JPH01212369A

JPH01212369A - 信号波形検査方法

Info

Publication number: JPH01212369A
Application number: JP63037210A
Authority: JP
Inventors: Mitsuo Ohashi; 光男大橋; Yasutaka Kashima; 鹿島　保孝; Jun Nakagawa; 潤中川
Original assignee: NEC Home Electronics Ltd; Nippon Electric Co Ltd
Current assignee: NEC Home Electronics Ltd; NEC Corp
Priority date: 1988-02-19
Filing date: 1988-02-19
Publication date: 1989-08-25

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】〔産業上の利用分野〕本発明は信号波形検査方法に関し、特に被検査品からの
被測定信号の波形が所定の基準の波形成分を含んでなる
ことを判定できる信号波形検査方法に関する。

〔従来の技術〕

従来、パーソナルコンピュータやワードプロセッサ等か
ら出力されるデイスプレィ用の信号やその他の信号が正
常に出力されているか否かを検査するには次のようにし
ていた。すなわち、前記コンピュータやプロセッサから
出力されるデイスプレィ用の信号やその他の信号を予め
定めたパターンで出力するようにしておき、前記信号を
シンクロスコープ等に表示させ、これを検査する者が読
み取って基準値と一致するか否かを判定していた。

このような検査方法により、前記コンピュータやプロセ
ッサから出力される各種の信号が、正常であるか、或い
は異常であるかを判定することができる。また、前記信
号の検査方法を実現する検査装置も比較的簡単なもので
よいという利点がある。

〔発明が解決しようとする課題］しかしながら、上記従来の検査方法では、検査者は、検
査をするにあたり、ある程度の熟練を要するという問題
があった。また、上記検査方法では、長時間検査を続け
ていると検査に誤りが生じる他に、検査者に過度の緊張
を強いることになるという不都合があった。

本発明は、上記従来技術の課題を解決するためになされ
たもので、自動的に検査を行うことができるとともに、
正確に検査を実行できる信号波形検査方法を提供するこ
とを目的とする。

〔課題を解決するための手段〕

上記目的を達成するため、本発明に係る信号波形検査方
法は、被検査品を検査位置に搬入し・該検査位置から搬
出可能とされ、かつ該検査位置に搬入され測定可能とさ
れた被検査品からの被測定信号を検査する方法において
、前記被測定信号を波形解析し、その波形解析信号を予
め設定しておいた所定の判定基準と比較し、その比較結
果から合否の判定を行うことを特徴とする。

（作用）このような本発明によれば、前記被測定信号は、まず波
形解析される。この波形解析は、デジタルストレージオ
シロスコープにより、行われる。そして、その波形解析
された信号は、つぎに制：’ｉｌＪ装置に取り込まれて
、この装置内に予め設定されている波形の所定の判定基
準と比較される。この制御装置内において、前記判定基
準内に前記信号が入っていれば合格となり、入っていな
ければ不合格となる。このように、本発明によれば、信
号波形の合否の判定が自動的に行なわれることになる。

本発明によれば、このようになっているので、被検査品
の被測定信号の波形が所定の基準範囲内に入っているか
否かを自動的に判定することができ、かつ検査結果が正
確であり、しかも検査結果にバラツキがなくなり、長時
間の検査が可能となる。

〔実施例］以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明する。

第１図乃至第５図は本発明の詳細な説明するための図で
ある。

ここで、第１図は本信号波形検査方法の実施例を説明す
るために示すフローチャートである。第２図（１）及び
第３図は同実施例を説明するために示す波形図であり、
横軸に周波数を縦軸に電圧をそれぞれ取ったものである
。第２図（ｎ）は同実施例で設定される判定基準の例を
示す説明図である。また、第４図は本発明に係る信号波
形検査方法の実施例を実現する装置のブロック図であり
、第５図は同装置の要部を示すブロック図である。

第４図及び第５図に示す検査装置は次のように構成され
ている。すなわち、図中符号２は、被検査品であるとこ
ろの、電子回路が搭載された基板である。この基板２は
、図示しない搬送手段により信号波形検査装置４内に搬
入され、当該信号波形検査装置４にて所定の検査が終了
すると図示しない搬送手段により当該信号波形検査装置
４から搬出・搬送される。前記信号波形検査装置４は、
この装置内の所定位ｗＮに搬入された基板２を検査位置
Ｐに搬入してセットし・検査終了後に該検査位置Ｐから
所定位置Ｎに移動し、この位ｉＮから当該装置外に搬出
する機構（一部を除いて図示せず）を有している。この
機構の一部はロボット部６と称し、ロボット部６は、ロ
ボット７を設けた板体８と、この板体８を上下動させら
れるドライバ１０とから構成されている。このロボット
部６は、基板２が一定の位置Ｎに達すると、当該基板２
を板体８の押さえピン９をもって検査位ｉＰまで押下し
、その基板２の所定の回路部をフィックスチャ一部１２
の箱体１４に設けた接触針１６に当て付けることにより
当該検査値ｆｆＰで検査を実行し、検査完了した後には
基板２を一定の位置Ｎに戻すようになっている。

