JPH01165652A - 半導体封止用エポキシ樹脂成形材 - Google Patents
半導体封止用エポキシ樹脂成形材Info
- Publication number
- JPH01165652A JPH01165652A JP32329587A JP32329587A JPH01165652A JP H01165652 A JPH01165652 A JP H01165652A JP 32329587 A JP32329587 A JP 32329587A JP 32329587 A JP32329587 A JP 32329587A JP H01165652 A JPH01165652 A JP H01165652A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- epoxy resin
- silicone rubber
- molding material
- resin molding
- alkoxysilane
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 title claims abstract description 34
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 title claims abstract description 34
- 239000012778 molding material Substances 0.000 title claims abstract description 20
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 16
- 238000007789 sealing Methods 0.000 title abstract description 6
- 229920002379 silicone rubber Polymers 0.000 claims abstract description 33
- 239000004945 silicone rubber Substances 0.000 claims abstract description 32
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims abstract description 20
- 238000005538 encapsulation Methods 0.000 claims description 11
- FZHAPNGMFPVSLP-UHFFFAOYSA-N silanamine Chemical compound [SiH3]N FZHAPNGMFPVSLP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- TXDNPSYEJHXKMK-UHFFFAOYSA-N sulfanylsilane Chemical compound S[SiH3] TXDNPSYEJHXKMK-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229920001296 polysiloxane Polymers 0.000 claims description 2
- 229920005989 resin Polymers 0.000 abstract description 13
- 239000011347 resin Substances 0.000 abstract description 13
- 230000000694 effects Effects 0.000 abstract description 9
- 238000002156 mixing Methods 0.000 abstract description 5
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 abstract description 3
- 239000007970 homogeneous dispersion Substances 0.000 abstract 1
- 239000011859 microparticle Substances 0.000 abstract 1
- 230000035882 stress Effects 0.000 description 18
- 239000000463 material Substances 0.000 description 9
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 239000000945 filler Substances 0.000 description 6
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 5
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 5
- 239000008393 encapsulating agent Substances 0.000 description 4
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 3
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 3
- 229920001971 elastomer Polymers 0.000 description 3
- 125000003700 epoxy group Chemical group 0.000 description 3
- 239000005060 rubber Substances 0.000 description 3
