JPH01178191A - 固体磁気メモリー素子 - Google Patents

固体磁気メモリー素子

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JPH01178191A
JPH01178191A JP63001920A JP192088A JPH01178191A JP H01178191 A JPH01178191 A JP H01178191A JP 63001920 A JP63001920 A JP 63001920A JP 192088 A JP192088 A JP 192088A JP H01178191 A JPH01178191 A JP H01178191A
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JP
Japan
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striped
superconductors
storage medium
superconductor
magnetic storage
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JP63001920A
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English (en)
Inventor
Hideo Tanaka
英男 田中
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はコンビエータの外部記憶装置としての用いられ
る固体磁気メモリー素子に関する。
〔従来の技術〕
従来、コンビ二−タ用外部記憶装置は磁気ディスク装置
がその主流を占めているが、磁気テープ装置、フロッピ
ディスク装置も使用されている。
最近では光デイスク装置やICメモリーを用いた電子デ
ィスクも使用されだした。
〔発明が解決しようとする問題点〕
、・従来の磁気ディスク装置は、回転機構を有している
ため、アクセスタイムが大きい欠点があり、又ディスク
及びヘッドに対して機械的耐久性の点で問題があり、同
様に光ディスクも回転機構とその記録再生方法のために
アクセスタイムが大きいという問題点がある。さらに電
子ディスクは不揮発性のため長期のデータの保存が出来
ないという問題点がある。
本発明の目的はこれらの欠点を除去し、回転系を必要と
せず、長期のデータ保存もできるようにした固体磁気メ
モリー電子を提供することにある。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明の固体磁気メモリー素子の構成は、フェライト磁
気記憶媒体層の一方の主面上に直接複数の第2のストラ
イプ状超伝導体が所定の間隔をおいて形成され、これら
第2のストライプ状超伝導体および前記フェライト磁気
記憶媒体層の主面上に絶縁層を介して前記舎弟2のスト
ライプ状超伝導体と所定の角度で交差するように複数の
第1のストライプ状超伝導体が所定の間隔をおいて形成
され、前記フェライト磁気記憶媒体層の他方の主面上に
直接複数のストライプ状磁気抵抗効果素子が所定の間隔
で#成され、前記フェライト磁気記憶媒体層の主面上お
よび前記ストライプ状抵抗効果素子上に絶縁層を介して
複数の第3のストライプ状超伝導体が所定の間隔で形成
され、前記第1および第2の各ストライプ状超伝導体の
交差部分と前記第3のストライプ状超伝導体および前記
ストライプ状磁気抵抗効果素子の交差部分とが前記フェ
ライト磁気記憶媒体層を介して対向する位置に配置され
ていることを特徴とする。、呑旗±唸先#ね≦±民i 〔作用〕 本発明の構成によれば、回転系が必要なく、機械的耐久
性が問題とならない固体メモリー素子を構成することが
出来る。即ちストライプ状超伝導体に流れる電流による
磁場により磁性媒体に情報を記録し、又ストライプ状磁
気抵抗効果素子fこより媒体に書かれた情報を再生し、
これらが媒体と一体に形成されている。又媒体は磁性媒
体を用いているために長期の媒体保存が可能である。
〔実施例〕
次に、本発明を図面により詳細に説明する。
第1図1才本発明の一実施例を示す模式的斜視図であり
、本実施例を用いた記録時および再生時の回路図は第2
図、第3図に示される。
本実施例4は、第1図のようにフエライ)ffl気記録