前記フィックスチャ一部１２は、箱体１４の図示上部に
接触針１６を設け、かっこの箱体１４に上記基板２の機
能を検査するための必要な前処理回路（図示せず）や、
電源回路（図示せず）を内蔵し、前記基板２に前記接触
針１６を介して指令信号や電力を供給したり、前記基板
２から前記接触針１６を介して信号を取り出したりでき
るように構成されている。前記フィックスチャ一部１２
には、信号線１７を介してディジタルストレージオシロ
スコープ１８が接続されている。また、このディジクル
ストレージオシロスコープ１８は、前記基板２の信号出
力部２Ａから出力される被測定信号を、接触針１６・フ
ィックスチャ一部１２・信号線１７を介して取り込み、
この信号を第２図（１）及び第３回に示すように静止波
形とし、その波形から所定の測定値（後述する）を求め
られるようになっている。

前記ディジタルストレージオシロスコープ１８は、多目
的インターフェースバス（ＣＰ−ＩＢ）１９を介して制
御装置２０に接続されており、この制御装置２０からの
指令を取り込んで測定レンジ等が設定されるようになっ
ており、かつ測定結果をＣＰ−ｌＢ１９を介して前記制
御装置２０に送り込めるようになっている。同様に、前
記基板２は、接触針１６・フィックスチャ一部１２・信
号線２１を介して前記制御装置２０の入出力装置（Ｉｌ
ｏ）２２に電気的に接続されており、前記制御装置２０
からの指令をｌ１０２２・フィックスチャ一部１２・接
触針１６を介して送り込めるようになっている。また、
この制御装置２０は、前記ディジタルストレージオシロ
スコープ１８からの測定値をＧＰ−ｌＢ１９を介して取
り込み、この測定値を第２図（ｎ）または第３図（Ｄ）
に示す判定基準と比較して合否の判定を行い、その判定
結果を出力できる構成となっている。

なお、ロボット部６のロボット７は制御装置２０からの
駆動指令Ｒにより駆動制御されるようになっており、か
つ前記ドライバｌＯは制御装置２０からの駆動指令Ｓに
より上下動が制御されるようになっている。そして、前
記ロボット部６は、前記基ｖｉ、２を検査位置Ｐに置い
た際に、前記基板２の所定の可動部材をロボット７をも
って移動させられるようになっている。

このように構成された検査装置の作用を第１図乃至第５
図に基づいて説明する。

まず、該基板２は、図示しない搬送手段により信号波形
検査装置４に搬入されて、所定の位置Ｎに置かれる。す
ると、制御装置２０によりドライバ１０が駆動されて板
体８を下降させるので、前記基板２は検査位置Ｐに置か
れる。前記基板２は、検査位置Ｐに置かれると、フィッ
クスチャ一部１２の接触針１６に接触されることにより
検査準備が完了することになり、その後動作状態にされ
る。

二のように当該基板２が動作状態にされると、制御装置
２０は、当該基板２及びフィックスチャ一部１２の各回
路を初期状態にする（ステップ１００）。また、このス
テップｌＯＯで、前記制御語２２０は、自己の所定のレ
ジスタ、カウンタｎ等を初期設定（ｎ＝０）するととも
に、例えば電ｆｉ５　（Ｖ）の電源電圧の検査、デイス
プレィ信号の検査を実行する場合に検査項数ＭａｘにＭ
ａｘ　＝　１をセントする。ついで、検査が終了したか
否か、すなわちｎ＞Ｍａｙ　（＝　１）に達したか否か
を判定する（ステップ１０１）。

このステップ１０１では、最初、カウンタｎはｎ＝ｏで
あるので、０＜Ｍａｘとなり、ステップ１０２に移る。

このステップ１０２では、カウンタｎがｎ＝０であるか
らステップ１０３に移り、このステップ１０３でディジ
タルストレージオシロスコープ１８に対して、電源５〔
ｖ］の電源電圧の検査に関する測定ができるように各種
の設定をする。すなわち、前記制御装置２０は、第３図
に示すように、所定の電源電圧５［■］が測定できるよ
うにするため、ディジタルストレージオシロスコープ１
８に対してその測定レンジや、測定周波数範囲を設定す
る。これにより、ディジタルストレージオシロスコープ
１８は、当該基板２からの電源電圧を取り込むことにな
る。そして、ディジタルストレージオシロスコープ１８
は、所定の測定をすることになる（ステップ１０４）。

ここで、制御装置２０は測定完了待ちしている（ステッ
プ１０５）。ディジタルストレージオシロスコープ１８
は、測定が終了するとその測定結果を出力するので、前
記制御装置２０は当該測定結果を取り込む（ステップ１
０６）。この測定結果を取り込んだ制御装置２０は、第
３図に示すように、所定の合格判定用の基準幅りが設定
されているので、この基準幅りに入っているか否かを判
定する（ステップ１０７，１０８）、このステップ１０
８で不合格と判定されるとステップ１０９に移り、不良
であることを記録する。また、ステップ１０８で合格の
判定がなされた場合は、ステップ１１０に移って合格の
記録がなされる。ステップ１０９．１１０のいずれかの
処理が終了すると、ステップ１１１に移り、このステッ
プ１１１でｎ＝ｎ＋１の計算がなされ（ｎ＝１）、ステ
ップ１０１に戻ることになる。

