JPH01184267A - 絶縁膜コーティング方法 - Google Patents

絶縁膜コーティング方法

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JPH01184267A
JPH01184267A JP617388A JP617388A JPH01184267A JP H01184267 A JPH01184267 A JP H01184267A JP 617388 A JP617388 A JP 617388A JP 617388 A JP617388 A JP 617388A JP H01184267 A JPH01184267 A JP H01184267A
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JP
Japan
Prior art keywords
cathode
substrate
insulating film
arc discharge
coating
Prior art date
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Pending
Application number
JP617388A
Other languages
English (en)
Inventor
Koji Okamoto
康治 岡本
Susumu Taniguchi
進 谷口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nissin Electric Co Ltd
Original Assignee
Nissin Electric Co Ltd
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Publication date
Application filed by Nissin Electric Co Ltd filed Critical Nissin Electric Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、反応性蒸着法を用いる絶縁膜コーティング
方法に関するものである。
〔従来の技術〕
従来の反応性真空アーク蒸着法においては、真空槽内に
酸素ガスを導入して槽内の圧力を5×10−4〜5 X
 10−2torrとし、真空槽内に設置された陰極に
アーク放電を発生させ陰極物質、たとえばAIを蒸発、
イオン化し、前記酸素ガスと反応させて、陰極に対向配
置した基板の表面にA1□03等の酸化物からなる絶縁
膜を形成させていた。このとき、前記基板には表面のチ
ャージアップを防止するために高周波電圧が印加される
前記陰極物質としては、AIのほかに、たとえばSn、
 In、 Si等があげられ、それぞれ5nO7,Tr
LzO+。
SiO2等の酸化物絶縁膜を形成する。
〔発明が解決しようとする課題〕
かかる従来の反応性蒸着法においては、コーティング開
始後数分間は安定したアーク放電が得られるが、陰極表
面に酸素が吸収されて絶縁性の酸化物膜が形成されるた
め、アーク電流が流れ難くなり、アークが不安定となり
、ついには消滅するようになる。
したがって、コーティング時間が数分間程度に限られる
ため、ミクロンオーダーの厚い絶縁膜を基板に形成させ
ることができず、せいぜい数千人程度の厚さのものしか
得られなかった。
したがって、この発明の目的は、反応性蒸着法によって
酸化物からなる絶縁膜の厚膜コーティングを可能にした
絶縁膜コーティング方法を提供することである。
〔課題を解決するための手段〕
この発明の絶縁膜コーティング方法は、真空槽内に導入
した酸素ガスと、陰極からアーク放電によって蒸発、イ
オン化した陰極物質との反応によって生成される酸化物
からなる絶縁膜の基板へのコーティング工程と、前記基
板を前記陰極から隔離した状態で陰極に高真空中または
不活性ガス中でアーク放電を発生させる陰極清浄化工程
とを交互に繰り返すものである。
第1図はこの発明の方法を実施するための真空アーク放
電型PVD装置の概略図であり、真空ポンプ8によって
排気される真空槽1内の両側部に陰極2,2が設置され
る。真空槽1のほぼ中央部には基板ボルダ4上に立設し
た基板5が配置される。基板ボルダ4は上面に仕切り板
6が設けられ、この仕切り板6によって仕切られた一方
の基板ホルダ4上に基板5が取付けられる。基板ホルダ
4は回転モータ7によって回転可能に保持され、かつ高
周波電源10が接続される。
前記各陰極2.2は真空槽1の壁面を陽極とするアーク
電源3に接続され、真空槽1と陰極3との間でアーク放
電を起こさせ、陰極3から陰極物質(たとえば八1など
)を蒸発、イオン化させる。
また、真空槽1にはガス導入口9が設けられ、このガス
導入口9にそれぞれアルゴンガスポンへ11および酸素
ガスボンへ12が接続され、真空槽1内にそれぞれのガ
スを導入可能にする。
かかるPVD装置を用いて基板5への絶縁膜の蒸着を行
うには、有機溶剤等で洗浄した基板5を真空槽1内に装
着し、真空槽1内を真空引きしたのち、酸素ガスホンへ
12より酸素ガスを真空槽1内に約5 X 10−’−
5X 10−2Lorr導入する。
ついで、高周波電源10より周波数13.56 Mll
zの高周波出力50〜500Wを基板5に印加して高周
波グロー放電を発生させ、ざらに基板5と対向した陰極
2に対して図示しないトリガを接触離間させてアーク電
源3により陰極2と真空槽1との間にアーク放電を発生
させ、陰極物質を蒸発、イオン化し、前記酸素ガスと反
応させて生成物である酸化物の絶縁膜を基板5の表面に
コーティングする。
アーク放電開始後、陰極2の表面に酸化物の被膜が形成
されアーク放電が不安定ないしアークが消滅した時点で
コーティングを停止し、酸素ガスの導入を止めて真空槽
1内を真空引きし、高真空中(約10−5torr以下
)またはArガスボンベ11より導入した計ガス雰囲気
中(約10−4〜l0−3torr)でアーク放電させ
陰極2の表面の酸化物被膜を除去清浄化したのち、再び
前述のコーティング工程を繰り返す。ただし、Arガス
に代えてNe。
Kr等の他の不活性ガスを使用してもよい。
なお、陰極清浄化工程においては、アーク放電によって
陰極物質が蒸発、イオン化されて基板5に付着するので