媒体層5の一方の主面ζこ交差した第1のストライプ状
超伝導体2と第2のストライプ状超伝導体1が形成され
ている。ここで第2の超伝導体lは直接フェライト磁気
記録媒体層に形成される。
記録時には、この2つのストライプ状超伝導体1゜2に
電流を流し、これらの交点近傍のフェライト磁気記録媒
体5を磁化する。一方フエライト磁気記録媒体層5の他
方の主面には交差したストライプ状磁気抵抗効果素子7
と第3のストライプ状超伝導体8とが形成されている。
ここでフェライト磁気記録媒体層5はストライプ状磁気
効果素子7の上に直接形成される。再生時には第3のス
トライプ状超伝導体8にセンス電流を流し、記憶した磁
化情報をストライプ状磁気抵抗効果素子7の抵抗変化と
して取り出す。
次に、記録時のメモリー回路の構成例を第2図を用いて
説明する。第1のストライプ状超伝導体2と第2のスト
ライプ状超伝導体lは、それぞれ第1のスイッチ群20
.21.22.23.24゜25及び26.27,28
.29と接続している。
スイッチ26.27.28.29はそれぞれ電流源30
.31と接続し、かつ第1のY軸アドレスデコーダ19
と接続している。スイッチ20゜21.22+23.2
4.25は一方で電流源に接続し、他方でデータ@1”
、“O”を選択するしている。
また、アンドグー)47,48,49,50゜51.5
2はデータ用フリップフロップ45を会して介してCP
U及びインターフェース14に接続し、第1のX軸アド
レスデコーダ44は第1のX軸アドレスレジスタ46を
介して、第1のY軸アドレスデコーダ19は第1のY軸
アドレスレジスタヲ介してCPUおよびインターフェー
ス14に接続している。
次に、再生時のメモリー回路の構成例を第3図を用いて
説明する。再生時には、フェライト磁気記録媒体層5上
に形成されたストライプ状磁気抵抗効果素子7と第3の
ストライプ状超伝導体8を用いる。第3のストライプ状
超伝導体8はスイッチ32.34を介して電流源33に
接続している。
スイッチ32.34は第2のY軸アドレスデコーダ35
、第2のY軸アドレスレジスタ36を介してCPU及び
インターフェース14に接続している。一方、ストライ
プ状磁気抵抗効果素子7はスイッチ38,39.40に
接続され、これらスイッチ38,39.40は再生回路
系43を介してCPU及びインターフェース14に接続
し、同時に第2のX軸アドレスデコーダ41と第2のX
軸アドレスレジスタ42を介してCPU及びインターフ
ェース14に接続している。
次に、本実施例のデータ記録時の動作を、第4図および
第5図により説明する。
第4図(旬はフェライト磁気記録媒体5上lζ直交する
超伝導体1.2のある場合の斜視図で、この磁気記録媒
体50B−Hカーブである磁気特性図を第4図(b)に
示す。
第4図(a)に於いて、第1図のCPU及びインターフ
ェース14からの命令により第4のX軸アドレスレジス
タ46,1(lのX軸アドレスデコーダ44、データ用
フリップフロップ45を設定し、第1のスイッチ群20
.21.22.23.24゜25と第1のX軸電流源1
6.17とアントゲ−)47,48,49,50.51
.52から1つ選択しON状態にして、第1(X軸)の
ストライプ状超伝導体2に電流Ix (パルス又は直流
)を流し、第4図(b)のB−Hカーブ状上で電流Ix
による磁場(フェライト磁気記録媒体のHcより小さい
lia場Hx)  がフェライト磁気記録媒体5に記録
される。しかし、この状態ではフェライト磁気記録媒体
へデータは記録されない。次に直交する第2のストライ
プ状超伝導体1に電RIyを流すと、第4図(c)に示
すように、電流Iyが印加され、結果としてHxとHy
の合成磁場HtがHc ↓り大きい磁場となり、それぞ
れの印加磁場HxおよびHyに対して45度の角度を有
している。
ここで第1のストライプ状超伝導体2の電流による磁場
Hyは、第2のストライプ状超伝導体lの部分でマイナ
ー効果により曲がるので、第2のストライプ状超伝導体
1の下側の部分で元の位置へもどり記録媒体5の上での
磁場は、第2のストライプ状超伝導体lがない場合と同
じ様に働らく。
この合成磁場Htによりフェライト磁気記憶媒体5がH
tのにクトルの方向に磁化される。ここで、第1のスト
ライプ状超伝導体2により発生する磁場を計算する。
アンペアの周回積分の法則からストライプ状超伝導体の
断面形状を0.5μmの正方形とし、絶縁層3の厚さを
