JPH01198468A - 薄膜形成装置 - Google Patents

薄膜形成装置

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JPH01198468A
JPH01198468A JP2482988A JP2482988A JPH01198468A JP H01198468 A JPH01198468 A JP H01198468A JP 2482988 A JP2482988 A JP 2482988A JP 2482988 A JP2482988 A JP 2482988A JP H01198468 A JPH01198468 A JP H01198468A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 技術分野 本発明は、金属薄膜或いはIC,LSIなどを構成する
半導体薄膜などの形成に適した薄膜形成装置に関する。
従来技術 従来、被薄膜形成基板上に薄膜を形成する手段としては
、種々のものが提案され、その方法も極めて多岐にわた
っている。主なものとしても、例えばイオンブレーティ
ング法やCVD法やPVD法などがある。
例えば、蒸発源と被蒸着物の間に高周波電磁界を発生さ
せて、活性ガス又は不活性ガス中で蒸発した物質をイオ
ン化して真空蒸着を行なうイオンブレーティング法があ
る。また、蒸発源と被蒸着物との間に直流電圧を印加す
るDCイオンブレーティング法もある。これらのイオン
ブレーティング法は、例えば特公昭52−29971号
公報や特公昭52−29091号公報等により知られて
いる。
この他、各種の薄膜形成方法・装置がある。
しかし、従来の薄膜形成方式による場合には、形成され
た薄膜の基板に対する密着性が弱かったり、耐熱性のな
い基板への膜形成が困難という欠点を有している。
目的 本発明は、このような点に鑑みなされたもので、基板上
に極めて強い密着性を持つ緻密な薄膜を形成することが
でき、この際、基板として耐熱性のない例えばプラスチ
ックス板などをも用いることができる薄膜形成装置を得
ることを目的とする。
構成 本発明は、上記目的を達成するため、活性ガス又は不活
性ガス或いは活性ガスと不活性ガスとの混合ガスが導入
される真空槽と、この真空槽内において蒸発物質を蒸発
させる蒸発源と、前記真空槽内に配設されて前記蒸発源
に対向する状態で薄膜形成用の基板を保持する対向電極
と、前記蒸発源と対向電極との間に配置されて前記蒸発
物質が通過する隙間を有するグリッドと、このグリッド
と前記蒸発源との間に配置させた熱電子発生用のフィラ
メントと、前記対向電極の電位を前記蒸発源の電位に対
し同電位又は負電位とし前記グリッドの電位を交流電位
とする電源手段とからなることを特徴とする。
以下、本発明の一実施例を図面に基づいて説明する。ま
ず、真空槽1が設けられている。この真空槽lはベース
プレート2上にベルジャ3をバッキング4を介して一体
化することにより構成されている。ここに、ベースプレ
ート2の中央部には孔2aが形成されて図示しない真空
排気系に連結され、真空槽l内の気密性を維持しつつ、
周知の方法により真空槽1内に活性ガス又は不活性ガス
或いは活性ガスと不活性ガスとの混合ガスを導入し得る
ように構成されている。例えば、真空槽1に対してはO
8等の活性ガスを収納したボンベ6がバルブ7を介して
連結され、Ar等の不活性ガスを収納したボンベ8がバ
ルブ9を介して連結されている。
そして、このような真空槽1内には上方から下方に向け
て順に対向電極10とグリッド11とフィラメント12
と蒸発源13とが適宜間隔をあけて設けられている。こ
れらの部材は、各々支持体を兼用する電極14,15,
16.17により水平状態に支持されている。これらの
電極14〜17は何れもベースプレート2との電気的な
絶縁性を保つ状態でベースプレート2を貫通して真空槽
l外部に引出されている。即ち、これらの電極14〜1
7は真空槽1の内外の電気的な接続・給電を行なうため
のもので、その他の配線具とともに導電手段となり得る
ものであり、ベースプレート2の貫通部等においては気
密性が確保されている。
ここで、一対の前記電極17により支持された蒸発源1
3は蒸発物質を蒸発させるためのものであり、例えばタ
ングステン、モリブデンなどの金属をコイル状に形成し
てなる抵抗加熱式として構成されている。もつとも、コ
イル状に代えて、リボン状に形成したものでもよい。更
には、このような蒸発源に代えて、電子ビーム蒸発源な
どのように従来の真空蒸着方式で用いられている蒸発源
であってもよい。
また、電極14に支持された対向電極10には、前記蒸
発源13に対向する面(下面)側に位置させて、薄膜を
形成すべき基板18が適宜の方法により保持されている
さらに、一対の電極16により支持されたフィラメント
12は熱電子発生用のものであり、タングステンなどに
より形成されている。このフィラメント12の形状とし
ては、例えば複数本のフィラメントを平行に配列させた
り、網目状に配列させてなり、前記蒸発源13から蒸発
した蒸発物質の粒子の広がりをカバーし得るように設定
されている。