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 3
- ISWSIDIOOBJBQZ-UHFFFAOYSA-N Phenol Chemical compound OC1=CC=CC=C1 ISWSIDIOOBJBQZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 125000003277 amino group Chemical group 0.000 description 2
- 239000012752 auxiliary agent Substances 0.000 description 2
- IISBACLAFKSPIT-UHFFFAOYSA-N bisphenol A Chemical compound C=1C=C(O)C=CC=1C(C)(C)C1=CC=C(O)C=C1 IISBACLAFKSPIT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 2
- 125000001301 ethoxy group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])O* 0.000 description 2
- 125000000956 methoxy group Chemical group [H]C([H])([H])O* 0.000 description 2
- 229920003986 novolac Polymers 0.000 description 2
- 239000005011 phenolic resin Substances 0.000 description 2
- 230000009257 reactivity Effects 0.000 description 2
- KXGFMDJXCMQABM-UHFFFAOYSA-N 2-methoxy-6-methylphenol Chemical compound [CH]OC1=CC=CC([CH])=C1O KXGFMDJXCMQABM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QTWJRLJHJPIABL-UHFFFAOYSA-N 2-methylphenol;3-methylphenol;4-methylphenol Chemical compound CC1=CC=C(O)C=C1.CC1=CC=CC(O)=C1.CC1=CC=CC=C1O QTWJRLJHJPIABL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000000217 alkyl group Chemical group 0.000 description 1
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QEZIKGQWAWNWIR-UHFFFAOYSA-N antimony(3+) antimony(5+) oxygen(2-) Chemical compound [O--].[O--].[O--].[O--].[Sb+3].[Sb+5] QEZIKGQWAWNWIR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229940106691 bisphenol a Drugs 0.000 description 1
- 239000006229 carbon black Substances 0.000 description 1
- 239000007795 chemical reaction product Substances 0.000 description 1
- 239000004927 clay Substances 0.000 description 1
- 229910052570 clay Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 229930003836 cresol Natural products 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- GYZLOYUZLJXAJU-UHFFFAOYSA-N diglycidyl ether Chemical compound C1OC1COCC1CO1 GYZLOYUZLJXAJU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000005007 epoxy-phenolic resin Substances 0.000 description 1
- 239000010419 fine particle Substances 0.000 description 1
- 239000003063 flame retardant Substances 0.000 description 1
- 125000000524 functional group Chemical group 0.000 description 1
- 239000005350 fused silica glass Substances 0.000 description 1
- -1 glycidyl ester Chemical class 0.000 description 1
- LNEPOXFFQSENCJ-UHFFFAOYSA-N haloperidol Chemical compound C1CC(O)(C=2C=CC(Cl)=CC=2)CCN1CCCC(=O)C1=CC=C(F)C=C1 LNEPOXFFQSENCJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007654 immersion Methods 0.000 description 1