0.14m1ストライプ状超伝導体に流す電流を200
mA及び300mAとしてフェライト磁気記憶媒体上で
の磁場を計算すると、i=200mAのときHx =8
000e%1=300鮎のときHx=12000eが得
られる。この時の電流密度はJ=8X107A/cll
(i=200mA)及びJ = 1.2 X 10” 
A、2d(i=300mA)となり、・#゛・−、 合成磁場Htは11200e及び16800sとなる。
例えば、文献によればNbCN超伝導体を用いれば、臨
界電流密度Jc=10”A//cI!が得られるので、
高Hc媒体(Hc=600〜800)に対して、十分記
録が可能である。次に電RIx及びIyの電流方向を逆
転することにより、第4図(ロ)に示す様に前述の合成
fB場Htの逆方向の磁場を得ることが出来る。
この合成磁場Ht fこより直交する第1及び第2のス
トライプ状超伝導体2.1の直交点下のフェライト磁気
記憶媒体5の逆方向に磁化する。磁化状態の1方向(1
35°)をデータ”loに対応させ、逆方向’(−45
°)を10”に対応させれば、直交する第1と第2のス
トライプ状超伝導体(1゜2)の直交点の下のフェライ
)11気記憶媒体5に情報”l”及び′″0”を記録す
ることが出来る。
この様にして記録された磁化の状態は、第5図のように
示される。
次に、フェライト磁気記憶媒体5に記録された磁化Mを
再生する場合を、第6図により説明する。
フェライト磁気記憶媒体5の下側に直接ストライプ状磁
気抵抗効果素子7が存在し、さらにストライプ状磁気抵
抗効果素子7の下側に絶縁層12を介して、ストライプ
状磁気抵抗効果素子7に直交する第3のストライプ状超
伝導体8が存在している。
いま、フェライト磁気記憶媒体5の磁化Mが、第6図(
a)に示される様に、ストライプ状磁気抵抗効果素子7
に流れる電流ベクトルTMRに対して+135°になっ
ているとする。この状態において直交点の磁化Mから発
生するa場がストライプ状磁気抵抗効果素子7に与える
磁場HMは、第6図(υに示す様に、電流ベクトルIM
Rに対して−45゜角度を有している。ここで、第3の
ストライプ状超伝導体8にセンス電流l5e(パルス)
を流すと、磁気抵抗効果素子7の直交点に電流ベクトル
IMRと同じ方向にIseによりセンス磁場Hseを生
じさせると、MRストライプ状の幅方向の反fIi場1
こ打ち勝つ程度のHwとHse の合成磁場はHM方向
(−45°)より電流ベクトルIMHの方向へ近づ次に
、フェライト磁気記憶媒体5上の直交点の磁化が第4図
(φの様に、フェライト磁気記憶媒体の磁化状態と逆に
(データ′″0″′に対応)になっている場合も同様に
第3のストライプ状超伝導体8にセンス電流l5e(パ
ルス)を流すと、直交点においてHseの磁場を発生し
、HMとHse  の合成磁場Htの角度は電流ベクト
ルIMRに対してHMの+135°よりも小さくなり(
第6図(C)、+90° 近くになる様にHseを制御
しておく。
ここでストライプ状磁気抵抗効果素子7の印加磁場Hに
よる抵抗只の変化は、第7図(姐こ示される。磁気%性
図を示す第7図(引こおいて、磁気抵抗効果素子7の電
流IMの方向に対して磁気記憶媒体5の磁化方向は、−
45°又は+135°のどちらかであるが、とのR−H
カーブ上で、θ;−45゜のA点がデータ′1”に対応
し、θ=+135°のB点がデータ”0″fこ対応する
。抵抗の値自身はθ=+135°と一45° で変化が
ない状態となっている。
この様な状態において、第3のストライプ状超伝導体8
にセンス電流l5e(パルス)を流すと、このセンスを
流X5eによる誘導ffl場Hse が印加されると、
第7図(急のA点は矢印の方向へ変化し、抵抗値はIs
e  の電流パルスが加わったときだけ増大する。さら
に第7図(→のB点(“0”に対応)に対しては抵抗値
RはIse  の電流パルスが力Jわったときだけ減少
する。従って、それぞれの抵抗変化を電圧に変換するた
め、第7図(L)fこ示す様に、データ”1”に対応し
たパルス及びデータ”0“に対応したパルスが逆極性で
得られ、データの再生が可能となる。
例えば、N ias F619の場合、T=42°Kに
おいて、Δr/y。= 16.4 fo  のMR素子
(固有抵抗!。=4.75Ω)が得られている。そこで
ストライプ幅を0.5μm1厚さを0.05μmとする
と1ピット当りの抵抗値R1は この値R1に対して抵抗変化量ΔR1=0.95X0.