、これを防止するために、たとえば第1図に示すように
、コーテイング後、基板ホルダ4を回転させて仕切り板
6で基板5を酸化物被膜除去の対象となる陰極2から隔
離するようにする。また、他の方法として、陰極2と基
板5との間にシャッタ(図示せず)を設けて、陰極清浄
化工程中はシャッタによって基板5を隔離し、基板5へ
の蒸発イオンの付着を防くようにしてもよい。
〔作用] このように、この発明では、基板への酸化物絶縁膜のコ
ーティング中に陰極の表面に酸化物被膜が生成され、ア
ークが不安定ないし消滅しても、次の陰極清浄化工程に
よって陰極表面の酸化物被膜が除去されるため、再びコ
ーティング工程を開始することができる。したがって、
基板へのコーティング工程と陰極清浄化工程とを交互に
繰り返すことにより、所望の膜厚の絶縁膜を得ることが
可能となる。
また、前記陰極表面の清浄化は、真空槽内に陰極を装着
したままアーク放電により酸化物を除去して行われるた
め、陰極表面の清浄化のために、陰極を真空槽から取り
出す必要がなく、作業性が向上する。
〔実施例〕
実施例1: 第1図に示すPVD装置を用いて、以下の
工程により基板の表面にAl2O3の絶縁膜を形成させ
た。ここで、基板として高速度鋼を用い、陰極として純
度99.9%の^lを使用した。
コーティング工程 真空槽内に酸素ガスを5 X 10−’torr導入し
、基板に周波数13.56MHzの高周波出力100W
を印加し、陰極にアーク電流60Aでアーク放電を発生
させてAIを蒸発、イオン化し、酸素ガスと反応させて
陰極の表面にAl2O3のコーティングを行った。コー
ティング時間は5分間である。
陰極清浄化工程 基板ホルダを180°回転させて仕切り板によって基板
を陰極から隔離し、真空槽内の圧力を10−5torr
以下に下げたのち、陰極にアーク電流60Aでアーク放
電を発生させ、陰極表面の酸化物被膜を除去した。この
処理時間は5分間である。
ついで、上記コーティング工程→陰極清浄化工程→コー
ティング工程を同条件で繰り返して、高速度鋼基板に厚
さ1.6μmのAl2O,絶縁膜を形成させることがで
きた。
実施例2: 陰極清浄化工程において、基板ホルダを1
80°回転させて仕切板によって基板を陰極から隔離し
、真空槽内の圧力を10−5torr以下に下げたのち
、計ガスを導入して圧力を1×1O−3Lorrとし、
陰極にアーク電流60Aでアーク放電させ、陰極表面の
酸化物を除去したほかは実施例1と同様にしてA1□0
.lの絶縁厚膜を形成させた。なお、上記処理時間は5
分間である。
〔発明の効果〕
この発明によれば、コーティング工程で生成した陰極表
面の酸化物被膜がアーク放電による陰極清浄化工程によ
って除去されるため、再びコーティング工程を開始する
ことができる。したがって、コーティング工程と陰極清
浄化工程とを交互に繰り返すことにより、所望の膜厚の
絶縁膜を得ることが可能となる。
また、前記陰極表面の清浄化は、真空槽内に陰極を装着
したままアーク放電によって行われるため、陰極表面の
清浄化のために、陰極を真空槽から取り出す必要がなく
、作業性が向上する。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明において使用する真空アーク蒸着型P
VD装置の概略図である。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 真空槽内に設置した陰極に真空アーク放電を生じさせて
    陰極物質を蒸発、イオン化し、真空槽内に導入した酸素
    ガスと反応させて、前記陰極に対向配置された基板に陰
    極物質の酸化物からなる絶縁膜をコーティングする絶縁
    膜コーティング方法において、 前記絶縁膜のコーティング工程と、前記基板を前記陰極
    から隔離した状態で陰極に高真空中または不活性ガス中
    でアーク放電を発生させる陰極清浄化工程とを交互に繰
    り返すことを特徴とする絶縁膜コーティング方法。
JP617388A 1988-01-14 1988-01-14 絶縁膜コーティング方法 Pending JPH01184267A (ja)

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JP617388A JPH01184267A (ja) 1988-01-14 1988-01-14 絶縁膜コーティング方法

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0751554A2 (en) * 1995-06-07 1997-01-02 Varian Associates, Inc. Method of in-situ cleaning of deposits from sputter clean chambers
DE102005020991A1 (de) * 2005-05-03 2006-11-09 Robert Bosch Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Reinigung einer Substratoberfläche

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0751554A2 (en) * 1995-06-07 1997-01-02 Varian Associates, Inc. Method of in-situ cleaning of deposits from sputter clean chambers
EP0751554A3 (en) * 1995-06-07 1997-05-21 Varian Associates Process for in-situ removal of the deposit in an atomization cleaning chamber
DE102005020991A1 (de) * 2005-05-03 2006-11-09 Robert Bosch Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Reinigung einer Substratoberfläche

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