また、ステップ１０１では、検査が終了したか否か、す
なわちｎ＞Ｍａｙ（＝１）に達したか否かが判定される
（ステップ１０１）。このステップ１０１では、カウン
タｎはｎ＝１であるので、ｎ＝　Ｍａｘとなり、ステッ
プ１０２に移る。

このステップ１０２では、カウンタｎがｎ＝１であるか
らステップ１１２に移り、このステップ１１２でディジ
タルストレージオシロスコープ１Ｂに対して、デイスプ
レィ用信号の検査に関する測定ができるように各種の設
定をする。すなわち、前記制御装置２０は、第２図（１
）に示すように、例えば映像信号の水平同期信号の周期
Ｔ、そのパルス幅ＰＷ、そのパルスの振幅Ｉｎ＋＋映像
信号のフロントポーチＦＰ、バックポーチＢＰ、データ
表示期間ＤＴ等が測定できるようにするために、ディジ
タルストレージオシロスコープ１８に対して測定レンジ
等の設定をする。また、前記制御装置２０は、デイスプ
レィ用の信号を出力する指令を基板２に出す。これによ
り、ディジタルストレージオシロスコープ１８は、当該
基板２からのデイスプレィ用の信号（第２図（Ｉ）参照
）を取り込むことになる。そして、ディジタルストレー
ジオシロスコープ１８は、所定の測定をすることになる
（ステップ１０４）。ここで、制御装置２０は測定完了
待ちしている（ステップ１０５）。ディジタルストレー
ジオシロスコープ１８は、測定が終了するとその測定結
果を出力するので、前記制御装置２０は当該測定結果を
取り込む（ステップ１０６）。この測定結果を取り込ん
だ制御装置２０は、第２図（ｎ）に示すように、所定の
合格判定用の基準値５００が設定されているので、この
基準値５００に入っているか否かを判定する（ステップ
１０７，１０’８）。このステップ１０８で不合格と判
定されるとステップ１０９に移り、不良であることを記
録する。また、ステップ１０Ｂで合格の判定がなされた
場合は、ステップ１１０に移って合格の記録がなされる
。ステップ１０９．１１０のいずれかの処理が終了する
と、ステップ１１１に移り、このステップ１１１でｎ＝
ｎ＋１の計算がなされ（ｎ＝２）、ステップ１０１に戻
ることになる。

このステップ１０１では、ｎ＝２であるので、１＞Ｍａ
ｘとなり、ステップ１１３に進むことになる。このステ
ップ１１３では、検査結果を制御装置２０から出力し、
処理を終了する。

そして、ドライバ１０を駆動することにより板体８を上
昇させ、当該基板２を検査位置Ｐから所定位置Ｎに上昇
させ、しかる後に当該基板２を搬出して全ての検査を終
了とする。これら一連の処理が終了すると、再び上述し
た基板２の搬入からの動作を開始する。

この実施例によれば、従来人手で実行していた被検査品
の被測定信号の検査を、自動的に行うことができ、かつ
検査結果が正確であり、しかも検査結果にバラツキがな
くなる。

なお、上記実施例では、水平同期信号の検査で説明した
が、もちろん垂直同期信号や、所定の音響信号、クロッ
ク信号、その他の信号の波形解析をすることができるこ
とはいうまでもない。

〔発明の効果〕

以上述べたように本発明によれば、搬入搬出、検査の準
備、及び検査が自動的に可能とされており、かつ被検査
品の被測定信号の波形から得た信号を基準信号と比較し
て所定の信号が出力されるいるのかを判定できるので、
検査の自動化ができるとともに、検査が正確に、しかも
迅速に行うことができるという効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の実施例を示すフローチャート、第２図
及び第３図は同実施例を説明するために示す説明図、第
４図は同実施例を実現する検査装置を示すブロック図、
第５図は同装置の妻部を示すブロック図である。２・・・基板（被検査品）、４・・・信号波形検査装置
、１２・・・フィックスチャ一部、１８・・・ディジタ
ルストレージオシロスコープ、２０・・・制御装置、Ｐ
・・・検査位置。代理人　弁理士　村　上　友　− 第１図第２図（Ｉ）第３図

Claims

【特許請求の範囲】

（１）被検査品を検査位置に搬入し、該検査位置から搬
出可能とされ、かつ該検査位置に搬入され測定可能とさ
れた被検査品からの被測定信号を検査する方法において
、前記被測定信号を波形解析し、その波形解析信号を予
め設定しておいた所定の判定基準と比較し、その比較結
果から合否の判定を行うことを特徴とする信号波形検査
方法。