基材75′を位置決めしたのち、加圧もしくは、
加圧・加熱し、第1の回路基材75の接続部76と第2
の回路基材75°の接続部76゛を接続する方法である
■第20図に示す方法 すなわち、第1の回路基材75と第2の回路基材75′
の間に、Fe、Cu等よりなる金属線82が一定方向に
向けて配されいる絶縁物質81からなるエラスチックコ
ネクター83を介在させ、第1の回路基材75と第2の
回路基材75″を位置決めした後加圧し、第1の回路基
材75の接続部76と第2の回路基材75゛の接続部7
6゛を接続する方法である。
[発明が解決しようとする問題点] ところで上記した従来のボンディング法には次のような
問題点がある。
■ワイヤボンディング法 ■半導体素子4の接続部5を半導体素子4の内部にくる
ように設計すると、極細金属線7は、その線径が極めて
小さいために、半導体素子4の外周縁部10あるいはリ
ードフレームlの素子搭載部2の外周縁部11に接触し
易くなる。極細金属線7がこれら外周縁部10乃至11
に接触すると短絡する。さらに、極細金属線7の長さを
長くせざるを得ず、長さを長くすると、トランスファー
モールド成形時に極細金属線7が変形しやすくなる。
従って、半導体素子4の接続部5は半導体素子4上の周
辺に配置する必要が生じ、回路設計上の制限を受けざる
を得なくなる。
■ワイヤボンディング法においては、隣接する極細金属
線7同士の接触等を避けるためには半導体素子4上の接
続部5のピッチ寸法(隣接する接続部の中心間の距!り
としである程度の間隔をとらざるを得ない、従って、半
導体素子4の大きさが決まれば必然的に接続部5の最大
数が決まる。
しかるに、ワイヤボンディング法では、このピッチ寸法
が通常0.2mm程度と大きいので、接続部5の数は少
なくせざるを得なくなる。
■半導体素子4上の接続部5から測った極細金濡縁7の
高さhは通常0.2〜0.4mmであるが、0.2mm
以下にし薄型化することは比較的困難であるので薄型化
を図れない。
■ワイヤボンディング作業に時間がかかる。特に接続点
数が多くなるとボンディング時間が長くなり生産効率が
悪くなる。
■何らかの要因でトランスファーモールド条件範囲を越
すと、極細金属線7が変形したり最悪の場合には切断し
たりする。
また、半導体素子4上の接続部5においては、極細金属
線7と合金化されないA1が露出しているためA1腐食
が生じ易くなり、信頼性の低下が生じる。
■半導体素子4の熱膨張係数が、リードフレーム1、樹
脂8の熱膨張係数と異なるため半導体装置9に熱が加わ
った場合、熱応力が発生し、半導体素子4の特性劣化を
生じる。さらには半導体素子4または樹脂8に割れが生
じ信頼性が低下する。かかる現象は半導体素子4の大き
さが大きい場合顕著となる。
■TAB法 ■半導体素子4の接続部5を半導体素子4の内側にくる
ように設計すると、キャリアフィルム基板16のインナ
ーリード部1フの長さ1が長くなるため、インナーリー
ド部17が変形し易くなりインナーリード部を所望の接
続部5に接続できなかったり、インナーリード部17が
半導体素子4の接続部5以外の部分に接触したりする。
これを避けるためには半導体素子4の接続部5を半導体
素子4上の周辺に持ってくる必要が生じ、設計上の制限
を受ける。
■TAB法においても、半導体素子4上の接続部のピッ
チ寸法は0.09〜0.15mm程度にとる必要があり
、従ってワイヤボンディング法の問題点■で述べたと同
様に、接続部数を増加させることはむずかしくなる。
■キャリアフィルム基板16のインナーリード部17が
半導体素子4の接続部5以外の部分に接触しないように
させるためには、そのためのインナーリード部17の接
続形状が要求されるためコスト高となる。
■半導体素子4の接続部5とインナーリード部17とを
接続するためには、半導体素子4の接続部5またはイン
ナーリード部17の接続部に金バンブをつけなければな
らずコスト高になる。
■半導体素子4の熱膨張係数が、樹脂20乃至樹脂21
の熱膨張係数と異なるため、半導体装置9に熱が加わっ
た場合、熱応力が発生し、半導体素子4の特性劣化を生
じる。さらには半導体素子4または樹脂20乃至樹脂2
1に割れが生じ、装置の信頼性が低下する。かかる現象
は半導体素子4の大きさが大きい場合顕著となる。
■CCB法 ■半導体素子4の接続部5に半田バンブ31を形成させ
なければならないためコスト高になる。
■バンブの半田量が多いと隣接する半田バンブ間にブリ
ッジ(隣接する半田バンブ同士が接触する現象)が生じ
、逆にバンブの半田量が少ないと半導体素子4の接続部
5と基板32の接続部33が接続しなくなり電気的導通
がとれなくなる。すなわち、接続の信頼性が低くなる。
さらに、半田量、接続の半田形状が接続の信頼性に影響
する(”Geometric Optimizatio
n of ControlledCollapse I
nterconnections’、 L、S、Gol
dman。
IBM J、 RES、 DEVELOP、 1969
 MAY、 pp251−265゜’Re1iabil
ity of Controlled Co11aps
eInterconnections”、  に、C,
Norris。
A、H,Landzberg、  IBM J、 RE
S、 DEVELOP。
1969、MAY、 1111266−271.  ろ
う接技術研究会技術資料、No、017−”84、ろう
接技術研究会発行)という問題がある。
このように、半田バンブの量の多少が接続の信頼性に影
響するため半田バンブ31の量のコントロールが必要と
されている。
■半田バンブ31が半導体素子4の内側に存在すると接
続が良好に行なわれたか否かの目視検査が難しくなる。
■半導体素子の放熱性が悪い(参考資料;Electr
onic Packaging Technology
 1987.1(Vol、3.No、1)P、66〜7
1.NIKKEI  MICRODEVICES198
6.5月、 P、97〜108)ため、放熱特性を良好
たらしめるために多大な工夫が必要とされる。
■第17図および第18図に示す技術 ■絶縁膜71の露出面72、金属材70の露出面73あ
るいは絶縁膜71゛の露出面72′と金属材70°の露
出面73°とを平らにしなければならず、そのための工
夫が増し、コスト高になる。
■絶1j膜71の露出面72と金属材70の露出面73
あるいは絶縁膜71°の露出面72°と金属材70°の
露出面73゛に凹凸があると金属材70と金属材70°
とが接続しなくなり、信頼性が低下する。
■第19図に示す技術 ■位置決め後に、接続部76と接続部76°とを加圧し
て接続する際に、圧力が一定はかかりにくいため、接続
状態にバラツキが生じ、その結果、接続部における接触
抵抗値のバラツキが大きくなる。そのため、接続の信頼
性が乏しくなる。
また、多量の電流を流すと、発熱等の現象が生じるので
、多量の電流を流したい場合には不向きである。
■圧力が一定にかけられたとしても、異方性導電[78
の導電粒子79の配列により抵抗値のバラツキが大きく
なる。そのため、接続の信頼性に乏しくなる。また、多
