JPH01172740A - X線回折装置のスリット制御機構 - Google Patents

X線回折装置のスリット制御機構

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JPH01172740A
JPH01172740A JP62329607A JP32960787A JPH01172740A JP H01172740 A JPH01172740 A JP H01172740A JP 62329607 A JP62329607 A JP 62329607A JP 32960787 A JP32960787 A JP 32960787A JP H01172740 A JPH01172740 A JP H01172740A
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Noboru Osawa
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、X線回折装置のスリット制御機構に関し、特
に、試料面に入射するX線の入射角゛θに応じてスリッ
ト幅を変化させる形式のスリット幅調節と、スリットの
移動による光軸調整との両方に使用可能なスリット制御
門構に関する。
[従来の技術] X線回折装置において、試料面に入射するX線の入射角
θに応じてスリット幅を変化させ、もって常に一定の試
料範囲にX線を照射する技術は、既に知られている(た
とえば、特公昭50−40676号および特公昭53−
28222号参照)。
第8図を参照して説明すると、X線焦点60から発射さ
れたX稈は、発散スリット62を通って、試料64に照
射され、ここで回折されたX線が受光スリット66に集
まる。その際、X線の入射角θが変化しても、常に試料
64の幅aいっばいにX線が照射されるようにするには
、発散スリット62のスリット幅すを入射角θに応じて
調節すればよい。X線焦点60から見た試料64の幅は
a・sinθとなるので、スリット幅すをsinθに比
例ざぜて変化させれば、極めて良い近似で、試料照射範
囲がθに依存せず一定となる。
一方、スリット幅の調節とは別個の技術として、X線回
折装置のゴニオメータの光軸調整技術がある。ゴニオメ
ータの光軸調整は、一般に、次の手順で実施される。
(a)検出器アームの回転角(2θ)をゼロにしたとき
に、発散スリットと、試料台の回転軸線(以下、試料軸
という)と、検出器アーム上にある受光スリットとが一
直線上に来るようにする調整。この調整はゴニオメータ
の製造段階で既に調整ずみのものである。
(b)ゴニオメータ光軸上にX線焦点が来るように、X
線焦点とゴニオメータとの相対的位置関係を定める調整
。この調整は、ゴニオメータ基台を微小回転させて、X
線検出器の出力が最大となるように調整される。
(c)2θ−ゼロの確認。この確認は次のように実施さ
れる。検出器アームを2θ=ゼロの付近で微小回転させ
てピークプロファイルを求め、検出ピークの半価幅の中
点をゼロピークの位置とする。次に、このゼロピークの
位置と、検出器アーム台のゼロマークの位置とのずれが
、所定の角度範囲内に治まっていることを確認する。所
定の角度範囲内に治まっていなければ、上述の(b)の
調整からやり直すことになる。
(d)試料台の回転角(θ)−ゼロの調整。この調整は
、試料台をθ=ゼロの付近で微小回転させて、X線検出
器の出力が最大となるように調整される。この調整は、
光軸調整治具を試料台に取り付けて実施される。この治
具の基準平面は、試料軸を含む平面内にあり、θ=ゼロ
の付近で基準平面は人!lIX線に平行となる。
このような光軸調整にあっては、(b)の調整において
、小川のあるゴニオメータ基台を微小回転させることに
なる。
[発明が解決しようとする問題点コ 近年、ゴニオメータの光軸調整を自動化する要望が高ま
っており、そのための一つの方策として、ゴニオメータ
基台を回転させることなく、スリット位置の移動だけで
光軸調整を済ませてしまおうとする試みがある。このよ
うにすれば、重いゴニオメータ基台を動かすことなく、
軽いスリットを移動させるだけで良いことになる。
してみると、スリット幅調節においても、スリット移動
による光軸調整においても、スリットを動かすためのF
J84が必要となり、これらを別個の機構として設けれ
ば、スリット付近の機構が複雑になることは避けられな
い。
そこで、本発明の目的は、スリット移動による光軸調整
と、スリット幅調節とを可能にしたスリット制御機構を
提供することにある。
c問題点を解決するための手段] 本発明に係るスリット制御機構は、試料面に入用するX
線の入射角θを変化させて回折ピークを測定する形式の
X線回折装置において、次の構成を有することを特徴と
する。
(a) X線を通過させるスリットは、二つのスリット
板からなる。
(b) #i記制御#J構は、固定ブラケットと、この
固定ブラケットに対して移動可能な移動部材とを含む。
(c)前記移動部材には前記二つのスリット板が取り付