164=0.1558Ωとなる。
従って、ストライプ状磁気抵抗効果素子71こ流す電流
iをi=1mAとしたとき、再生出力eは0.1558
mVとなり、i =2mAとすると再生出力eは0.3
116mVとなるので、十分実用的な値を得ることが出
来る。ここでストライブ伏磁気抵抗効果素子70両端の
抵抗及び電圧は48.3にΩ及び48.3V (i =
 1 rnA )、96 V (i =2mA)=+1
35°に対して第7図(鴫に示す様なパルスが得られる
ここでストライプ状超伝導体はNbCNを、ストライプ
状磁気抵抗効果素子はNi−Fe、NiC。
等を、絶縁層はkizos、SiO2,チッ化シリコン
等を、基板は研摩されたSiが適する。又前記固体磁気
メモリーデバイス部はスパッタ法、イオンミリング、X
腺露光(又は光学露光)、研摩等の薄膜形成技術を用い
ることができる。
なお、フェライト磁気記憶媒体層の両主面に形成される
ストライプ状パターンに直交するものでなくともよい。
またパターンの幅はすべて同じでなくともよい。
また、超伝導体及び磁気抵抗効果素子が形成されたフェ
ライト磁気記憶媒体部分と必要な周辺回路部分は超低温
の環境に設置される。
本実施例の固体磁気メモリーデバイス部を第38をスパ
ッタ法による成膜とイオンミリング法によるパターンエ
ツチングにより形成し、第3のストライプ状超伝導体8
の上に絶縁層に(SiOz)をスパッタ法により形成し
、絶縁層(Sing)の表面の段差解消をイオンミリン
グ法を用いたエッチパック法により行ない、表面を平坦
にした後、絶縁層12 (Si02)の上に、ストライ
プ状超伝導体8に直交するストライプ幅0.5μmのス
トライプ状磁気抵抗効果素子7(NiFe)をスパッタ
法による成膜とイオンミリング法によるエツチングによ
り形成し、スト2イブ状磁気抵抗効果素子の上を含む全
面に一様にフェライト磁気記憶媒体5 (Co Pt)
をスパッタ法により形成し、フェライト磁気記憶媒体5
の上にストライプ幅0.5μmの第2のストライプ状超
伝導体1 (NbCN)をスパッタ法による成膜とイオ
ンミリング法によるエツチングにより形成し、第2のス
トライプ状超伝導体lを含む全面に絶縁層3をスパッタ
法により形成し、絶縁層3の上に、第2のストライプ状
超伝導体と直交する様にストライプ幅0.5μmの第1
のストライプ状超伝導体2 (NbCN)をスパッタ法
による成膜とイオンミリング法によるエツチングにより
形成した。この様に形成した超伝導体部分42°に程度
(液体ヘリウム)の極低温状態において動作させた。
なお、それぞれのストライプ状超伝導体及びストライプ
状磁気抵抗効果素子7のストライプ間距離は0.5μm
としくJ−厚さtを0.5μm(ストライプ状超伝導体
)及び0.05μm(ストライプ状磁気抵抗効果素子)
とし、ストライプの長さ!を1インチとして形成した。
本実施例1こおいて1ビツトは1μ777X1μmの大
きさとなり、面密度としては6.45XIOビット平方
インチが実現された。さらにストライプ幅を小さくすれ
ば、平方インチ当りの容量は増大する。又前記のビット
の大きさ1μ71X1μmの場合、25インチ角の基板
を用いれば、1枚の基板で約1ギカバイ)(GB)の容
量のメモリーが可能となる。
ここで、ストライプ状超伝導体にはNbCN 。
超伝導セラミックスなどの臨界磁界の大きい材料が適し
、磁気抵抗効果素子にはパーマロイ、絶縁層にはA l
、0. 、 S t OJ、基板にはアルミニウム、チ
タン、シリコン、フェライト磁気記憶媒体層には、電気
抵抗値が大きいr−Fe203.CoドープrFe!0
3などが適する。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明は、従来の磁気ディスク装置
の回転機構及びディスク・ヘッド系に要求される機械的
耐久性等が除去され、かつ大容量(5X 10’  ビ
ット/平方インチ、以上)の不揮発注固体磁気ファイル
メモリーが得られた。さらに、電気抵抗の大きいフェラ