量の電流を流したい場合には不向きである。
■隣接する接続部のピッチ(接続部に隣接する接続部中
心間の距1りを狭くすると隣接する接続部の間の抵抗値
が小さくなることから高密度な接続には不向きである。
■回路基材75,75°の接続部76.76゜の出っ張
り量h1のバラツキにより抵抗値が変化するため、h1
バラツキ量を正確に押さえることが必要である。
■さらに異方性導電膜を、半導体素子と回路基材の接続
、また、第1の半導体素子と第2の半導体素子との接続
に使用した場合、上記■〜■の欠点の他、半導体素子の
接続部にバンプを設けなければならなくなり、コスト高
になるという欠点が生じる。
■第20図に示す技術 ■加圧が必要であり、加圧治具が必要となる。
■エラスチックコネクタ83の金属線82と第1の回路
基材75の接続部76、また、第2の回路基材75°の
接続部76°との接触抵抗は加圧力および表面状態によ
り変化するため、接続の信頼性に乏しい。
■エラスチックコネクタ83の金属線82は剛体である
ため、加圧力が大であるとエラスチックコネクタ83、
第1の回路基材75、第2の回路基材75°の表面が破
損する可能性が大きい、また、加圧力が小であると、接
続の信頼性が乏しくなる。
■さらに、回路基材75.75′の接続部76.76’
の出っ張り量h2、またエラスチックコネクタ83の金
属線82の出っ張り量h3とそのバラツキが抵抗値変化
および破損に影響を及ぼすので、バラツキを少なくする
工夫が必要とされる。
■さらに、エラスチックコネクターを半導体素子と回路
基材の接続、また、第1の半導体素子と第2の半導体素
子との接続に使用した場合、■〜■と同様な欠点を生ず
る。
本発明は、以上のような問題点をことごとく解決し、高
密度、高信頼性であり、しかも、低コストの新電気回路
装置を提案するものであり、従来の接続方式及び封止方
式を置き変え得ることはもちろん、高密度多点接続が得
られ、熱特性その他の諸特性を向上させ得るものである
[問題点を解決するための手段] 本発明の第1の要旨は、電気的絶縁材料よりなる保持体
と、該保持体中に埋設された複数の電気的導電部材とを
有し、該電気的導電部材の一端が該保持体の一方の面に
おいて露出しており、また、該電気的導電部材の他端が
該保持体の他方の面において露出している電気的接続部
材と:少なくとも1以上の接続部を有し、該接続部に該
保持体の一方の面において露出しており、また、該電気
的導電部材の他端が該保持体の他方の面において露出し
ている電気的接続部材と;少なくとも1以上の接続部を
有し、該接続部において、該保持体の一方の面において
露出している該電気的導電部材のうちの少なくとも1つ
の一端が接続されている少なくとも1以上の電気回路部
品と; 少なくとも1以上の接続部を有し、該接続部において、
該保持体の他方の面において露出している該電気的導電
部材のうちの少なくとも1つの他端が接続されており、
該接続は、該接続部と該他端とを金属化及び/又は合金
化することにより形成された接続体を介してなされてい
る少なくとも1以上の他の電気回路部品と; を有し、保持体の一方の面において電気的接続部材に接
続されている電気回路部品および保持体の他方の面にお
いて電気的接続部材に接続されている電気回路部品の少
なくとも1つがキャップによりキャップ封止され、キャ
ップ封止されている電おいて、該保持体の一方の面にお
いて露出している該電気的導電部材のうちの少なくとも
1つの一端が接続されている少なくとも1以上の電気回
路部品と: 少なくとも1以上の接続部を有し、該接続部において、
該保持体の他方の面において露出している該電気的導電
部材のうちの少なくとも1つの他端とが接続されている
少なくとも1以上の他の電気回路部品と: を有し、保持体の一方の面において電気的接続部材に接
続されている電気回路部品および保持体の他方の面にお
いて電気的接続部材に接続されている電気回路部品の少
なくとも1つがキャップによりキャップ封止され、キャ
ップ封止されている電気回路部品とキャップとの間に調
整用部材が介在していることを特徴とする電気回路装置
にある。
本発明の第2の要旨は、電気的絶縁材料よりなる保持体
と、該保持体中に埋設された複数の電気的導電部材とを
有し、該電気的導電部材の一端が気回路部品とキャップ
との間に調整用部材が介在していることを特徴とする電
気回路装置にある。
本発明の第3の要旨は、電気的絶縁材料よりなる保持体
と、該保持体中に埋設された複数の電気的導電部材とを
有し、該電気的導電部材の一端が該保持体の一方の面に
おいて露出しており、また、該電気的導電部材の他端が
該保持体の他方の面において露出している電気的接続部
材と;少なくとも1以上の接続部を有し、該接続部にお
いて、該保持体の一方の面において露出している該電気
的導電部材のうちの少なくとも1つの一端が接続されて
おり、該接続は、該接続部と該他端とを金属化及び/又
は合金化することにより形成された接続体を介してなさ
れている少なくとも1以上の電気回路部品と; 少なくとも1以上の接続部を有し、該接続部において、
該保持体の他方の面において露出している該電気的導電
部材のうちの少なくとも1つの他端が接続されており、
該接続は、該接続部と該他端とを金属化及び/又は合金
化することにより形成された接続体を介してなされてい
る少なくとも1以上の他の電気回路部品と; を有し、保持体の一方の面において電気的接続部材に接
続されている電気回路部品および保持体の他方の面にお
いて電気的接続部材に接続されている電気回路部品の少
なくとも1つがキャップによりキャップ封止され、キャ
ップ封止されている電気回路部品とキャップとの間に調
整用部材が介在していることを特徴とする電気回路装置
にある。
以下に本発明の構成要件を個別的に説明する。
(電気回路部品) 本発明における電気回路部品としては、例えば、半導体
素子、樹脂回路基板、セラミック基板、金属基板等の回
路基板(以下単に回路基板ということがある)、リード
フレーム等があげられる。
なお、電気的接続部材に接続される電気回路部品は、保
持体の1つの面に、1つだけ存在してもいいし、複数個
存在してもいい。
電気回路部品として接続部を有する部品が本発明の対象
となる。接続部の数は問わないが、接続部の数が多けれ
ば多いほど本発明の効果が顕著となる。
また、接続部の存在位置も問わないが、電気回路部品の
内部に存在するほど本発明の効果は顕著となる。
なお、接続部は電気的導電部材である。
(電気的接続部材) 本発明に係る電気的接続部材は、電気絶縁材料からなる
保持体に複数の電気的導電部材が埋設されている。
埋設されている導電部材同士は電気的に絶縁されている
この電気的導電部材の一端は保持体の一方の面において
露出しており、他の一端は保持体の他方の面においてに
露出している。
さらに電気的接続部材は、1層あるいは2層以上の多層
からなるものでもよい。
(電気的導電部材) 電気的導電部材は電気的に導電性を示すものならば何で
もよい。金属材料が一般的であるが金属材料以外にも超
電導性を示す材料でもよい。
