JPH01156721A - 液晶表示素子 - Google Patents
液晶表示素子Info
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- JPH01156721A JPH01156721A JP31711087A JP31711087A JPH01156721A JP H01156721 A JPH01156721 A JP H01156721A JP 31711087 A JP31711087 A JP 31711087A JP 31711087 A JP31711087 A JP 31711087A JP H01156721 A JPH01156721 A JP H01156721A
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Landscapes
- Liquid Crystal (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の目的〕
(産業上の利用分野)
本発明は、液晶表示素子に関し、特に配向膜を改良した
液晶表示素子に関する。
液晶表示素子に関する。
(従来の技術)
一般に、液晶表示素子は、第1図に示すように、ガラス
からなる一対の基板11.12の対向面に透明な電極1
3.14が形成されているとともに、この電極13.1
4を覆って配向膜15.16が形成され、そして、上記
一対の基板11.12がスペーサ(図示しない)を介在
して所定の間隔に対向配置されて、周囲の封肴材18に
より接着され、かつ、一対の基板11.12間の間隙に
液晶19が封入挟持されている。
からなる一対の基板11.12の対向面に透明な電極1
3.14が形成されているとともに、この電極13.1
4を覆って配向膜15.16が形成され、そして、上記
一対の基板11.12がスペーサ(図示しない)を介在
して所定の間隔に対向配置されて、周囲の封肴材18に
より接着され、かつ、一対の基板11.12間の間隙に
液晶19が封入挟持されている。
また、上記一対の基板11.12の両方または一方の外
面上に偏光板20.21が被着されている。
面上に偏光板20.21が被着されている。
なお、上記一対の基板11.12の電極13.14は、
互いに帯状の個々の電極が直交して、その交差部分が表
示部における画素となっている。
互いに帯状の個々の電極が直交して、その交差部分が表
示部における画素となっている。
このような液晶表示素子では、対向する電極13、14
間に電圧を印加して、液晶19の分子の配向方向を変化
させ、分子の配向方向の違いによる光学的特性の差を利
用して表示を行なう。したがって、液晶19の分子は、
一定方向に均一に配向している必要があり、液晶19の
分子の配向状態の良否が液晶表示素子の基本性能である
コントラスト、表示の均一性、応答速度等に大きな彩管
を与える。
間に電圧を印加して、液晶19の分子の配向方向を変化
させ、分子の配向方向の違いによる光学的特性の差を利
用して表示を行なう。したがって、液晶19の分子は、
一定方向に均一に配向している必要があり、液晶19の
分子の配向状態の良否が液晶表示素子の基本性能である
コントラスト、表示の均一性、応答速度等に大きな彩管
を与える。
上記のような配向性を付与する方法としては、次のよう
なものが知られている。
なものが知られている。
例えば、特公昭54−12067号公報に示されるよう
に、基板の表面にSiO等の無機物質を斜め方向から蒸
着することによって液晶配向膜を形成する。この方法は
、基板面に対して非接触である反面、蒸着法であり、真
空装置を必要とするため工程がバッチ式になる等、製造
上問題がある。
に、基板の表面にSiO等の無機物質を斜め方向から蒸
着することによって液晶配向膜を形成する。この方法は
、基板面に対して非接触である反面、蒸着法であり、真
空装置を必要とするため工程がバッチ式になる等、製造
上問題がある。
また、基板をシラン系カップリング剤で処理した後、一
方向にラビングすることによって液晶配向膜を形成する
方法がある。この方法は、均一に液晶分子が配向するも
のの、対向電極間がショートしやすいという問題がある
。
方向にラビングすることによって液晶配向膜を形成する
方法がある。この方法は、均一に液晶分子が配向するも
のの、対向電極間がショートしやすいという問題がある
。