- 239000011256 inorganic filler Substances 0.000 description 1
- 229910003475 inorganic filler Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 238000000465 moulding Methods 0.000 description 1
- 239000008188 pellet Substances 0.000 description 1
- 229920001568 phenolic resin Polymers 0.000 description 1
- 239000011574 phosphorus Substances 0.000 description 1
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000049 pigment Substances 0.000 description 1
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 1
- 238000010298 pulverizing process Methods 0.000 description 1
- 239000000565 sealant Substances 0.000 description 1
- 230000035939 shock Effects 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 229920002545 silicone oil Polymers 0.000 description 1
- 229920002050 silicone resin Polymers 0.000 description 1
- 239000007921 spray Substances 0.000 description 1
- 238000003756 stirring Methods 0.000 description 1
- 238000006557 surface reaction Methods 0.000 description 1
- 238000004381 surface treatment Methods 0.000 description 1
- 229920003051 synthetic elastomer Polymers 0.000 description 1
- 239000005061 synthetic rubber Substances 0.000 description 1
- 239000000454 talc Substances 0.000 description 1
- 229910052623 talc Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000008646 thermal stress Effects 0.000 description 1
- 125000003396 thiol group Chemical group [H]S* 0.000 description 1
Landscapes
- Compositions Of Macromolecular Compounds (AREA)
- Epoxy Resins (AREA)
- Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(技術分野)
この発明は、半導体封止用エポキシ樹脂成形材に関する
ものである。さらに詳しくは、この発明は、低応力性と
ともに、耐湿性および成形性にも優れた半導体封止用の
エポキシ樹脂成形材に関するものである。
ものである。さらに詳しくは、この発明は、低応力性と
ともに、耐湿性および成形性にも優れた半導体封止用の
エポキシ樹脂成形材に関するものである。
(背景技術)
デバイスの高性能化によるベレットサイズの増加、さら
には素子高機能化にともなう多層配線化などにより、デ
バイスは、応力に対して敏感になり、また、実装もデイ
ツプを中心としたものから表面実装に移行し、このため
に熱ストレスに対する安定性が求められている。
には素子高機能化にともなう多層配線化などにより、デ
バイスは、応力に対して敏感になり、また、実装もデイ
ツプを中心としたものから表面実装に移行し、このため
に熱ストレスに対する安定性が求められている。
このような応力に対する耐性とともに、半導体の封止材
には耐湿性と、成形性の良好なことが求められてもいる
。′ しかしながら、従来の封止材には、このような低応力性
と、耐湿性、および成形性のバランスに澤れた成形材は
なく、低応力性を向上させると耐湿性および成形性が低
下し、成形性を向上させると低応力性および耐湿性が低
下するという矛盾を解消できないでいた。
には耐湿性と、成形性の良好なことが求められてもいる
。′ しかしながら、従来の封止材には、このような低応力性
と、耐湿性、および成形性のバランスに澤れた成形材は
なく、低応力性を向上させると耐湿性および成形性が低
下し、成形性を向上させると低応力性および耐湿性が低
下するという矛盾を解消できないでいた。
これまでに、低応力性については変性シリコンオイル、
シリコンレジン、シリコンゴム、合成ゴム、長鎖アルキ
ル化合物などの充填材や変性材を樹脂に添加することに
よりがなり改善されてきているが、これらの充填材や変
性材の添加によって、封止剤の成形性が低下するという
大きな問題をかかえていた。このために、封止剤樹脂と
充填材もしくは変性材との親和性を向上させ、成形性を
改善することが試みられているが、実用的なものはいま
だ提案されていないのが実状である。
シリコンレジン、シリコンゴム、合成ゴム、長鎖アルキ
ル化合物などの充填材や変性材を樹脂に添加することに