金属部材の材料としては、金が好ましいが、金具外の任
意の金属あるいは合金を使用することもできる0例えば
、Ag、Be、Ca、Mg。
Mo、Ni、W、Fe、Ti、In、Ta。
Zn、Cu、Al1.Sn、Pb−3n等の金属あるい
は合金があげられる。
また、金属部材および合金部材は同一の電気的接続部材
において同種の金属が存在していてもよいし異種の金属
が存在していてもよい、さらに、電気的接続部材の金属
部材および合金部材の1個が同種金属ないし合金ででき
ていても異種の金属ないし合金でできていてもよい、さ
らに、金属、合金以外であっても導電性を示すならば、
金属材料に有機材料または無機材料の一方または両方を
包含せしめた材料でもよい、また、導電性を示すならば
無機材料と有機材料との組合せでもよい。
さらに、電気的導電部材の断面は円形、四角形その他任
意の形状とするができる。
また、電気的導電部材の太さは特に限定されない。電気
回路部材の接続部のピッチを考慮して、例えば20μm
φ以上あるいは20μmφ以下にしてもよい。
なお、電気的導電部材の露出部は保持体と同一面として
もよいし、また、保持体の面から突出させてもよい。こ
の突出は片面のみでもよいし両面でもよい。さらに突出
させた場合はバンブ状にしてもよい。
また、電気的導電部材の間隔は、電気回路部品の接続部
同士の間隔と同一間隔としてもよいし、それより狭い間
隔としてもよい、狭い間隔とした場合には電気回路部品
と電気的接続部材との位置決めを要することなく、電気
回路部品と電気的接続部材とを接続することが可能とな
る。
また、電気的導電部材は保持体中に垂直に配する必要は
なく、保持体の一方の面側から保持体の他方の面側に向
って斜行していてもよい。
(保持体) 保持体は、電気的絶縁材料からなる。
電気的絶縁材料ならばいかなるものでもよい。
電気的絶縁材料としては有機材料、無機材料があげられ
る。また、電気的導電部材同士が電気的に絶縁されるよ
うに処理を施した金属材料でもよい。さらに、有機材料
中に、無機材料ないし金属材料よりなる粉体、繊維、所
望の形状をした材料の一種ないし複数種を分散させて保
有せしめてもよい、さらに、無機材料中に、有機材料な
いし金属材料よりなる粉体、繊維、所望の形状をした材
料の一種ないし複数種を分散させて保有せしめてもよい
、また、金属材料中に、無機材料ないし有機材料よりな
る粉体、繊維、所望の形状をした材料の一種ないし複数
種を分散させて保有せしめてもよい、なお、保持体が金
属材料よりなる場合は、例えば、電気的導電部材と保持
体との間に樹脂等の電気的絶縁材料を配設すればよい。
ここで、有機材料としては、例えば、絶縁性の樹脂を用
いればよい、樹脂を用いる場合には樹脂の種類も問わな
い、熱硬化性樹脂、紫外線硬化樹脂、熱可塑性樹脂のい
ずれでもよい0例えば、ポリイミド樹脂、ポリフェニレ
ンサルファイド樹脂、ポリエーテルサルフオン樹脂、ポ
リエーテルイミド樹脂、ポリスチレン樹脂、フッ素樹脂
、ポリカーボネート樹脂、ポリジフェニールエーテル樹
脂、ポリベンジルイミダゾール樹脂、ポリアミドイミド
樹脂、ポリプロピレン樹脂、ポリ塩化ビニル樹脂、ポリ
スチレン樹脂、メタクリル酸メチル樹脂、ポリフェニレ
ンオキサイド樹脂、フェノール樹脂、メラニン樹脂、エ
ポキシ樹脂、尿素樹脂、メラニン樹脂、塩化ビニリデン
樹脂、アルキッド樹脂、シリコーン樹脂その他の樹脂を
使用することができる。
なお、これらの樹脂の中から、熱伝導性のよい樹脂を使
用すれば、半導体素子が熱を持ってもその熱を樹脂を介
して放熱することができるのでより好ましい、さらに、
樹脂として、回路基板と同じかあるいは同程度の熱膨張
率を有するものを遭択し、また、有機材料中に少なくと
も1ケの穴あるいは複数の既報を存在せしめれば、熱膨
張・熱収縮に基づく、装置の信頼性の低下を一層防止す
ることが可能となる。
無機材料、金属材料としては後述する材料を用いればよ
い。
(接続;金属化及び/又は合金化による接続)電気的接
続部材の端と電気回路部品の接続との接続としては下記
の3つの構成が考えられる。
なお、1個の電気的接続部材に、1個または2個以上の
電気回路部品が接続されていてもよいが、その接続され
た電気回路部品のうちの少なくとも1個が下記の構成に
よる接続がなされていればよい。
■保持体の一方の面において露出している複数の電気的
導電部材の一端と、一方の電気回路部品の複数の接続部
とが、また、保持体の他方の面において露出している複
数の電気的導電部材の他端と、他方の電気回路部品の複
数の接続部とが、それぞれ、次の■および■で述べる金
属化及び/又は合金化以外の方法で接続されている構成
■保持体の一方の面において露出している複数の電気的
導電部材の一端と、一方の電気回路部品の複数の接続部
の少なくとも1つとを金属化及び/又は合金化すること
により形成された接続体を介して接続され、一方、保持
体の他方の面において露出している複数の電気的導電部
材の他端と、他方の電気回路部品の複数の接続部とが、
上記金属化及び/又は合金化以外の方法で接続されてい
る構成。
■保持体の一方の面において露出している複数の電気的
導電部材の一端と、一方の電気回路部品の複数の接続部
の少なくとも1つとを金属化及び/又は合金化すること
により形成された接続体を介して接続され、一方、保持
体の他方の面において露出している複数の電気的導電部
材の他端と、他方の電気回路部品の複数の接続部の少な
くとも1つとを金属化及び/又は合金化することにより
形成された接続体を介して接続されている構成。
次に上記接続体について述べる。
接続しようとする電気的導電部材と接続部とが同種の純
金属よりなる場合には、金属化により形成される接続体
は電気的導電部材あるいは接続部と同種の結晶構造とな
る。なお、金属化の方法としては、例えば、電気的導電
部材の端とその端に対応する接続部とを接触させた後、
適宜の温度に加熱すればよい、加熱により接触部近傍に
おいて原子の拡散等が生じ、拡散部が金属化状態となり
接続体が形成される。
接続しようとする電気的導電部材と接続部が異種の純金
属よりなる場合には、形成される接続体は両金属の合金
よりなる。合金化の方法としては、例えば、電気的導電
部材の端とその端に対応する接続部とを接触させた後、
適宜の温度に加熱すればよい、加熱により接触部近傍に
おいて原子の拡散等が生じ接触部近傍に固溶体あるいは
金属間化合物よりなる層が形成されこの層が接続体とな
る。
なお、電気的接続部材の金属部材にAuを使用し、電気
回路部品の接続部にA1を使用した場合には、200〜
350℃の加熱温度が好ましい。
接続しようとする電気的導電部材と接続部の一方が純金
属よりなり他方が合金よりなる場合、あるいは両者が同
種あるいは異種の合金よりなる場合には、接続体は合金
よりなる。
1個の電気的接続部材中における複数の電気的導電部材
同士についてみると、それぞれの電気的導電部材が同種
の金属あるいは合金よりなる場合、それぞれが異種の金
属あるいは合金からなる場合、複数の電気的導電部材の
うちいくつかが同種で同種でいくつかが異種の金属ある