そして、電極15により支持されたグリッド11は、蒸
発物質が通過する隙間を有する形状、例えば網目状に形
成されている。
また、このように真空槽1内に設けた対向電極10、グ
リッド11、フィラメント12、蒸発源13等の部材を
電位的に所定の電気的な関係とする電源が真空槽1外に
設けられ、前記各電極14〜17を利用してこれらの各
部材に接続されている。
まず、蒸発源13は電極17を介して電源手段の一つと
なる加熱用の交流電源19の両端に接続されている。次
に、フィラメント12は電極16を介して交流電源20
の両端に接続されている。
さらに、グリッド11は電極15を介して電源手段の一
つとしての交流電源21の一端に接続されている。これ
により、グリッド11は交流電位におかれる。即ち、グ
リッド11の電位は交流電源21の周波数に従い時間的
に変化するものとなる。
また、対向電極lO用の電極14は電源手段の一つとし
ての直流電源22の負側に接続されている。
もつとも、この直流電源22は必ずしもなくてもよい。
何れにしても、対向電極10の電位は蒸発源13の電位
に対し同電位又は負電位となるように設定される。
なお、図中に示す接地は必ずしも必要ではない。
また、実際的なこれらの電気的な接続には、種々のスイ
ッチ類を含み、これらの操作により、基板18上への成
膜プロセスを実施するわけであるが、これらのスイッチ
類については省略する。
このような薄膜形成装置の構成による薄膜形成動作につ
いて説明する。まず、図示の如く、薄膜を形成すべき基
板18を対向電極10に保持セットさせる一方、蒸発源
13には蒸発物質を保持させる。用いる蒸発物質はどの
ような薄膜を形成するかに応じて定められるものである
が、例えば、アルミニウムや金などの金属、或いは金属
の酸化物、弗化物、硫化物、或いは合金等が用いられる
また、真空槽1内は予め10−’ 〜1 ’O−’To
rrの圧力とされ、これに必要に応じて、活性ガス又は
不活性ガス或いはこれらの混合ガスが10−’〜lO″
”Torrの圧力で導入され′る。ここでは、説明の具
体性のため、例えばアルゴンArなどの不活性ガスが導
入されているものとする。
このような状態で、本装置の電源を作動させ、グリッド
11に交流電位、対向電極10に負の電位を印加させ、
フィラメント12に電流を流す。
フィラメント12は抵抗加熱により加熱され、熱電子を
放射する。ここに、真空槽1内のアルゴン分子はこのフ
ィラメント12から放出された熱電子との衝突によりそ
の外殻電子が゛はじき出され、正イオンにイオン化され
る。一方、蒸発源13に保持された蒸発物質は加熱によ
り蒸発する。蒸発源13から蒸発した物質、即ち蒸発物
質の粒子は上方の基板18に向かって広がりつつ飛行す
る。
この際、その一部及び前述した導入ガスもフィラメント
12からの熱電子との衝突により外殻電子がはじき出さ
れ、やはり正イオンにイオン化される。
このように一部イオン化された蒸発物質はグリッド11
に到達する。この際、グリッド11と基板18との間の
電界と、グリッド11と蒸発源13との間の電界が逆向
きに形成され、゛それが、グリッド11には交流電源2
1により交流が印加されていることによりグリッド電位
の周波数に従い時間的に変化するものとなっている。よ
って、このような蒸発物質はグリッド11とフィラメン
ト12との間においてグリッド11に印加された交流電
圧により振動運動する。これにより、熱電子及び前述の
如くイオン化された導入ガスの衝突により、さらにイオ
ン化が促進される。
グリッド11を通過した蒸発物質中、いまだイオン化さ
れていない部分は、さらにグリッド11と基板18との
間において、前述の如くイオン化された導入ガスとの衝
突により、正イオンにイオン化され、イオン化率が高め
られる。
このようにして正イオンにイオン化された蒸発物質は基
板18に向かって飛翔するが、その質量が電子のそれよ
り著しく大きいため(最も質量の軽い水素イオンでも電
子の約1800倍)、グリッド11と基板18との間の
電位の変化には急速には応答することなく、遂には高い
エネルギーを持って基板18に衝突付着する。これによ
り、非常に密着性のよい薄膜が基板18上に形成される
熱電子は最終的には、その大部分がグリッド11に吸収
される。即ち、フィラメント12からの熱電子はフィラ
メント温度に対応する運動エネルギーを持ってフィラメ
ントから放射されるので、グリッド電位が正の場合には
グリッド11に吸引され、負の場合にはグリッド11に
反発され、フィラメント12とグリッド11との間で往
復運動を行なう。この間において、蒸発物質や導入ガス
をイオン化し、グリッドlトフィラメント12間で振動
運動を繰返し、遂にはグリッドjlに吸収されるので、
基板18へは達しない。よって、基板18は熱電子によ
る衝撃を受けず、熱電子の入射による加熱もなく、基板
18の温度上昇も防止できる。従って、プラスチックス
等の耐熱性のない材質のものでも基板18として用い得
る。
このように、本実施例によれば、蒸発物質のイオン化が
極めて高いので、真空槽1内に活性ガスを単独で、或い
は不活性ガスとともに導入して成膜を行なうことにより
、蒸発物質と活性ガスとを化合させ、この化合による化
