JPH01156700A - 短波長光学系コリメート装置 - Google Patents

短波長光学系コリメート装置

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Publication number
JPH01156700A
JPH01156700A JP62316830A JP31683087A JPH01156700A JP H01156700 A JPH01156700 A JP H01156700A JP 62316830 A JP62316830 A JP 62316830A JP 31683087 A JP31683087 A JP 31683087A JP H01156700 A JPH01156700 A JP H01156700A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
mirror
short wavelength
focus
light
collimated
Prior art date
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Pending
Application number
JP62316830A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshiko Tanikai
谷貝 佳子
Keiji Kohata
降幡 惠司
Osamu Mitomi
三富 修
Atsushi Yamauchi
敦史 山内
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
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Publication of JPH01156700A publication Critical patent/JPH01156700A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は短波長光源のコリメート装置に関するものであ
る。
〔従来の技術〕
従来この種の装置は第2図または第3図に示すような構
造であった。第2図に於いて短波長光源3から出力され
たビームは光源の一部を焦点とする放物面鏡lで反射さ
れコリメートされる。第3図の例では短波長光源3から
出力されたビームは2個のアパーチャまたはスリット2
によりビームが制限され、コリメート機能を構成してい
た。
〔発明が解決しようとする問題点〕
短波長(波長く画人程度)領域で使われる光源に於て、
代表的なX線を例にとると点光源ではなくむしろ有限の
大きさを持った面光源が多い、第2図に於いて放物面鏡
1の焦点Fに配置した光源3から出力されるビームのう
ち、焦点Fから出力されたビームのみが反射した後、放
物面鏡1の光軸XX°に対して平行にコリメートされる
が、焦点Fから離れた位置より出力されるビームは第2
図に示すように収斂、発散の各射線を持ったビームとな
る。第3図の例でも同様で収斂及び発散の各射線を有す
るビームとなる。しかるにコリメートされる光はアパー
チャ又はスリット面に垂直に入射されるものだけであり
、光量の低下が問題となる。
更にはアパーチャ又はスリットの間隔lを長くするか、
開口を小さくしなければならないと云う問題点があった
本発明はかかる問題点を解決したコリメート装置を提供
することを目的とする。
〔問題点を解決する為の手段〕
上記目的のため本発明では第1図に示すようにコリメー
ト機能を有する反射光学素子1とアパーチャまたはスリ
ット2を組合せて構成するコリメート装置とした。
〔作 用〕
本発明に於いては、反射光学系のみの場合問題となるコ
リメートされていない光の除去はアパーチャ又はスリッ
トが行ない、アパーチャ又はスリットのみの場合に問題
となる光量の減少、光学系の長さは共に反射光学系によ
って解決される。
上記の如き構成により短波長光のコリメートが効率良〈
実施出来る。
〔実施例〕
第1図は本発明の第1の実施例であって、放物面鏡1の
焦点に配置された短波長光源3から放射されたビームは
放物面鏡1で反射されコリメートされる。しかし光源3
は点光源ではなく面光源であるので焦点から離れた位置
より放射されたビームはコリメートされず、収斂もしく
は発散する。
つまり放物面鏡1からの反射光はコリメートされたビー
ムだけでなく発散・収斂するビームを含んでいる。アパ
ーチャ又はスリット2によりコリメートされていないビ
ームは除去され、コリメートされたビームのみを得るこ
とができる。
第4図は本発明の第2の実施例である。反射光学素子は
、焦点を共有した双曲面鏡4と放物面鏡lとで構成され
ている。双曲面鏡4の焦点F2から放射されたビームは
双曲面鏡4で反射されるとあたかも、焦点F、から放射
されたような光路をとって放物面鏡1に入射される。F
、は双曲面鏡4と放物面鏡1の共通焦点なので放物面鏡
1からの反射光は光軸XX° と平行になりコリメート
される。上述のような構成により光路長の短縮が可能と
なる。
〔発明の効果] 以上の様に本発明によれば従来知られていたコリメート
素子を組合せることで、良好にコリメートされた短波長
ビームを簡単に得ることが可能となったばかりでなく、
アパーチャ又はスリットのみで実現したコリメート系と
比較して、光量損失の少ないコリメート系が出来る。
更に第4図に示すように反射光学系を工夫することでコ
リメート光学系をコンパクトにまとめられる利点もある
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による装置の実用例を示す構成図、第2
、第3図は従来方法である。第4図は本発明の第2の実
施例である。 〔主要部分の符号の説明〕 1・・・・・・放物面鏡等 2・・・・・・アパーチャまたはスリット3・・・・・
・短波長光源 4・・・・・・双曲面ミラー 出願人  日本光学工業株式会社

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)短波長反射光学素子と該短波長反射光学素子の反
    射光側の光軸に平行な光路上に少なくとも2個のアパー
    チャ又はスリットを配置したことを特徴とする短波長光
    学系コリメート装置。
  2. (2)前記短波長反射光学素子は放物面鏡、放物面鏡と
    双曲面鏡の組合せ及び放物面鏡と楕円鏡の組合せから成
    ることを特徴とする特許請求の範囲第1項に記載の短波
    長光学系コリメート装置。
JP62316830A 1987-12-15 1987-12-15 短波長光学系コリメート装置 Pending JPH01156700A (ja)

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JPH01156700A true JPH01156700A (ja) 1989-06-20

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Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS52136592A (en) * 1976-05-10 1977-11-15 Searle & Co Radiation picture device improving resolution with small radioactive injury
JPS5627930A (en) * 1979-08-13 1981-03-18 American Science & Eng Inc Xxray lithographic system
JPS61167846A (ja) * 1985-01-21 1986-07-29 Furukawa Electric Co Ltd:The X線による被測定物の組成分析方法
JPH01102398A (ja) * 1987-10-16 1989-04-20 Matsushita Electric Ind Co Ltd コリメート光学系

Patent Citations (4)

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