JPH01164352A - 計測内視鏡 - Google Patents

計測内視鏡

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JPH01164352A
JPH01164352A JP62076494A JP7649487A JPH01164352A JP H01164352 A JPH01164352 A JP H01164352A JP 62076494 A JP62076494 A JP 62076494A JP 7649487 A JP7649487 A JP 7649487A JP H01164352 A JPH01164352 A JP H01164352A
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JP
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light
observation
illumination light
pattern projection
measurement
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JP62076494A
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Satoshi Saito
智 斎藤
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) この発明は、体内の病変等の大きさを計測することがで
きる計測内視鏡に関する。
(従来の技術) 内視鏡による体内の病変等の大きさを計測することがで
きる従来技術としては、例えば第12図ないし第15図
に示すような装置を用いたものが知、れT イ6 (G
 astroenterological  E n+
A。
opy 、 Vol、  (25) 6. Jun、 
1983. p、868)。
第12図中、11はレーザ光源、12は透過形ファイバ
回折格子であり、透過形ファイバ回折格子12は、グラ
スファイバを平面状に並べたもの2枚を、各面のファイ
バ束が互いに直交するように組合わせて構成されている
。グラスファイバは、例えば直径25μmのものを一面
に100本程度用いて正方形となるように構成しである
ので、透過形ファイバ回折格子12は、−辺が2.5m
m程度となり、スコープ先端部に十分に装着できる大き
さとされている。
そして、レーザ光m11からのレーザ光が透過形ファイ
バ回折格子12に垂直に入射されると、行列状に配列さ
れた二次元のスポット状の回折光であるパターン投影光
13が得られ、これを透過形回折格子12と平行なスク
リーン上に投影すると、行列状の二次元のスポット光パ
ターンが得られる。
第13図は、スクリーンを傾むけて、そのスクリーンの
下方からパターン投影光13を投影し、透過形ファイバ
回折格子12と所定間隔をおいた上方から観測した場合
のスポット光パターンの投影像を示すものである。スポ
ット同士の間隔は、第13図の上方側のものほど大きく
なっており、その間隔は、透過形ファイバ回折格子から
の距離に比例して大きくなる現象が観測されている。
上記の従来技術は、この現象を利用して観測点と病変等
の生じている被測定対象との距離、その大きさおよび高
まりや陥凹の程度等を計測するようにしている。
第14図は、透過形ファイバ回折格子の配設点Gと対物
レンズまたは搬像素子等の配設点である観測点Aとの間
に一定の間隔をとり、上述のように被測定対象14に投
影されたスポット同士の間隔に、その被測定対象14の
形状に応じた変化を生じさせると、被測定対象14に関
する病変の大きさ等の所要の計測が可能となることを示
しているものである。
(発明が解決しようとする問題点) ところで上述のような計測内視鏡には、一般に観察用照
明光を出射する白色光光源が付設されて計測の他に通常
観察を行なう機能が備えられている。
しかしながら、被測定対象である生体等にパターン投影
光が投射されているときに観察用照明光が同時に照射さ
れると、その反射光により第15図に示すようなハレー
ション光15が生じて、パターン投影光によるスポット
の誤認識を生じたり、観察用照明光による背景光のため
バックグラウンドレベルが大きくなってスポットの検出
が困ガになり、正確な計測を行なうことが難しくなる場
合があるという問題点があった。
この発明は上記事情に基づいてなされたもので、パター
ン投射光によるスポットを明瞭に検出することができて
計測および通常観察を適切に行なうことのできる計測内
視鏡を提供することを目的とする。
[発明の構成] (問題点を解決するための手段) この発明は上記問題点を解決するために、スコープ先端
