JPH01189197A - 多層超電導配線の形成方法 - Google Patents

多層超電導配線の形成方法

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JPH01189197A
JPH01189197A JP63013801A JP1380188A JPH01189197A JP H01189197 A JPH01189197 A JP H01189197A JP 63013801 A JP63013801 A JP 63013801A JP 1380188 A JP1380188 A JP 1380188A JP H01189197 A JPH01189197 A JP H01189197A
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JP
Japan
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film
oxide
forming
superconducting
wiring
Prior art date
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Pending
Application number
JP63013801A
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English (en)
Inventor
Yutaka Taguchi
豊 田口
Kazuo Eda
江田 和生
Tetsuji Miwa
哲司 三輪
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は配線に用いる多層超電導配線の形成方法に関す
るものである。
従来の技術 従来集積回路等の配線にはAu、AI、Cu等がもちい
られ、超電導膜は殆ど用いられることはなかった。これ
は従来の超電導膜(たとえばNb。
N b a G e等)が液体ヘリウムで冷却しなけれ
ば超電導状態とならず冷却コストが非常に高かったため
である。ところが液体窒素温度で超電導状態となる希土
類酸化物超電導体の発見により配線材料として超電導膜
を利用できるようになった。
発明が解決しようとする課題 しかしながらこの希土類酸化物超電導体は非常に環境、
特に水分、水蒸気、熱、酸化及び還元雰囲気に対して敏
感であり希土類酸化物超電導膜形成後、従来の超電導膜
のようにフォトリソグラフィーの技術を用いて直接超電
導膜をエツチングすることにより多層配線を行おうとす
ると、エツチング工程における加熱、水分との接触、真
空雰囲気にさらすことにより超電導膜が分解をおこし、
超電導膜の超電導開始温度(T c。)やゼロ抵抗温度
(TCE)が高くなったり、常電導時の抵抗が上昇した
りする0本発明はこのような欠点を解消するためのもの
で、超電導膜を直接エツチングすることなく、ゆえに特
性劣化のない多層超電導配線を形成することを目的とす
る。
課題を解決するための手段 上記課題を解決するために本発明の多層超電導配線の形
成方法は基板上にまずCu膜を電極、配線の形状に形成
する。その上に、Ln−Ae9化物を全面に形成し酸素
を有する雰囲気中で熱処理を行うとLn−As酸化物層
の下にCu膜が存在する場所のみがCu膜とLn−As
酸化物層の相互拡散によりLn−Ae−Cu酸化物とな
り、超電導性を示すようになる。その上に、層間絶縁膜
として酸化ジルコニウム膜を形成し、その後同様にCu
膜、Ln−As酸化物層を形成し酸素を有する雰囲気中
で熱処理を行う、Cu膜を配線の形状にしておけばCu
膜とLn−As酸化物層の相互拡散によりLn−Ae−
Cu酸化物超電導配線となる。酸化ジルコニウム膜は各
層間の絶縁膜及び拡散防止膜として、またCu膜を所望
の形状に加工する際の超電導薄膜の保護膜として働く。
作用 本発明は上記した構成により希土類酸化物超電導体薄膜
の多層配線を超電導膜を直接エツチングすることなしに
形成しようとするものである。
実施例 以下本発明の一実施例について図面を用いて説明する。
実施例1 第1図(al〜(沿は本発明による多層超電導配線を形
成する際の工程断面図である。
基板としてチタン酸ストロンチウム基板101を使用し
、まず表面にCu膜102を2100人形成した。この
Cu膜をフォトリソグラフィーにより所定の形状にパタ
ーニングしたのち、Ln−Ae酸化物103としてLn
にY、AeにBaを用いてY:Ba=1:2となるよう
に高周波マグネトロンスパッタリングにより1μm形成
した。
その後、酸素雰囲気中で920℃、5時間熱処理をおこ
なった。その結果このCu膜102の部分はCuとY、
Baの相互拡散により超電導膜104となった。この膜
の電気抵抗を測定したところ、液体ヘリウム温度(4,
2K)ではもちろん液体窒素温度(77K)でも電気抵
抗は0であり超電導膜となっていた。すなわちC,u膜
の形状どうりに超電導配線が形成された。その上に、酸
化ジルコニウム膜10.5を高周波マグネトロンスパッ
タリングにより2000人形成し、再び前記手順と同様
にCu膜106、Y−Ba膜107を形成し、同様に熱
処理を行ったところ酸化ジルコニウム膜上のY−Ba−
Cu酸化物膜も酸化ジルコニウム膜下部のY−Ba−C
u酸化物膜と同様に超電導膜108となり、液体ヘリウ
ム温度(4,2K)ではもちろん液体窒素温度(77K
)でも電気抵抗はOであった。また第2図のように酸化
ジルコニウム上部の配線108と下部の配線104を交
差させた形状にしたにもかかわらず上部の配[108と
下部の配線104に導通はなく多層配線となっていた。
またCu膜のない部分はY−Ba酸化物膜のままであり
これは常温においてもY−Ba−Cu!2化物膜が超電
導膜となる温度においても絶縁物であり、酸化ジルコニ
ウム下部の配線104と同一平面上にある超電導配線1
04°は絶縁されている。さらに酸化ジルコニウム膜は
酸化ジルコニウム上にCu膜を作成し配線の形状にパタ
ーニングする際に、酸化ジルコニウム下部の超電導配線
104がCu膜作成工程で劣化することを防ぐ保護膜と
して働きCu膜のエツチングにより、超電導配線104
の特性が劣化することはなかった。
実施例2 つぎに実施例1の条件で酸化ジルコニウム上部と下部の
配線を接続できるよう第3図のように酸化ジルコニウム
膜下部の配線上の酸化ジルコニウム膜を一部分エッチン
グによりけずり超電導配線を露出させる。その上に実施
例1と同様に酸化ジルコニウム上部にCu膜、Y−Ba
膜を形成後熱処理をおこなったところ、酸化ジルコニウ
ム膜の上部、下部の配線が少なくとも液体ヘリウム温度
で超電導配線となったのはもちろん、酸化ジルコニウム
上部、下部の配線間にも導通がとれていた。
実施例3 つぎに同様の条件でYを特許請求範囲第(2)項記載の
希土類に変更した。La、Nd、Sm、Eu。
Gd、Tb、Dy、Ho、Er、Yb、Luのいずれも
実施例1と同様に少なくとも液体ヘリウム温度(4,2
K)において多層超電導配線を形成することができた。
実施例4 次に実施例1のYをLaに、BaをS「及びCaに変え
た。基板は実施例1と同様にチタン酸ストロンチウム基
板を用い、其の他の条件も実施例1と同様にしておこな
った。BaをSr、  Caにかえた場合でも実施例1
と同様に少なくとも液体ヘリウム温度で多層超電導配線
を形成することができた。
実施例5 つぎに実施例1の条件において熱処理温度を600℃〜
950℃の範囲に変更してみた。その結果、いずれの温
度においても少なくとも液体ヘリウム温度で多層超電導
配線を形成することができた。
実施例6 つぎに実施例1の条件においてLn−Ae酸化物を真空
蒸着法により形成した。その結果、実施例1と同じよう
に液体ヘリウム温度(4,2K)ではもちろん、液体窒
素温度(77K)でも多層超電導配線を形成することが
できた。
実施例7 つぎに実施例1の条件において酸化ジルコニウム膜の膜
厚を500人〜5μmに変えてみた。酸化ジルコニウム
の膜厚が500人より薄いと層間絶縁膜、拡散防止膜と
して働らかず、5μmより厚いと膜にクラックがはいり
好ましくない状態であった。
またここではLn−Ae酸化物として作成したがLn酸
化物、Ae酸化物と2層に分けて作成してもさしつかえ
なく、またLn、Aeを金属の状態で作成してもよい。
金属の状態で作成しても熱処理により酸化物となり絶縁
物となるので超電導膜M104と同一平面上にある超電
導配線104゛が導通ずるおそれはない。
発明の効果 以上のように本発明は基板上にまずCu膜を電極、配線
の形状に形成した後、Ln−Ae酸化物を全面に形成し
酸素を有する雰囲気中で熱処理を行い、基板表面のCu
膜とLn−Ae酸化物との相互拡散を利用して希土類酸
化物its電導体54膜を形成するので、フォトリソグ
ラフィー技術を用いなくとも超電導体を配線形状に加工
でき、フォトリソグラフィーに起因する希土類酸化物超
電導体薄膜の特性劣化を防止することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による多層超電導配線を形成する際の工
程断面図、第2図は多層超電導配線を形成後の基板を上
からみた上面図、第3図は酸化ジルコニウム膜下部の超
電導配線と酸化ジルコニウム膜上部の超電導配線を接続
ために酸化ジルコニウム膜上に超電導配線と超電導配線
の接続用の窓をあけた場合の構成図である。 101・・・・・・基板、102・・・・・・Cu膜、
103・・・・・・Ln−Ae酸化物膜、104・・・
・・・熱処理によって形成されたLn−Ae−Cu酸化
物超電導膜、105・・・・・・酸化ジルコニウム膜、
106・・・・・・Cu膜、107・・・・・・Ln−
Ae酸化物膜、108・・・・・・熱処理によって形成
されたLn−Ae−Cu酸化物超電導膜。 代理人の氏名 弁理士 中尾敏男 はか1名II  図 \10/IAぷ

