JPH01162233U - - Google Patents

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JPH01162233U
JPH01162233U JP5521088U JP5521088U JPH01162233U JP H01162233 U JPH01162233 U JP H01162233U JP 5521088 U JP5521088 U JP 5521088U JP 5521088 U JP5521088 U JP 5521088U JP H01162233 U JPH01162233 U JP H01162233U
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JP
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heat treatment
buffer member
semiconductor
treatment area
treatment apparatus
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JP5521088U
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Description

【図面の簡単な説明】
第1図乃至第3図は本考案の実施例に係る半導
体熱拡散装置を示し、第1図は全体断面概略図、
第2図は該装置に用いるボート形状を示す斜視図
、第3図a,bは前記ボート上に溶着される緩衝
板の変形例を示す要部斜視図である。第4図は従
来技術に係る半導体熱拡散装置を示す全体断面概
略図である。 1:炉芯管、2:発熱体、3:ボート、4:半
導体ウエハ群、8A…:ガス流緩衝部材、8a,
8b:凹凸面、10:熱処理区域、11a,12
a:気密シール部位。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 半導体ウエハ群の熱処理を行う熱処理区域
    から外れた個所に気密シール部位を設けた半導体
    熱処理装置において、前記熱処理区域内に収納さ
    れた半導体ウエハ群と気密シール部位間の任意個
    所に石英ガラス製のガス流緩衝部材を配するとと
    もに、該緩衝部材の少なくとも一側表面を微小凹
    凸状に形成し、該凹凸面により前記熱処理区域よ
    り放射される熱線を散乱可能に構成した事を特徴
    とする半導体熱処理装置。 (2) 前記緩衝部材を前記熱処理区域に対面可能
    に配するとともに、該緩衝部材の少なくとも一側
    表面に形成した微小凹凸面における表面粗さ(中
    心平均粗さ)を1〜100μmRaの範囲に設定
    した事を特徴とする請求項(1)記載の半導体熱処
    理装置。
JP5521088U 1988-04-26 1988-04-26 Pending JPH01162233U (ja)

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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5674923A (en) * 1979-11-22 1981-06-20 Oki Electric Ind Co Ltd Core tube device for furnace
JPS6358822A (ja) * 1986-08-29 1988-03-14 Shinetsu Sekiei Kk 石英ガラス製ウエ−ハ搬送・保持用治具

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5674923A (en) * 1979-11-22 1981-06-20 Oki Electric Ind Co Ltd Core tube device for furnace
JPS6358822A (ja) * 1986-08-29 1988-03-14 Shinetsu Sekiei Kk 石英ガラス製ウエ−ハ搬送・保持用治具

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