JPH01206469A - 認識装置 - Google Patents

認識装置

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Publication number
JPH01206469A
JPH01206469A JP63031128A JP3112888A JPH01206469A JP H01206469 A JPH01206469 A JP H01206469A JP 63031128 A JP63031128 A JP 63031128A JP 3112888 A JP3112888 A JP 3112888A JP H01206469 A JPH01206469 A JP H01206469A
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JP
Japan
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projection
circuit
values
pattern
value
Prior art date
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Pending
Application number
JP63031128A
Other languages
English (en)
Inventor
Tetsuo Hizuka
哲男 肥塚
Noriyuki Hiraoka
平岡 規之
Hiroyuki Tsukahara
博之 塚原
Giichi Kakigi
柿木 義一
Masahito Nakajima
雅人 中島
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概 要〕 印字品質を検査するための認識装置に係り、特に印字の
かすれ検出時のS/Nを向上させることができる認識装
置に関し、 複数文字を同時にXまたはY軸上に投影することによっ
て正常部分での投影値のばらつきを平滑化してかすれ部
分の検出を容易にした印字検査用認識装置を提供するこ
とを目的とし、 印字された複数の同一パターンについてそれぞれ同一軸
上にその濃度値を投影する投影手段と、該複数の投影値
について基準値からの位置ずれを検出する位置決め手段
と、該位置決め情報に応じて複数の投影値を同一軸上に
さらに投影する複数投影手段と、該複数投影値における
異常値によつて印字パターンにおける異常検出を行う判
定手段とを具えて構成される。
〔産業上の利用分野〕
本発明は印字品質を検査するための認識装置に係り、特
に印字のかずれ検出時のS/Nを向上させることができ
る認識装置に関するものである。
ドツトプリンタにおける印字品質を検査する際には、テ
ストシートに種々のパターンを実際に打ち出して、その
ときの印字状態を濃淡、かすれ、欠は等の諸点から検査
して印字品質の評価を行う。
本発明の認識装置はこのうち特に、プリント用ピンの一
部の欠陥に基づく横方向のかすれの検出に有効なもので
ある。
〔従来の技術〕
従来の印字品rt検査用認識装置においては、テストシ
ートに打ち出された個々のパターン(文字図形)ごとに
、濃度値をXまたはY軸上に投影することによって評価
を行っていた。
第4図はテストシート 示したものである。同図においては黒丸印を行方向に連
接して印字してなる場合が例示されている。
第5図は第4図に示されたパターンに対する従来の検査
方法を説明したものである。同図において(a)は印字
された1個のパターンを示し、図示のような黒丸印の一
部に横方向のかすれ八を伴う場合を例示している。(b
lは(alに示された図形を構成する各画素の濃度値(
明るさ)を指定範囲WについてY軸−ヒに累加して投影
した値d (y)を示す。
指定範囲Wは黒丸印を印字するために用いたキャラクタ
ジェネレータなどの原パターンから作成される。(b)
において、Y軸の中央部は累加する画素数が多いため稙
が小さく、上下両端に近づくに従って累加する画素数が
少なくなるため値が大きくなるが、中央部においてはか
すれAに基づく明部のために、aで示す突出した値の部
分を生じることが示されている。(Clは(alで示さ
れた印字パターンに対する原パターンの画素(ドツト)
数をY軸上に投影した投影ビット数b (y)を示し、
中央部で大きく、上下両端において小さくなる値を示し
ている。(dlは(blに示すY軸方向投影値を(Cl
に示す画素分布によって正規化した正規化投影値n(y
)を示している。この場合各水平ライン(y)のY軸投
影値d (y)を投影ビット数b (y)で割ることに
よって正規化されて、(dlに示す分布n(y)が得ら