また、特開昭54−119263号公報に示されるよう
に、基板上に有磯高分子をコーティングした復、加熱処
理した薄膜を一方向にラビングすることによって液晶配
向膜を形成する方法がある。この方法は、液晶分子が非
常に均一に配向し、かつ、用いた高分子薄膜の絶縁性に
よって基板間のショートを防止できる等の利点があり、
現在量も一般的に用いられている。
に、基板上に有磯高分子をコーティングした復、加熱処
理した薄膜を一方向にラビングすることによって液晶配
向膜を形成する方法がある。この方法は、液晶分子が非
常に均一に配向し、かつ、用いた高分子薄膜の絶縁性に
よって基板間のショートを防止できる等の利点があり、
現在量も一般的に用いられている。
しかし、液晶表示素子の表示性能、とりわけコントラス
トの向上にともない、有様高分子薄膜をラビングした際
の傷およびラビングの不均一が、表示状態で数本の筋ま
たはむらとなってあられれることがある。また、ラビン
グする際のマシン設定条件も非常にきびしく、製造マー
ジンの点でも問題がある。 \ (発明が解決しようとする問題点) 上記のように、従来の液晶表示素子においては、配向膜
の形成につき問題がある。
トの向上にともない、有様高分子薄膜をラビングした際
の傷およびラビングの不均一が、表示状態で数本の筋ま
たはむらとなってあられれることがある。また、ラビン
グする際のマシン設定条件も非常にきびしく、製造マー
ジンの点でも問題がある。 \ (発明が解決しようとする問題点) 上記のように、従来の液晶表示素子においては、配向膜
の形成につき問題がある。
本発明の目的は、配向膜のラビング時の傷および不均一
による、点灯状態での筋や表示むら等の発生が少なく、
ラビングマシンの設定条件も広くとれ、表示品位の向上
と製造マージンの拡大により生産性の向上と歩留りの向
上を図り、製造コストの低減も行なうことのできる液晶
表示素子を提供しようとするものである。
による、点灯状態での筋や表示むら等の発生が少なく、
ラビングマシンの設定条件も広くとれ、表示品位の向上
と製造マージンの拡大により生産性の向上と歩留りの向
上を図り、製造コストの低減も行なうことのできる液晶
表示素子を提供しようとするものである。
(問題点を解決するための手段)
本発明は、少なくとも一対の基板の対向面に電極および
配向膜を形成するとともに、少なくとも一対の基板間に
液晶を封入した液晶表示素子において、上記配向膜は、
鉛筆硬度で2H以上の硬度を持つものである。
配向膜を形成するとともに、少なくとも一対の基板間に
液晶を封入した液晶表示素子において、上記配向膜は、
鉛筆硬度で2H以上の硬度を持つものである。
なお、本明細書において、鉛筆硬度とは、J Is r
K5401 Jで規定する「塗膜用鉛筆引っかき試験機
」により測定した硬度をいう。
K5401 Jで規定する「塗膜用鉛筆引っかき試験機
」により測定した硬度をいう。
(作用)
本発明では、液晶の配向性を付与する配向膜が鉛筆硬度
で2H以上の硬度を持つことより、ラビング時の傷およ
び不均一による(口および不均一を少なくするものであ
る。
で2H以上の硬度を持つことより、ラビング時の傷およ
び不均一による(口および不均一を少なくするものであ
る。
(実施例)
以下、本発明の一実施例を図面を参照して説明する。
本発明による液晶表示素子も、前記第1図に示した構成
を基本的に備えている。そして、基板11、12の対向
面の配向m15.16を、ポリイミド等の鉛筆硬度で2
H以上の硬度を持つもので形成する。
を基本的に備えている。そして、基板11、12の対向
面の配向m15.16を、ポリイミド等の鉛筆硬度で2
H以上の硬度を持つもので形成する。
この配向膜15.16の形成にあたっては、基板11、
12上に配向膜15.16を付着させた後、この基板1
1.12を、例えば第2図に示すラビング装置21によ
ってラビング配向処理を行なう。すなわち、基板11.
12をその配向膜15.1Gを上面にしてステージ22
上に載置し、このステージ22の移動により基板11.
12ヲ送りなかう配向1a15.16をC1−−723
によりラビング処理する。
12上に配向膜15.16を付着させた後、この基板1
1.12を、例えば第2図に示すラビング装置21によ
ってラビング配向処理を行なう。すなわち、基板11.
12をその配向膜15.1Gを上面にしてステージ22
上に載置し、このステージ22の移動により基板11.