けられ、このスリット板は、前記固定ブラケットに固定
されたスリット制御モータによって駆動され、もってス
リット幅が調節される。
(d)前記スリット制御モータは、スリット幅の調節に
際しては、前記入射角θを変化させるためのθ回転モー
タに比例して回転する。
(e)前記スリット幅が最小間隔にあるときは、前記ス
リット制御モータの回転によって前記移動部材が前記固
定ブラケットに対して移動可能である。
このスリット制御機構は、二つの基本的な機能を有する
。まず、スリット幅調面にあっては、スリブ(へ幅は、
sinθに比例して変化する。光軸調整のためのスリッ
ト移動にあっては、スリット幅を最小間隔にしたまま、
スリット制御モータを回転させ、スリット板を具備する
移動部材自体を、固定ブラケットに対して移動させる。
これにより、最小間隔を有するスリット板が、光軸に垂
直な面内で移動し、この移動を利用して光軸調整を実施
することができる。
すなわち、スリット幅調節動作と、スリット移動動作と
を、一つのスリット制御モータで実施することができ、
機構の簡素化が図れる。
本発明のスリット制御殿横は、その目的からいって、基
本的にはX線回折装置の発散スリットに通用される。た
だし、スリン1へ幅の調節と、スリット位置の移動の両
方を制御する必要のある場合には、散乱防止スリットな
どの別のスリットにあっても本発明を適用できる。
[実施例] 第1図は本発明の一実施例の正面図であり、第2図はそ
の側面図である。このスリット制wJ機構は、固定ブラ
ケット10と、これに対して移動可能な移動部材11と
を含むものである。
まず、スリット幅を調節するための機構を説明する。移
動部材11には、二つの平行四節リンク機構が取り付け
られている。第1の平行四節リンクt!横は、静止節で
ある移動部材11と、原動節円板12と、従動節円板1
4と、中間節部材16とからなる。第2の平行四節リン
ク機構は、静止節である移動部材11と、共通の原動節
円板12と、共通の従動面円板14と、別個の中間節部
材18とからなる。平行四節リンク機構の各節は、互い
に回転対偶で連結されている。そして、この二つの平行
四節リンク機構は、静止節の中点、すなわち原動節円板
12と従動節円板14との中間点21(第4図参照)、
に対して点対称になるように構成されている。なお、こ
の点対称とは、機構の基本構造が点対称になっているこ
とを意味し、中間面部材などの具体的な形状が点対称に
なっていることを意味するものではない。中間節部材1
6と18のそれぞれには、スリット板20と22が固定
されている。従動節円板14と中間節16との連結点1
5と、従動節円板14と中間節18との連結点17との
間隔d(原動節円板12においても同じ)は、スリット
幅の最大値を与える。スリット板20にはストッパ23
が形成されていて、スリット板22はこのストッパ23
に接触して停止するようになっている。このとき、スリ
ット板20と22の間隔すなわちスリット幅は、完全に
はゼロにならずに、最小間隔Cとなる。この最小間隔C
は、この実施例では、0.05mmに設定されている。
なあ、第2図では、図面を明瞭にするために、片方の中
間節部材18とこれに固定されたスリット板22とは図
示が省略されている。
原動節円板12は、第2図に良く示されているように、
ウオームホイール26に固定され、ウオームホイール2
6はシャフト24に固定されている。シャフト24は、
軸受28によって移動部材11に回転支持されている。
従動節円板14はシャツlへ30に固定され、このシャ
フト30も、軸受32によって移動部材11に回転支持
されている。
上述のつt−ムホイール26は、ウオーム34と噛み合
っており、このウオーム34は、スリット制御パルスモ
ータ36の出力軸に固定されている。スリブl−制御バ
ルスモータ36は、固定ブラケット10に固定されてい
る。このスリット制御パルスモータ36は、試料台を回
転させるためのθ回転パルスモータ(図示せず)に比例
して回転するようになっている。そして、原動節円板1
2の回転角が、試料に入射するX線の入射角θと等しく
なるように、この比例定数が設定されている。
具体的には、θ回転パルスモータに供給する単位時間当
たりのパルス数に、この比例定数を掛けて、得られた値
を、スリット副面パルスモータ36に供給する単位時間
当たりのパルス数とすれば良い。
シャフト24の他端には起動円板38が固定され、もう
一方のシャフト30の他端にも起動円板40が固定され
ている。すなわち、このスリット制御機構の背面に、起
動円板38と40が配置されている。第3図に良く示さ
れているように、起動円板38と40には、連結部材4
2が回転対偶によって連結されている。その結果、起動
円板38.40と連結部材42と移動部材11とによっ
て、第3の平行四節リンク機構が構成される。
この第3の平行四節リンク機構は、上述の二つの平行四
節リンクmsと比較して、90度だけ位相がずれている
。すなわら、上述の二つの平行四節リンク機構において