いは合金よりなる場合その他の場合があるが、そのいず
れの場合であっても上記の金属化あるいは合金化が行な
われる。一方接縫部についても同様である。
なお、電気的導電部材あるいは接続部は、両者の接触部
において、金属あるいは合金であればよく、その他の部
分は例えば金属にガラス金属に樹脂が配合された状態で
あってもよい。
なお、接続強度を高めるためには、接続される部分の表
面粗度を小さくすることが好ましい(特に0.3μm以
下が好ましい)。また、接続される部分の表面に合金化
しやすい金属あるいは合金よりなるめっき層を設けてお
いてもよい。
上記の金属化あるいは合金化以外の接続を行なうには、
例えば電気回路部品と電気的接続部材の電気的導電部材
とを押圧して接続すればよい。
(キャップ) 本発明に係る電気回路装置は、電気回路部品をキャップ
封止するためのキャップを有している。
ここでキャップ封止とは、電気回路部品を包み込み、内
部に中空部が存在するように電気回路部品を封止するこ
とである。
キャップは、1つの電気回路部品にのみ設けてもよいし
、複数の電気回路部品に設けてもよい。
なお、キャップ封止する場合、電気回路部品が電気的接
続部材にしっかり保持されるように封止することが好ま
しい、たとえば、キャップの内部の面を、電気回路部品
の外側の表面形状に対応する形状とし、その面が電気回
路部品の外側の表面に当接するようにキャップ封止すれ
ばよい。
なお、キャップは、接着剤による貼り付は方法、機械的
方法、溶着による方法その他の任意の方法により、電気
回路部品あるいは他のキャップ(保持体の一方の面にあ
る電気回路部品と他方の面にある電気回路部品の両方が
キャップ封止されている場合)に接合すればよい。
(キャップの材料) キャップの材料は、金属材料、無機材料、有機材料なら
いかなるものでもよい。
金属材料としては、Cu系、Al2系、MO系、Ni系
、Fe系、W系、Ti系、Zn系その他の系の金属ある
いは合金があげられる。なお、金属材料が電気的絶縁を
要する場合は、電気的絶縁化処理を施せばよい。
無機材料としては、例えば、S i O21B2 0s
  、  A1.2 0s  *  N  A2 0.
  K2 0゜Cab、  ZnO,Bad、  Pb
O,Sb203 。
As2 03  、  La2 0.、  ZrO2、
Bad。
P2  O5、TiO2、MgO,S I C,Bed
BP、  BN、  A  IL N、  Ba  C
,TaC。
”l”iB2.  CrB2.  TiN、  Si3
N4 。
Ta20B等のセラミック、ダイヤモンド、ガラス、カ
ーボン、ボロンその他の無機材料があげられる。
なお、無機材料中には、金属材料、樹脂材料その他の材
料を分散せしめてもよい。
一方、有機材料は、熱硬化性樹脂、紫外線硬化型樹脂、
熱可塑性樹脂のいずれであってもよい。
さらに、これらの樹脂の中に、金属材料あるいは無機材
料の一方乃至両方からなる粉体あるいは繊維の一方又は
両方を分散せしめてもよい0分散せしめる場合、粉体あ
るいは繊維の形状、大きさ、分散位置、数量等は特に問
わない、さらに、これら樹脂の中に金属材料あるいは無
機材料の−方又は両方からなる板状体、棒状体、球状体
等の少なくと一種を埋め込んでもよい、この場合におい
ても板状体、棒状体、球状体等の埋め込み位置、形状、
大きさ、数量等は特に限定されない。
上記において、粉体、繊維、板状体、球状体等は、相互
に接触していてもよい。
(in用部材) 本発明ではキャップと電子回路部品との間に調整用部材
を介在せしめである。
m!1用部材部材料は、金属材料、無機材料、有機材料
のうちどれでもよいが、弾力性のある材料であることが
好ましい、。
また、形状は、電気回路部品の高さ方向の寸法が調整で
きれば、どのような形状でもよい。
[作用] 本発明では、上記した電気的接続部材を使用して、電気
回路部品と他の電気回路部品とを接続しているので、電
気回路部品の接続部を内部に配置することも可能となり
、接続部の数を増加させることができ、ひいては高密度
化が可能となる。
また、電気的接続部材を薄くすることが可能であり、こ
の面からも電気回路部材の薄型化が可能となる。
さらに、電気的接続部材に使用する金属部材の量は少な
いため、例え、高価である金を金4部材として使用した
としてもコスト低減が可能となる。
本発明において、電気回路部品の両方が、電気接続部材
を介して、金属化及び/又は合金化により形成された接
続体により接続されていると、電気回路部品同志が強固
(強度的に強く)かつ確実に接続されるので、接続抵抗
値は小さく、さらにそのバラツキも小さく、さらに機械
的に強く、不良率の極めて低い電気回路装置を得ること
ができる。
また、電気回路部品を、電気的接続部材を介して金属化
及び/又は合金化により形成された接続体により接続さ
れていると、電気回路装置の作成工程中及び作成後にお
いて、治具等を使用して電気回路部品を保持する必要が
なく、電気回路装置の作成及び作成後の管理が容易であ
る。
さらに、電気回路部品が、電気的接続部材を介して金属
化及び/又は合金化により形成された接続体により接続
されていると、電気回路部品相互の接触抵抗が、1つの
電気回路部品のみを接続した場合に比べてより小さくな
る。
一方、一方乃至他方の電気回路部品を金属化及び/又は
合金化による接続以外の接続により行なうと、金属化及
び/又は合金化時に生じる電気回路部品の熱による劣化
を防止することができる。
また、用途によっては電気回路部品を着脱自在にしてお
きたい場合があり、かかる場合にその電気回路部品を金
属化及び/又は合金化による接続以外の接続性なえば、
かかる要望に応じることが可能となる。
本発明においては、電気的接続部材の保持体として比較
的熱伝導性のよい材料を選択すれば、保持体の一方の面
の電気回路部品から、保持体の他方の面の電気回路部品
への熱伝導性、また、その逆の熱伝導性が良くなる。つ
まり、電気的接続部材の熱伝導性が良好であり、仮に、
保持体の一方の面の電気回路部品として発熱量の大きな
電気回路部品を使用し、保持体の他方の面の電気回路部
品として熱影響の少ない電気回路部品を選択したとする
と、一方の面の電気回路部品から発熱した熱は、電気的
接続部材を介して他方の面の電気回路部品へといち早く
伝導され、この熱は他方の電気回路部品から放出される
本発明では、電気回路部品とキャップが接触しており、
キャップに熱伝導の良い材料を選ぶと電気回路部品から
発生する熱がキャップへ速く伝導する。従って、放熱特
性の良好な電気回路装置を得ることが可能となる。
また、電気回路部品の熱膨張係数と電気的接続部材の熱
膨張係数とが相違する場合においては、電気回路装置に
熱が加わると、大きな熱応力が発生し、保持体、金属部
材、電気回路部品の割れあるいは電気回路装置の特性変
化という電気回路装置(例えば半導体装置)の信頼性を
損なうような現象が生ずることがある。しかるに、本発
明においては、電気的接続部材の保持体の熱膨張率係数
を、保持体の一方の面の電気回路部品さらには他方の面
の電気回路部品の熱膨張係数に近似した保持体を選択す