12ヲ送りなかう配向1a15.16をC1−−723
によりラビング処理する。
次に実験例を示す。 l
ラビング装置21のラビング設定密度Iγd1は、次式
であられされる。
であられされる。
φ:ローラ23の直径
U:ローラ23の回転数
■:ステージ22の送り速度
実験は、1γdl =30に設定して、ステージ22と
ローラ23との間の距離(以下、ローラギャップという
)を変えてラビングを行ない、このラビングされた基板
11.12を組立て、点灯状態でのラビング筋、表示状
態の比較を行なった。なお、ラビングによって生じるラ
ビング筋および表示むらは、ラビングによって形成され
る配向膜15.16の表面の微細な溝が不均一なためで
ある。また、実験には、各場合とも、配向膜15.16
としてポリイミド(日産化学、ポリイミド・サンエバー
4110>を用いている。
ローラ23との間の距離(以下、ローラギャップという
)を変えてラビングを行ない、このラビングされた基板
11.12を組立て、点灯状態でのラビング筋、表示状
態の比較を行なった。なお、ラビングによって生じるラ
ビング筋および表示むらは、ラビングによって形成され
る配向膜15.16の表面の微細な溝が不均一なためで
ある。また、実験には、各場合とも、配向膜15.16
としてポリイミド(日産化学、ポリイミド・サンエバー
4110>を用いている。
まず、実験例1では、配向膜として、ポリイミドに架橋
剤を固形分濃度に対して15%添加したものを用い、基
板上の成膜後の鉛筆硬度を4Hに設定している。また、
実験2では、配向膜として、ポリイミドに架橋剤を固形
分濃度に対して5%添加したものを用い、基板上の成膜
後の鉛筆硬度を2Hに設定している。さらに、実験例3
(比較例)として、配向膜の基板上の成膜後の鉛筆硬度
をF〜Hに設定したものを加えた。
剤を固形分濃度に対して15%添加したものを用い、基
板上の成膜後の鉛筆硬度を4Hに設定している。また、
実験2では、配向膜として、ポリイミドに架橋剤を固形
分濃度に対して5%添加したものを用い、基板上の成膜
後の鉛筆硬度を2Hに設定している。さらに、実験例3
(比較例)として、配向膜の基板上の成膜後の鉛筆硬度
をF〜Hに設定したものを加えた。
これらの実験結果を第3図に示す。この第3図は、各ロ
ーラギャップでの平均表示品位のレベルをあられしてお
り、表示品位が良いものがLOで、順次L1からL5に
なるにしたがって表示品位が悪くなっていることを示し
ている。また、表示品位とは、ラビング筋、表示状態の
むらを含んでおり、LOがラビング筋、むらがない状態
、L2が注意して見ないと分らないレベルであり、良品
レベルである。
ーラギャップでの平均表示品位のレベルをあられしてお
り、表示品位が良いものがLOで、順次L1からL5に
なるにしたがって表示品位が悪くなっていることを示し
ている。また、表示品位とは、ラビング筋、表示状態の
むらを含んでおり、LOがラビング筋、むらがない状態
、L2が注意して見ないと分らないレベルであり、良品
レベルである。
実験例1のポリイミド、鉛筆硬度4H(曲線a)では、
良品レベルを示すローラギャップ幅は、中心値で±0.
25 rtmの許容幅があり、L2以上の不良率は0.
5〜1,0%以内で、ローラギャップの中心値での平均
表示品位はLo、5であった。
良品レベルを示すローラギャップ幅は、中心値で±0.
25 rtmの許容幅があり、L2以上の不良率は0.
5〜1,0%以内で、ローラギャップの中心値での平均
表示品位はLo、5であった。
次に、実験例2のポリイミド、鉛筆硬度2H(曲1b)
では、良品レベルを示すローラギャップ幅は、中心値で
±0.10.の許容幅があり、し2以上の不良率は1.
5〜2.0%以内で、ローラギャップの中心値での平均
表示品位はLl、2であった。
では、良品レベルを示すローラギャップ幅は、中心値で
±0.10.の許容幅があり、し2以上の不良率は1.
5〜2.0%以内で、ローラギャップの中心値での平均
表示品位はLl、2であった。
さらに、比較例としての実験例3のポリイミド、鉛筆硬
度H(曲線C)では、良品レベルを示すローラギャップ
幅は、中心値で±0.5mの許容幅であり、L2以上の
不良率は4.0〜5.0%以内で、ローラギャップの中
心値での平均表示品位はし 1.5であった。
度H(曲線C)では、良品レベルを示すローラギャップ
幅は、中心値で±0.5mの許容幅であり、L2以上の
不良率は4.0〜5.0%以内で、ローラギャップの中
心値での平均表示品位はし 1.5であった。
以上の実験の結果をまとめると、数表のようになる。
(以下次頁)
このように、配向膜の硬度がHから2)−1゜4日と高
くなるにしたがい、ローラギャップの許容幅が2倍、5
倍と大きくなり、かつ、し2以上の不良率が1/2〜1
/3.115〜1/10と少なくなる。また、ローラギ
ャップの中心値での平均表示品位もし1.5からし1.
2、l O,5と良くなっている。
くなるにしたがい、ローラギャップの許容幅が2倍、5
倍と大きくなり、かつ、し2以上の不良率が1/2〜1
/3.115〜1/10と少なくなる。また、ローラギ
ャップの中心値での平均表示品位もし1.5からし1.