側に、レーザ光を回折して被測定対象に計測用のパター
ン投影光を投射する透過形回折格子と、観察用照明光の
照射手段と、被測定対象をR@する!l[1像手段とを
備え、被測定対象の大きさ等の計測および通常観察を可
能とした内視鏡であって、前記計測用のパターン投影光
と観察用照明光との照射タイミングを制御する照射タイ
ミング制御手段を有することを要旨とする。
(作用) 照射タイミング制御手段により計測用のパターン投影光
と観察用照明光との照射タイζフグが制御され、計測時
には観察用照明光の影響が除去されて、被測定対象上に
パターン投影光による明瞭な行列状の二次元のスポット
光パターンが得られる。
そして、被測定対象上に投影されたこのスポット光パタ
ーンが搬像手段で搬像され、その画像が適宜に処理され
て撮像手段と被測定対象との距離、その大きさおよび高
まりゃ陥凹の程度等の計測が正確に行なわれる。
一方、観察用照明光による通常観察は、パターン投影光
の照射には格別影響を受けることなく行なわれる。
而して計測および通常観察が適切に行なわれる。
(実施例) 以下、この発明の実施例を図面に基づいて説明する。
第1図ないし第8図は、この発明の一実施例を示す図で
ある。
なお、第1図等において前記第12図における機器また
は部材等と同一ないし均等のものは、前記と同一符号を
以って示し、重複した説明を省略する。
まず、第1図および第2図を用いて計測内視鏡の構成を
説明すると、これらの図中、16はレーザ光源11から
のレーザ光を導びくだめの光ファイバ、18は白色光光
源17からの観察用照明光を導びくだめの光ファイバで
あり、これらの両光ファイバ16.18および次に述べ
る固体搬像素子に接続された信号線等が一体に束ねられ
て体内に挿入されるスコープ19が構成されている。
そして、レーザ光を導びく光ファイバ16の出射端面側
、即ちスコープ先端側に透過形ファイバ回折格子12が
装着され、観察用照明光を導びくだめの光ファイバ18
の出射端面側に観察用照明光の照射手段としての照明レ
ンズ21が装着°されている。22はam手段としての
CODからなる固体撮像素子であり、固体撮像素子22
は、透過形ファイバ回折格子12に対して視差に対応し
た所定の間隔Paをおいて装着されている。上記の透過
形ファイバ回折格子12、照明レンズ21および固体搬
像素子22は、第2図に示すように、スコープ先端側に
おけるスコープ19の側部に配列されており、この実施
例における内視鏡は、側視形内視鏡として構成されてい
る。
また、23はレーザ光用電源、24は白色光用電源であ
り、これら両市源23.24には、照射タイミング制御
手段を構成する次のような各機器が接続されている。即
ち、まず白色光光源17とその電源24との間にパルサ
25が接続され、このバルサ25にそのタイミングを制
御するパルスタイミング制御回路26が接続されている
。またレーザ光用および白色光用の両市源2.3.24
には観察/計測切換スイッチ27の切換信号線がそれぞ
れ接続され、さらに白色光用電源24には標準/パルサ
切換コントローラ28が接続されている。
一方、固体搬像素子22の信号線29には、カメラコン
トロールユニット31が接続され、このカメラコントロ
ールユニット31のテレビ信号出力線側には、デコーダ
32および各色成分信号記憶用のメモリ33r、33Q
、33bが順次接続されている。カメラコントロールユ
ニット31には、スポット光パターンを処理するため別
途に輝度信号出力線が接続されており、この輝度信号出
力線に、2値化処理部34、ノイズ処理部35、細線化
処理部36およびビクセル座標検出部37が順次接続さ
れている。
次に第3図ないし第8図を用いて作用を説明する。
まず、照射タイミングの制御から説明すると、スコープ
19が体内の所要部位に挿入されて観察/計測切換スイ
ッチ27が観察モードに切換えられ、また標準/バルサ
切換コントローラ28で標準モードが選択されると、内
視鏡は標準モードにおける通常観察モードとなって白色
光用型m24からの一定電圧が白色光光源17に供給さ
れ、光ファイバ18および照明レンズ21を介して観察
用照明光のみが被測定対象に連続して照射される(第3
図■の標準モード)。
また、標準モード/パルサ切換コントローラ28で標準
モードが選択されたまま、観察/計測切換スイッチ27
が計測モードに切換えられると、電源の供給状態が切換
えられて内視鏡は計測モードとなり、レーザ光用電源2
3からの一定電圧がレーザ光源11に供給され、レーザ
光が光ファイバ16を介しモ透過形フ?イバ回折格子1
2に連続して照射される。したがって被測定対象には、
パターン投影光13のみが投射されて観察用照明光の影