、原動節円板12および従動節円板14と中間面部材1
6.18との連結点15.17が、原動節円板の中心と
従動節円板の中心とを結ぶ線上に来たときには、第3の
平行四節リンク機構においては、起動円板38と連結部
材42との連結点39は、起動円板38を通る水平線上
に来ると共に、起動円板40と連結部材42との連結点
41は、起動円板40を通る水平線上に来ることになる
。このような構成により、上述の二つの平行四節リンク
機構が死点の位置に来たときにも、この第3の平行四節
リンク機構の働きによって、この調節機構は正常に機能
するようになっている。
次に、スリット位置を移動させるだめの機構について説
明する。第5図は、第1図から、平行四節リンク機構に
関連する部分を取り除いた、一部削除正面図である。第
6図は、第5図のVl −Vl線断面図であり、第7図
は、第5図のVl −Vl線断面図である。なお、第5
図は、第6図のv−v線断面図となっている。
まず、第5図と第7図において、移動部材11は、ころ
がり案内機構44によって、固定部材46に対して直線
移動可能に案内されている。すなわち、移動部材11は
第5図の左も方向に移動可能である。固定部材46は固
定ブラケット10に固定されている。第5図に示す貫通
穴43と45は、第2図の軸受28と32を支持するた
めのものである。
次に、第5図と第6図において、移動部材11の先端付
近には、薄い金属板製のクランプ板48が固定されてい
る。一方、固定部材46の先端付近にも、薄い金属板製
の押し付は板50が固定されている。固定部材46には
、ざらに、クランプ板48の背面に位置するクランプ受
は部52が形成されている。固定部材46には、貫通穴
54が形成され、その中に、クランプ棒56が配置され
ている。このクランプ棒56は、電磁ソレノイド58に
よって駆動される。この電磁ソレノイド5′8は通常は
OFF状態にあり、このときは、圧縮コイルばね59の
作用で、クランプ棒56が、押し付は板50を押し付け
ている。この押し付は板50は、ざらに、クランプ板;
48を押し付け、クランプ板48は、押し付は板48と
クランプ受は部52の間に挟まれて固定される。電磁ソ
レノイド58がONになると、クランプ棒56は、圧縮
コイルばね59に抗して、後退する。
次に、この実施例の動作を説明する。まず、スリット幅
調節救能を説明する。初めに、第8図におけるX線の入
射角θがゼロであると仮定する。
このときは、二つの平行四節リンク機構は第1図に示す
状態にある。すなわち、スリット幅は最小間隔Cである
。回折ピークを測定するためには、θ回転パルスモータ
に所定のパルスを供給して、試料台を回転させていくこ
とになる。その際、第1図のスリットil制御パルスモ
ータ36は、θ回転パルスモータに比例して回転する。
スリット制御パルスモータ36が回転すると、つt−ム
34とウオームホイール26を介して、原動節円板12
・が角度θで回転する。すると、原動節円板12に連結
された平行四節リンク機構が矢印19の方向に回転する
。その結果、第4図に示すように、中間節部材16に固
定されたスリット板20と、中間節部材18に固定され
たスリット板22の間隔が、d−sinθ十Cの値で変
化する。Cの値は非常に小さいので、スリット幅はほぼ
θに比例して変化することになり、X線に照射される試
料範囲はθによらずほぼ一定となる。
次に、光軸調整のためのスリット移動動作を説明する。
まず、スリット位置を移動させて光軸調整を実施する手
順を第9図を参照して説明する。
試料台68には光軸調整スリット70を取り付け、基準
面71を光軸に垂直にしておく。最初に、発散スリット
(本発明によるスリット制御1IIItli構で制御さ
れる)62を全開にしておき、X線焦点60と光軸調整
スリット70とを結んだ直線の延長上に、受光スリット
66およびX線検出器72が来るように、検出器アーム
台を、2θ=ゼロの付近で微小回転させる。すなわち、
この微小回転の際に、X線検出強度が最大となる位置を
探す。そして、その位置を2θ=ゼロの位置と定める。
次に、発散スリット62を、最小間隔Cのままで、光軸
に垂直な面内で移動させて、X線検出強度が最大となる
スリット位置を探す。そして、その位置で発散スリット
の位置を固定する。次に、光軸調整スリット70を時計
方向に90度回転させて、基準面71を光軸に一致させ
る。この状態で、試料台を微小回転させて、X線強度が
最大となる試料台の回転位置を探し、その位置をθ−ゼ
ロと定める。以上で、光軸調整が完了する。
次に、発散スリットの実際の移動動作を説明する。この
ときは、まず、つt−ム34を第2図の矢印25の方向
に回転させて、平行四節リンク機構を第1図の矢印19
の方向に回転させる。スリット幅が最大になると、平行
四節リンク機構はそれ以上回転できないようになってい
る。このとき、第6図に示す電磁ソレノイド58がON
にされる。
すると、クランプ棒56が後退して、移動部材11が移
動可能となる。その後、ウオーム34を同じ方向に回転