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)基板上にCu膜を配線の形状に形成し、その上に
    Ln−Ae酸化物(LnはY、希土類、Aeはアルカリ
    土類)膜を形成し、酸素を有する雰囲気中で熱処理を行
    い、Ln−Ae−Cu酸化物として超電導化し、その上
    に酸化ジルコニウム膜を層間絶縁膜として形成し、前記
    手順を繰り返し多層配線とする過程で酸化ジルコニウム
    の膜厚、形状を制御することによって層間の絶縁及び接
    触を制御する多層超電導配線の形成方法。
  2. (2)希土類としてLa、Nd、Sm、Eu、Gd、T
    b、Dy、Ho、Er、Tm、Yb、Luの少なくとも
    1つを用いたことを特徴とする特許請求範囲第(1)項
    記載の多層超電導配線の形成方法。
  3. (3)アルカリ土類としてSr、Ba、Caの少なくと
    も1つを用いることを特徴とする特許請求範囲第(1)
    項記載の多層超電導配線の形成方法。
  4. (4)熱処理温度として600℃〜950℃としたこと
    を特徴とする特許請求範囲第(1)項記載の多層超電導
    配線の形成方法。
  5. (5)Ln−Ae酸化物膜の形成方法としてスパッタリ
    ング法により形成することを特徴とした特許請求範囲第
    (1)項記載の多層超電導配線の形成方法。
  6. (6)Ln−Ae酸化物膜の形成方法として真空蒸着法
    により形成することを特徴とする特許請求範囲第(1)
    項記載の多層超電導配線の形成方法。
  7. (7)酸化ジルコニウムの膜厚とて500Å〜5μmと
    したことを特徴とする特許請求範囲第(1)項記載の多
    層超電導配線の形成方法。
  8. (8)酸化ジルコニウムの形成方法としてスパッタリン
    グ法により形成することを特徴とした特許請求範囲第(
    1)項記載の多層超電導配線の形成方法。
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