よりがなり改善されてきているが、これらの充填材や変
性材の添加によって、封止剤の成形性が低下するという
大きな問題をかかえていた。このために、封止剤樹脂と
充填材もしくは変性材との親和性を向上させ、成形性を
改善することが試みられているが、実用的なものはいま
だ提案されていないのが実状である。
半導体封止剤としては最も一般的にはエポキシ樹脂が用
いられており、この樹脂の充填材としてシリカが使用さ
れてきている。このエポキシ樹脂成形材の場合には、成
形性の向上のために、エポキシ基を有するエポキシシラ
ンを主とするアルコキシシラン類が添加使用されてきて
いるが、このエポキシシランは反応性が遅いために、成
形の際にパリが出る。また、耐湿性もあまり良好ではな
い、さらに、速硬化のために硬化促進剤を増量すると、
逆に、耐湿性、低応力性が低下するという問題がある。
いられており、この樹脂の充填材としてシリカが使用さ
れてきている。このエポキシ樹脂成形材の場合には、成
形性の向上のために、エポキシ基を有するエポキシシラ
ンを主とするアルコキシシラン類が添加使用されてきて
いるが、このエポキシシランは反応性が遅いために、成
形の際にパリが出る。また、耐湿性もあまり良好ではな
い、さらに、速硬化のために硬化促進剤を増量すると、
逆に、耐湿性、低応力性が低下するという問題がある。
〈発明の目的)
この発明は、以上の通りの事情に鑑みてなされたもので
あり、従来の半導体封止材の欠点を克服し、低応力性と
ともに、耐湿性、パリの発生、粘度増大、離型性の低下
などの問題のない成形性に優れた半導体封止用成形材を
提供することを目的としている。
あり、従来の半導体封止材の欠点を克服し、低応力性と
ともに、耐湿性、パリの発生、粘度増大、離型性の低下
などの問題のない成形性に優れた半導体封止用成形材を
提供することを目的としている。
さらに詳しくは、この発明は、耐湿性、成形性にも優れ
た半導体封止用のエポキシ樹脂成形材を提供することを
目的としている。
た半導体封止用のエポキシ樹脂成形材を提供することを
目的としている。
(発明の開示)
この発明の半導体封止用エポキシ樹脂成形材は、上記の
目的を実現するために、1種もしくは2種以上のアルコ
キシシラン類で表面処理したシリコンゴムを配合するこ
とを特徴としている。
目的を実現するために、1種もしくは2種以上のアルコ
キシシラン類で表面処理したシリコンゴムを配合するこ
とを特徴としている。
以下、詳しくこの発明の成形材について説明する。
シリコンゴムは、この発明においては低応力付与材とし
て用いるものである。このシリコンゴムを封止用樹脂中
にミクロに、しかも均一に高分散化させ、しかも、この
ミクロ分散したゴムの界面がエポキシ樹脂、あるいはフ
ェノール樹脂のマトリックス界面との相互作用によって
応力を均一に分散させて応力の低減、吸収を図ることが
この発明の特徴の一つである。
て用いるものである。このシリコンゴムを封止用樹脂中
にミクロに、しかも均一に高分散化させ、しかも、この
ミクロ分散したゴムの界面がエポキシ樹脂、あるいはフ
ェノール樹脂のマトリックス界面との相互作用によって
応力を均一に分散させて応力の低減、吸収を図ることが
この発明の特徴の一つである。
この発明に用いるシリコンゴムとしてはその種類に特段
の限定はないが、純度および耐熱性が許容範囲のもので
あることが必要となる。また、その粒径については、最
大粒径は30μm以下で、好ましくは10μIn以下の
もので、かつ、その平均粒径が0.1〜5μmの範囲の
ものを用いるのが好ましい。0.1μm以下の場合につ
いては、もともとこのように微細化することが困難であ
るばかりでなく、樹脂中への均一分散が難しくなり、成
形性が低下する。また、5μm以上の場合には低応力に
対する効果が低減してくる。
の限定はないが、純度および耐熱性が許容範囲のもので
あることが必要となる。また、その粒径については、最
大粒径は30μm以下で、好ましくは10μIn以下の
もので、かつ、その平均粒径が0.1〜5μmの範囲の
ものを用いるのが好ましい。0.1μm以下の場合につ
いては、もともとこのように微細化することが困難であ
るばかりでなく、樹脂中への均一分散が難しくなり、成
形性が低下する。また、5μm以上の場合には低応力に
対する効果が低減してくる。
好ましい平均粒径の範囲は0.3〜1μmである。
また、シリコンゴムのM mについては、部分的に官能
基を導入したものの方が分散性、均一性、反応性の面で
より好ましい、このような官能基としては、エポキシ基
、アミノ基などが好適なものとして例示することができ
る。なお、その含有量は、シリコンに対して0.1〜1
0%程度とすることができる。
基を導入したものの方が分散性、均一性、反応性の面で
より好ましい、このような官能基としては、エポキシ基
、アミノ基などが好適なものとして例示することができ
る。なお、その含有量は、シリコンに対して0.1〜1
0%程度とすることができる。
このようなシリコンゴムは、この発明においてはアルコ
キシシラン類によって表面処理するが、これは、シリコ
ンゴムの界面にアルコキシシランの反応生成物であるシ
リコンゲルを生成させ、または、アルコキシシランによ
る反応点をゴム界面に導入することで低応力性を向上さ
せることをねらっている。
キシシラン類によって表面処理するが、これは、シリコ
ンゴムの界面にアルコキシシランの反応生成物であるシ
リコンゲルを生成させ、または、アルコキシシランによ
る反応点をゴム界面に導入することで低応力性を向上さ
せることをねらっている。
使用するアルコキシシラン類は、アミノ基、エポキシ基
、メルカプト基等の反応性基と、加水分解可能なメトキ
シ基、エトキシ基等を有するものを用いることができる
0反応性基の相互の反応、さらには、ゴム界面への作用
、さらには、メトキシ基やエトキシ基と充填材としての
シリカとの反応が起こることになる。
、メルカプト基等の反応性基と、加水分解可能なメトキ