させていくと、これと噛み合うウオームホイール26は
回転せずに、移動部材11自体が第1図の右方向に移動
していく。移動部材11が所定の基準点を通り過ぎてか
ら、スリット制御パルスモータ36が停止する。
この時点で、第6図の電磁ソレノイド58を一時的にO
FFにして、移動部材11をその位置に固定する。そし
て、ウオーム34を第1図の矢印25と反対の方向に回
転させる。すると、平行四節リンク機構は、第1図の矢
印19と反対の方向に回転し、最終的に第1図に示す状
態で停止する。
すなわち、中間節部材18はストッパ23に当たって停
止し、スリット幅は最小間隔Cの状態となる。スリット
幅が最小間隔になると、再び電磁ソレノイド58がON
になり、移動部材11は移動可能となる。その後、ウオ
ーム34をざらに同じ方向に回転させると、スリット幅
が最小間隔となったまま、移動部材11が第1図の左方
向に移動する。そして、移動部材11が所定の基準点に
達したとぎに、この点を、移動部材11の移動の原点(
データム点)とする。そして、ウオ・−ム34をさらに
同じ方向に回転させることによって、前述の光軸調整を
実施する。すなわち、X線のピーク位置を探すには、常
に基準位置から一定方向(第1図の左方向)にスリット
位置を移動させるようにする。そして、ピーク位置が決
定されたら、その位置に移動部材11を固定する。
以上の動作で光軸調整が完了する。光軸調整が完了した
ら移動部材11は固定したままにしておく。そして、X
線回折測定の際は、上述のスリット幅調節だけを実施す
れば良い。
[発明の効果] 以上説明したように本発明は、試料に入射するX線の入
射角θに比例してスリット幅を調部可能にし、その上、
スリットの中心位置を移動させて光軸調整を可能にし、
しかもこれらの機能を一つのスリット制御モータで制御
可能にしたので、スリット幅調節と、スリット移動によ
る光’Ml調整とを簡素な機構で実施できるという効果
がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の正面図、 第2図はこの実施例の側面図、 第3図は第2図の■−■線矢視図、 第4図はこの実施例の別の動作状態を示す正面図、 第5図はこの実施例の一部削除正面図であって、第6図
のv−v線断面図、 第6図は第5図のVl −Vl線断面図、第7図は第5
図のVI −VII線断面図、第8図はX線回折装置の
概念図、 第9図はスリット移動による光軸調整の説明図である。 10・・・固定ブラケット 11・・・移動部材 14・・・従動節円板 20.22・・・スリット板 36・・・スリット制御パルスモータ

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 試料面に入射するX線の入射角θを変化させて回折ピー
    クを測定する形式のX線回折装置において、次の構成を
    有するスリット制御機構。 (a)X線を通過させるスリットは、二つのスリット板
    からなる。 (b)前記制御機構は、固定ブラケットと、この固定ブ
    ラケットに対して移動可能な移動部材とを含む。 (c)前記移動部材には前記二つのスリット板が取り付
    けられ、このスリット板は、前記固定ブラケットに固定
    されたスリット制御モータによつて駆動され、もつてス
    リット幅が調節される。 (d)前記スリット制御モータは、スリット幅の調節に
    際しては、前記入射角θを変化させるためのθ回転モー
    タに比例して回転する。 (e)前記スリット幅が最小間隔にあるときは、前記ス
    リット制御モータの回転によって前記移動部材が前記固
    定ブラケットに対して移動可能である。
JP62329607A 1987-12-28 1987-12-28 X線回折装置のスリット制御機構 Expired - Lifetime JP2668371B2 (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH032698A (ja) * 1989-05-31 1991-01-09 Mc Sci:Kk X線回折装置用ダイバージェンススリット
US6990177B2 (en) 2002-09-03 2006-01-24 Rigaku Corporation X-ray optical system for small angle scattering

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH032698A (ja) * 1989-05-31 1991-01-09 Mc Sci:Kk X線回折装置用ダイバージェンススリット
US6990177B2 (en) 2002-09-03 2006-01-24 Rigaku Corporation X-ray optical system for small angle scattering

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