れば電気回路部品に熱が加わっても、熱応力は小さくな
り、上記したような電気回路装置の信頼性を損なうよう
な現象の発生を防止することができ、信頼性の高い電気
回路装置、例えば半導体装置を得ることができる。
本発明では、キャップと電気回路部品との間に中空部が
存在しているので、電気回路部品が封止材に埋没されて
いる場合の熱膨張係数差による熱応力の結果生じる電気
回路部品の特性劣化さらにはキャップの割れという信頼
性問題が防止できる。電気回路部品と封止材の熱膨張係
数の差が顕著な場合、特に有効となる。
なお、キャップに鉄系等の金属を用いた場合、外界から
のノイズ、また、電気回路部品から発生する電磁気ノイ
ズを防止でき、特性の良い電気回路装置が得られる。
また、本発明では電気回路部品とキャップとの間に調整
用部材を介在させているため、この調整用部材により、
電気回路部品の高−さ方向の寸法を調整でき、キャップ
の内部の形状を電気回路部品等に合わせていちいち作り
直す必要がない、さらに、電気回路部品の高さ以外に、
アセンブリー時の各寸法のバラツキも調整可能となり、
これは複数の電気回路部品を同一のキャップで封止する
場合に、特に有効である。
[実施例] (第1実施例) 本発明の第1実施例を第1図及び第2図に基づいて説明
する。
本実施例では、有機材料よりなる保持体111と、保持
体111中に埋設された電気的導電部材である金属部材
107とを有し、金属部材107の一端が保持体111
の一方の面において露出しており、また、金属部材10
7の他端が保持体の他方の面において露出している電気
的接続部材125と; 接続部102を有し、接続部102において、保持体1
11の一方の面において露出している金属部材107の
一端と合金化されて接続されている1つの半導体素子1
01と: 接続部105を有し、接続部105において、保持体1
11の他方の面において露出している金属部材107の
他端と合金化されて接続されている1つの回路基板10
4と; 半導体素子101および回路基板104の両方がそれぞ
れキャップ155,155°によりキャップ封止され、
半導体素子101、回路基板104とキャップ155,
155° との間に調整用部材156が介在している。
以下に本実施例をより詳細に説明する。
まず、電気的接続部材125の一製造例を説明しつつ電
気的接続部材125を説明する。
第2図に一製造例を示す。
まず、第2図(a)に示すように、20umφの金等の
金属あるいは合金よりなる金属線121を、ピッチ40
μmとして棒122に巻き付け、巻き付は後、ポリイミ
ド等の樹脂123中に上記金B線121を埋め込む、埋
め込み後上記樹脂123を硬化させる。硬化した樹脂1
23は絶縁体となる。その後、点線124の位置でスラ
イス切断し、電気的接続部材125を作成する。このよ
うにして作成された電気的接続部材125を第2図(b
)、(C)に示す。
このように作成された電気的接続部材125において、
金属線121が金属部材107を構成し、樹脂123が
保持体(絶縁体)111を構成する。
この電気的接続部材125においては金属部材となる金
属線121同士は樹脂123により電気的に絶縁されて
いる。また、金属線121の一端は半導体素子101側
に露出し、他端は回路基板104側に露出している。こ
の露出している部分はそれぞれ半導体素子101、回路
基板104との接続部108,109となる。
次に、第1図(a)に示すように、半導体素子101、
電気的接続部材125、回路基板104を用意する。本
例で使用する回路基板101、回路基板104は、その
内部に多数の接続部102,105を有している。
なお、半導体素子101の接続部102は、回路基板1
04の接続部105及び電気的接続部材125の接続部
108,109に対応する位置に金属が露出している。
半導体素子101の接続部102と、電気的接続部材1
25の接続部108とを、又は、回路基板104の接続
部105と電気的接続部材125の接続部109が対応
するように位置決めを行ない、位置決め後、半導体素子
101の接続部102のA1と電気的接続部材125の
接続部108のAuとをさらに回路基板104の接続部
105のAuと電気的接続部材125の接続部109の
Auとの両方を金属及び/又は合金化により接続する(
第1図(b))。
ここで、半導体素子101、電気的接続部材125、回
路基板104を、金属及び/又は合金化により接続する
には次の3方式が存在するが、そのいずれの方式によっ
てもよい。
■半導体素子101、電気的接続部材125、回路基板
104を位置決めした後、半導体素子101の接続部1
02と電気的接続部材125の接続部108とを、及び
回路基板104の接続部105と電気的接続部材125
の接続部109とを同時に金属化及び/又は合金化して
接続する方法。
■半導体素子101、電気的接続部材125とを位置決
めし、半導体素子101の接続部102と電気的接続部
材125の接続部108とを合金化して接続した後、回
路基板104を位置決めし、電気接続部材125の接続
部109と回路基板104の接続部105を金属化及び
/又は合金化して接続する方法。
■回路基板104と電気的接続部材125とを位置決め
し、回路基板104の接続部105と電気的接続部材1
25の接続部109とを金属化及び/又は合金化して接
続した後、半導体素子101を位置決めし、電気的接続
部材125の接続部108と半導体素子101の接続部
102を金属化及び/又は合金化して接続する方法。
次に、以上のようにして作成した部材(電気回路部材)
の電気回路部品をキャップ封止した。なお、本例では半
導体素子101と回路基板104の両方ともにキャップ
封止した。
キャップは第1図(C)に示すような形状のものを用い
た。すなわち、内部に2つの凹部を有するキャップ15
5,155°を用いた。この凹部のへこんだ部分が中空
部158,158’を形成し、凹部の、半導体素子10
1、回路基板104に面した部分に調整用部材156が
介在しており、半導体素子101、回路基板104は、
電気的接続部材125にしっかり保持されている。
なお、本例では、キャップ155,155°同士を接着
剤により接合した。
以上のようにして作成した電気回路装置につきその接続
部の接続性を調べたところ高い信頼性をもって接続され
ていた。また、放熱特性も良好であった。
さらに、各種特性の信頼性も優れていた。
(第2実施例) 第3図に第2実施例を示す。
本例は、接続部52を有する第1の電気回路部品として
回路基板51を、第2の電気回路部品として内部に多数
の接続部5を有する半導体素子4を使用した。
本例では電気的接続部材125として保持体が有機材料
にSin、よりなる粉末(図示せず)を分散させたもの
を使用した。
また、本例では、この電気的接続部材の接続部54と回
路基板51の接続部52とを金属化及び/又は合金化す
ることにより接続し、一方、電気的接続部材125と半
導体素子4との接続は金属化及び/合金化以外の接続法
で接続した。
なお、電気的接続部材125としては半導体素子4に対