シ基、エトキシ基等を有するものを用いることができる
0反応性基の相互の反応、さらには、ゴム界面への作用
、さらには、メトキシ基やエトキシ基と充填材としての
シリカとの反応が起こることになる。
添加するアルコキシシラン類は、通常は、シリコンゴム
に対して、1〜10重量%の範囲とするのが好ましい、
1重量%以下の場合には、この発明の所期の効果はなく
、また10重量%以上の場合には、それ程の効果の増大
は見られない、もちろん、アルコキシシラン類は、1種
のもの、もしくは2種以上のものを単独で、または複合
化して用いてもよい、複合化としては、エポキシシラン
とアミノシラン、エポキシシランとメルカプトシランと
の併用などが好ましいものとして例示される。
に対して、1〜10重量%の範囲とするのが好ましい、
1重量%以下の場合には、この発明の所期の効果はなく
、また10重量%以上の場合には、それ程の効果の増大
は見られない、もちろん、アルコキシシラン類は、1種
のもの、もしくは2種以上のものを単独で、または複合
化して用いてもよい、複合化としては、エポキシシラン
とアミノシラン、エポキシシランとメルカプトシランと
の併用などが好ましいものとして例示される。
このようなアルコキシシランとシリコンゴムとの表面処
理は、たとえば、シリコンゴムの一定量をヘンシェルミ
キサーで高速撹拌しながらアルコキシシランと混合する
。アルコキシシランは、1〜50μmの微小な粒子とし
て噴霧するのが好ましいが、インテグラルブレンドして
も特にさしつかえない、混合は、5〜30分間、50〜
150℃の温度で、1〜10時間行うのが好ましい。
理は、たとえば、シリコンゴムの一定量をヘンシェルミ
キサーで高速撹拌しながらアルコキシシランと混合する
。アルコキシシランは、1〜50μmの微小な粒子とし
て噴霧するのが好ましいが、インテグラルブレンドして
も特にさしつかえない、混合は、5〜30分間、50〜
150℃の温度で、1〜10時間行うのが好ましい。
表面処理したシリコンゴムは、そのまま封止用エポキシ
樹脂の組成物に配合してもよいし、分散性を高めるため
にエポキシ樹脂、フェノール樹脂と予備反応させ、得ら
れたゴム変性樹脂を配合してもよい。
樹脂の組成物に配合してもよいし、分散性を高めるため
にエポキシ樹脂、フェノール樹脂と予備反応させ、得ら
れたゴム変性樹脂を配合してもよい。
予備反応は、樹脂を100〜180℃の温度で溶融し、
その中に表面処理したシリコンゴムを添加し、混合、分
散させた後、冷却、粉砕することにより実施することが
できる。この場合の樹脂とシリコンゴムとの比率は、1
00:10〜50の、+1!量比とすることができる。
その中に表面処理したシリコンゴムを添加し、混合、分
散させた後、冷却、粉砕することにより実施することが
できる。この場合の樹脂とシリコンゴムとの比率は、1
00:10〜50の、+1!量比とすることができる。
表面処理したシリコンゴム、またはゴム変性樹脂は、成
形材エポキシ樹脂に対して5〜50重量%添加するのが
好ましい。5%以下の場合には、この発明の効果は低く
、また、50%以上としても、効果の飛躍は期待できな
い。
形材エポキシ樹脂に対して5〜50重量%添加するのが
好ましい。5%以下の場合には、この発明の効果は低く
、また、50%以上としても、効果の飛躍は期待できな
い。
もちろん、この発明においては、封止用樹脂成形材の成
分として、適宜に充填材、着色材、難燃材などを配合す
ることができる。たとえば、シリカ、アルミナ、タルク
、クレー、石英ガラス粉などの無機充填材が用いられる
。
分として、適宜に充填材、着色材、難燃材などを配合す
ることができる。たとえば、シリカ、アルミナ、タルク
、クレー、石英ガラス粉などの無機充填材が用いられる
。
また、この発明に使用することのできるエポキシ樹脂に
ついては特に限定されるものではなく、公知のエポキシ
樹脂が広く用いられる。たとえば、フェノールノボラッ
ク型エポキシ樹脂、クレゾールノボラック型エポキシ樹
脂、ビスフェノール−A型エポキシ樹脂、グリシジルエ
ーテル型エポキシ樹脂、グリシジルエステル型エポキシ
樹脂、ハロゲン化エポキシ樹脂等の適宜なもの、さらに
は適宜なフェノール樹脂等が用いられる。
ついては特に限定されるものではなく、公知のエポキシ
樹脂が広く用いられる。たとえば、フェノールノボラッ
ク型エポキシ樹脂、クレゾールノボラック型エポキシ樹
脂、ビスフェノール−A型エポキシ樹脂、グリシジルエ
ーテル型エポキシ樹脂、グリシジルエステル型エポキシ
樹脂、ハロゲン化エポキシ樹脂等の適宜なもの、さらに
は適宜なフェノール樹脂等が用いられる。
次にこの発明の実施例を示し、さらに詳しくこの発明の
封止用成形材とその優れた低応力性、耐湿性、成形性の
効果について説明する。もちろん、この発明は、以下の
実施例によって限定されるものではない。
封止用成形材とその優れた低応力性、耐湿性、成形性の
効果について説明する。もちろん、この発明は、以下の
実施例によって限定されるものではない。
(実施例)
エポキシ樹脂組成物100重量部を120〜130℃に
溶融し、その中に、次の各種の処理したシリコンゴムを
20重量部添加し、130〜150℃で1時間分散処理
後、冷却して粉砕した。
溶融し、その中に、次の各種の処理したシリコンゴムを
20重量部添加し、130〜150℃で1時間分散処理
後、冷却して粉砕した。
この処理したシリコンゴムを、次の組成:エポキシ樹脂
、フェノールロボラック硬化剤、リン系助剤(助剤)、
溶融シリカ(充填剤)、合成ワックス(#型材)、カー
ボンブラック(顔料)、および臭素化エポキシ樹脂、二
酸化アンチモン(龍燃剤) からなる配合系に、シリコンゴム換算で、3%の割合で
添加した。
、フェノールロボラック硬化剤、リン系助剤(助剤)、
溶融シリカ(充填剤)、合成ワックス(#型材)、カー
ボンブラック(顔料)、および臭素化エポキシ樹脂、二
酸化アンチモン(龍燃剤) からなる配合系に、シリコンゴム換算で、3%の割合で