れる。正規化投影値n(y)においても、その中央部に
かすれ八に起因する突出値a′を有するので、この部分
を検出することによって印字パターンにおけるかすれの
存在を検査することができろ。
〔発明が解決しようとする課題〕
従来の印字品質検査方法は第5図に示すように、印字さ
れた個々の文字パターンごとにその25度値をXまたは
Y軸上に投影して評価するものであった。
しかしながら個々の印字パターンごとの投影値は正常部
分でもその値にばらつきがあり、そのため欠陥部分を明
確に分離して判定を行うことがデ(tしいという問題が
あった。
本発明はこのような従来技術の問題点を解決しようとす
るものであって、複数文字を同時にXまたはY軸上に投
影することによって正常部分での投影値のばらつきを平
滑化して、不良部分(かすれ部分)の検出を容易にした
印字検査用認識装置を提供することを目的としている。
〔課題を解決するための手段〕
第1図は本発明の原理的構成を示したものであって、投
影手段lと、位置決め手段2と、複数投影手段3と、判
定手段4とを具えて構成される。
投影手段1は、印字された複数の同一パターンについて
それぞれ同一軸上にその濃度値を投影するものである。
位置決め手段2は、複数の投影値について基準値からの
位置ずれを検出するものである。
複数投影手段3は、この位置決め情報に応じて複数の投
影値を同一軸上にさらに投影するものである。
判定手段4は、複数投影値における異常値によって印字
パターンにおける異常検出を行うものである。
〔作 用〕
第2図は本発明の詳細な説明するものであって、(1)
〜(5)はそれぞれ1,2,3,4. ・−−−−−、
n番目の印字パターンに対して濃度値をY輔ヒに投影し
て正規化した、正規化投影値n+ (yl、  n2(
!l’)、  n:1(yl、  n 4 (y)、・
・・、n、、(’/)を示している。この場合、それぞ
れの文字パターンは印字位置にばらつきがあり、基準Y
座標値Y+ 、Y2.Yz+  Y4.・・・・・・、
ynはそれぞれうcなっており、このままでは各正規化
投影値を同時に投影して累加ずろことはできない。
そのため各印字パターンに対してパターンマツチング等
の手法によって位置ぎめを行って、例えば前述の基ン1
ζY庄標値を一敗させる処理を行う。
これによってそれぞれの文字パターンの対応する部分は
同じ座標軸位置となるので、同時に投影してそれぞれの
値を累加することができる。
第2図において、(6)はこのようにして位置合ゎせを
行ったのち、各印字パターンの正規化投影値を同時に投
影して平均化した場合の正規化投影値N(j)を示して
いる。すなわち正規化投影値N(j)は次式によって求
められるものである。
NfJ)=Σni (yi+j) i=1 このようにした場合、(11〜(5)に示す各印字パタ
ーンの正規化投影値上に存在する、印字パターンのかす
れに基づく突出値A+ 、Az 、A3 、A4 。
・・・・・・、Aylは、(6)に示す正規化投影値に
おいては同じ場所について正規化されて突出値Ajを形
成するようになる。この際正常部分の投影値に存在する
ばらつき(雑音)は平滑化されるが、突出値Ajはより
強調されて正常部分との差kを容易に検出できるように
なる。
第3図は本発明の一実施例を示すブロック図である。
11は撮像装置であってテレビカメラ等からなり、第4
図に示されたような文字パターンを印字されたテストシ
ートを撮像する。撮像装置11からの画像信号はアナロ
グディジクル(A/D)変換器12を経てディジタル信
号に変換され、フレームメモリ13に入力されて画面ご
とに記pされる。投影回路14はフレームメモリ13か
ら読み出された文字パターンを、第5図(a)において
Wで示す指定範囲内で例えばY軸上に投影して、第5図
(blに示すような濃度値分布を作成する。
また15は辞書メモリであって、第5図(alに示すよ
うな印字パターンに対する原パターンをドツト情taと
して正常な印字位置の情報とともに記憶している。パタ
ーンマツチング回路16はフレームメモリ13における
それぞれの文字パターンを一定のウィンドウMの範囲に
ついて切り出し、これと辞書メモリ15における文字パ
ターンと位置の比1校を行って、位置ずれの情報を出力
する。
複数投影回路17は投影回路14から出力されたテスト
シートにおける1行分の印字パターンの、各濃度投影値
を、パターンマツチング回路16の位置ずれの情報を用
いて位置合わせして、Y軸上において累加して平均化す
る。正規化回路18は、辞書メモリ15における当該文
字パターンについての第4図(C)に示す投影ビット数
の情報によって、複数投影回路17の平均化された濃度