応する寸法のものを使用した。
接続後は回路基板51の下面にリードフレーム55を接
続し、その後調整用部材156を半導体素子4とキャッ
プ155の間に挿入させ、キャップ155をリードフレ
ーム55、回路基板51と接着し、半導体素子4を調整
用部材156を介在させてキャップ155で封止した。
なお、キャップとの接合は接着による方法以外の方法で
もよい。さらに、調整用部材156とキャップ155、
半導体素子4とは、上記のように介在させる以外にも、
接着による方法、さらに他の方法でもよい。
他の点は第1実施例と同様である。
本例においても接続部は高い信頼性を持って接続されて
いた。また、放熱特性も良好であった。
さらに、各種特性の信頼性も優れていた。
(第3実施例) 第4図に第3実施例を示す。
本例は、第1の電気回路部品が半導体素子4゜4゛であ
り、第2の電気回路部品が回路基板51である例である
半導体素子4については合金化による接続を行なった。
接続後は回路基板51の上面にリードフレーム1を接続
し、半導体素子4とキャップ155との間に調整用部材
156を介在させ、キャップ155により封止した。
なお、本例は、2つの半導体素子4.4′の高さが異な
る例を示しである。
他の点は第1実施例と同様である。
本例においても接続部は高い信頼性を持って接続されて
いた。また、放熱特性も良好であった。
さらに、各種特性の信頼性も優れていた。
(第4実施例) 第5図に第4実施例を示す。
本例は、第1の電気回路部品が半導体素子4′であり、
N2の電気回路部品が半導体素子4である例であり、本
例では、電気的接続部材として半導体素子4に対応した
寸法のものを使用し、リードフレーム1を電気的接続部
材125の第1の半導体素子4′側に露出した金属部材
に接続している。
調整用部材156は半導体素子4°と、キャップ155
との間に介在せしめである。
なお、電気的接続部材125の絶縁体として有機材料中
に金属の粉体または繊維の一方または両方が分散された
ものを用いた。
第5図(b)は、両方が、金属化及び/又は合金化以外
の接続法により接続された例を示している。この場合の
封止は、半導体素子4,4°を押さえて封止した。
他の点は第3実施例と同様である。
本例においても接続部は高い信頼性を持って接続されて
いた。また、放熱特性も良好であった。
さらに、各種特性の信頼性も優れていた。
(第5実施例) 第6図に第5実施例を示す。
第5実施例は、第1の電気回路部品、第2の電気回路部
品として、接続部以外の部分が絶1tilI!103.
106で覆われている回路基板101゜104を使用し
ている例である。
また、電気的接続部材としては第7図に示すものを使用
した。すなわち、第7図に示す。電気的接続部材125
は、金属部材107の露出している部分が保持体(樹脂
絶縁体)111の面から突出している。このような電気
的接続部材125の作成は、例えば、次の方法によれば
よい。
まず、第1実施例で述べた方法により、第2図(b)、
(c)に示す電気的接続部材を用意する0次にこの電気
的接続部材の両面を、金属線121が、ポリイミド樹脂
123から10um程度突出するまでエツチングすれば
よい。
なお、本実施例では金属線121の突出量を10μmと
したが、いかなる量でもよい。
また、金属線121を突出させる方法としてはエツチン
グに限らず、他の化学的な方法又は機械的な方法を使用
してもよい。
他の点は第1実施例と同様である。
なお、突出部を、電気的接続部材125を金属線121
の位置に凹部を持った型に挟み込み、金属線!2!の突
起126をつぶすことにより第8図に示すようなバンブ
150を形成してもよい。
この場合金属線121は絶縁体111から脱落しにくく
なる。
なお、本例でも、金属線121が金属部材107を構成
し、さらに、樹脂123が絶縁体111を構成する。
なお、バンブを作成するのには突起を熱で溶融させ、バ
ンプを作成してもよいし、他のいかなる方法でもよい。
本例においても接続部は高い信頼性を持って接続されて
いた。また、放熱特性も良好であった。
さらに、各種特性の信頼性も優れていた。
(第6実施例) 第9図に第6実施例を示す。
本例は、第1の電気回路部品として半導体素子4を使用
し、第2の電気部品としてリードフレーム1を使用した
例である。
リードフレーム1の接続部6は4270イの表面にAg
めっきされているものを使用した。接続は超音波併用の
熱圧着法を使用した。
半導体素子4とキャップ155との間に調整用部材15
6を介在せしめた。なお、158は中空部である。
他の点は第5実施例と同様である。
本例においても接続部は高い信頼性を持って接続されて
いた。また、放熱特性も良好であった。
さらに、各種特性の信頼性も優れていた。
(第7実施例) 第10図に第7実施例を示す。
本例においては、電気的接続部材125は、第5実施例
に示した電気的接続部材と異なる。すなわち、本例の電
気的接続部材125においては、金属部材同士のピッチ
が第5実施例で示したものよりも狭くなっている。すな
わち、本例では、第1の回路基板接続部の間隔よりも狭
い間隔に金属部材107同士のピッチを設定しである。
つまり、第5実施例では、第1の回路基板101と第2
の回路基板104との接続位置に電気的接続部材125
の接続位置を配置したため、電気的接続部材125の位
置決めが必要であったが、本例では、第1の回路基板1
01と第2の回路基板104との位置決めは必要である
が、電気的接続部材125との位置決めは不要となる。
そのため、第1の回路基板101と第2の回路基板10
4の接続寸法(dtt、pz)と電気的接続部材の接続
寸法(d12.PI3)を適切な値に選ぶことにより位
置決めなしで接続することも可能である。
他の点は第1実施例と同様である。
本例りおいても接続部は高い信頼性を持フて接続されて
いた。また、放熱特性も良好であった。
さらに、各種特性の信頼性も優れていた。
(第8実施例) 第11図に第8実施例に使用する電気的接続部材を示す
第11図(a)は電気的接続部材の斜視図、第11図(
b)は上記電気的接続部材の断面図である。
かかる電気的接続部材の作成例を次に述べる。
まず、第1実施例に示した製法で、電気的接続部材12
8,129,130を3枚用意する。
1枚目128の金属!!a121の位置はm行n列目で
、ma、naだけ中心から変位している。2枚目129
の金属線121の位置はm行n列目でmac、mbcだ
け中心から変位している。3枚目130の金属線121
の位置はm行n列でmad、nbdだけ中心から変位し
ている。a、b。
c、dの値は上下の金属121は導通するが左右には互
いに電気的に導通しないような値をとる。
3枚の電気的接続部材を位置決めし、熱圧着等の方法を
用い積層し、電気的接続部材125を作成する。
なお、本例においては、電気的接続部材9金属の位置を
m行n列というように規則をもった位置を選んだが、上
下の金属が導通し、左右には互いに電気的に導通しない
ようにすればランダムでもよい。
また、本例では3層積層する場合について述べたが、2