響のない明瞭な行列状の二次元のスポット光パターンが
得られる(第3図像))。
さらに、上記の計測モード状態において、標準/バルサ
切換コントローラ28がパルスモードに切換えられると
、白色光用光源24からの電圧がバルサ25を介して白
色光光源17に供給され、白色光光源17がパルス点灯
されて被測定対象には、パターン投影光13の連続投射
中に、パルスタイミング制御回路26で所定の繰返し周
期に調整されたパルス状の観察用照明光が照射される(
第3図(ωの計測モード)。
そして、計測モードにおけるパルス状観察用照明光の照
射モードにおいては、固体′m像素子22の読出しクロ
ック(第3図(C))により、パターン投影光で生じる
スポット光パターンと、観察用照明光で生じる観察用の
画像との読出し制御が適切に行なわれ、例えばスポット
光パターンは固体撮像手段22における偶数フィールド
で読出され、また観察用照明光による観察用画像は奇数
フィールドで読出されて計測と通常観察とが、並行して
進行される。
次いで上述のようにパターン投影光および観察用照明光
が適切なタイミングで照射されている被測定対象の計測
および通常観察の各R様を説明する。
通常観察の態様から説明すると、照明レンズ21からの
観察用照明光が被測定対象に照射されているとき、その
像が固体撮像素子22によりmtaされ、前述のように
、例えばその奇数フィールドで読出される。
固体撮像素子22から読出された画像信号は、カメラコ
ントロールユニット31に入力されて、そのカラープロ
セス回路により輝度信号Eyおよび色差信号Et、Eq
が得られ、さらに、これらの信号は、デコーダ32でR
,G、Bの各色成分信号Er、E(J、Ebとされたの
ち、A/D変換されて各メモリ33r、33Q、33b
にそれぞれ記録される。そしてメモリ33r、33g、
33bから、テレビ信号が例えばNTSC方式の標準信
号として出力され、図示省略のCRTモニタにカラー画
像が表示されて、被測定対象の通常観察が行なわれる。
一方、計測態様においては輝度信号Eyが2値化処理部
34側に導ひかれて、スポット光の検出が行なわれる。
まず、2値化処理部34により輝度信号Eyについて、
基準の閾値レベルThよりも輝度の大なる部分は「1」
、小なる部分は「0」として2値化処理が行なわれる。
パターン投影光13の照射されている部位は輝度が高い
ため「1」となり、他の部分は「0」となってパターン
投影光13の照射部位が検出される。
次いで、2値化処理された画像信号にノイズ処理部35
でノイズ処理がされ、細線化処理部36で細線化処理が
行なわれて投影されたスポットの各中心点、即ち、各ビ
クセルが得られる。得られたスポット光パターンの画像
は、行、列状のスポットの間隔が被測定対象の形状に応
じて変化している。
ビクセル座標検出部37では、得られたスポット光パタ
ーンの画像により、まず第4図に示すように、X方向、
即ち視差方向のO次項の座標検出が行なわれる。0次項
の座標検出は、中心の0次の回折光のみを明るくする方
法(G astroenterological  E
ndscopy 、 Vol、  (25) 6. J
un。
1983、 pps6s〜874)により行なわれる。
検出された0次項のX座標をX0piX(画面左端をO
)とする。
次に、第5図に示すように、固体搬像素子22の配設さ
れている観察系の面からO次項スポットの照射されてい
る点を含む基準平面(観察系の面に平行)10までの基
準側II Z oが次のような順序で演算される。
まず、0次項のみえる方向の角度θ0と画面の視野角2
βとのjanの比が求められる。
tanθo / i a nβ = 〔xop i x−(Xpn/2>)/(Xpn/
2)・・・(1) したがって tanθo −(Xop i X−(Xpn/2>)−
tanβ/(XI)n/2) ・・・(2) ここに Xopix:0次項のビクセル座標 Xpn   :画面のX方向のビクセル数基単側11f
iZoは、 Z−X/lanθ0をまず求メ、 スポット光照射位置をX−PaとするとZo  −Pa
/lanθo          ・・・(3)として
求められる。(3)式中のtanθ0は、前記(2)式
で求められている。
次いで、0次項スポットの座標Xopixを中心にして
、第6図に示すように、各列のスポットの中心X座標X
hpixに番地付けが行なわれる。
番地付けは、O次項スポットをO番地とし、それよりX
hp i xが小さい方に順次−1、−2、・・番地が
付され、xhpixが大きい方に+1、+2、・・番地
が付される。
番地付けが行なわれたのら、第7図に示づように、観察
系の面から各次項のスポットまでの距離zhが求められ
る。
まずh次項スポットを通る直線の方程式ZはZ= (X