添加した。
(^)平均粒径1μmのシリコンゴム100重、延部に
対して、アミノシラン3重量部を高速で分散・撹拌した
ものを、120℃/2flr処理した。
対して、アミノシラン3重量部を高速で分散・撹拌した
ものを、120℃/2flr処理した。
(B) 平均粒径3μrnのシリコンゴムに上記と同
じ処理をした。
じ処理をした。
(C) 平均粒径3μmのシリコンゴム100重量部
に、アミノシラン3重量部、エポキシシラン3重量部を
添加して高速で分散・撹拌したものを、120℃、’
2 tl r処理した。
に、アミノシラン3重量部、エポキシシラン3重量部を
添加して高速で分散・撹拌したものを、120℃、’
2 tl r処理した。
(0)平均粒径3μmのシリコンゴム100重量部にエ
ポキシシラン3重量部、メルカプトシラン3重量部を添
加して高速で分散・撹拌した。
ポキシシラン3重量部、メルカプトシラン3重量部を添
加して高速で分散・撹拌した。
ものを、120℃/2H「処理した。
(N 平均粒径3μmのシリコンゴムを未処理で使用
した(比較例)。
した(比較例)。
([)平均粒径10μmのシリコンゴムを未処理で使用
した(比較例)。
した(比較例)。
各々の封止用エポキシ樹脂成形材について、低応力性、
耐湿性およびパリ発生にみる成形性について特性を評価
した。
耐湿性およびパリ発生にみる成形性について特性を評価
した。
その結果を示したものが表−1である。
この表に示した結果からも明らかなように、この発明の
成形材(実施例1〜3)の場合には、比較例に比べて、
低応力性、耐湿性および成形性のいずれにおいてもバラ
ンスよく、良好なものとなる。
成形材(実施例1〜3)の場合には、比較例に比べて、
低応力性、耐湿性および成形性のいずれにおいてもバラ
ンスよく、良好なものとなる。
表−1
(注)
アルミスライド量:ベレットサイズ3 、2x 11.
5n+mの上にアルミ配線をしたTEGを16pDIP
に封止し、−65〜150℃のヒートショック1000
サイクル後のスライド殖を観察。
5n+mの上にアルミ配線をしたTEGを16pDIP
に封止し、−65〜150℃のヒートショック1000
サイクル後のスライド殖を観察。
耐 湿 性 :ペレットサイズ3.2x2 、3r
@m上にアルミ配線したTEGを18ρSOPに封止し
、85°C185%RH172時間吸湿後、260℃7
710秒半円浸漬後、PC’r”(5atn、151℃
、100%RH)によるAI腐食をi察。
@m上にアルミ配線したTEGを18ρSOPに封止し
、85°C185%RH172時間吸湿後、260℃7
710秒半円浸漬後、PC’r”(5atn、151℃
、100%RH)によるAI腐食をi察。
パリの発生 :10μm、20 、u m、30 μs
nのスリットを流れるパリの長さを測定した。
nのスリットを流れるパリの長さを測定した。
(発明の効果)
この発明により、以上詳しく説明した通り、低応力性と
ともに、耐湿性および成形性ともに優れ。
ともに、耐湿性および成形性ともに優れ。
た半導体封止用エポキシ樹脂成形材が提供される。
Claims (5)
- (1)1種もしくは2種以上のアルコキシシラン類で表
面処理したシリコンゴムを配合することを特徴とする半
導体封止用エポキシ樹脂成形材。 - (2)シリコンゴムの最大粒径が30μm以下で、平均
粒径が0.1〜5μmの特許請求の範囲第(1)項記載
の半導体封止用エポキシ樹脂成形材。 - (3)シリコンゴムを成形材エポキシ樹脂に対して5〜
50重量%添加する特許請求の範囲第(1)項記載の半
導体封止用エポキシ樹脂成形材。 - (4)エポキシ樹脂とシリコンゴムとを予備反応させた
シリコンゴム変性エポキシ樹脂を配合する特許請求の範
囲第(1)項記載の半導体封止用エポキシ樹脂成形材。 - (5)アルコキシシラン類がエポキシシラン、アミノシ
ラン、メルカプトシランの1種もしくは2種以上である
特許請求の範囲第(1)項記載の半導体封止用エポキシ
樹脂成形材。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62323295A JPH0811778B2 (ja) | 1987-12-21 | 1987-12-21 | 半導体封止用エポキシ樹脂成形材 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62323295A JPH0811778B2 (ja) | 1987-12-21 | 1987-12-21 | 半導体封止用エポキシ樹脂成形材 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01165652A true JPH01165652A (ja) | 1989-06-29 |
JPH0811778B2 JPH0811778B2 (ja) | 1996-02-07 |
Family
ID=18153191
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62323295A Expired - Lifetime JPH0811778B2 (ja) | 1987-12-21 | 1987-12-21 | 半導体封止用エポキシ樹脂成形材 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0811778B2 (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5106658A (en) * | 1989-04-24 | 1992-04-21 | Akzo Nv | Hardness improvement of film containing arylsiloxane and organosilicate |