枚以上であれば何枚でもよい、また、熱圧着の方法を用
いて積層すると述べたが、圧着、接着等の方法を用いて
もよい、さらに、本例の電気的接続部材を加工して第7
図に示すように突起を設けてもよいし、第8図に示した
ようにバンブ150を設けてもよい。
他の点は第1実施例と同様である。
本例においても接続部は高い信頼性を持って接続されて
いた。また、放熱特性も良好であった。
さらに、各種特性の信頼性も優れていた。
(m9実施例) 第12図に第9実施例に使用する電気的接続部材を示す
第12図(a)は電気的接続部材の製造途中の断面図、
第12図(b)は上記電気的接続部材の斜視図、第12
図<c>は上記の断面図である。
予めアルミナセラミックよりなる保持体122に、20
μmφより大きい径の穴142をあけておく0次に穴1
42に20μmφのAu等の金属あるいは合金よりなる
金R線121を通し、樹脂123を保持体122と金属
線121との間に入れ、樹脂123を硬化させる。硬化
した樹脂123は介在物となる。その後、金属線121
を点線124の位置でスライス切断し、電気的接続部材
125を作成する。このようにして作成した電気的接続
部材125を第12図(b)、(c)に示す。
また、本例の電気的接続部材を加工して、第7図に示す
ように突起を設けてもよいし、第8図に示すようにバン
ブ150を設けてもよい。
他の点は第1実施例と同様である。
本例においても接続部は高い信頼性を持って接続されて
いた。また、放熱特性も良好であった。
さらに、各種特性の信頼性も優れていた。
[発明の効果] 本発明は以上のように構成したので次の数々の効果が得
られる。
1、半導体素子と回路基板、リードフレーム等の電気回
路部品の接続に関し、信頼性の高い接続が得られる。従
って、従来用いられてきたワイヤボンディング方式、T
AB方式、CCB方式を置き代えることが可能となる。
2、本発明によると電気回路部品の接続部をいかなる位
置(特に内部)にも配置することができることからワイ
ヤボンディング方式、TAB方式よりもさらに多点接続
が可能となり、多ピン数接、続向きの方式となる。さら
に、電気的接続部材の隣接金属間に予め絶縁物質が存在
することにより隣接ピッチを狭くしても隣接金属間の電
気的導通が起こらないことによりCCB方式よりもさら
に多点接続が可能となる。
3、電気的接続部材において使用される金属部材の量は
従来に比べ微量であるため、仮(金R部材に金等の高価
な金属を使用しても従来より安価となる。
4、高密度の半導体装置等の電気回路装置が得られる。
5、第1要旨及び第2要旨では、一方乃至他方の電気回
路部品を金属化及び/又は合金化による接続以外の接続
により行なっているので、金属化及び/又は合金化時に
生じる電気@路部品の熱による劣化を防止することが!
きる。まも用途に−よっでは電気回路部品を着脱自在に
しておきたい場合があり、かかる場合にその電気回路部
品を金属化及び/又は合金化による接続以外の接続性な
えば、かかる要望に応じることが可能となる。
また、第3要旨では、電気回路部品の両方が、電気的接
続部材を介して金属化及び/又は合金化により形成され
た接続体を介して接続されているので、電気回路部品同
士が強固(強度的に強く)かつ確実に接続されるので、
機械的に強く、不良率の極めて低い電気回路装置を得る
ことができる。
6、電気回路部品に熱が発生しても、電気的接続部材さ
らにはキャップを介してその熱は外部に放熱される。従
って、放熱性の良好な電気回路装置を得ることができる
7.電気回路装置が中空になっているので熱が加わって
も熱応力の発生が少なく、信頼性の高い電気回路装置が
得られる。
もちろん、電気的接続部材の保持体の材料として半導体
素子及び回路基材と同じかあるいは同程度の熱膨張率を
持つ材料を選択することにより信頼性の良い半導体装置
等の電気回路装置が得られる。
また、キャップが電気回路部品に当接し、機械的に接触
した場合、熱応力が緩和でき信頼性の良い半導体装置等
の電気回路装置が得られる。
なお、電気的接続部材の絶縁体中に他の物質を埋めこん
だり、積層することにより、放熱性の良い、低応力でし
かもシールド効率が得られる電気回路装置が得られる。
8、キャップがノイズ遮蔽性の良い材料、特に鉄系等の
金属よりなる場合にはよりシールド効果が増す。
9、調整用部材を介在せしめているので、電気回路部品
の高さにバラツキが生じる場合でも効率よく組立てを行
なうことができる。
【図面の簡単な説明】 第1図は第1実施例を示す断面図であり、第1図(a)
は接続前、第1図(b)は接続後、第1図(e)は封止
後の状態を示す。第2図は第1実施例に使用する電気的
接続部材の一製造方法例を説明するための図であり、第
2図(a)は断面図、第2図(b)は斜視図、第2図(
C)は断面図である。第3図は第2実施例を示し、第3
図(a)は斜視図、第3図(b)は断面図である。 第4図は第3実施例を示す断面図である。第5図は第4
実施例を示す断面図である。第6図は第5実施例を示し
、第6図(a)は接続前、第6図(b)は接続後の状態
を示す断面図である。第7図及び第8図も第5実施例を
示し、第7図(a)及び第8図(a)は斜視図、第7図
(b)及び第8図(b)は断面図である。第9図は第6
実施例を示し、第9図(a)は接続前の状態を示す斜視
図であり、第9図(b)は接続後の状態を示す断面図で
ある。第10図は第7実施例を示す断面図であり、第1
0図(a)は接続前、第10図(b)は接続後の状態を
示す、第11図は第8実施例に係る電気的接続部材を示
し、第11図(a)は斜視図であり、第11図(b)は
断面図である。第12図は第9実施例に係る電気的接続
部材の一製造例を示し、第12図(a)、(C)は断面
図であり、第12図(b)は斜視図である。第13図乃
至第20図までは従来例を示し、第14図を除き断面図
であり、第14図は平面透視図である。 1・・・リードフレーム、2・・・リードフレームの素
子搭載部、3・・・銀ペースト、4,4゛・・・半導体
素子、5,5゛・・・半導体素子の接続部、6・・・リ
ードフレームの接続部、7・・・極細金属線、8・・・
樹脂、9・・・半導体装置、10・・・半導体素子の外
周縁部、11・・・リードフレームの素子搭載部の外周
縁部、16・・・キャリアフィルム基板、17・・・キ
ャリアフィルム基板のインナーリード部、20・・・樹
脂、21・・・樹脂、31・・・半田バンブ、32・・
・基板、33・・・基板の接続部、51・・・回路基板
、52・・・回路基板の接続部、54・・・電気的接続
部材の接続部、55・・・リードフレーム、63・・・
封止材、70.70’・・・金属材、71.71’・・
・絶縁膜、?2.72°・・・絶縁膜の露出面、?3,
73°・・・金属材の露出面、75,75°・・・回路
基材、76.76°・・・回路基材の接続部、77・・
・異方性導電膜の絶縁物質、78・・・異方性導電膜、
79・・・導電粒子、81・・・エラスチックコネクタ
の絶縁物質、82・・・エラスチックコネクタの金属線
、83・・・エラスチックコネクタ、101・・・電気