−Pa)/lanψh(4)ここにψhはh次項の回折
角であり、 sinψh−h−λ/D (h−h±1、±2・・) λ:波長 り二回折格子(ファイバ)のピッチ h次項スポットがθhの方向にみえたとするとZ−X/
lanθh         ・<5)h次項スポット
の当っている点までの距離zhは、上記(4)、(5)
式の交点として求められるので、次式のようになる。
Zh=Pa/ (tanθh−tan(J)h)・・・
(6) 各次項のスポットについて距anzhを計算したのち、
第8図に示すように横軸にX座標xhp iXをとり、
縦軸に(Zn−Zo )をとって変位母曲線が作成され
る。ここに(Zh−Zo )の値は、基準平面10から
の凹凸変位量を表わしている。
上述のように、各次項のスポットまでの距+mzh t
3 に ’CF a 位[1曲線xhpix対(Ztl
−Zo )が、視差に対応した所定の間隔paに基づい
て求められる。この変位量曲線Xhp i x対(Zh
−Zo )は、第6図に示す各行のスポット列について
求められる。スポットの入っていないビクセルについて
は、その前後のスポットの変位量値により補間される。
このようにして観測点(固体1Iil像素子の配置点)
と病変等の生じている被測定対象間の距mzh。
その大きさおよび変位量曲線からその高まりや陥凹の程
度等が計測される。
次に、第9図および第10図には、この発明の他の実施
例を示す。
この実施例は、照射タイミング制御手段が機械的手段で
構成されている。即ち、レーザ光[11とレーザ光ガイ
ド用の光ファイバ16との間および白色光光I!17と
観察用照明光ガイド用の光ファイバ18との間に、機械
的照射タイミング制御手段としてのフィルタ(光チョッ
パ)38.39がそれぞれ回動可能に配設されている。
フィルタ38により、レーザ光源11からのレーザ光が
第10図(Dに示すようなパルスレーザ光とされ、他の
フィルタ39により白色光光源17からのII察用照明
光が第10図(a>に示すようなパルス状観察用照明光
とされ、且つパルスレーザ光とパルス状観察用照明光と
が交互のタイミングで、各光ファイバ16.18に入射
される。而して被測定対象には、パターン投影光と観察
用照明光とがパルス状に交互に切換え照射される。
この実施例においても固体撮像素子から読出される画像
信号の処理系回路は、前記第1図と同様のものが配設さ
れている。
そして前記と同様に、固体撮像素子の読出しクロック(
第10図(C)〉により、パターン投影光で得られるス
ポット光パターンが固体撮像素子における例えば偶数フ
ィールドで読出され、また観察用照明光による観察用の
画像が奇数フィールドで読出されて計測と通常観察とが
並行して行なわれる。
第11図には、同上実施例におけるパターン投影光(同
図(b))と観察用照明光(同図の))との照射タイミ
ングの変形例を示す。
この変形例は、フィルタ38.39の構成に所要の変更
を加えることにより、パターン投影光および観察用照明
光の両光のパルス幅を可能な範囲で十分に小さくし、観
察用照明光は奇数フィールド読出し用のクロック(第1
1図(ω)の直前に照明し、またパターン投影光は同ク
ロックの直後に投射するようにしたものである。
このような照射タイミングをとることにより、被測定対
象である生体等に動きがある場合に、通常観察と計測と
の間における誤差を少なくすることができる。
なお、第10図および第11図に示したパターン投影光
と観察用照明光との照射タイミングの態様は、前記第1
図に示した観察/計測切換スイッチ27等からなる電気
的手段で構成した照射タイミング制御手段によっても実
現することができる。
また、被測定対象に動きがある場合に、通常観察時に動
画として観察する場合は、観察用照明光とパターン投影
光とを重ねて照射しておき、静止画像として撮像する場
合にのみ前記第11図に示したような照射タイミングに
切換えてもよい。
[発明の効果] 以上説明したように、この発明によれば、照射タイミン
グ制御手段により計測用のパターン投影光と観察用照明
光とを例えば交互に切換え照射するなど所要の照射タイ
ミングとなるように制御することができるので、計測時
にはII察用照明光の影響が除去されて被測定対象上に
パターン投影光による明瞭な行列状の二次元のスポット
光パターンが得られ、また通常観察時には観察用照明光
のみ等の照明とすることができて計測および通常観察を
適切に行なうことができるという利点がある。
【図面の簡単な説明】
第1図ないし第8図はこの発明に係る計測内視鏡の一実
施例を示すもので、第1図は全体構成を示すブロック図
、第2図はスコープ先端部の構成図、第3図はパターン
投影光と観察用照明光との照射タイミングの一例を示す
タイミングチャート、第4図は被測定対象に投影された