US5118742A (en) * | 1989-04-24 | 1992-06-02 | Akzo Nv | Blend of silicate and photocurable arylsiloxane materials |
US6838499B2 (en) * | 2002-02-19 | 2005-01-04 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Curable compositions |
WO2005054331A1 (ja) * | 2003-12-01 | 2005-06-16 | Matsushita Electric Works, Ltd. | エポキシ樹脂組成物及びそれを用いた半導体装置 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61168619A (ja) * | 1985-01-21 | 1986-07-30 | Nippon Zeon Co Ltd | 半導体封止用エポキシ樹脂組成物の製造方法 |
JPS61283649A (ja) * | 1985-06-11 | 1986-12-13 | Sumitomo Bakelite Co Ltd | エポキシ樹脂組成物 |
-
1987
- 1987-12-21 JP JP62323295A patent/JPH0811778B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61168619A (ja) * | 1985-01-21 | 1986-07-30 | Nippon Zeon Co Ltd | 半導体封止用エポキシ樹脂組成物の製造方法 |
JPS61283649A (ja) * | 1985-06-11 | 1986-12-13 | Sumitomo Bakelite Co Ltd | エポキシ樹脂組成物 |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5106658A (en) * | 1989-04-24 | 1992-04-21 | Akzo Nv | Hardness improvement of film containing arylsiloxane and organosilicate |
US5118742A (en) * | 1989-04-24 | 1992-06-02 | Akzo Nv | Blend of silicate and photocurable arylsiloxane materials |
US6838499B2 (en) * | 2002-02-19 | 2005-01-04 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Curable compositions |
WO2005054331A1 (ja) * | 2003-12-01 | 2005-06-16 | Matsushita Electric Works, Ltd. | エポキシ樹脂組成物及びそれを用いた半導体装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0811778B2 (ja) | 1996-02-07 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6162878A (en) | Semiconductor encapsulating epoxy resin composition and semiconductor device | |
JPS6355532B2 (ja) | ||
JP2020125399A (ja) | 半導体封止用樹脂組成物および半導体装置 | |
JPH0418445A (ja) | エポキシ樹脂組成物及びその硬化物 | |
JP6950299B2 (ja) | 封止材用樹脂組成物及びこれを用いた電子装置 | |
JPH01165652A (ja) | 半導体封止用エポキシ樹脂成形材 | |
JPS61166822A (ja) | 封止用樹脂組成物 | |
JPS58210920A (ja) | 熱硬化性エポキシ樹脂組成物 | |
KR101997349B1 (ko) | 에폭시 수지 조성물 | |
JPH03192151A (ja) | 半導体封止用エポキシ樹脂組成物 | |
JPH0496929A (ja) | エポキシ樹脂組成物及び半導体装置 | |
JPS59197421A (ja) | 硬化性エポキシ樹脂組成物 | |
JPH03258852A (ja) | エポキシ樹脂組成物及びその硬化物 | |
JPH07107091B2 (ja) | 半導体封止用エポキシ樹脂組成物 | |
JP4618407B2 (ja) | 半導体封止用エポキシ樹脂組成物及び半導体装置 | |
KR20000011815A (ko) | 반도체봉지용에폭시수지조성물및반도체장치 | |
JPH01249825A (ja) | 封止用樹脂組成物およびその製造方法 | |
JPH03285909A (ja) | エポキシ樹脂組成物及び樹脂封止型半導体装置 | |
JPH02219814A (ja) | エポキシ樹脂組成物 | |
JPS61163920A (ja) | 熱硬化性樹脂組成物およびその製法 | |
JPH03157447A (ja) | エポキシ樹脂組成物及びエポキシ樹脂硬化物 | |
KR950005447B1 (ko) | 반도체 소자 봉지용 에폭시 수지조성물(1) | |
JPH03167250A (ja) | エポキシ樹脂組成物 | |
JPS6296522A (ja) | 封止用樹脂組成物 | |
JPH02199154A (ja) | エポキシ樹脂組成物の製法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
EXPY | Cancellation because of completion of term |