回路部品(半導体素子、回路基板)、102・・・接続
部、103・・・絶縁膜、106・・・絶縁膜、104
・・・電気回路部品(回路基板)、105・・・接続部
、107・・・金属部材、108・・・接続部、109
・・・接続部、111・・・保持体(絶縁体)、121
・・・金属線、122・・・棒、123・・・樹脂、1
24・・・点線、125・・・電気的接続部材、126
−・・突起、128.129.’130・・・電気的接
続部材、131.132・・・金属線案内板、150・
・・バンプ、155,155°・・・キャップ、158
゜158°・・・中空部。 第1図(a) 第1図(b) 第1図(C) +58      156    155第2図(a) 第2図(b)    第2tiA(c)第3図(a) 第3図(b) 第4図 第5図 第6図(a) 第6vA(b) 第7v!J(a) 第7図(bン 第8図(a) 第8図(b) 第9図(a) 第9図(b) 第10図(a) 第10図(b) 第11図(a) 第11図(b) 第12図(a) 第12図(b) 第 12 図 (Cン 第13図 第14図 第15図 第17図

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)電気的絶縁材料よりなる保持体と、該保持体中に
    埋設された複数の電気的導電部材とを有し、該電気的導
    電部材の一端が該保持体の一方の面において露出してお
    り、また、該電気的導電部材の他端が該保持体の他方の
    面において露出している電気的接続部材と; 少なくとも1以上の接続部を有し、該接続部において、
    該保持体の一方の面において露出している該電気的導電
    部材のうちの少なくとも1つの一端が接続されている少
    なくとも1以上の電気回路部品と; 少なくとも1以上の接続部を有し、該接続部において、
    該保持体の他方の面において露出している該電気的導電
    部材のうちの少なくとも1つの他端とが接続されている
    少なくとも、1以上の他の電気回路部品と; を有し、保持体の一方の面において電気的接続部材に接
    続されている電気回路部品および保持体の他方の面にお
    いて電気的接続部材に接続されている電気回路部品の少
    なくとも1つがキャップによりキャップ封止され、キャ
    ップ封止されている電気回路部品とキャップとの間に調
    整用部材が介在していることを特徴とする電気回路装置
  2. (2)電気的絶縁材料よりなる保持体と、該保持体中に
    埋設された複数の電気的導電部材とを有し、該電気的導
    電部材の一端が該保持体の一方の面において露出してお
    り、また、該電気的導電部材の他端が該保持体の他方の
    面において露出している電気的接続部材と; 少なくとも1以上の接続部を有し、該接続部において、
    該保持体の一方の面において露出している該電気的導電
    部材のうちの少なくとも1つの一端が接続されている少
    なくとも1以上の電気回路部品と; 少なくとも1以上の接続部を有し、該接続部において、
    該保持体の他方の面において露出している該の電気的導
    電部材のうちの少なくとも1つの他端が接続されており
    、該接続は、該接続部と該他端とを金属化及び/又は合
    金化することにより形成された接続体を介してなされて
    いる少なくとも1以上の他の電気回路部品と; を有し、保持体の一方の面において電気的接続部材に接
    続されている電気回路部品および保持体の他方の面にお
    いて電気的接続部材に接続されている電気回路部品の少
    なくとも1つがキャップによりキャップ封止され、キャ
    ップ封止されている電気回路部品とキャップとの間に調
    整用部材が介在していることを特徴とする電気回路装置
  3. (3)電気的絶縁材料よりなる保持体と、該保持体中に
    埋設された複数の電気的導電部材とを有し、該電気的導
    電部材の一端が該保持体の一方の面において露出してお
    り、また、該電気的導電部材の他端が該保持体の他方の
    面において露出している電気的接続部材と; 少なくとも1以上の接続部を有し、該接続部において、
    該保持体の一方の面において露出している該電気的導電
    部材のうちの少なくとも1つの一端が接続されており、
    該接続は、該接続部と該他端とを金属化及び/又は合金
    化することにより形成された接続体を介してなされてい
    る少なくとも1以上の電気回路部品と; 少なくとも1以上の接続部を有し、該接続部において、
    該保持体の他方の面において露出している該電気的導電
    部材のうちの少なくとも1つの他端が接続されており、
    該接続は、該接続部と該他端とを金属化及び/又は合金
    化することにより形成された接続体を介してなされてい
    る少なくとも1以上の他の電気回路部品と; を有し、保持体の一方の面において電気的接続部材に接
    続されている電気回路部品および保持体の他方の面にお
    いて電気的接続部材に接続されている電気回路部品の少
    なくとも1つがキャップによりキャップ封止され、キャ
    ップ封止されている電気回路部品とキャップとの間に調
    整用部材が介在していることを特徴とする電気回路装置
  4. (4)電気回路部品は、半導体素子、回路基板、または
    リードフレームである特許請求の範囲第1項乃至第3項
    のいずれかに1項に記載の電気回路装置。
  5. (5)封止材は、熱可塑性樹脂又は熱可塑性樹脂に金属
    、合金、無機材料の一種もしくは二種以上からなる粉体
    もしくは繊維の一方もしくは両方を分散したものである
    特許請求の範囲第1項乃至第4項のいずれか1項に記載
    の電気回路装置。
JP63038865A 1987-03-04 1988-02-22 電気回路装置 Pending JPH01214035A (ja)

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EP98102122A EP0854506A3 (en) 1987-03-04 1988-03-04 Electrically connecting member and electric circuit member
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5376825A (en) * 1990-10-22 1994-12-27 Seiko Epson Corporation Integrated circuit package for flexible computer system alternative architectures

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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