イト記憶媒体層を用いることにより、絶縁層を必要とし
なくなり、記録及び再生の効隼が大幅に改善された。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す模式的斜視図、動作を
説明する素子の部分斜視図、磁化特性図およびベクトル
図、第5図は磁気記憶媒体の磁化状態を示す部分斜視図
、第6図11a)、 (b) 、 (C)は第1図の再
生時の動作を説明する素子の部分斜視図、磁化特性図お
よびベクトル図、第7図6i)、(b)は本実施例を説
明するη特性図および出力波形図である。 1・・・・・・第2のストライプ状超伝導体、2・・・
・・・第1のストライプ状超伝導体、8・・・・・・第
3のストライプ状超伝導体、3.12.13・・・・・
・絶縁層、5・・・・・・磁気記憶媒体、7・・・・・
・ストライプ状磁気抵抗効果素子、9・・・・・・抵抗
、11・・・・・・基板、14・・・・・・CPU及び
インターフェース、46・・・・・・第1のX軸アドレ
スレジスタ、18・・・・・・第1のy軸アドレスレジ
スタ、44・・・・・・第1のX軸アドレスデコーダ、
19・・・・・・第1のy軸アドレスデコーダ、45・
・・・・・データ用フリップ70ツブ、47〜52・・
・・・・アンドゲート、16.17.30.31.33
・・・・・・電流源、20〜29−・・・−・第1のス
イッチ群、32.34.38〜40・・・・・・第2の
スイッチ群、36・・・−・・第2のy軸アドレスレジ
スタ(再生用)、42・・・・・・第2のX軸アドレス
レジスタ、35・・・・・・第2のy軸アドレスデコー
ダ、41・・・・・・第2のX軸アドレスデコーダ、4
3・・・・・・再生回路、lOO・・・・・・固体磁気
メモリー素子。 代理人 弁理士  内 原   音 11図 ん 嘉ZA ’f ′/y−7x−ズ 条 3 図 耳値時 第1.S″′z 第7図 74 A7−タ″′l″ ダタフ゛。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. フェライト磁気記憶媒体層の一方の主面上に直接複数の
    第2のストライプ状超伝導体が所定の間隔をおいて形成
    され、これら第2のストライプ状超伝導体および前記フ
    ェライト磁気記憶媒体層の主面上に絶縁層を介して前記
    各第2のストライプ状超伝導体と所定の角度で交差する
    ように複数の第1のストライプ状超伝導体が所定の間隔
    をおいて形成され、前記フェライト磁気記憶媒体層の他
    方の主面上に直接複数のストライプ状磁気抵抗効果素子
    が所定の間隔で形成され、前記フェライト磁気記憶媒体
    層の主面上および前記ストライプ状抵抗効果素子上に絶
    縁層を介して複数の第3のストライプ状超伝導体が所定
    の間隔で形成され、前記第1および第2の各ストライプ
    状超伝導体の交差部分と前記第3のストライプ状超伝導
    体および前記ストライプ状磁気抵抗効果素子の交差部分
    とが前記フェライト磁気記憶媒体層を介して対向する位
    置に配置されていることを特徴とする固体磁気メモリー
    素子。
JP63001920A 1988-01-08 1988-01-08 固体磁気メモリー素子 Pending JPH01178191A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102005048010A1 (de) * 2005-10-07 2007-04-12 Efim Avruckij Speicher kinetischer Fahrradenergie

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61153897A (ja) * 1984-12-26 1986-07-12 Nec Corp 固体磁気メモリ−素子及びその記録再生方法

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