分布を正規化して、正規化された投影値を得る。判定回
路19は正規化回路18の出力投影値において、正常部
分より突出した値(異常値)を持つ部分があったとき、
これによって文字パターンにおけるかすれの存在を判定
して検出信号を発生する。
なお以上の実施例においては、複数投影回路17におい
て複数印字パターンの投影値の平均化を行ったのちに、
正規化回路18において投影ピッI・数の情報を用いて
正規化するようにしているが、投影回路14において各
印字パターンについての投影値を作成したのちに辞書メ
モリ15の情報を用いて、それぞれ正規化し、正規化さ
れた複数の投影値について位置合ねせを行って複数投影
回路17において平均化を行って、正規化された平均値
の投影値を得るようにしてもよい。
〔発明の効果〕
このように本発明によれば、印字された文字の品質を検
査する際に、複数の文字から得られたそれぞれの濃度投
影値を同時に投影することによって、印字パターンの投
影値における正常部分のばらつきを平滑化して不良部分
くかすれ部分)を強調することができるので、かすれ部
分検出時のS/Nを向上させることができ、従ってこの
ような部分を正しく検出することができる。
本発明によれば印字パターンにおけるかすれだけでなく
、欠けの検出に対しても有効である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の原理的構成を示す図、第2図は本発明
の詳細な説明する図、 第3図は本発明の一実施例を示すブロック図、第4図は
印字パターンを例示する図、 第5図は従来の印字品質検査方法を示す図である。 11・・・撮像装置 12・・・アナ1コグデイジタル(Δ/D)変換器13
・・・フレームメモリ 14・・・投影回路 15・・・辞書メモリ 16・・・パターンマッチンクPH3 17・・・複数投影回路 18・・・正規化回路 19・・・判定回路 特許出願人  富 士 通 株式会社 代理人 弁理士 玉 蟲 久五部 (外1名) 本発明の原理8つ構成と示す図 第1図 本発明の詳細な説明する図 第  2  図 本発明の一実施例E示す図 第3図 印字パターンの例8示す図 第4図 (a)(b) 従来の印字品つ 第 ビ・ノド紋       正現化設影イ直(C)   
        cd) 暖検査方法を示す図 5 図

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)印字された複数の同一パターンについてそれぞれ
    同一軸上にその濃度値を投影する投影手段(1)と、 該複数の投影値について基準値からの位置ずれを検出す
    る位置決め手段(2)と、 該位置決め情報に応じて複数の投影値を同一軸上にさら
    に投影する複数投影手段(3)と、該複数投影値におけ
    る異常値によつて印字パターンにおける異常検出を行う
    判定手段(4)とを具えてなることを特徴とする認識装
    置。
  2. (2)前記投影手段(1)における各投影出力が該印字
    パターンの原パターンによつて正規化されたものである
    ことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の認識装置
JP63031128A 1988-02-13 1988-02-13 認識装置 Pending JPH01206469A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63031128A JPH01206469A (ja) 1988-02-13 1988-02-13 認識装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63031128A JPH01206469A (ja) 1988-02-13 1988-02-13 認識装置

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JPH01206469A true JPH01206469A (ja) 1989-08-18

Family

ID=12322787

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JP63031128A Pending JPH01206469A (ja) 1988-02-13 1988-02-13 認識装置

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JP (1) JPH01206469A (ja)

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