スポット光パターンの画像を示す図、第5図は観察系の
面から0次光スポツトを含む基準平面までの基準距離の
演算法を説明するための図、第6図は各スポットへの番
地付けを説明するための図、第7図は観、察系の面から
各次項のスポットまでの距離の演算法を説明するための
図、第8図はビクセル座標検出部で作成された変位量曲
線の一例を示す特性図、第9図はこの発明の他の実施例
を示す要部構成図、第10図は同上他の実施例によるパ
ターン投影光と観察用照明光との照射タイミングの一例
を示すタイミングチャート、第11図は同上他の実施例
によるパターン投影光とW4察用照明光との照射タイミ
ングの変形例を示すタイミングチャート、第12図は従
来の透過形ファイバ回折格子による回折光を示す図、第
13図は同上回折光により得られるスポット光パターン
の投影像の一例を示す図、第14図は第12図の透過形
ファイバ回折格子を用いた被測定対象の観察例を示す図
、第15図はスポット光パターンに観察用照明光の反射
光によりハレーション光が生じている状態を示す図であ
る。 11:レーザ光源、 12:透過形ファイバ回折格子、 13:パターン投影光、 17:観察用照明光を出射する白色光光源、19ニスコ
ープ、 21:照明レンズ(観察用照明の照射手段)、22:固
体撮像索子(Il像手段)、 25:パルサ、 26:パルスタイミング制御回路、 27:観察/計測切換スイッチ、 28:標準/バルサ切換コントローラ、38.39:フ
ィルタ(機械的な照射タイミング制御手段)。 代二人J+゛こ士二灯保男 第1図 1ム 第2図 第3図 第4図         第5図 第6図        第7図 Zh −7,0 第10図 第11図 @12図 、!13図 第14図         第15図

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)スコープ先端側に、レーザ光を回折して被測定対
    象に計測用のパターン投影光を投射する透過形回折格子
    と、観察用照明光の照射手段と、被測定対象を撮像する
    撮像手段とを備え、被測定対象の大きさ等の計測および
    通常観察を可能とした内視鏡であつて、 前記計測用のパターン投影光と観察用照明光との照射タ
    イミングを制御する照射タイミング制御手段を有するこ
    とを特徴とする計測内視鏡。
  2. (2)前記照射タイミング制御手段により、計測時には
    パターン投影光のみが投射され、通常観察時には観察用
    照明光のみが照射されることを特徴とする特許請求の範
    囲第1項に記載の計測内視鏡。
  3. (3)前記照射タイミング制御手段により、パターン投
    影光は連続して投射され、通常観察時に観察用照明光が
    パルス状に照射されることを特徴とする特許請求の範囲
    第1項に記載の計測内視鏡。
  4. (4)前記照射タイミング制御手段により、パターン投
    影光と観察用照明光とがパルス状に交互に切換え照射さ
    れることを特徴とする特許請求の範囲第1項に記載の計
    測内視鏡。
  5. (5)前記パターン投影光は前記撮像手段における偶数
    フィールド読出しに対応したタイミングで照射され、前
    記観察用照明光は前記撮像手段における奇数フィールド
    読出しに対応したタイミングで照射されることを特徴と
    する特許請求の範囲第4項に記載の計測内視鏡。
  6. (6)観察用照明光およびパターン投影光は、撮像手段
    における読出し用クロックの直前、直後にそれぞれ照射
    されることを特徴とする特許請求の範囲第5項に記載の
    計測内視鏡。
  7. (7)被測定対象を動画面として通常観察を行なうとき
    は、パターン投影光および観察用照明光の両光を同時に
    照射し、静止画像として撮像する際に前記照射タイミン
    グ制御手段により、パターン投影光と観察用照明光との
    照射タイミングを制御することを特徴とする特許請求の
    範囲第2項ないし第6項の何れかに記載の計測内視鏡。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014518710A (ja) * 2011-05-16 2014-08-07 ユニヴェルシテ・リーブル・ドゥ・ブリュクセル 内視鏡検査における可視化と三次元復元のための装置
JP2017023562A (ja) * 2015-07-24 2017-02-02 公立大学法人広島市立大学 3次元形状計測装置、診断システム及び3次元形状計測方法

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