2、l O,5と良くなっている。
以上のことから明らかなように、配向膜に鉛筆硬度を2
H以上のものを用いることによって、平均表示品位の向
上と、ラビング装置でのローラギャップの許容幅が広が
るため、製造マージンが従来の2倍以上も拡大され、不
良率も少なくなるため、生産性の向上と歩留りの向上と
なる。このため、製造コスト低減も可能となる。
H以上のものを用いることによって、平均表示品位の向
上と、ラビング装置でのローラギャップの許容幅が広が
るため、製造マージンが従来の2倍以上も拡大され、不
良率も少なくなるため、生産性の向上と歩留りの向上と
なる。このため、製造コスト低減も可能となる。
なお、上記実施例では、配向膜として比較のため、ポリ
イミド(8産化学、ポリイミド・サンエバー4110)
を用いたが、他のポリイミド、ポリアミド系樹脂を始め
、配向性を有する有機高分子薄膜でも同様の効果がある
。
イミド(8産化学、ポリイミド・サンエバー4110)
を用いたが、他のポリイミド、ポリアミド系樹脂を始め
、配向性を有する有機高分子薄膜でも同様の効果がある
。
本発明によれば、液晶の配向性を付与する配向膜が鉛筆
硬度で2H以上の硬度を持つことより、配向膜のラビン
グ時の傷および不均一による、点灯状態での筋や表示む
ら等の発生が少なく、うごングマシンの設定条件も広く
とれ、表示品位の向上と製造マージンの拡大により生産
性の向上と歩留りの向上を図り、製造コストの低減も行
なうことができる。
硬度で2H以上の硬度を持つことより、配向膜のラビン
グ時の傷および不均一による、点灯状態での筋や表示む
ら等の発生が少なく、うごングマシンの設定条件も広く
とれ、表示品位の向上と製造マージンの拡大により生産
性の向上と歩留りの向上を図り、製造コストの低減も行
なうことができる。
図は本発明の一実施例を示すもので、第1図は液晶表示
素子の断面図、第2図はラビング装置の説明図、第3図
は実験測定図である。 11、12・・基板、13.14・・電極、15.16
φ・配向膜、19・・液晶。
素子の断面図、第2図はラビング装置の説明図、第3図
は実験測定図である。 11、12・・基板、13.14・・電極、15.16
φ・配向膜、19・・液晶。
Claims (1)
- (1)少なくとも一対の基板の対向面に電極および配向
膜を形成するとともに、少なくとも一対の基板間に液晶
を封入した液晶表示素子において、 上記配向膜は、鉛筆硬度で2H以上の硬度を持つことを
特徴とする液晶表示素子。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP31711087A JPH01156721A (ja) | 1987-12-15 | 1987-12-15 | 液晶表示素子 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP31711087A JPH01156721A (ja) | 1987-12-15 | 1987-12-15 | 液晶表示素子 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP25735896A Division JPH09105943A (ja) | 1996-09-09 | 1996-09-09 | 液晶表示素子 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01156721A true JPH01156721A (ja) | 1989-06-20 |
Family
ID=18084548
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP31711087A Pending JPH01156721A (ja) | 1987-12-15 | 1987-12-15 | 液晶表示素子 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01156721A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5390037A (en) * | 1992-09-25 | 1995-02-14 | Casio Computer Co., Ltd. | Liquid crystal molecule orienting method |
US6162286A (en) * | 1996-06-01 | 2000-12-19 | Kabushiki Kaisha Toteku Japan | Exhaust cleaning system |
JP2001221998A (ja) * | 1991-08-01 | 2001-08-17 | Seiko Epson Corp | 液晶表示素子及び電子機器 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6449023A (en) * | 1987-08-19 | 1989-02-23 | Canon Kk | Ferroelectric liquid crystal element |
-
1987
- 1987-12-15 JP JP31711087A patent/JPH01156721A/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6449023A (en) * | 1987-08-19 | 1989-02-23 | Canon Kk | Ferroelectric liquid crystal element |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001221998A (ja) * | 1991-08-01 | 2001-08-17 | Seiko Epson Corp | 液晶表示素子及び電子機器 |
US5390037A (en) * | 1992-09-25 | 1995-02-14 | Casio Computer Co., Ltd. | Liquid crystal molecule orienting method |
US6162286A (en) * | 1996-06-01 | 2000-12-19 | Kabushiki Kaisha Toteku Japan | Exhaust cleaning system |
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