合物薄膜を形成する場合であっても、所望の物性を有す
る薄膜を容易に得ることができる。
例えば、不活性ガスとしてアルゴンAr、活性ガスとし
て機素02を導入し、真空槽1内の圧力を10””To
rrに調整し、蒸発物質としてアルミニウムAQを選択
すれば、基板18上にAQsO。
の薄膜を形成することができる6また、蒸発物質として
Si又はSiOを用いれば3i0.の薄膜を得ることが
できる。蒸発物質としてInやZnを選択すれば、各々
In、O,、Z n Oの薄膜を得ることができる。一
方、ガスとしてH,S、蒸発物質としてC、dを選択す
ればCdSの薄膜を得ることができる。さらに、活性ガ
スとしてアンモニアをアルゴンとともに用い、かつ、蒸
発物質としてTi又はTaを用いれば、各々TiN又は
TaNなどの簿膜を得ることも可能である。
ところで、本実施例においては、真空槽1内のガスのイ
オン化には、フィラメント12による熱電子が有効に寄
与するので、10−’Torr以下の圧力の高真空下に
おいても蒸発物質のイオン化が可能である。二のため、
薄膜中へのガス分子の取込みを極めて少なくすることが
できるため、高純度かつ緻密な薄膜を得ることができる
。即ち1通常は薄膜の密度はバルクのそれより小さいと
されているが、本実施例によれば、バルクの密度に極め
て近似した密度が得られるという特徴を持つ。
この結果、本実施例方式の薄膜形成装置によれば、*膜
の膜厚、抵抗値等が均一となるので、IC。
LSIなどを構成する半導体薄膜や、その電極としての
高純度な金属薄膜の形成、さらには光学薄膜の形成に極
めて適したものとなる。
結局1本発明は、強い反応性を持たせる二とができると
いうCVD法の長所と、緻密な強い膜形成を可能とする
高真空中で成膜するというPVD法の長所とを同時に実
現する、従来に無い画期的な薄膜形成装置といえる。そ
して、蒸発物質がイオン化し、高いエネルギーを電気的
に有する(電子・イオン温度)ので、反応性を特徴とす
る特許や結晶化を必要とする成膜を、温度(反応温度や
結晶化温度)という熱エネルギーを与えることなく実現
でき、低温成膜が可能となる。従って、基板18として
は耐熱性の弱いプラスチックス板などであってもよいも
のとなる。よって、IC,LSI等の生産性の向上、光
学薄膜などの品質の向上等を達成することができ、半導
体分野や光学分野に応用し得るものとなる。
なお、グリッド11に印加する交流電位を高周波交流電
位とさせる高周波電源を交流電源として用いれば、前述
したイオン化はこの高周波電位により、さらに促進され
、前述し、た種々の効果は増大され、−層効果的なもの
となる。
効果 本発明は、上述したように、グリッドには交流電圧を印
加し、逆向きに設定されたグリッド・基板間の電界及び
グリッド・蒸発源間の電界がグリッド電位の周波数に従
い時間的に変化させるようにしたので、蒸発源からの蒸
発物質のイオン化をフィラメントからの熱電子によって
極めて高い状態で行なわせることができ、基板上に付着
力、膜表面の平滑性或いは結晶性に優れた薄膜を成膜す
ることができ、この際、高イオン化により高いエネルギ
ーを有するので、熱エネルギーを付与しない低温成膜も
可能となり、基板としては耐熱性の劣るプラスチックス
板等をも用いることができる。
【図面の簡単な説明】
図面は本発明の一実施例を示す概略正面図である。 1・・・真空槽、10・・・対向電極、11・・・グリ
ッド、12・・・フィラメント、13・・・蒸発源、1
8・・・基板、19.21.22・・・電源手段

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 活性ガス又は不活性ガス或いは活性ガスと不活性ガスと
    の混合ガスが導入される真空槽と、この真空槽内におい
    て蒸発物質を蒸発させる蒸発源と、前記真空槽内に配設
    されて前記蒸発源に対向する状態で薄膜形成用の基板を
    保持する対向電極と、前記蒸発源と対向電極との間に配
    置されて前記蒸発物質が通過する隙間を有するグリッド
    と、このグリッドと前記蒸発源との間に配置させた熱電
    子発生用のフィラメントと、前記対向電極の電位を前記
    蒸発源の電位に対し同電位又は負電位とし前記グリッド
    の電位を交流電位とする電源手段とからなることを特徴
    とする薄膜形成装置。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04362172A (ja) * 1991-06-10 1992-12-15 Mitsubishi Electric Corp 膜形成装置

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5989763A (ja) * 1983-09-28 1984-05-24 Ricoh Co Ltd 薄膜蒸着装置
JPS6173877A (ja) * 1984-09-18 1986-04-16 Mitsubishi Electric Corp 蒸着装置

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